尚未實施,以及 IC 廠庫存水位偏低、智慧手機進入銷售旺季,加上 AI 需求持續強等因素,晶圓代工廠產能利用率并未如預期下修,晶圓廠第三季表現可能更勝預期。 截止11月13日,全球晶圓代工大廠臺積電、聯電、中芯國際紛紛發布第三季度財報,本文將重點
2025-11-16 00:19:00
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晶圓清洗的核心原理是通過 物理作用、化學反應及表面調控的協同效應 ,去除晶圓表面的顆粒、有機物、金屬離子及氧化物等污染物,同時確保表面無損傷。以下是具體分析: 一、物理作用機制 超聲波與兆聲波清洗
2025-11-18 11:06:19
200 近日,美國亞利桑那州鳳凰城的臺積電 Fab 21 晶圓廠內,一塊承載全球 AI 產業期待的特殊晶圓正式下線 —— 這是首片在美國本土制造的英偉達 Blackwell 芯片晶圓。英偉達 CEO 黃仁勛
2025-10-22 17:21:52
702 SPI使用單工模式通訊
本帖子演示AT32F403Axx SPI使用單工模式通訊,其余系列使用方式與此類似。注:本示例代碼是基于雅特力提供的V2.x.x板級支持包(BSP)而開發,對于其他版本
2025-10-20 16:24:15
馬蘭戈尼干燥原理通過獨特的流體力學機制顯著提升了晶圓制造過程中的干燥效率與質量,但其應用也需精準調控以避免潛在缺陷。以下是該技術對晶圓制造的具體影響分析:正面影響減少水漬污染與殘留定向回流機制:利用
2025-10-15 14:11:06
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一、引言
玻璃晶圓總厚度偏差(TTV)是衡量晶圓質量的關鍵指標,其精確分析對半導體制造、微流控芯片等領域至關重要 。傳統 TTV 厚度數據分析方法依賴人工或簡單算法,效率低且難以挖掘數據潛在規律
2025-10-11 13:32:41
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再生晶圓與普通晶圓在半導體產業鏈中扮演著不同角色,二者的核心區別體現在來源、制造工藝、性能指標及應用場景等方面。以下是具體分析:定義與來源差異普通晶圓:指全新生產的硅基材料,由高純度多晶硅經拉單晶
2025-09-23 11:14:55
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WD4000晶圓BOW值彎曲度測量系統兼容不同材質不同粗糙度、可測量大翹曲wafer、測量晶圓雙面數據更準確。它通過非接觸測量,將晶圓的三維形貌進行重建,強大的測量分析軟件穩定計算晶圓厚度,TTV
2025-09-18 14:03:57
在半導體產業飛速發展的今天,芯片質量的把控至關重要。浙江季豐電子科技有限公司嘉善晶圓測試廠(以下簡稱嘉善晶圓測試廠)憑借在 CP(Chip Probing,晶圓測試)測試領域的深厚技術積累與創新突破,持續為全球芯片產業鏈提供堅實可靠的品質保障,深受客戶的信任與好評。
2025-09-05 11:15:03
1032 WD4000晶圓厚度翹曲度測量系統兼容不同材質不同粗糙度、可測量大翹曲wafer、測量晶圓雙面數據更準確。它通過非接觸測量,將晶圓的三維形貌進行重建,強大的測量分析軟件穩定計算晶圓厚度,TTV
2025-08-25 11:29:30
WD4000晶圓顯微形貌測量系統通過非接觸測量,將晶圓的三維形貌進行重建,強大的測量分析軟件穩定計算晶圓厚度,TTV,BOW、WARP、在高效測量測同時有效防止晶圓產生劃痕缺陷。WD4000晶圓顯微
2025-08-20 11:26:59
WD4000晶圓膜厚測量系統通過非接觸測量,將晶圓的三維形貌進行重建,強大的測量分析軟件穩定計算晶圓厚度,TTV,BOW、WARP、在高效測量測同時有效防止晶圓產生劃痕缺陷。WD4000晶圓膜厚測量
2025-08-12 15:47:19
半導體制造國產化浪潮中,晶圓傳輸效率直接制約產線吞吐量。傳統機械臂傳輸存在振動大、精度低的缺陷,而直線電機驅動的EFEM(設備前端模塊)憑借高速平滑運動,將晶圓交接時間縮短至0.8秒內,同時定位精度提升至微米級,成為12英寸晶圓廠優選方案。
