精譜測控光學薄膜瑕疵檢測系統原理

隨著人們對產品質量要求越來越高，產品表面質量檢測變得日益重要，過去很多表面缺質量測是依靠人工檢測，這種檢測方法效率低，受到人的情緒影響比較大，因此，采用機器視覺的方法來檢測表面質量是一個比較好的方法。

傳統的檢測方法如人工目視抽檢速度慢、精度低、易疲勞已經遠遠不能滿足現在工業生產中高速、高分辨率和無損只能檢測的要求。在薄膜的生產過程中，由于生產工藝及現場環境等影響，容易造成薄膜表面出現黑點、晶點、劃傷、破洞、線條、褶皺、蚊蟲等缺陷。這些缺陷不僅影響薄膜產品的外觀，更重要的是降低了薄膜的使用性能。如何在生產過程中及時檢出薄膜表面的瑕疵缺陷，消除生產的根源，實現控制和提高薄膜的表面質量，一直是薄膜企業追求的目標。基于CCD的薄膜表面瑕疵檢測系統與傳統的人工肉眼檢測相比，具有快速、可靠、準確的優點，實時在線檢測，自動報警并顯示當前瑕疵的具體信息，以便及時進行處理。

精譜測控光學薄膜瑕疵檢測系統原理：

視覺系統的輸出并非圖像視頻信號，而是經過運算處理之后的檢測結果（如缺陷、尺寸等數據）。通常，機器視覺檢測就是用機器代替肉眼來做測量和判斷。首先采用CCD照相機將被攝取目標轉換成圖像信號，傳送給專用的圖像處理系統，根據像素分布和亮度、顏色等信息，轉變成數字化信號。

圖像系統對這些信號進行各種運算來抽取目標的特征，如：面積、長度、數量、位置等。最后，根據預設的容許度和其他條件輸出結果，如：缺陷、尺寸、角度、偏移量、個數、合格/不合格、有/無等。上位機（如PC和PLC）實時獲得檢測結果后，指揮運動系統或I/O系統執行相應的控制動作（如定位和分類）。

精譜測控光學薄膜瑕疵檢測系統技術參數：

檢測對象：保護膜、涂布膜、PE膜、食品包裝膜、太陽能薄膜、光學膜等等

典型瑕疵：晶點、黑點、蚊蟲、污點、線條、破洞等

檢測速度：Max：800m/min

檢測幅寬：任意（根據生產線定制）

檢測精度：0.1mm~1mm（取決于相機數量、產線幅寬及車速）

瑕疵標識：自動聲光報警、截取當前瑕疵圖片及實時X/Y坐標瑕疵分布圖顯示

歷史記錄：根據批次號自動記錄每一卷薄膜瑕疵的圖片、大小、分布位置等信息

精譜測控光學薄膜瑕疵檢測系統功能：

精確的瑕疵坐標（X，Y坐標）定位及顯示；

自動聲光報警，并顯示當前及前后10個瑕疵圖像；

實時瑕疵標定，記錄瑕疵直徑、坐標、類型等信息；

實時監測米數，報警信息顯示；

產品基本信息模塊，記錄產品批次、型號、規格、班號、操作員等信息；

根據瑕疵形狀、面積大小、灰度差異等特征實現瑕疵自動分類；

自動生成每一卷產品的產品瑕疵記錄，用戶可根據批次號直接查詢；

自動換卷，自動打印每一卷產品信息的質量報表；

檢測歷史記錄的自動統計、保存、查詢、調用及打印等功能

責任編輯：tzh