電池內(nèi)部X射線檢查失效分析

　　IEEE1725安全標準中明確提出對鋰電除了進行穿刺、短路、擠壓、跌落、過充放電、熱沖擊等常規(guī)測試外，還需要通過X-ray目視系統(tǒng)對鋰電內(nèi)部結(jié)構(gòu)進行100%的安全檢測。

　　目前上規(guī)模的鋰電企業(yè)都開始逐步實行鋰電池全檢。目前做的比較完善的在珠三角地區(qū)只有東莞新能源，中山天貿(mào)目前也在逐步完善過程中，珠海光宇號稱在鋰電可以目前也是全檢，具體情況尚不得知。

電池內(nèi)部結(jié)構(gòu)X射線透視檢查

　　IEEE1725安全指標中明確提出對鋰電除了穿刺、短路、擠壓、跌落、過度放電、熱沖擊等常規(guī)測試外，還需要通過X-Ray目視系統(tǒng)對鋰電內(nèi)部結(jié)構(gòu)進行100%安全檢測。

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SD卡讀寫均衡失效問題分析

一、讀寫均衡失效引發(fā)的核心問題讀寫均衡（磨損均衡，Wear Leveling）是SD卡固件通過算法將數(shù)據(jù)均勻分配到閃存芯片各單元，避免局部單元過度擦寫的關(guān)鍵機制。瀚海微SD卡出現(xiàn)讀寫均衡失效后，會

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X-ray檢查機的基本原理、主要類型和區(qū)別

“X-ray檢查機”一般指利用X射線對物體內(nèi)部結(jié)構(gòu)進行無損檢測或異物檢測的設(shè)備，廣泛用于工業(yè)檢測、食品藥品安檢以及電子制造等領(lǐng)域。一般來說，工業(yè)X-ray與醫(yī)療等X光在物理原理上是一樣的，都是利用X

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LED失效分析方法與應(yīng)用實踐

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Vitrox 3D在線X射線檢測系統(tǒng)技術(shù)分析

1. 技術(shù)原理與系統(tǒng)架構(gòu) Vitrox V810系列3D在線X射線檢測系統(tǒng)采用平面斷層掃描技術(shù)實現(xiàn)三維成像。系統(tǒng)通過微聚焦X射線源發(fā)射X射線穿透被測PCB組件，由高分辨率平板探測器接收穿透后的X射線

2025-12-15 13:38:16

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聚焦離子束（FIB）技術(shù)在芯片失效分析中的應(yīng)用詳解

聚焦離子束技術(shù)聚焦離子束（FocusedIonBeam,FIB）技術(shù)作為現(xiàn)代半導體失效分析的核心手段之一，通常與掃描電子顯微鏡（ScanningElectronMicroscope,SEM）集成

2025-12-04 14:09:25

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探索鋰電池性能優(yōu)化：3D成像建模分析輥壓工序的科學原理

在鋰離子電池的制造工藝中，極片輥壓是決定電池最終性能的關(guān)鍵“臨門一腳”。這一工序不僅直接關(guān)系到電極的厚度和能量密度，更深刻地重塑了電極內(nèi)部的微觀結(jié)構(gòu)。本文開發(fā)了一套基于真實NMC正極X射線計算機

2025-11-27 18:02:54

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CW32x030時鐘運行的失效檢測

CW32x030 支持外部時鐘（HSE 和LSE）運行中失效檢測功能。在外部時鐘穩(wěn)定運行過程中，時鐘檢測邏輯持續(xù) 以一定的檢測周期對HSE 和LSE 時鐘信號進行計數(shù)：在檢測周期內(nèi)檢測到設(shè)定個數(shù)

2025-11-27 06:37:44

AFE0064 64 通道數(shù)字 X 射線探測器模擬前端（AFE）產(chǎn)品手冊總結(jié)

AFE0064為64通道模擬前端設(shè)計，旨在滿足基于平面面板探測器的數(shù)字X射線系統(tǒng)需求。該設(shè)備包含64個積分器、用于全量量充電選擇的PGA、相關(guān)雙采樣器、64個對2復用器以及兩個差分輸出驅(qū)動器。

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鋰電池嵌入電極顆粒的傳輸線法TLM 模擬研究

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DSXC300蓄電池內(nèi)阻測試儀

的測量儀器。本儀表使用開爾文交流4線法測量電池內(nèi)阻，可不受測試線、端子與電池電極之間接觸電阻影響測量正確的測量值。該儀器由微處理器控制，內(nèi)部16位ADC可準確檢測

2025-10-31 09:01:57

大化所提出高效等離子體啁啾壓縮方法實現(xiàn)阿秒軟X射線激光輸出

近日，我所化學反應(yīng)動力學全國重點實驗室大連光源科學研究室楊學明院士、張未卿研究員團隊與深圳先進光源研究院科研團隊合作，在超快軟X射線自由電子激光(FEL)領(lǐng)域取得新進展。研發(fā)團隊提出一種基于等離子體

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電子元器件失效分析之金鋁鍵合

電子元器件封裝中的引線鍵合工藝，是實現(xiàn)芯片與外部世界連接的關(guān)鍵技術(shù)。其中，金鋁鍵合因其應(yīng)用廣泛、工藝簡單和成本低廉等優(yōu)勢，成為集成電路產(chǎn)品中常見的鍵合形式。金鋁鍵合失效這種現(xiàn)象雖不為人所熟知，卻是

