在市場上所有的電子設計自動化 (EDA) 工具中，可測試設計 (DFT) 可能是最不被重視的。即使在設計階段將可測試性構建到芯片中也會顯著降低高昂的測試成本。根據最近的分析，在制造后測試一批芯片以確定哪些部件沒有制造缺陷的成本已達到制造芯片成本的 40% 的驚人閾值。

DFT 可以消除通過問題設備的風險，該設備最終將在現場以比在制造車間發現的成本高得多的成本被捕獲。它還可以避免拒絕無故障設備，從而提高良率。插入 DFT 還減少了與測試開發相關的時間，以及測試制造芯片的執行時間。

DFT 是電子行業的流行語，與自動測試模式生成器 (ATPG) 和內存內置自測 (MBIST) 相結合，是插入片上測試基礎設施，例如掃描鏈、MBIST 結構或壓縮/解壓縮邏輯。掃描鏈通過串行移位寄存器增加了可控性和可觀察性。使用掃描鏈，測試電路的問題被簡化并簡化為測試寄存器之間的組合邏輯。通過 ATPG 工具自動生成測試模式的能力可以減輕創建測試向量的耗時和煩人的任務。

在設計經過功能驗證后，片上測試基礎設施或掃描鏈被插入到門級網表中，并且必須謹慎行事，因為它可能會干擾芯片的功能正確性。設計更改需要門級驗證，以確保設計完整性沒有受到損害。測試由長序列的測試模式執行，這是一項計算密集型任務，比寄存器傳輸級別 (RTL) 驗證要繁瑣得多。

值得一提的是，從設計的角度來看，DFT 結構的創建和插入相當簡單。然而，從密度和尺寸的角度來看，設計變得相當大，并且測試設計所需的測試模式量顯著增加了尺寸。

DFT 驗證

當設計規模達到數億門時，基于模擬器的驗證對于門級檢查來說太慢了。DFT 方法只會讓事情變得更糟。如果這還不夠負擔，那么優先訪問接近流片的模擬農場有利于設計工程師，而與測試工程師競爭。芯片通常以最少的 DFT 驗證流片，并且在流片后執行徹底的 DFT 測試，為時已晚，無法修復設計錯誤。

DFT 驗證有多種形式，包括需要驗證的自定義初始化模式。它可以是由自動測試模式生成工具插入的片上時鐘控制器，需要在模式執行期間進行動態驗證，或者是為 MBIST 添加的邏輯，需要對與測試模式相關的邏輯進行功能驗證。SoC 可以包括自定義初始化模式，該模式配置測試并導致從功能模式到測試模式的轉換。其他測試模式可能具有低功耗技術，在測試期間將部分芯片置于低功耗模式，這需要在適當的條件下驗證測試基礎設施。

使用 DFT 應用程序進行硬件仿真

硬件加速加速了進行徹底 DFT 驗證所需的仿真周期。它可以驗證芯片的功能，無論其大小和復雜性如何。

雖然硬件仿真已經使用了 30 年，通過部署可重新編程的硬件來增加驗證周期，但新的部署模式使其成為一種更加可行的驗證工具，并為“應用程序”方法鋪平了道路。對于那些使用更困難的基于模擬器的驗證方法的芯片設計團隊來說，最近發布的一些用于硬件仿真的應用程序可能是受歡迎的消息。DFT 應用程序加快了需要全面門級仿真的芯片設計進度。利用自動生成的模式，設計團隊可以縮短整個模式的開發周期。

這種類型的硬件仿真的可擴展硬件和編譯器能夠對大型門級設計進行測試模式驗證，并將掃描和其他測試結構嵌入到設計中。其高性能可實現更多仿真周期，加速 DFT 分析。DFT 應用程序可與其他工具互操作，因為它支持生產測試儀上使用的行業標準 STIL 格式文件，以識別制造過程中損壞的芯片。

用于硬件仿真的 DFT 應用程序改變了硬件仿真器部署過程中的編譯流程和運行時執行。這些是編譯流程和運行時執行的變化。帶有掃描和 MBIST 的門級設計被輸入硬件仿真的編譯器。編譯器創建必要的測試基礎設施，用于從 STIL 文件中讀取測試向量，將它們應用到合成的被測設備 (DUT) 并比較輸出。編譯器將用戶網表重新編譯并綜合成與硬件仿真兼容的結構描述。在編譯時，仿真器創建必要的基礎設施，用于從 STIL 文件中讀取測試向量并將它們應用到合成的 DUT，然后重新編譯并將網表合成為與仿真兼容的結構描述。測試工具包括一個比較輸出的機制。見圖#1。

圖 1：DFT 應用修改后的編譯流程。

調用時，設計和測試平臺被映射到仿真器中。在運行時，硬件仿真從 STIL 文件中提取測試向量，將它們應用到 DUT，并比較輸出——所有這些都以仿真速度進行。見圖#2。

圖 2：運行時圖顯示了主機 PC 和仿真器中的操作分解。

DFT 應用程序支持執行完整的模式集以進行 DFT 驗證，以縮短模式開發周期。一個可擴展的仿真平臺可以容納多達數十億個門的設計，以及一個可以支持 DFT 方法的編譯器，可以對嵌入了掃描和其他測試結構的大型門級設計進行測試模式驗證。

一旦芯片制造完成，相同的 STIL 文件就可以在測試臺上使用。加載到 ATE 中，測試向量運行芯片并將其響應與 STIL 文件中的預期值進行比較。

測試設計

硬件仿真不會以比仿真更快的速度進行仿真——它要快幾個數量級。在硬件仿真上運行 DFT 模式時，一些基準測試顯示了四到五個數量級的改進。見表#1。

表 1：DFT 應用基準的比較顯示了性能改進。

通過將模擬器上通常需要三個月的測試時間減少到兩個小時，硬件仿真允許在芯片流片之前對測試向量和 DFT 邏輯進行完整驗證。為硬件仿真提供 DFT 應用程序可拓寬使用模型、提高性能并幫助驗證工程師規避風險。DFT 工程師現在有一種方法可以利用硬件仿真的強大功能來確保芯片適合使用“應用程序”進行制造。

審核編輯：湯梓紅