2025-08-06 14:43:38
697 WD4000晶圓THK測量設備兼容不同材質不同粗糙度、可測量大翹曲wafer、測量晶圓雙面數據更準確。它通過非接觸測量,將晶圓的三維形貌進行重建,強大的測量分析軟件穩定計算晶圓厚度,TTV,BOW
2025-07-28 15:38:44
晶圓清洗工藝是半導體制造中的關鍵步驟,用于去除晶圓表面的污染物(如顆粒、有機物、金屬離子和氧化物),確保后續工藝(如光刻、沉積、刻蝕)的良率和器件性能。根據清洗介質、工藝原理和設備類型的不同,晶圓
2025-07-23 14:32:16
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晶圓清洗機中的晶圓夾持是確保晶圓在清洗過程中保持穩定、避免污染或損傷的關鍵環節。以下是晶圓夾持的設計原理、技術要點及實現方式: 1. 夾持方式分類 根據晶圓尺寸(如2英寸到12英寸)和工藝需求,夾持
2025-07-23 14:25:43
928 不同晶圓尺寸的清洗工藝存在顯著差異,主要源于其表面積、厚度、機械強度、污染特性及應用場景的不同。以下是針對不同晶圓尺寸(如2英寸、4英寸、6英寸、8英寸、12英寸等)的清洗區別及關鍵要點:一、晶圓
2025-07-22 16:51:19
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Wafer Acceptance Test (WAT) 是晶圓制造中確保產品質量和可靠性的關鍵步驟。它通過對晶圓上關鍵參數的測量和分析,幫助識別工藝中的問題,并為良率提升提供數據支持。在芯片項目的量產管理中,WAT是您保持產線穩定性和產品質量的重要工具。
2025-07-17 11:43:31
2774 楷登電子(美國 Cadence 公司,NASDAQ:CDNS)近日宣布擴大與三星晶圓代工廠的合作,包括簽署一項新的多年期 IP 協議,在三星晶圓代工廠的 SF4X、SF5A 和 SF2P 先進節點
2025-07-10 16:44:04
918 WD4000晶圓厚度THK幾何量測系統兼容不同材質不同粗糙度、可測量大翹曲wafer、測量晶圓雙面數據更準確。它通過非接觸測量,將晶圓的三維形貌進行重建,強大的測量分析軟件穩定計算晶圓厚度,TTV
2025-07-10 13:42:33
超薄晶圓因其厚度極薄,在切割時對振動更為敏感,易影響厚度均勻性。我將從分析振動對超薄晶圓切割的影響出發,探討針對性的振動控制技術和厚度均勻性保障策略。
超薄晶圓(
2025-07-09 09:52:03
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性的影響機制,并提出有效抑制方法,是提升晶圓加工精度、推動半導體產業高質量發展的關鍵所在。
二、振動 - 應力耦合效應對晶圓厚度均勻性的影響
2.1 振動引發
2025-07-08 09:33:33
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6月24日消息,市場調研機構Counterpoint Research最新公布的研究報告指出, 2025年第一季,全球晶圓代工2.0(Foundry 2.0)市場營收達720億美元,較去年同期增長
2025-06-25 18:17:41
438 并購重組審核委員會審議通過,后續尚需取得中國證監會同意注冊的決定后方可實施。 芯聯集成是全球領先的集成電路晶圓代工企業之一,根據ChipInsights發布的《2024年全球專屬晶圓代工排行榜》,芯聯集成躋身2024年全球專屬晶圓代工榜單前十,中
2025-06-25 18:11:40
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將從技術原理、核心特點、應用場景到行業趨勢,全面解析這一設備的技術價值與產業意義。一、什么是晶圓載具清洗機?晶圓載具清洗機是針對半導體制造中承載晶圓的載具(如載具
2025-06-25 10:47:33
鍵設備的技術價值與產業意義。一、晶圓濕法清洗:為何不可或缺?晶圓在制造過程中會經歷多次光刻、刻蝕、沉積等工藝,表面不可避免地殘留光刻膠、金屬污染物、氧化物或顆粒。這些污染