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探秘鍵合點失效：推拉力測試機在半導體失效分析中的核心應(yīng)用

個微小的鍵合點失效，就可能導致整個模塊功能異常甚至徹底報廢。因此，對鍵合點進行精準的強度測試，是半導體封裝與失效分析領(lǐng)域中不可或缺的一環(huán)。本文科準測控小編將圍繞Alpha W260推拉力測試機這一核心設(shè)備，深入淺出地

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深入了解X-ray射線檢測設(shè)備的核心優(yōu)勢與應(yīng)用

在現(xiàn)代工業(yè)和安全檢查中，X-ray射線檢測設(shè)備逐漸成為一項至關(guān)重要的技術(shù)。許多用戶常常會問：什么是X-ray檢測設(shè)備，它的優(yōu)勢在哪里?它可以在哪些領(lǐng)域中得到應(yīng)用?本文將為您揭示這項技術(shù)的核心優(yōu)勢

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常見的電子元器件失效分析匯總

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如何利用X-Ray技術(shù)提升鋰電池安全性與穩(wěn)定性

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電化學表征“X射線光電子能譜（XPS）”分析技術(shù)的詳解；

【博主簡介】本人系一名半導體行業(yè)質(zhì)量管理從業(yè)者，旨在業(yè)余時間不定期的分享半導體行業(yè)中的：產(chǎn)品質(zhì)量、失效分析、可靠性分析和產(chǎn)品基礎(chǔ)應(yīng)用等相關(guān)知識。常言：真知不問出處，所分享的內(nèi)容如有雷同或是不當之處

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深入了解X射線點料機的核心優(yōu)勢及應(yīng)用領(lǐng)域

關(guān)注的焦點。X射線點料機憑借其高速非接觸式檢測技術(shù)，廣泛應(yīng)用于電子、五金、塑料等多個行業(yè)，幫助企業(yè)實現(xiàn)精準點數(shù)和質(zhì)量控制。本文將通過詳盡的分析，揭示X射線點料機的核心優(yōu)勢，探討其在各行各業(yè)中的實際應(yīng)用，助力企

2025-09-30 13:56:26

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蓄電池在線監(jiān)測系統(tǒng) ——蓄電池的CT掃描儀

問題，無法通過簡單的外部檢查發(fā)現(xiàn)，卻可能引發(fā)熱失控甚至火災(zāi)。研究表明，電池內(nèi)部問題導致的故障占蓄電池系統(tǒng)總故障的70%以上。傳統(tǒng)蓄電池管理主要依賴運維人員使用萬用表進行定期電壓測量，這種方式只能獲取有限的數(shù)據(jù)點，無

2025-09-29 10:16:30

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深入解析X-ray檢查機核心技術(shù)與應(yīng)用優(yōu)勢

不斷發(fā)展，使得安檢過程更加高效、可靠，并且在各行業(yè)都得到了廣泛應(yīng)用。本文將深入解析X-ray檢查機的核心技術(shù)與應(yīng)用優(yōu)勢，幫助讀者更好地理解其重要性與價值。 1. X-ray檢查機的基礎(chǔ)原理與技術(shù)架構(gòu) X-ray檢查機的工作原理基于放射線透視的基

2025-09-23 11:47:32

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熱發(fā)射顯微鏡下芯片失效分析案例：IGBT 模組在 55V 就暴露的問題！

分享一個在熱發(fā)射顯微鏡下（Thermal EMMI) 芯片失效分析案例，展示我們?nèi)绾瓮ㄟ^ IV測試與紅外熱點成像，快速鎖定 IGBT 模組的失效點。

2025-09-19 14:33:02

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預警失效電池，保障電力安全！安科瑞ABAT100蓄電池監(jiān)測系統(tǒng)靈活適配多種場景

ABAT100系列蓄電池在線監(jiān)測系統(tǒng)，深入研究了其系統(tǒng)架構(gòu)、監(jiān)測原理、功能特點以及實際應(yīng)用效果。18706165067 產(chǎn)品介紹安科瑞公司ABAT100系列蓄電池在線監(jiān)測系統(tǒng)是在線電池監(jiān)測產(chǎn)品，可以提前對失效的電池進行預警及電池均衡，符合ANSI/

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LED驅(qū)動電路失效分析及解決方案

近年來，隨著LED照明市場的快速擴張，越來越多的企業(yè)加入LED研發(fā)制造行列。然而行業(yè)繁榮的背后，卻隱藏著一個令人擔憂的現(xiàn)象：由于從業(yè)企業(yè)技術(shù)實力參差不齊，LED驅(qū)動電路質(zhì)量差異巨大，導致燈具失效事故

2025-09-16 16:14:52

836

深入了解X-ray無損探傷技術(shù)的優(yōu)勢與應(yīng)用領(lǐng)域

的優(yōu)勢和實際應(yīng)用領(lǐng)域了解不夠。本文將深入探討X-ray無損探傷技術(shù)的獨特優(yōu)勢及其廣泛的應(yīng)用場景，幫助企業(yè)做出更明智的決策，提升自我品牌的信任度。什么是X-ray無損探傷技術(shù)？ X-ray無損探傷技術(shù)，顧名思義，是利用X射線對材料內(nèi)部進行檢查的

