在電子制造領域,精準可靠的檢測技術是產品質量的保障。
在SMT生產和PCB組裝過程中,自動光學檢測(AOI)和自動X射線檢測(AXI)作為兩種重要的檢測技術,各自發揮著獨特的作用。本文將深入解析這兩種技術的原理、差異及應用場景,為電子制造企業選擇合適的檢測方案提供參考。
基本概念與技術原理
自動光學檢測(AOI)技術
AOI是一種基于光學成像的檢測技術,通過攝像頭自動掃描PCB,采集圖像后與數據庫中的合格參數進行比較,經過圖像處理檢查出PCB上的缺陷
工作原理 :
使用一個或多個高清攝像頭捕捉電路板圖像
配備特定角度的光源系統,包括熒光燈、LED照明等
采用模板匹配、模式匹配或統計模式匹配等算法分析圖像
將測試的焊點與數據庫中的合格參數進行比較,識別缺陷
自動X射線檢測(AXI)技術
AXI利用X射線穿透能力,對檢測不可見焊點特別有效
當組裝好的線路板進入機器后,X射線發射管發射的射線穿過線路板被下方探測器接收
工作原理 :
X射線穿過不同材料時被吸收的程度不同
焊點中的鉛大量吸收X射線,在圖像上呈黑點
3D AXI采用分層技術,可對雙面焊點獨立成像
可對BGA焊接連接處進行多層“切片”檢測
核心差異對比
檢測能力差異
| 缺陷類型 | AOI檢測能力 | AXI檢測能力 |
|---|---|---|
| 開路故障 | 可檢測 | 可檢測 |
| 焊橋/短路 | 可檢測 | 可檢測 |
| 少錫 | 有限檢測(不能檢測焊點跟部) | 可檢測 |
| 焊料空洞 | 不可檢測 | 可檢測 |
| 元件缺失 | 可檢測 | 可檢測 |
| 錯件/偏移 | 可檢測 | 可檢測 |
| BGA缺陷 | 不可檢測 | 可檢測 |
| 電氣性能 | 不可檢測 | 不可檢測 |
技術特性差異
成像方式 :
AOI:利用可見光成像,限于表面可見區域
AXI:利用X射線透視成像,可檢測隱藏焊點
檢測覆蓋 :
AOI:對可見焊點和元件檢測效果良好
AXI:對工藝缺陷覆蓋率很高,通常達 97%以上 ,可檢查BGA、CSP等隱藏焊點
編程與設置 :
AOI:編程相對簡單,可通過學習已知好板或基于算法編程
AXI:系統設置相對復雜,需要專業的X射線成像知識
應用場景分析
AOI適用場景
AOI系統可以放置在生產線上的多個位置,主要有三個檢查位置
錫膏印刷之后 :檢查錫膏印刷質量,如焊盤上焊錫不足或過多、焊錫橋接等
回流焊前 :檢查元件貼裝質量,可發現來自錫膏印刷和元件貼放的大多數缺陷
回流焊后 :這是目前AOI最流行的選擇,可發現全部的裝配錯誤
AOI適用于檢測表面可見的焊點和元件缺陷,對元件漏貼、極性錯誤、偏移等問題有很好的檢測效果
AXI適用場景
AXI特別適用于:
BGA、CSP等隱藏焊點元件的檢測
雙面貼裝線路板的檢測
檢測焊點內部的空洞、氣泡等缺陷
技術優勢與局限性
AOI的優勢與局限
優勢 :
檢測速度快,適合在線檢測
對可見缺陷有較高的檢測率
編程時間短,靈活性高
設備成本相對較低
局限 :
不能檢測電路錯誤
對不可見焊點的檢測無能為力
對PCB翹曲等條件敏感
AXI的優勢與局限
優勢 :
對工藝缺陷覆蓋率高達97%以上
可檢測隱藏焊點
不受元件遮擋影響
可提供三維檢測信息
局限 :
不能測試電路電氣性能缺陷
設備成本較高
運行維護需要專業培訓
綜合測試策略
在現代電子制造中,沒有單一檢測技術能完全覆蓋所有缺陷因此,采用組合測試策略已成為行業趨勢:
AOI與ICT組合
AOI與ICT結合已成為生產流程控制的有效工具。AOI可以在早期發現缺陷,降低ICT的故障診斷負擔。
AXI與ICT組合
AXI主要集中在焊點的質量檢測,而ICT可以確認元件的方向和數值是否正確。這種組合可以相互補償技術弱點。
AXI與功能測試組合
AXI可以檢測出許多能由ICT檢驗的結構缺陷,還能查出一些ICT查不出的缺陷。雖然AXI不能查出組件的電氣缺陷,但這些缺陷可在功能測試中檢出。
總結與選型建議
在選擇AOI還是AXI時,電子制造企業應考慮以下因素:
產品特點 :如有大量BGA、CSP等隱藏焊點元件,優先考慮AXI;如主要為可見焊點,AOI可能足夠
質量要求 :高可靠性產品(汽車電子、通信設備)可能需要同時配置AOI和AXI
預算限制 :AXI設備通常投資高于AOI,需權衡成本與收益
工藝成熟度 :工藝不穩定時,AOI可提供實時反饋;工藝穩定但需檢測隱藏焊點時,AXI更合適
生產線配置 :評估檢測設備在生產線上的位置及與現有設備的整合性
隨著電子元件的小型化和組裝密度的不斷提高,組合測試策略正成為測試技術的發展趨勢。通過合理配置AOI和AXI設備,制造企業可以實現 最佳的質量控制效果 。
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審核編輯 黃宇
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