2025-06-25 10:26:37
WD4000晶圓厚度測量設備兼容不同材質不同粗糙度、可測量大翹曲wafer、測量晶圓雙面數據更準確。它通過非接觸測量,將晶圓的三維形貌進行重建,強大的測量分析軟件穩定計算晶圓厚度,TTV,BOW
2025-06-18 15:40:06
WD4000無圖晶圓厚度翹曲量測系統可廣泛應用于襯底制造、晶圓制造、及封裝工藝檢測、3C電子玻璃屏及其精密配件、光學加工、顯示面板、MEMS器件等超精密加工行業。可測各類包括從光滑到粗糙、低反射率到
2025-06-16 15:08:07
摘要:本文探討晶圓邊緣 TTV 測量在半導體制造中的重要意義,分析其對芯片制造工藝、器件性能和生產良品率的影響,同時研究測量方法、測量設備精度等因素對測量結果的作用,為提升半導體制造質量提供理論依據
2025-06-14 09:42:58
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晶圓檢測是指在晶圓制造完成后,對晶圓進行的一系列物理和電學性能的測試與分析,以確保其質量和性能符合設計要求。這一過程是半導體制造中的關鍵環節,直接影響后續封裝和芯片的良品率。 隨著圖形化和幾何結構
2025-06-06 17:15:28
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貼膜是指將一片經過減薄處理的晶圓(Wafer)固定在一層特殊的膠膜上,這層膜通常為藍色,業內常稱為“ 藍膜 ”。貼膜的目的是為后續的晶圓切割(劃片)工藝做準備。
2025-06-03 18:20:59
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WD4000無圖晶圓粗糙度測量設備通過非接觸測量,將晶圓的三維形貌進行重建,強大的測量分析軟件穩定計算晶圓厚度,TTV,BOW、WARP、在高效測量測同時有效防止晶圓產生劃痕缺陷。自動測量Wafer
2025-06-03 15:52:50
體現在技術壁壘和產業核心地位,更在于推動全球電子設備小型化、智能化及新興領域(如AI、自動駕駛)的發展。晶圓技術的持續創新,是半導體行業進步的核心驅動力之一。
2025-05-28 16:12:46
(TTV)及分析反映表面質量的2D、3D參數。WD4000系列Wafer晶圓厚度量測系統通過非接觸測量,將晶圓的三維形貌進行重建,強大的測量分析軟件穩定計算晶圓厚度
2025-05-27 13:54:33
)增大,影響器件性能與良品率。因此,探索提高鍵合晶圓 TTV 質量的方法,對推動半導體產業發展具有重要意義。 二、提高鍵合晶圓 TTV 質量的方法 2.1 鍵合前晶圓處理 鍵合前對晶圓的處理是提高 TTV 質量的基礎。首先,嚴格把控晶圓表面平整度,采
2025-05-26 09:24:36
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摘要:本文針對濕法腐蝕工藝后晶圓總厚度偏差(TTV)的管控問題,探討從工藝參數優化、設備改進及檢測反饋機制完善等方面入手,提出一系列優化方法,以有效降低濕法腐蝕后晶圓 TTV,提升晶圓制造質量
2025-05-22 10:05:57
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摘要:本文聚焦于降低晶圓 TTV(總厚度偏差)的磨片加工方法,通過對磨片設備、工藝參數的優化以及研磨拋光流程的改進,有效控制晶圓 TTV 值,提升晶圓質量,為半導體制造提供實用技術參考。 關鍵詞:晶
2025-05-20 17:51:39
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、等反應表面形貌的參數。通過非接觸測量,將晶圓的三維形貌進行重建,強大的測量分析軟件穩定計算晶圓厚度,TTV,BOW、WARP、在高效測量測同時有效防止晶圓產生劃痕
2025-05-20 14:02:17
前言在半導體制造的前段制程中,晶圓需要具備足夠的厚度,以確保其在流片過程中的結構穩定性。盡管芯片功能層的制備僅涉及晶圓表面幾微米范圍,但完整厚度的晶圓更有利于保障復雜工藝的順利進行,直至芯片前制程
2025-05-16 16:58:44