2025-09-16 14:59:42

637

LED失效原因分析與改進建議

LED壽命雖被標稱5萬小時，但那只是25℃下的理論值。高溫、高濕、粉塵、電流沖擊等現(xiàn)場條件會迅速放大缺陷，使產(chǎn)品提前失效。統(tǒng)計表明，現(xiàn)場失效多集中在投運前三年，且呈批次性，直接推高售后成本。把常見

2025-09-12 14:36:55

641

邊聊安全 | 安全通訊中的失效率量化評估

安全通訊中的失效率量化評估寫在前面：在評估硬件隨機失效對安全目標的違反分析過程中，功能安全的分析通常集中于各個ECU子系統(tǒng)的PMHF（安全目標違反的潛在失效概率）計算。通過對ECU所有子系統(tǒng)

2025-09-05 16:19:13

5719

鋰電池外殼氣密性檢測儀：高效檢測的安全衛(wèi)士-岳信儀器

你有沒有想過，我們每天用的電動車、手機、筆記本，里面的鋰電池是怎么保證安全的？除了電池內(nèi)部的技術(shù)，電池外殼的“密封性”其實特別重要。如果外殼有小洞或者密封不嚴，水汽、灰塵就可能偷偷溜進去，輕則讓電池

2025-09-04 11:46:27

262

如何選擇適合您需求的X射線點料機？

隨著制造業(yè)和物流行業(yè)對自動化檢測需求的不斷增長，X射線點料機作為高效精準的物料檢測設(shè)備，受到了廣泛關(guān)注。無論是電子元件點數(shù)、工業(yè)零件檢測，還是物流包裹快速篩查，選擇一款合適的X射線點料機能顯著提升

2025-09-03 17:47:01

627

風華貼片電感的失效模式有哪些？如何預防？

，系統(tǒng)分析風華貼片電感的典型失效模式，并提出針對性預防措施。 ?一、典型失效模式分析 1.? 磁路破損類失效磁路破損是貼片電感的核心失效模式之一，具體表現(xiàn)為磁芯裂紋、磁導率偏差及結(jié)構(gòu)斷裂。此類失效通常源于以下原

2025-08-27 16:38:26

658

電子元器件為什么會失效

為內(nèi)部因素與外部因素兩大類。內(nèi)部原因內(nèi)部失效通常源于元器件在材料、結(jié)構(gòu)或工藝層面的固有缺陷，或在長期工作過程中因內(nèi)部物理化學變化導致的性能衰退。主要包括以下幾類：

2025-08-21 14:09:32

983

IGBT短路失效分析

短路失效網(wǎng)上已經(jīng)有很多很詳細的解釋和分類了，但就具體工作中而言，我經(jīng)常遇到的失效情況主要還是發(fā)生在脈沖階段和關(guān)斷階段以及關(guān)斷完畢之后的，失效的模式主要為熱失效和動態(tài)雪崩失效以及電場尖峰過高失效(電流分布不均勻)。理論上還有其他的一些失效情況，但我工作中基本不怎么遇到了。

2025-08-21 11:08:54

4039

高導熱導熱墊片GP360應(yīng)用于X射線機散熱，助力設(shè)備穩(wěn)定運行

填充，充分貼合各種不規(guī)則表面，消除空氣間隙，最大化有效導熱接觸面積。③ 出眾的可靠性與耐久性：寬溫域穩(wěn)定：適應(yīng)X射線機內(nèi)部的工作溫度范圍，性能穩(wěn)定。抗老化耐候：長期使用不易變硬、變脆或出油，保持初始

2025-08-15 15:20:40

推拉力測試機在CBGA焊點強度失效分析中的標準化流程與實踐

有限元仿真技術(shù)，建立了CBGA焊點失效分析的完整方法體系。通過系統(tǒng)的力學性能測試與多物理場耦合仿真，揭示了溫度循環(huán)載荷下CBGA焊點的失效演化規(guī)律，為高可靠性電子封裝設(shè)計與工藝優(yōu)化提供了理論依據(jù)和技術(shù)支持。一、CBGA焊點失效原理 1、失效機理 CBGA焊

2025-08-15 15:14:14

576

如何用FIB截面分析技術(shù)做失效分析？

在半導體器件研發(fā)與制造領(lǐng)域，失效分析已成為不可或缺的環(huán)節(jié)，F(xiàn)IB（聚焦離子束）截面分析，作為失效分析的利器，在微觀世界里大顯身手。它運用離子束精準切割樣品，巧妙結(jié)合電子束成像技術(shù)，實現(xiàn)對樣品內(nèi)部

2025-08-15 14:03:37

866

怎么找出PCB光電元器件失效問題

限制，PCB在生產(chǎn)和應(yīng)用中常出現(xiàn)失效，引發(fā)質(zhì)量糾紛。為查明原因、解決問題并明確責任，失效分析成為必不可少的環(huán)節(jié)。失效分析流程1.失效定位失效分析的首要任務(wù)是基于失效

2025-08-15 13:59:15

630

經(jīng)驗分享：日置BT3564電池內(nèi)阻測試儀讀數(shù)異常故障排查與解決

近日客戶送來一臺日置電池內(nèi)阻測試儀BT3564，該儀器的故障表現(xiàn)為測試電池內(nèi)阻異常。在收到儀器后對儀器進行檢測，檢測結(jié)果與描述故障一致。

2025-08-14 15:14:02

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海康睿影雙能X光智能缺陷檢測系統(tǒng)助力提升產(chǎn)品健康品質(zhì)

