DGS & DRB
DGS & DRB是功率器件可靠性測試中的關鍵內容。DGS評估器件檢測碳化硅功率MOSFET 的柵極開關不穩定性,DRB評估器件芯片內部結構因高dv/dt 導致的快速充電老化現象。因此,季豐電子引入業內先進設備為廣大客戶提供檢測服務,為產品質量把關,創造共贏。
AQG324內QL-9 & QL-10 的測試參數需求
(圖1) ?
(圖2) ?
(圖3) ? 
(圖4)
季豐測試設備能力
動態可靠性測試系統,系統可設置頻率、占空比、電壓、溫度等器件可靠性影響因子,在設定的影響因子作用下,實時監測每個被測器件的可靠性特征參數。

工位曲線及監控參數
? 
DGS


DRB
設備照片

(注:文中圖1/2/3/4均來源于《ECPE Guideline AQG 324》,如有侵權,請聯系刪除。)
季豐電子
季豐電子成立于2008年,是一家聚焦半導體領域,深耕集成電路檢測相關的軟硬件研發及技術服務的賦能型平臺科技公司。公司業務分為四大板塊,分別為基礎實驗室、軟硬件開發、測試封裝和儀器設備,可為芯片設計、晶圓制造、封裝測試、材料裝備等半導體產業鏈和新能源領域公司提供一站式的檢測分析解決方案。
季豐電子通過國家級專精特新“小巨人”、國家高新技術企業、上海市“科技小巨人”、上海市企業技術中心、研發機構、公共服務平臺等企業資質認定,通過了ISO9001、 ISO/IEC17025、CMA、CNAS、IATF16949、ISO/IEC27001、ISO14001、ISO45001、ANSI/ESD S20.20等認證。公司員工超1000人,總部位于上海,在浙江、北京、深圳、成都等地設有子公司。
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原文標題:季豐功率器件動態老化測試能力介紹
文章出處:【微信號:zzz9970814,微信公眾號:上海季豐電子】歡迎添加關注!文章轉載請注明出處。
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季豐電子功率器件動態老化測試能力介紹
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