季豐電子透射電鏡的簡單介紹

穿透固體樣品的能力主要取決于加速電壓，樣品厚度以及物質的原子序數。一般來說，加速電壓愈高，原子序數愈低，電子束可穿透樣品厚度就愈大。因此，通常情況下，在制備TEM樣品時，越薄越好。

季豐電子的透射電鏡是目前主流的Thermo ScienTIfic FEI Talos系列。用于量、高分辨率表征和動態觀察的TEM和STEM分析，線分辨率≤0.1 nm，STEM分辨率≤0.16nm。搭配高端Helios 5系列FIB系統可以制備、觀察厚度在20nm以下的超薄樣品。4k × 4k Ceta 16M 相機可在 64 位平臺上提供大視場、高靈敏度快速成像。
審核編輯:湯梓紅

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成像(31375) 成像(31375)
高分辨率(15708) 高分辨率(15708)
電子束(13977) 電子束(13977)

季豐電子具備半導體測試載板仿真服務

在半導體測試載板研發精度要求嚴苛、迭代節奏加快的背景下，仿真技術成為提升設計可靠性的關鍵。上海季豐電子仿真部門，核心聚焦硬件研發部門需求——專攻CP載板、Loadboard、HTOL Board

2026-01-05 14:03:58

205

季豐精密通過ISO13485醫療器械質量管理體系認證

浙江季豐精密電子有限公司（以下簡稱“季豐精密”）已順利完成ISO 13485: 2016醫療器械質量管理體系現場審核，并于12月正式獲認證證書，認證范圍覆蓋“有源非植入醫療器械的印刷電路板組件的制造”。

2026-01-05 13:59:48

202

上海市電子材料協會一行蒞臨季豐電子參觀交流

12月18日，上海市電子材料協會會長馬靜一行蒞臨季豐電子閔行總部參觀交流，協會副會長張偉明、周建輝，副會長兼秘書長王建成及秘書處相關人員隨行。季豐電子董事長兼總經理鄭朝暉、輪值CEO倪衛華攜公司管理團隊熱情接待，并與到訪嘉賓展開深度座談。

2025-12-28 15:21:51

898

季豐嘉善實驗室高速電阻測試設備介紹

日前，季豐嘉善實驗室高速電阻測試設備已經正式投入使用。該設備高速電阻采集能力通常應用于板級跌落、板級四點彎曲、板級振動、板級球形彎曲等測試。

2025-12-19 14:02:16

390

透射電鏡（TEM）樣品制備方法

在材料科學與生命科學的研究中，透射電子顯微鏡（TEM）已成為探索微觀世界不可或缺的工具。然而，許多科研人員在TEM分析過程中常常遇到圖像質量不理想、數據解讀困難的問題，其根源往往不在于儀器操作或分析

2025-11-25 17:10:06

617

季豐電子Plasma等離子清洗技術在材料分析的運用

在TEM（透射電子顯微鏡）高精度的表征和FIB（聚焦離子束）切片加工技術之前，使用等離子體進行樣品預處理是一個關鍵的步驟，主要用于清潔和表面改性，其直接目的是提升成像質量或加工效率。

2025-11-24 17:17:03

1235

衢州季豐獲得中國質量認證中心委托檢測實驗室資質證書

近日，衢州季豐檢測技術有限公司（以下簡稱“衢州季豐”）收到中國質量認證中心（以下簡稱“CQC”）委托檢測實驗室資質證書。該資質的獲得，標志著衢州季豐在光伏組件檢測領域的專業能力與質量管理體系已達到CQC所設定的高標準要求。

2025-11-19 11:21:13

734

季豐電子功率器件動態老化測試能力介紹

DGS & DRB是功率器件可靠性測試中的關鍵內容。DGS評估器件檢測碳化硅功率MOSFET 的柵極開關不穩定性，DRB評估器件芯片內部結構因高dv/dt 導致的快速充電老化現象。因此，季豐電子引入業內先進設備為廣大客戶提供檢測服務，為產品質量把關，創造共贏。