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全球第3大半導體晶圓供應商環球晶美國德州新廠(GWA)將于5月15日落成啟用,將成為美國首座量產12吋先進制程硅晶圓的制造廠,并可望在今年下半年貢獻營收。 環球晶圓董事長徐秀蘭表示:“德州新廠
2025-05-13 18:16:08
1574 在半導體制造流程中,晶圓在前端工藝階段需保持一定厚度,以確保其在流片過程中的結構穩定性,避免彎曲變形,并為芯片制造工藝提供操作便利。不同規格晶圓的原始厚度存在差異:4英寸晶圓厚度約為520微米,6
2025-05-09 13:55:51
1975 圓片級封裝(WLP),也稱為晶圓級封裝,是一種直接在晶圓上完成大部分或全部封裝測試程序,再進行切割制成單顆組件的先進封裝技術 。WLP自2000年左右問世以來,已逐漸成為半導體封裝領域的主流技術,深刻改變了傳統封裝的流程與模式。
2025-05-08 15:09:36
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本文介紹了半導體集成電路制造中的晶圓制備、晶圓制造和晶圓測試三個關鍵環節。
2025-04-15 17:14:37
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在半導體行業中,晶圓的良品率是衡量制造工藝及產品質量的關鍵指標。提高晶圓良品率不僅可以降低生產成本,還能提高產品的市場競爭力。Keithley 6485靜電計作為一種高精度的電測量設備,其對靜電放電
2025-04-15 14:49:13
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WD4000晶圓表面形貌量測系統通過非接觸測量,將晶圓的三維形貌進行重建,強大的測量分析軟件穩定計算晶圓厚度,TTV,BOW、WARP、在高效測量測同時有效防止晶圓產生劃痕缺陷。 
2025-04-11 11:11:00
、等反應表面形貌的參數。通過非接觸測量,將晶圓的三維形貌進行重建,強大的測量分析軟件穩定計算晶圓厚度,TTV,BOW、WARP、在高效測量測同時有效防止晶圓產生劃
2025-03-19 17:36:45
芯片制造的畫布 芯片制造的畫布:晶圓的奧秘與使命 在芯片制造的宏大舞臺上,晶圓(Wafer)扮演著至關重要的角色。它如同一張潔白的畫布,承載著無數工程師的智慧與夢想,見證著從砂礫到智能的奇跡之旅。晶
2025-03-10 17:04:25
1543 WD4000晶圓翹曲度幾何量測系統兼容不同材質不同粗糙度、可測量大翹曲wafer、測量晶圓雙面數據更準確。儀器通過非接觸測量,將晶圓的三維形貌進行重建,強大的測量分析軟件穩定計算晶圓厚度,TTV
2025-03-07 16:19:24
WD4000晶圓幾何形貌量測機通過非接觸測量,自動測量 Wafer 厚度、表面粗糙度、三維形貌、單層膜厚、多層膜厚。將晶圓的三維形貌進行重建,強大的測量分析軟件穩定計算晶圓厚度,TTV,BOW
2025-02-21 14:09:42
據媒體最新報道,韓國三星電子的晶圓代工部門已正式解除位于平澤園區的晶圓代工生產線的停機狀態,并計劃在今年6月將產能利用率提升至最高水平。這一舉措標志著三星在應對市場波動、調整產能策略方面邁出了重要一步。
2025-02-18 15:00:56
1163 在制造的各個階段中,都有可能會引入導致芯片成品率下降和電學性能降低的物質,這種現象稱為沾污,沾污后會使生產出來的芯片有缺陷,導致晶圓上的芯片不能通過電學測試。晶圓表面的污染物通常以原子、離子、分子、粒子、膜等形式存在,再通過物理或化學的方式吸附在晶圓表面或是晶圓自身的氧化膜中。
2025-02-13 14:41:19
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WD4000高精度晶圓厚度幾何量測系統兼容不同材質不同粗糙度、可測量大翹曲wafer、測量晶圓雙面數據更準確。它通過非接觸測量,將晶圓的三維形貌進行重建,強大的測量分析軟件穩定計算晶圓厚度,TTV
2025-02-11 14:01:06