原來，就像棱鏡可以把太陽光拆成彩虹，一束X光也可“拆分”為：低能量射線和高能量射線。

2025-08-12 17:37:22

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福祿克BT521蓄電池分析儀在DCS供電系統(tǒng)中的應(yīng)用

“一次蓄電池老化，導致DCS系統(tǒng)癱瘓、全線停產(chǎn)！”——這是某年產(chǎn)50萬噸磷酸鹽的化工龍頭曾遭遇的切膚之痛。如今，福祿克BT521蓄電池分析儀已成為該企業(yè)供電系統(tǒng)的“首席診斷官”，讓電池失效風險歸零！

2025-08-12 14:10:30

1151

EDS分析元素的基本原理

系統(tǒng)總能量最低，外層電子躍遷到有空位的內(nèi)殼層，多余的能量以特征X射線或俄歇電子的形式放出。每個元素的特征X射線能量不同，大小取決于原子中電子的能級躍遷過程中釋放出

2025-08-08 11:41:44

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x射線探針臺調(diào)試

探針

jf_90915507發(fā)布于 2025-08-04 17:12:45

使用可編程電源進行電池測試時需要注意什么？

關(guān)斷。過溫保護（OTP）：監(jiān)測電源內(nèi)部溫度，超過閾值（如85℃）自動停機。反向連接保護：防止電池極性接反導致電源損壞（如通過二極管或繼電器隔離）。軟件防護測試流程驗證：在編程測試腳本前，通過

2025-07-11 14:27:41

芯片失效步驟及其失效難題分析！

芯片失效分析的主要步驟芯片開封：去除IC封膠，同時保持芯片功能的完整無損，保持die，bondpads，bondwires乃至lead-frame不受損傷，為下一步芯片失效分析實驗做準備。SEM

2025-07-11 10:01:15

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針對芯片失效的專利技術(shù)與解決方法

，為了弄清楚各類異常所導致的失效根本原因，IC失效分析也同樣在行業(yè)內(nèi)扮演著越來越重要的角色。一塊芯片上集成的器件可達幾千萬，因此進行集成電路失效分析必須具備先進、準確的技術(shù)和設(shè)備，并由具有相關(guān)專業(yè)知識的半導體分析人員開展分析工作。

2025-07-10 11:14:34

591

淺談封裝材料失效分析

在電子封裝領(lǐng)域，各類材料因特性與應(yīng)用場景不同，失效模式和分析檢測方法也各有差異。

2025-07-09 09:40:52

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LED失效的典型機理分析

一、芯片缺陷在LED器件的失效案例中，芯片缺陷是一個不容忽視的因素。失效的LED器件表現(xiàn)出正向壓降（Vf）增大的現(xiàn)象，在電測過程中，隨著正向電壓的增加，樣品仍能發(fā)光，這暗示著LED內(nèi)部可能存在電連接

2025-07-08 15:29:13

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LED芯片失效和封裝失效的原因分析

芯片失效和封裝失效的原因，并分析其背后的物理機制。金鑒實驗室是一家專注于LED產(chǎn)業(yè)的科研檢測機構(gòu)，致力于改善LED品質(zhì)，服務(wù)LED產(chǎn)業(yè)鏈中各個環(huán)節(jié)，使LED產(chǎn)業(yè)健康

2025-07-07 15:53:25

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連接器會失效情況分析？

連接器失效可能由電氣、機械、環(huán)境、材料、設(shè)計、使用不當或壽命到期等多種原因引起。通過電氣、機械、外觀和功能測試，可以判斷連接器是否失效。如遇到失效的情況需要及時更新，保證工序的正常進行。

2025-06-27 17:00:56

654

聚徽——電容失效模式全解：鼓包、漏液、擊穿的「誘因與預防」

電容作為電子電路中的核心元件，其可靠性直接影響系統(tǒng)性能。然而，鼓包、漏液、擊穿等失效模式卻成為制約電容壽命的「隱形殺手」。本文將從失效機理、誘因分析及預防策略三個維度，深度解析這些故障的根源與應(yīng)對

2025-06-19 10:21:15

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SEM掃描電鏡斷裂失效分析

中圖儀器SEM掃描電鏡斷裂失效分析采用鎢燈絲電子槍，其電子槍發(fā)射電流大、穩(wěn)定性好，以及對真空度要求不高，使得鎢燈絲臺式掃描電鏡能夠在較短的時間內(nèi)達到穩(wěn)定的工作狀態(tài)并獲得清晰的圖像，從而提高了檢測效率

2025-06-17 15:02:09

電壓環(huán)路：電池 → 升壓電路 → 降壓電路 → 電池

）。電路發(fā)熱：由于電流流過連接點和電池內(nèi)部，會產(chǎn)生一定的熱量，可能導致連接點或電池發(fā)熱。解決方案為了避免這種問題，可以考慮以下幾種改進措施：增加電壓反饋控制：在降壓電路中增加電壓反饋機制，確保

2025-06-13 09:16:49

VirtualLab應(yīng)用：元件內(nèi)部場分析儀：FMM

摘要元件內(nèi)部場分析器：FMM允許用戶可視化和研究微結(jié)構(gòu)和納米結(jié)構(gòu)內(nèi)部的電磁場分布。為此，使用傅立葉模態(tài)法/嚴格耦合波分析（FMM/RCWA）計算周期性結(jié)構(gòu)（透射或反射、電介質(zhì)或金屬）內(nèi)部的場