2025-11-19 11:19:10

503

季豐電子自研PCB管理系統的簡單介紹

季豐電子自研的PCB管理系統，整合報價+投板+Release三大核心模塊，覆蓋從設計發布、訂單對接到生產交付的全業務流程。

2025-11-11 14:51:18

1133

季豐電子與日立科學儀器深化戰略合作

11月6日上午9時，季豐電子與日立科學儀器（北京）有限公司（以下簡稱“日立科學儀器”）舉行項目合作簽約儀式，標志著雙方戰略合作邁入全新里程碑。

2025-11-07 13:43:58

323

季豐電子與施耐德電氣達成戰略合作

11月6日，在第八屆中國國際進口博覽會的全球合作舞臺上，季豐電子與施耐德電氣正式簽署合作協議，以半導體產業為核心錨點，開啟多維協同的全新篇章。

2025-11-07 12:54:26

407

一文看懂掃描電鏡（SEM）和透射電鏡（TEM）

從最初的光學顯微鏡到如今的電子顯微鏡，我們觀察微觀世界的能力不斷提升，推動了材料科學、生物學、半導體技術等領域的革命性進展。本文將講解現代微觀分析的兩大主力工具——掃描電子顯微鏡（SEM）和透射電子

2025-11-06 12:36:07

632

透射電鏡在氮化鎵器件研發中的關鍵作用分析

在半導體材料的研究領域中，透射電子顯微鏡（TEM）已成為一種不可或缺的分析工具。它能夠讓我們直接觀察到氮化鎵（GaN）外延片中原子級別的排列細節——這種第三代半導體材料，正是現代快充設備、5G通信

2025-10-31 12:00:07

3857

衢州季豐榮獲UL Solutions目擊實驗室資質認證

近日，衢州季豐檢測技術有限公司（以下簡稱“衢州季豐”）榮獲國際安全科學檢測和認證領域權威機構UL Solutions“UL目擊實驗室（Witness Test Data Program，WTDP）”資質認證。

2025-10-17 15:15:12

673

季豐電子DM256桌面型256通道驅動器全面升級

為進一步滿足芯片測試設備在集成化、便攜性與高密度布板方面的需求，季豐電子對 DM256 桌面型256通道驅動器進行了全面升級。本次升級最顯著的改進，是設備體積的顯著減小，在保持原有強大功能的基礎上，進一步優化結構設計，使其更適配緊湊型工作環境。

2025-10-17 15:13:52

1361

如何選擇合適的顯微鏡（光學顯微鏡/透射電鏡/掃描電子顯微鏡）

合適的顯微鏡成為許多科研工作者關心的問題。透射電子顯微鏡當研究需要觀察納米尺度（通常小于100納米）的結構細節時，透射電子顯微鏡（TEM）無疑是首選工具。這種顯微

2025-09-28 23:29:24

802

季豐電子獲得CNAS擴項認可

上海季豐電子股份有限公司（以下簡稱上海季豐電子）已于2021年7月首次獲得CNAS 認可證書。隨著實驗室業務不斷擴展，客戶需求越來越多。為更好地滿足客戶需求，實驗室在已獲得的CNAS 認可能力持續保持的基礎上，繼續擴大實驗室新增檢測項目。好消息，新增檢測項目已于2025年9月4日正式簽發。

2025-09-18 18:16:38

1142

制備TEM及掃描透射電鏡樣品的詳細步驟

聚焦FIB技術：微納尺度加工的利器聚焦離子束（FIB）技術以其卓越的精確度在微觀加工領域占據重要地位，能夠實現從微米級到納米級的精細加工。FIB技術的關鍵部分是其離子源，大多數情況下使用的是液態金屬離子源，而鎵（Ga）由于其較低的熔點、較低的蒸氣壓以及卓越的抗氧化特性，成為最常用的離子材料。以下是構成商業FIB系統的主要組件：1.液態金屬離子源：生成離子的起

2025-09-15 15:37:47

399

新聲半導體榮獲季豐電子AEC-Q200認證證書

近日，新聲半導體SAW車規級產品在季豐電子可靠性實驗室的助力下，成功通過AEC-Q200認證測試，榮獲AEC-Q200證書。

2025-09-05 11:18:32

1031

季豐電子嘉善晶圓測試廠如何保障芯片質量

在半導體產業飛速發展的今天，芯片質量的把控至關重要。浙江季豐電子科技有限公司嘉善晶圓測試廠（以下簡稱嘉善晶圓測試廠）憑借在 CP（Chip Probing，晶圓測試）測試領域的深厚技術積累與創新突破，持續為全球芯片產業鏈提供堅實可靠的品質保障，深受客戶的信任與好評。

2025-09-05 11:15:03

1032

季豐電子與盛劍科技達成戰略合作

8月29日，在盛劍科技成立20周年慶祝活動上，季豐電子與盛劍科技舉行了正式的戰略合作簽約儀式。

2025-09-01 18:08:32

1035

歐思微榮獲季豐電子AEC-Q100認證證書

近日，安徽歐思微科技有限公司（以下簡稱“歐思微”）的車規產品U1011A在季豐電子可靠性實驗室的助力下，成功通過AEC-Q100認證測試，并榮獲AEC-Q100認證證書。