2024年,全球晶圓代工市場迎來了強勁的增長勢頭,年增長率高達22%。這一顯著增長主要得益于人工智能(AI)技術的快速發展和半導體需求的持續復蘇。 在過去的一年里,全球代工行業經歷了強勁的復蘇和擴張
2025-02-11 09:43:15
910 據三星電子晶圓代工業務制定的年度計劃顯示,該部門今年的設備投資預算將大幅縮減至5萬億韓元(約合253.55億元人民幣)。與2024年的10萬億韓元相比,今年的投資預算直接砍半,顯示出三星電子在晶圓
2025-02-08 15:35:58
933 根據市場分析企業Counterpoint在近日發布的報告,晶圓代工行業將在2025年迎來顯著增長,整體收入預計將實現20%的增幅。這一預測基于多種因素的綜合考量,特別是先進制程需求的激增以及AI在數據中心與邊緣領域的快速導入。
2025-02-08 15:33:22
1025 來自于先進制程需求的激增,受AI應用加速導入數據中心與邊緣計算所驅動。而晶圓代工領頭羊臺積電則憑借5/4nm與3nm先進制程的強勁需求,抓住市場機會,加上CoWoS等先進封裝技術的發展,也進一步助推產業增長。 而報告還指出,晶圓代工產業將在2025年挑戰20%的營收增長,其中AI需求持
2025-02-07 17:58:44
920 在半導體制造的復雜流程中,晶圓歷經前道工序完成芯片制備后,劃片工藝成為將芯片從晶圓上分離的關鍵環節,為后續封裝奠定基礎。由于不同厚度的晶圓具有各異的物理特性,因此需匹配不同的切割工藝,以確保切割效果與芯片質量。
2025-02-07 09:41:00
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據外媒報道,三星計劃在2025年對其晶圓代工部門進行大規模的投資削減。據悉,該部門的設備投資預算將從2024年的10萬億韓元銳減至5萬億韓元,削減幅度高達50%。
2025-01-24 14:05:29
961 近日,三星電子宣布了一項重大決策,將大幅削減其晶圓代工部門在2025年的設施投資。據透露,與上一年相比,此次削減幅度將超過一半。 具體來說,三星晶圓代工已將2025年的設施投資預算定為約5萬億韓元
2025-01-23 14:36:19
859 在半導體制造領域,晶圓作為芯片的基礎母材,其質量把控的關鍵環節之一便是對 BOW(彎曲度)的精確測量。而在測量過程中,特氟龍夾具的晶圓夾持方式與傳統的真空吸附方式有著截然不同的特性,這些差異深刻影響
2025-01-21 09:36:24
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在半導體制造領域,晶圓的加工精度和質量控制至關重要,其中對晶圓 BOW(彎曲度)和 WARP(翹曲度)的精確測量更是關鍵環節。不同的吸附方案被應用于晶圓測量過程中,而晶圓的環吸方案因其獨特
2025-01-09 17:00:10
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晶圓是集成電路、功率器件及半導體分立器件的核心原材料,超過90%的集成電路均在高純度、高品質的晶圓上制造而成。晶圓的質量及其產業鏈供應能力,直接關乎集成電路的整體性能和競爭力。今天我們將詳細介紹
2025-01-09 09:59:26
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。在此之前,皖芯集成的注冊資本僅為5000.01萬元。 本次增資完成后,晶合集成持有皖芯集成的股權比例變更為43.75%,仍為第一大股東。 據TrendForce公布的24Q1全球晶圓代工廠商營收排名,晶合集成位居全球前九,是中國大陸本土第三的晶圓代工廠商。
2025-01-07 17:33:09
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WD4000半導體晶圓幾何表面形貌檢測設備兼容不同材質不同粗糙度、可測量大翹曲wafer、測量晶圓雙面數據更準確。它通過非接觸測量,將晶圓的三維形貌進行重建,強大的測量分析軟件穩定計算晶圓厚度
2025-01-06 14:34:08
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