2025-06-12 08:52:23

固態(tài)電池為何突然失效？中國團隊破解短路迷因，助力電池量產(chǎn)加速

Society）上刊登了一份研究成果，利用原位透射電鏡技術(shù)首次在納米尺度揭示了無機固態(tài)電解質(zhì)中的軟短路向硬短路轉(zhuǎn)變機制及其背后的析鋰動力學。 ? 簡單來說，就是為固態(tài)電解質(zhì)的納米尺度失效機理提供了全新認知，改變了以往對固態(tài)電池短路問題的理解，從根本上揭示了其失效

2025-06-11 00:11:00

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MDD高壓二極管在X射線、高壓電源和激光驅(qū)動中的實際應(yīng)用案例

結(jié)合實際案例，深入分析這些應(yīng)用場景中高壓二極管的作用、關(guān)鍵選型考慮及工程挑戰(zhàn)。一、X射線設(shè)備：高壓整流的核心器件X射線機內(nèi)部通常包含一個數(shù)十千伏至上百千伏的高壓電

2025-05-26 10:38:11

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離子研磨在芯片失效分析中的應(yīng)用

芯片失效分析中對芯片的截面進行觀察，需要對樣品進行截面研磨達到要觀察的位置，而后再采用光學顯微鏡（OM Optical Microscopy）或者掃描電子顯微（SEM Scanning Electron Microscopy）進行形貌觀察。

2025-05-15 13:59:00

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鋰電池熱失控原理及安全檢測技術(shù)解析

電池內(nèi)部溫度因過充、機械損傷、環(huán)境高溫等因素超過臨界點時，固態(tài)電解質(zhì)膜（SEI膜）開始分解，導致電解液與電極材料發(fā)生劇烈氧化反應(yīng)。這一過程釋放的熱量若無法及時消散，將引發(fā)鏈式放熱反應(yīng)，使溫度在數(shù)

2025-05-12 16:51:30

中科采象邀您共同研討高速數(shù)據(jù)采集在超快與X射線領(lǐng)域應(yīng)用

2025年超快與X射線科學國際研討會時間：2025年5月9日-12日地點：上海科技大學會議中心簡介：2025年超快與X射線科學國際研討會將聚焦阿秒物理極限探索、自由電子激光技術(shù)革新及量子態(tài)精密調(diào)控等

2025-05-09 14:05:59

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詳談X射線光刻技術(shù)

隨著極紫外光刻（EUV）技術(shù)面臨光源功率和掩模缺陷挑戰(zhàn)，X射線光刻技術(shù)憑借其固有優(yōu)勢，在特定領(lǐng)域正形成差異化競爭格局。

2025-05-09 10:08:49

1370

元器件失效分析有哪些方法？

失效分析的定義與目標失效分析是對失效電子元器件進行診斷的過程。其核心目標是確定失效模式和失效機理。失效模式指的是我們觀察到的失效現(xiàn)象和形式，例如開路、短路、參數(shù)漂移、功能失效等；而失效機理則是指導

2025-05-08 14:30:23

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PCBA加工廠中X-RAY檢測技術(shù)應(yīng)用與重要性

，為了確保焊接質(zhì)量和產(chǎn)品的可靠性，PCBA加工廠必須配備先進的測試設(shè)備。這其中，X-RAY檢查機無疑扮演了至關(guān)重要的角色。 X-RAY檢測技術(shù)，簡而言之，是一種利用高能電子發(fā)射X射線，對樣品進行穿透成像的技術(shù)。當X射線穿透不同密度的物體時，會在

2025-05-07 10:29:18

741

提前對失效的電池進行預警及電池均衡管理安科瑞ABAT100系列蓄電池在線監(jiān)測

安科瑞公司ABAT100系列蓄電池在線監(jiān)測系統(tǒng)是在線電池監(jiān)測產(chǎn)品，可以提前對失效的電池進行預警及電池均衡，符合ANSI/TIA-942標準要求。該系統(tǒng)具有監(jiān)測電池的電壓、內(nèi)阻與內(nèi)部溫度功能，安裝

2025-04-29 14:11:12

617

LED芯片質(zhì)量檢測技術(shù)之X-ray檢測

X射線檢測在光電半導體領(lǐng)域，LED芯片作為核心技術(shù)，其質(zhì)量至關(guān)重要。隨著制造工藝的不斷進步，LED芯片的結(jié)構(gòu)日益復雜，內(nèi)部潛在缺陷的風險也隨之增加。盡管在常規(guī)工作條件下，這些缺陷可能不會明顯影響芯片

2025-04-28 20:18:47

692

破局SiC封裝瓶頸 | 攻克模組失效分析全流程問題

分析方面面臨諸多挑戰(zhàn)，尤其是在化學開封、X-Ray和聲掃等測試環(huán)節(jié)，國內(nèi)技術(shù)尚不成熟。基于此，廣電計量集成電路測試與分析研究所推出了先進封裝SiC功率模組失效分析技

2025-04-25 13:41:41

747

概倫電子先進電路檢查分析平臺工具NanoSpice CCK介紹

NanoSpiceCCK是一款先進的電路檢查可靠性分析工具，支持晶體管級全面的ERC、SOA電路檢查，適用于前后仿電路規(guī)則檢查功能，能夠快速提供準確、簡潔的測試結(jié)果，方便設(shè)計人員及時發(fā)現(xiàn)電路中漏電、高阻態(tài)等問題。