2025-09-01 15:57:19

985

掃描電鏡SEM電子顯微鏡

中圖儀器掃描電鏡SEM電子顯微鏡CEM3000系列采用的鎢燈絲電子槍，發射電流大、穩定性好，以及對真空度要求不高。臺式電鏡無需占據大量空間來容納整個電鏡系統，這使其甚至能夠出現在用戶日常工作的桌面上

2025-09-01 15:51:54

季豐電子新增K8000芯片測試平臺硬件開發設計能力

在半導體測試領域，高性能、高可靠性的測試設備是保障芯片品質與量產效率的核心關鍵。目前上海季豐電子已經具備上海御渡K8000芯片測試平臺的硬件開發設計能力。

2025-08-28 16:59:16

1682

國產掃描電鏡SEM廠家

CEM3000國產掃描電鏡SEM廠家憑借其簡便的操作系統，讓復雜的掃描電鏡使用過程變得簡單快捷。在工業領域展現出廣泛的應用價值，標配有高性能二次電子探頭和多象限背散射探頭、并可選配能譜儀、低真空系統

2025-08-22 11:19:12

精密掃描電子顯微鏡

CEM3000精密掃描電子顯微鏡憑借其簡便的操作系統，讓復雜的掃描電鏡使用過程變得簡單快捷。在工業領域展現出廣泛的應用價值，標配有高性能二次電子探頭和多象限背散射探頭、并可選配能譜儀、低真空系統，能

2025-08-20 11:15:48

淺談透射電子顯微分析方法（TEM）大全

一、什么是TEM?透射電子顯微鏡是利用波長較短的電子束作為照明源，利用電磁透鏡進行聚焦成像的高分辨本領和高放大倍數電子光學儀器。二、透射電子顯微鏡成像方式由電子槍發射高能、高速電子束；經聚光鏡聚焦后

2025-08-18 21:21:55

823

sem電子顯微電鏡

中圖儀器sem電子顯微電鏡CEM3000憑借其簡便的操作系統，讓復雜的掃描電鏡使用過程變得簡單快捷。在工業領域展現出廣泛的應用價值，標配有高性能二次電子探頭和多象限背散射探頭、并可選配能譜儀、低真空

2025-08-18 15:16:32

季豐電子多款軟件工具介紹

在半導體領域，軟件工具和IT系統可以極大地提高工作效率、工作質量，給客戶提供更優質和高效的服務。

2025-08-18 11:28:16

706

ZEM Ultra場發射臺式掃描電鏡

? 產品介紹：ZEM Ultra 臺式掃描電鏡采用肖特基場發射電子源，三級獨立真空設計，優于2.5nm的分辨率滿足多數樣品微納結構表征需求。標配大束流及大樣品倉，支持原位功能樣品臺及EDS/EBSD

2025-08-15 11:38:27

國產掃描電子顯微電鏡

CEM3000國產掃描電子顯微電鏡憑借其簡便的操作系統，讓復雜的掃描電鏡使用過程變得簡單快捷。在工業領域展現出廣泛的應用價值，標配有高性能二次電子探頭和多象限背散射探頭、并可選配能譜儀、低真空系統

2025-08-14 14:29:44

衢州季豐再次獲得國家權威認可

近日，衢州季豐檢測技術有限公司（以下簡稱“衢州季豐”）正式收到中國合格評定國家認可委員會（CNAS）頒發的擴項能力認可證書。這標志著衢州季豐的檢測能力和質量管理體系再次獲得國家權威認可。

2025-08-13 10:40:34

1190

季豐電子成功開發200MHz桌面型測試機

近期，季豐電子成功為客戶定制開發200MHz桌面型測試機，從需求討論、器件選型、硬件設計、SI/PI仿真、生產加工、配合客戶進行軟硬件系統聯調及平臺驗證，該測試機是專門為研發和實驗室定制的芯片驗證測試機臺。

2025-08-13 10:39:18

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電子顯微鏡掃描電鏡

CEM3000電子顯微鏡掃描電鏡憑借其簡便的操作系統，讓復雜的掃描電鏡使用過程變得簡單快捷。在工業領域展現出廣泛的應用價值，標配有高性能二次電子探頭和多象限背散射探頭、并可選配能譜儀、低真空系統，能

2025-08-12 15:41:44

國產精密掃描電子顯微電鏡

CEM3000國產精密掃描電子顯微電鏡憑借其簡便的操作系統，讓復雜的掃描電鏡使用過程變得簡單快捷。在工業領域展現出廣泛的應用價值，標配有高性能二次電子探頭和多象限背散射探頭、并可選配能譜儀、低真空

