由于生產工藝及現場環境等影響，容易造成薄膜表面出現黑點、晶點、麻點、破洞、線條、褶皺、蚊蟲、劃傷等瑕疵，不僅影響嚴重薄膜產品的外觀，更是給企業帶來經濟損失。只有在生產過程中及時檢出薄膜表面的瑕疵缺陷，從生產的根源來消除瑕疵，控制和提高薄膜的表面質量，才是最行之有效的辦法。

傳統的檢測方法如人工目視抽檢速度慢、精度低、易疲勞已經遠遠不能滿足現在工業生產中高速、高分辨率和無損只能檢測的要求。基于CCD的精譜測控薄膜瑕疵檢測系統與傳統的人工肉眼檢測相比，具有快速、可靠、準確的優點，實時在線檢測，自動報警并顯示當前瑕疵的具體信息，以便及時進行處理。

精譜測控薄膜瑕疵檢測系統檢測原理：

針對透光率高的薄膜材料，系統采用透射的打光檢測方式進行檢測，即光源在薄膜的下方，相機在薄膜的上方進行圖像拍攝（對于不透明的材料則采用反射的打光方式，即光源與相機在所要檢測面的同一側）。產線運行時，系統通過編碼器實時的采集產線運行狀態信息并開始檢測，系統將相機采集到的圖像通過精譜測控圖像分析軟件進行瑕疵處理，由于瑕疵與正常產品的圖像在灰階上存在明顯差異，從而使得系統能夠發現瑕疵，并通過進一步的計算、分析來確定瑕疵的大小、位置、類型等信息。

精譜測控薄膜瑕疵檢測系統技術參數：

檢測對象：保護膜、涂布膜、PE膜、食品包裝膜、太陽能薄膜、光學膜等等

典型瑕疵：晶點、黑點、蚊蟲、污點、線條、破洞等

檢測速度：Max：800m/min

檢測幅寬：任意（根據生產線定制）

檢測精度：0.1mm~1mm（取決于相機數量、產線幅寬及車速）

瑕疵標識：自動聲光報警、截取當前瑕疵圖片及實時X/Y坐標瑕疵分布圖顯示

歷史記錄：根據批次號自動記錄每一卷薄膜瑕疵的圖片、大小、分布位置等信息

精譜測控薄膜瑕疵檢測系統功能：

（1）精確的瑕疵地圖（X、Y坐標）定位顯示模塊；

（2）自動聲光報警，并顯示當前及前后10個瑕疵的瑕疵圖像；

（3）實時瑕疵信息展示，記錄當前瑕疵的類型、面積（直徑）、橫縱向位置等信息；

（4）產品基本信息模塊，記錄產品批次號、型號、規格、班號、操作員等信息（用戶可根據生產情況進行修改）；

（5）實時的檢測米數檢測米數、報警信息顯示；

（6）根據瑕疵面積大小、形狀、灰階差異等特征實現瑕疵的自動分類；

（7）周期性、連續性瑕疵的自動報警；

（8）自動生成每一卷產品的產品瑕疵記錄，用戶可根據批次號直接查詢；

（9）自動換卷，并自動打印每一卷產品信息的質量報表；

（10）檢測歷史記錄的自動統計、保存、查詢、調用及打印等功能；

（11）長時間、大容量的歷史記錄存儲；

（12）產線的自動化聯動、遠程技術服務等；

注：軟件功能可根據用戶的不同要求進行特殊功能的定制開發。

責任編輯：tzh