2025-04-23 15:05:48

745

數(shù)據(jù)中心鉛酸蓄電池在線監(jiān)測：安科瑞ABAT系統(tǒng)讓電池失效預警提速70%

你是否知道，90%的電池故障可通過內(nèi)阻異常提前預判？ IEEE 1188標準指出，鉛酸蓄電池內(nèi)阻增加至基準值的125%時，容量已衰減至80%的失效臨界點。然而，傳統(tǒng)人工巡檢僅能捕捉表面電壓異常，而

2025-04-16 10:46:56

659

正點原子ND1核輻射檢測儀支持檢測x，γ，β射線的輻射強度，高靈敏度J321蓋革-米勒計數(shù)管，支持約100萬個輻射值記錄！

正點原子ND1核輻射檢測儀支持檢測x，γ，β射線的輻射強度，高靈敏度J321蓋革-米勒計數(shù)管，支持約100萬個輻射值記錄！ ND1核輻射檢測儀是正點原子最新推出的一款多功能核輻射檢測儀

2025-04-15 11:09:08

X-Ray檢測助力BGA焊接質(zhì)量全面評估

，如空洞、偏移、焊球缺失等焊接過程中可能產(chǎn)生的橋接、焊球粘連等問題傳統(tǒng)檢測方法難以在不破壞產(chǎn)品的情況下全面評估焊接質(zhì)量 X-Ray檢測技術(shù)通過X射線穿透被測物體，利用不同材料對X射線吸收能力的差異，形成不同灰度的圖像，從而實現(xiàn)對

2025-04-12 16:35:00

719

MDD超快恢復二極管的典型失效模式分析：如何避免過熱與短路？

使用環(huán)境導致失效，常見的失效模式主要包括過熱失效和短路失效。1.過熱失效及其規(guī)避措施過熱失效通常是由于功率損耗過大、散熱不良或工作環(huán)境溫度過高導致的。主要成因包括：正向

2025-04-11 09:52:17

685

電子元器件失效分析與典型案例（全彩版）

本資料共分兩篇,第一篇為基礎(chǔ)篇，主要介紹了電子元器件失效分析基本概念、程序、技術(shù)及儀器設(shè)備;第二篇為案例篇，主要介紹了九類元器件的失效特點、失效模式和失效機理以及有效的預防和控制措施,并給出九類

2025-04-10 17:43:54

為什么快速充電會降低汽車電池的容量?

，對保障電動汽車電池的健康使用和延長電池壽命具有重要意義。快速充電會降低汽車電池的容量，這主要是由于快速充電過程中電池內(nèi)部發(fā)生的化學反應(yīng)以及電池材料本身的特性所導致的。以下是幾個主要原因： 1. 鋰離子的轉(zhuǎn)化與損

2025-04-10 07:34:42

1781

HDI板激光盲孔底部開路失效原因分析

高密度互聯(lián)（HDI）板的激光盲孔技術(shù)是5G、AI芯片的關(guān)鍵工藝，但孔底開路失效卻讓無數(shù)工程師頭疼！SGS微電子實驗室憑借在失效分析領(lǐng)域的豐富經(jīng)驗，總結(jié)了一些失效分析經(jīng)典案例，旨在為工程師提供更優(yōu)

2025-03-24 10:45:39

1271

X射線成像系統(tǒng)：Kirkpatrick-Baez鏡和單光柵干涉儀

在如醫(yī)療成像和工業(yè)檢查等廣泛的應(yīng)用中，X射線成像是一種有價值的工具。在VirtualLab Fusion中，我們已經(jīng)成功地實現(xiàn)了幾個著名的X射線成像系統(tǒng)，它們可以用來探索所討論裝置的成像特性，或用

2025-03-21 09:22:57

VirtualLab Fusion應(yīng)用：用于X射線束的掠入射聚焦鏡

摘要掠入射反射光學在x射線束線中得到了廣泛的應(yīng)用，特別是在Kirkpatrick-Baez橢圓鏡系統(tǒng)中 [A. Verhoeven, et al., Journal of Synchrotron

2025-03-21 09:17:39

VirtualLab Fusion應(yīng)用：用于X射線成像的單光柵干涉儀

，建模為僅相位傳輸函數(shù)（因為X射線波長遠小于光柵周期），并在VirtualLab Fusion中檢查了其成像。建模任務(wù) 交叉圖案相位光柵棋盤圖案相位光柵網(wǎng)格圖案相位光柵不同案例之間

2025-03-21 09:12:38

利用X射線衍射方法測量薄膜晶體沿襯底生長的錯配角

本文介紹了利用X射線衍射方法測量薄膜晶體沿襯底生長的錯配角，可以推廣測量單晶體的晶帶軸與單晶體表面之間的夾角，為單晶體沿某晶帶軸切割提供依據(jù)。

2025-03-20 09:29:10

848

PCB失效分析技術(shù)：保障電子信息產(chǎn)品可靠性

問題。為了確保PCB的質(zhì)量和可靠性，失效分析技術(shù)顯得尤為重要。外觀檢查外觀檢查是失效分析的第一步，通過目測或借助簡單儀器（如立體顯微鏡、金相顯微鏡或放大鏡）對PC