2025-08-08 15:07:24

掃描電子顯微電鏡品牌

CEM3000掃描電子顯微電鏡品牌憑借其簡便的操作系統，讓復雜的掃描電鏡使用過程變得簡單快捷。在工業領域展現出廣泛的應用價值，標配有高性能二次電子探頭和多象限背散射探頭、并可選配能譜儀、低真空系統

2025-08-06 13:55:22

正確選擇透射電鏡的不同模式——TEM，HRTEM，HAADF-STEM

幾乎任何與材料相關的領域都要用到透射電鏡，而最常用的三大透射電鏡是：普通透射電子顯微鏡（TEM）、高分辨透射電子顯微鏡（HRTEM）和掃描透射電子顯微鏡(STEM)。本期內容介紹三者的異同點。重點

2025-08-05 15:36:52

2066

SEM掃描電子顯微電鏡

CEM3000SEM掃描電子顯微電鏡憑借其簡便的操作系統，讓復雜的掃描電鏡使用過程變得簡單快捷。在工業領域展現出廣泛的應用價值，標配有高性能二次電子探頭和多象限背散射探頭、并可選配能譜儀、低真空系統

2025-08-04 13:43:34

瑞發科半導體榮獲季豐電子AEC-Q100認證證書

近日，天津瑞發科半導體技術有限公司（以下簡稱“瑞發科”）的車載SerDes產品NS6129S和NS6168在季豐電子可靠性實驗室的助力下，成功通過AEC-Q100認證測試，榮獲AEC-Q100認證證書。

2025-07-29 16:46:27

923

透射電子顯微術中的明暗場成像：原理、互補關系與功能區分

基本概念與光路設置透射電子顯微鏡（TEM）的成像系統由三級透鏡組構成，其中物鏡后焦面是衍射譜所在的位置。在該平面上插入可移動的“物鏡光闌”（objectiveaperture）后，可以人為地限定

2025-07-28 15:34:05

1902

季豐電子正式具備TO247-3P封裝能力

季豐電子極速封裝部再添 “新戰力”—— 正式具備 TO247-3P 封裝能力！這一技術突破不僅代表我們在封裝領域邁上一個新的臺階，同時將為廣大客戶帶來更適配、更高效的封裝解決方案，助力客戶產品研發加速落地。

2025-07-28 15:17:44

911

透射電子顯微鏡（TEM）的系統化解讀

技術本質透射電子顯微鏡（TransmissionElectronMicroscope,TEM）是一種以高能電子束代替可見光、利用電磁透鏡實現聚焦與放大的成像系統。其工作邏輯可以概括為：1.電子槍發射

2025-07-25 13:28:01

1517

掃描電子電鏡

CEM3000掃描電子電鏡采用的鎢燈絲電子槍，發射電流大、穩定性好，以及對真空度要求不高。臺式電鏡無需占據大量空間來容納整個電鏡系統，這使其甚至能夠出現在用戶日常工作的桌面上，在用戶手邊實時呈現所得

2025-07-25 10:45:02

SEM與TEM該如何選擇?

，SEM的圖像顆粒輪廓、裂紋走向、元素襯度一目了然。透射電鏡（TEM）則讓高能電子直接“穿墻而過”。只有當樣品被削到百納米以下，電子才能帶著晶格間距、厚度、缺陷密

2025-07-18 21:05:21

1336

掃描電子顯微電鏡

中圖儀器掃描電子顯微電鏡CEM3000全系列電鏡均具有優秀的抗干擾能力，特別是CEM3000B基于復合抗振手段，將掃描電鏡抗振性能提升到了新的高度。CEM3000系列臺式掃描電鏡，不僅擁有強大的抗振

2025-07-18 17:29:32

季豐電子點膠機介紹

隨著點膠技術的成熟發展，傳統點膠模式不斷被先進工藝替代，噴射點膠憑借更短響應時間、更高重復精度與更小膠量控制成為了很多客戶的首選。

2025-07-18 16:54:53

860

FIB-SEM的常用分析方法

傳統透射電鏡（TEM）所依賴的多級電磁透鏡放大，而是以極細的電子探針在樣品表面執行“光柵式”逐點逐行掃描。電子槍產生的初始電子束經2–3級電磁透鏡聚焦，最終形成直徑可小

2025-07-17 16:07:54

661

季豐電子與孤波科技建立戰略合作關系

為進一步提升對客戶的服務效率與響應速度，季豐電子與孤波科技正式建立戰略合作關系。根據協議，季豐電子將部署一臺搭載孤波科技自主研發的向量轉換工具 Gubo PatternX 全功能版本的服務器，面向 ATE 實驗室借機需求的客戶，提供現場免費使用服務，助力客戶高效完成測試工作。