2025-03-17 16:30:54

935

封裝失效分析的流程、方法及設(shè)備

本文首先介紹了器件失效的定義、分類和失效機理的統(tǒng)計，然后詳細介紹了封裝失效分析的流程、方法及設(shè)備。

2025-03-13 14:45:41

1819

太誘電容的失效分析：裂紋與短路問題

太誘電容的失效分析，特別是針對裂紋與短路問題，需要從多個角度進行深入探討。以下是對這兩個問題的詳細分析：一、裂紋問題裂紋成因：熱膨脹系數(shù)差異：電容器的各個組成部分(如陶瓷介質(zhì)、端電極

2025-03-12 15:40:02

1222

電池連接器的工作原理？接線方法？

池連接器的工作原理基于電路中電荷的流動和電位差的建立。當電池連接器連接到電池時，電池內(nèi)部會產(chǎn)生一個電勢差，即電壓。電勢差的大小取決于電池的化學反應(yīng)和電池的電化學電位。通常，電池的正極和負極之間的電勢差為幾個伏特。

2025-03-12 09:03:47

1421

X射線顯微CT檢測設(shè)備助力高效安全儲能系統(tǒng)發(fā)展

電池作為現(xiàn)代能源存儲的核心，其可靠性、效率與安全性直接影響著電動汽車、可再生能源存儲及便攜電子設(shè)備的發(fā)展。蔡司代理-三本工業(yè)測量儀器獲悉，傳統(tǒng)電池研究方法常需破壞性檢測，難以實時觀察電池內(nèi)部動態(tài)變化

2025-03-06 15:10:06

1346

X射線應(yīng)用中的ADC前端優(yōu)化方案

工業(yè) X 射線是一種無損檢測方法，廣泛應(yīng)用于醫(yī)療、食品檢驗、射線照相和安全行業(yè)，它可以提供精確的材料尺寸與類型的二維讀數(shù)，同時可識別質(zhì)量缺陷并計算數(shù)量。

2025-03-06 14:10:20

1225

X射線管和高壓電源的類型

2025-03-06 09:22:23

2312

高密度封裝失效分析關(guān)鍵技術(shù)和方法

高密度封裝技術(shù)在近些年迅猛發(fā)展，同時也給失效分析過程帶來新的挑戰(zhàn)。常規(guī)的失效分析手段難以滿足結(jié)構(gòu)復雜、線寬微小的高密度封裝分析需求，需要針對具體分析對象對分析手法進行調(diào)整和改進。

2025-03-05 11:07:53

1289

保障電池安全，動力電池氣密性檢測設(shè)備在行業(yè)中的作用

直接關(guān)系到整車的安全、續(xù)航和壽命。而氣密性，則是評估電池質(zhì)量與安全性的關(guān)鍵指標之一。一旦電池的氣密性出現(xiàn)問題，水汽、塵埃等雜質(zhì)就有可能侵入電池內(nèi)部，導致電池性能下降，甚

2025-02-20 14:30:23

715

芯片失效分析的方法和流程

? 本文介紹了芯片失效分析的方法和流程，舉例了典型失效案例流程，總結(jié)了芯片失效分析關(guān)鍵技術(shù)面臨的挑戰(zhàn)和對策，并總結(jié)了芯片失效分析的注意事項。 ? ? 芯片失效分析是一個系統(tǒng)性工程，需要結(jié)合電學測試

2025-02-19 09:44:16

2908

使用基于 CCD 技術(shù)的探測器直接檢測 X 射線（30 eV 至 20 keV）

級 CCD 的設(shè)計修改最初是由對 X 射線天文學應(yīng)用的興趣推動的，極大地擴展了同步加速器設(shè)施的 X 射線成像和 X 射線光譜學領(lǐng)域。設(shè)備經(jīng)過精心設(shè)計，可檢測能量范圍從遠低于 100 eV 一直到 100 keV 及更高(整整三個數(shù)量級)的 X 射線，這使得它們對于將

2025-02-18 06:18:47

1050

中國科大實現(xiàn)毫秒級X射線全譜單次采集

近日，中國科學技術(shù)大學教授姚濤團隊在X射線吸收譜技術(shù)方面取得了重要突破。他們成功采用了能量色散X射線吸收譜技術(shù)，實現(xiàn)了毫秒(60ms)時間分辨的全譜“單次采集”，這一成果極大地提升了數(shù)據(jù)采集的效率

2025-02-17 10:05:58

713

FIB-SEM技術(shù)在鋰離子電池的應(yīng)用

、形貌以及界面特性對電池的充放電性能、循環(huán)穩(wěn)定性等起著關(guān)鍵作用。因此，準確表征電池材料的結(jié)構(gòu)和形貌是理解其性能的基礎(chǔ)。傳統(tǒng)的表征方法如X射線衍射、X射線電子能譜、拉

2025-02-08 12:15:47

1145

X射線熒光光譜分析技術(shù)：原理與應(yīng)用

，X射線具有強大的穿透能力，能夠穿透許多物質(zhì)，這使得它在材料分析、醫(yī)學成像以及工業(yè)無損檢測等領(lǐng)域具有重要應(yīng)用價值。其次，X射線的折射率接近1，這意味著它在通過物質(zhì)

2025-02-06 14:15:26

1824

移動電源鼓包了會爆炸嗎

移動電源（充電寶）鼓包了確實存在爆炸的風險。鼓包往往是由于充電寶內(nèi)部電池的老化、過熱或不當使用導致的。當電池老化、過熱或遭遇不當使用等情況時，電池內(nèi)部的安全閥可能會失效，導致氣體在電池內(nèi)部逐漸堆積，形成一個“氣袋”，最終導致充電寶外殼鼓起，形成明顯的鼓包。

2025-01-27 15:44:00

12274

X-Ray檢測技術(shù)在SMT貼片加工中的應(yīng)用

X射線檢測技術(shù)原理X射線檢測技術(shù)的核心在于借助X射線的穿透特性來實現(xiàn)物體內(nèi)部結(jié)構(gòu)的可視化。當X射線穿透不同密度的物質(zhì)時，會因物質(zhì)的密度差異而產(chǎn)生不同的吸收效果，進而形成相應(yīng)的內(nèi)部影像。具體而言，密度

2025-01-26 13:38:56

842

鋰電池品牌推薦：鋰電池內(nèi)阻多少比較好？

鋰電池內(nèi)阻多少比較好并沒有一個固定的標準，它取決于電池的類型、容量、使用環(huán)境以及應(yīng)用場景等多種因素。在實際應(yīng)用中，需要根據(jù)具體需求來選擇合適內(nèi)阻的鋰電池，同時通過合理的使用和維護，盡可能保持電池內(nèi)阻的穩(wěn)定，延長電池的使用壽命。

2025-01-22 16:42:54

3202

原子吸收光譜的原理的新思考及應(yīng)用

當電子束或X射線白光照射到固體物質(zhì)時能發(fā)射特征X射線譜線，這是電鏡能譜元素分析或X熒光元素分析的基本原理。這些元素特征光譜與元素核外電子能級差相關(guān)。這些發(fā)射的光譜屬于X射線，波長在0.1至1nm,其

2025-01-21 10:09:12

1277

PCB及PCBA失效分析的流程與方法

PCB失效分析：步驟與技術(shù)作為各種元器件的載體與電路信號傳輸?shù)臉屑~PCB（PrintedCircuitBoard，印刷電路板）已經(jīng)成為電子信息產(chǎn)品的最為重要而關(guān)鍵的部分，其質(zhì)量的好壞與可靠性水平?jīng)Q定

2025-01-20 17:47:01

1696

法拉電容與電池的比較

的雙電層中存儲電荷來工作。這種存儲機制使得法拉電容能夠非常快速地充放電，但它們的能量密度相對較低。電池：電池的工作原理基于化學反應(yīng)。在放電過程中，電池內(nèi)部的化學反應(yīng)產(chǎn)生電子，從而產(chǎn)生電流。電池的能量密度通常比法

2025-01-19 09:31:16

2077

微型晶體管高分辨率X射線成像

本文主要介紹微型晶體管高分辨率X射線成像 ? 一種經(jīng)過升級的X射線可對芯片內(nèi)部進行3D成像，展現(xiàn)其設(shè)計和缺陷。這種方法的分辨率為4納米，提供的圖像非常清晰，可以繪制芯片的布線路徑，在不破壞芯片

2025-01-16 11:10:13

873

整流二極管失效分析方法

整流二極管失效分析方法主要包括對失效原因的分析以及具體的檢測方法。一、失效原因分析防雷、過電壓保護措施不力：整流裝置未設(shè)置防雷、過電壓保護裝置，或保護裝置工作不可靠，可能因雷擊或過電壓而損壞

2025-01-15 09:16:58

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LED失效分析重要手段——光熱分布檢測

光熱分布檢測意義在LED失效分析領(lǐng)域，光熱分布檢測技術(shù)扮演著至關(guān)重要的角色。LED作為一種高效的照明技術(shù)，其性能和壽命受到多種因素的影響，其中光和熱的分布情況尤為關(guān)鍵。光熱分布不均可能導致芯片界面

2025-01-14 12:01:24

738

如何有效地開展EBSD失效分析

失效分析的重要性失效分析其核心任務(wù)是探究產(chǎn)品或構(gòu)件在服役過程中出現(xiàn)的各種失效形式。這些失效形式涵蓋了疲勞斷裂、應(yīng)力腐蝕開裂、環(huán)境應(yīng)力開裂引發(fā)的脆性斷裂等諸多類型。深入剖析失效機理，有助于工程師

2025-01-09 11:01:46

996

數(shù)據(jù)中心蓄電池失效會造成哪些危害及相關(guān)解決方案

一、數(shù)據(jù)中心蓄電池失效可能會帶來以下影響： 1. 供電中斷：蓄電池作為UPS的關(guān)鍵組成部分，為數(shù)據(jù)中心提供電力的最后保障。一旦蓄電池失效，在市電停電或UPS系統(tǒng)出現(xiàn)問題時，無法為數(shù)據(jù)中心設(shè)備提供

2025-01-08 16:49:51

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你知道嗎？最好的電池內(nèi)阻究竟是多少湖北鋰電池生產(chǎn)廠家

了解電池內(nèi)阻能幫我們更好地挑選適合設(shè)備的電池，也讓我們對未來能源的無限可能多了一份清晰認知。下次再接觸電子產(chǎn)品，不妨多留意下電池內(nèi)阻這個隱藏在幕后卻掌控大局的關(guān)鍵因素吧！

2025-01-07 15:46:11

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電池內(nèi)部X射線檢查失效分析

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