2025-07-16 10:04:48

748

季豐電子啟用全新高性能仿真計算機集群

季豐已成功部署并正式啟用全新一代高性能仿真計算機集群。此次升級是公司在研發基礎設施領域的一項戰略性投資，旨在通過技術驅動，全面提升項目交付的效率、規模與可靠性。

2025-07-15 11:04:28

771

季豐電子金剛線切割機介紹

物理切割是指通過機械力、熱能、高壓流體或其他物理手段將材料分割成部分的過程。根據工具和原理的不同，可以分為多種類型，廣泛應用于工業、建筑、制造、電子等領域。

2025-07-14 11:29:45

734

2025季豐電子技術研討會江蘇站成功舉行

近日，一場聚焦半導體前沿技術的行業盛會——2025季豐電子技術交流研討會·江蘇站，在江蘇無錫新湖鉑爾曼酒店盛大啟幕。

2025-07-08 17:53:04

1075

透射電子顯微鏡(TEM)的工作原理

什么是透射電子顯微鏡？透射電子顯微鏡（TEM）的原理根基在于電子與物質的相互作用。電子槍發射出的電子束，經由電磁透鏡系統聚焦與加速，達到高能量水平（80KeV到300keV），隨后精準地照射到超薄

2025-07-07 15:55:46

1224

季豐精密機械成功完成三溫工程Kit自制

近日，季豐精密機械成功完成三溫工程Kit自制，進一步提升了季豐ATE工程測試能力，提高了測試項目的整體響應速度，可幫助客戶縮短制作周期，降低整體成本。

2025-07-05 11:45:17

923

季豐車規級高精度SLT測試能力更新

浙江季豐電子測試廠新引入的SLT HT3012CT + ATC 5.1系統級測試設備，集高效、精準、智能于一體，適配電子元件、半導體封裝等嚴苛場景，將助力測試廠搭建更加完整的三溫測試全流程服務體系，更好地服務客戶。

2025-07-05 11:43:13

999

遼寧材料實驗室一行到訪季豐電子

近日，季豐電子迎來了遼寧材料實驗室郭可信材料表征中心副主任周楊韜博士一行人員的到訪。此次交流活動旨在增進雙方了解，探索合作潛力，為未來的協同發展奠定基礎。

2025-07-03 16:18:10

746

透射電鏡如何用電子“透視”材料？壓電納米定位臺+TEM：讓科學家“指哪看哪”

透射電鏡

楊明遠發布于 2025-07-03 10:30:34

微觀尺度形貌觀測掃描電鏡

CEM3000微觀尺度形貌觀測掃描電鏡采用鎢燈絲電子槍，其電子槍發射電流大、穩定性好，以及對真空度要求不高，使得鎢燈絲臺式掃描電鏡能夠在較短的時間內達到穩定的工作狀態并獲得清晰的圖像，從而提高了檢測

2025-07-01 13:33:16

材料表征SEM掃描電鏡

中圖儀器CEM3000材料表征SEM掃描電鏡采用的鎢燈絲電子槍，發射電流大、穩定性好，以及對真空度要求不高。臺式電鏡無需占據大量空間來容納整個電鏡系統，這使其甚至能夠出現在用戶日常工作的桌面上，在用

2025-06-27 11:37:55

季豐電子全新推出350℃高溫電路板

季豐電子全新推出350℃高溫電路板，以行業領先的溫度能力，為高溫加速老化測試樹立新標桿！

2025-06-23 15:24:09

836

季豐電子自建引腳完整性測試能力

季豐可靠性測試項目拓展AEC-Q100車規芯片驗證C6：LI - Lead Integrity 引腳完整性Q100要求。

2025-06-23 09:22:23

904

原位透射電鏡在半導體中的應用

傳統的透射電鏡（TEM）技術往往只能提供材料在靜態條件下的結構信息，無法滿足科研人員對材料在實際應用環境中動態行為的研究需求。為了克服這一局限性，原位TEM技術應運而生。

2025-06-19 16:28:44

969

臺式鎢燈絲掃描電鏡品牌

中圖儀器臺式鎢燈絲掃描電鏡品牌采用的鎢燈絲電子槍，發射電流大、穩定性好，以及對真空度要求不高。臺式電鏡無需占據大量空間來容納整個電鏡系統，這使其甚至能夠出現在用戶日常工作的桌面上，在用戶手邊實時呈現

2025-06-19 16:03:47

SEM掃描電鏡斷裂失效分析

中圖儀器SEM掃描電鏡斷裂失效分析采用鎢燈絲電子槍，其電子槍發射電流大、穩定性好，以及對真空度要求不高，使得鎢燈絲臺式掃描電鏡能夠在較短的時間內達到穩定的工作狀態并獲得清晰的圖像，從而提高了檢測效率

2025-06-17 15:02:09

桌面臺式掃描電子電鏡

中圖儀器CEM3000桌面臺式掃描電子電鏡空間分辨率出色和易用性強，用戶能夠非常快捷地進行各項操作。甚至在自動程序的幫助下，無需過多人工調節，便可一鍵得到理想的拍攝圖片。產品功能1）臺式電鏡緊湊

2025-06-12 11:45:55

固態電池為何突然失效？中國團隊破解短路迷因，助力電池量產加速

Society）上刊登了一份研究成果，利用原位透射電鏡技術首次在納米尺度揭示了無機固態電解質中的軟短路向硬短路轉變機制及其背后的析鋰動力學。 ? 簡單來說，就是為固態電解質的納米尺度失效機理提供了全新認知，改變了以往對固態電池短路問題的理解，從根本上揭示了其失效

2025-06-11 00:11:00

7151

季豐電子與杰平方達成戰略合作

近日，上海季豐電子股份有限公司（以下簡稱“季豐電子”）與杰平方半導體（上海）有限公司（以下簡稱“杰平方”）正式簽署戰略合作協議，宣布共建半導體領域聯合實驗室。

2025-06-10 15:02:40

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多探頭SEM掃描電鏡

中圖儀器CEM3000系列多探頭SEM掃描電鏡采用鎢燈絲電子槍，其電子槍發射電流大、穩定性好，以及對真空度要求不高，使得鎢燈絲臺式掃描電鏡能夠在較短的時間內達到穩定的工作狀態并獲得清晰的圖像，從而

2025-06-09 18:13:01

透射電子顯微鏡（TEM）技術詳解

TEM的工作原理透射電子顯微鏡（TransmissionElectronMicroscope,TEM）是一種利用高能電子束穿透樣品，通過電磁透鏡成像和分析的精密儀器。其工作原理基于電子束與樣品

2025-06-06 15:33:03

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季豐計量榮獲CNAS認可資質

上海季豐計量有限公司(以下簡稱“季豐計量”)自2022年6月成立以來，始終堅持以“以人為本、滿足客戶、持續改進、追求卓越”為質量方針，深耕計量校準領域，為制造業、科研機構及高新技術企業提供專業化技術服務，助力產業高質量發展，深受客戶好評。

2025-06-05 18:07:01

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季豐電子推出低高溫手動探針臺設備

為滿足客戶對低溫測試的要求，季豐電子成功自研了低高溫手動探針臺，目前已在季豐張江FA投入使用，該機臺填補了傳統常規型手動探針臺無法實現低溫測試環境的空白。

2025-06-05 13:38:04

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季豐推出SRAM錯誤地址定位黑科技

近期受晶圓廠委托，季豐在執行完SRAM芯片在中子輻射下SER測試后，通過對SRAM芯片的深入研究，對測試失效數據的分析，將邏輯失效地址成功轉換為物理坐標地址，最終在圖像上顯示失效位置，幫助客戶直觀地看到失效點分布位置。通過多個失效芯片圖像的疊加，客戶可以看到多個芯片失效積累效果。

2025-06-03 10:08:45

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季豐電子與林眾電子、瞻芯電子達成戰略合作伙伴關系

近日，上海季豐電子股份有限公司（以下簡稱“季豐電子”）與上海林眾電子科技有限公司（以下簡稱“林眾電子”）、上海瞻芯電子科技股份有限公司（以下簡稱“瞻芯電子”）正式達成戰略合作伙伴關系，三方將共建功率半導體領域聯合實驗室，聚焦技術研發、測試分析與產業服務，共同推動行業技術能力提升。

2025-05-27 17:53:47

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季豐電子新型電池材料評估能力概覽

季豐電子，作為國內半導體材料表征領域的領先企業，憑借其深厚的半導體級精密分析技術積淀，成功將業務延伸至新型電池材料評估領域，為客戶提供全方位、可靠的評價測試服務。

2025-05-23 16:38:13

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什么是透射電子顯微鏡？

透射電子顯微鏡透射電子顯微鏡（簡稱透射電鏡）是一種利用加速和聚集的電子束投射到非常薄的樣品上，通過電子與樣品原子的碰撞產生立體角散射來成像的儀器。散射角的大小與樣品的密度、厚度密切相關，從而形成明暗

2025-05-23 14:25:23

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透射電子顯微鏡在金屬材料的研究

價值的指導。透射電子顯微鏡的工作原理與強大功能透射電子顯微鏡是一種借助高能電子束穿透樣品，并通過電磁透鏡進行成像與分析的精密設備。其工作原理基于電子與物質之間的相互

2025-05-22 17:33:57

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帶你了解什么是透射電鏡？

透射電鏡的工作原理透射電鏡是基于電子束與超薄樣品相互作用。它利用電子加速槍產生高能電子束，經過電磁透鏡聚焦和準直后照射到超薄樣品上。樣品中不同區域的原子對電子的散射和吸收程度不同，導致透過樣品后

2025-05-19 15:27:53

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鎢燈絲掃描電鏡SEM

中圖儀器鎢燈絲掃描電鏡SEM采用鎢燈絲電子槍，其電子槍發射電流大、穩定性好，以及對真空度要求不高，使得鎢燈絲臺式掃描電鏡能夠在較短的時間內達到穩定的工作狀態并獲得清晰的圖像，從而提高了檢測效率，節省

2025-05-13 15:50:16

季豐電子如何提高太陽能電池的光電轉換效率

在季豐電子的分析實驗室, 我們具備三個“微觀偵探”——SEM、FIB和TEM，它們就像“原子放大鏡”，可有效提升太陽能板發電效率。

2025-05-13 14:55:20

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透射電子顯微鏡（TEM）與聚焦離子束技術（FIB）在材料分析中的應用

什么是透射電子顯微鏡（TEM）透射電子顯微鏡（TEM）是一種功能強大的分析工具，可分析各種合成材料和天然材料。它能夠通過三種不同的分析技術獲得固態樣品的化學信息：能量色散X射線分析（EDX）、電子

2025-05-09 16:47:20

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什么是透射電子顯微鏡（TEM）？

透射電子顯微鏡透射電子顯微鏡簡稱TEM，是一種高分辨率的微觀分析儀器，自1933年發明以來，已成為探索微觀世界的強大工具。其工作原理是在高真空環境下，電子槍發射電子束，經過聚焦后形成細小的電子

2025-04-25 17:39:27

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透射電子顯微鏡：微觀世界的高分辨率探針

透射電鏡的成像原理透射電子顯微鏡（TEM）是一種利用波長極短的電子束作為照明源的高分辨率電子光學儀器。其成像原理基于電子束與樣品的相互作用。電子槍發射出的電子束經過加速和聚焦后照射到樣品上，電子

2025-04-22 15:47:17

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透射電鏡與 FIB 制樣技術解析

和萃取復型主要用于金相組織觀察、斷口形貌、形變條紋、第二相形態、分布和結構等方面的分析。透射電鏡工作原理透射電子顯微鏡（TEM）是一種高分辨率的顯微鏡技術，其工作原理

2025-04-16 15:17:59

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上海交大師生一行到訪季豐電子參觀交流

此前，4月9日-11日，上海交通大學自動化與感知學院及集成電路學院師生代表一行70余人，在上海交通大學自動化與感知學院陳欣副教授與微納電子學系副主任紀志罡教授的帶領下，對季豐電子閔行總部開展了一次深入的參訪交流活動。

2025-04-14 14:41:17

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簡單易操作超高分辨率掃描電鏡

中圖儀器CEM3000簡單易操作超高分辨率掃描電鏡高易用性快速成像、一鍵成片，無需過多人工調節。超高分辨率優于4nm(SE)，優于8nm(BSE)@20kV，超大景深毫米級別景深，具有高空間分辨率

2025-04-10 10:11:16

季豐電子推出經濟型精密探針座 MP-05探針座

在與客戶的交流中發現，部分客戶對某些測試在精度可滿足實驗需求的情況下，希望有更經濟的解決方案。為滿足客戶的這一需求，季豐電子開發了一款經濟型精密探針座， MP-05探針座。應用場合主要應用于

2025-04-09 18:36:31

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季豐精密獲ISO14001和ISO45001雙體系認證證書

季豐精密獲雙體系認證證書 2025年3月28日，浙江季豐精密電子有限公司順利通過了TQCSI集團認證，獲得ISO 14001和ISO 45001雙體系認證證書。 ? ? ? ISO 14001

2025-04-08 18:26:55

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帶你一文了解掃描透射電子顯微鏡

，其電子學系統也比TEM和SEM更為復雜，這使得STEM在硬件配置和操作維護方面都面臨一定挑戰，但同時也為其提供了獨特的性能優勢。掃描透射電鏡的原理掃描透射電子顯微

2025-04-07 15:55:42

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透射電子顯微鏡(TEM)的優勢及應用

工具。透射電鏡的工作原理與技術優勢透射電子顯微鏡的工作原理基于高能電子束的穿透與電磁透鏡的成像。它利用高能電子束穿透極薄的樣品，通過電磁透鏡系統對透射電子進行聚焦

2025-03-25 17:10:50

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浙江季豐精密導入全自動飛針智能首件測試儀

面對電子產品日益精密化、復雜化的挑戰，傳統檢測手段已難以滿足大家對極致品質的追求，浙江季豐精密導入全自動飛針智能首件測試儀，全面提升產品首件檢測效率與精準度，不僅使生產流程全面優化，實現效率與品質的雙重飛躍，更是我們對“零缺陷”承諾的踐行。

2025-03-21 14:24:42

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SEM掃描電鏡品牌

中圖儀器SEM掃描電鏡品牌采用鎢燈絲電子槍，制作工藝相對簡單，材料成本也較低，使得鎢燈絲電子槍的整體成本不高，從而降低了臺式掃描電鏡的設備采購成本。鎢燈絲電子槍可以在相對較低的真空度下工作，通常

2025-03-20 15:43:24

透射電子顯微鏡（TEM）在鋰電池材料分析中的應用

這一探索旅程中的得力助手，其原子尺度的空間分辨本領，使科研人員得以深度洞察材料的微觀構造。（a）TEM透射電鏡的結構原理圖；（b）TEM測試照片（Co3O4納米片）

2025-03-20 11:17:12

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季豐電子交付PCBA三防膠涂覆產品

PCBA 三防膠涂覆可保護印刷電路板，使其抵御惡劣環境，確保電子設備穩定運行。傳統“手持噴壺”方式涂覆效率低、質量不穩定，難以滿足緊急訂單需求。因此，季豐電子引入業內領先的全自動選擇性涂覆機，依托

2025-03-13 11:47:40

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什么是透射電鏡？

透射電子顯微鏡（TEM，TransmissionElectronMicroscope），簡稱透射電鏡，是一種以波長極短的電子束作為照明源的高分辨率、高放大倍數的電子光學儀器。透射電子顯微鏡的工作原理

2025-03-06 17:18:44

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雙束聚焦離子束-掃描電鏡（FIB）：TEM樣品制備

雙束聚焦離子束-掃描電鏡（DualBeamFocusedIonBeam,FIB）作為一種先進的微觀加工與分析技術，廣泛應用于材料科學、納米技術、半導體研究等領域。其不僅可以制作常見的截面透射電子

2025-02-28 16:11:34

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SEM是掃描電鏡嗎？

SEM是掃描電鏡，英文全稱為ScanningElectronMicroscope。以下是關于掃描電鏡的一些基本信息：1、工作原理：掃描電鏡是一種利用電子束掃描樣品表面，通過檢測電子與樣品相互作用產生

2025-02-24 09:46:26

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奕斯偉計算通過季豐電子AEC-Q100認證測試

日前，北京奕斯偉計算技術股份有限公司（簡稱“奕斯偉計算”）車規級LCD顯示屏PMIC（車載顯示屏電源管理芯片）EPA9910在季豐電子可靠性實驗室的助力下，成功通過AEC-Q100（Grade1）認證測試，獲AEC-Q100證書。

2025-02-13 09:46:37

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桌面式掃描電鏡是什么？

桌面式掃描電鏡是掃描電子顯微鏡的一種類型，它在結構設計、功能特點等方面都有自身獨特之處，以下從其定義、原理、特點、應用場景等方面進行具體介紹：1、定義與基本原理-定義：桌面式掃描電鏡是一種小型化

2025-02-12 14:47:52

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掃描電鏡有哪些作用？

掃描電鏡作為一種用于微觀結構分析的重要儀器，在材料科學、生命科學、地質科學、電子信息等多個領域都有重要作用。它具有以下顯著特征：1.高分辨率成像：能夠清晰呈現樣品表面的細微結構，分辨率可達納米級

2025-02-12 14:42:10

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透射電鏡（TEM）要點速覽

透射電鏡（TEM）簡介透射電子顯微鏡（TransmissionElectronMicroscope，TEM）自1932年左右問世以來，便以其卓越的性能在微觀世界的研究中占據著舉足輕重的地位。它利用

2025-01-21 17:02:43

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透射電子顯微鏡（TEM）快速入門：原理與操作指南

無法被清晰地觀察。為了解決這一問題，科學家們開始探索使用波長更短的光源來提高顯微鏡的分辨率。1932年，德國科學家恩斯特·魯斯卡（ErnstRuska）成功發明了透射電子顯微鏡（TEM），利用電子

2025-01-09 11:05:34

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季豐電子透射電鏡的簡單介紹

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