精譜測控光學薄膜污點檢測系統主要用于各類薄膜產品的檢測工作，可針對生產過程中的薄膜表面出現的斷經、斷緯、破洞、油污、經緯污、雙緯、稀弄、粗節紗、空織、松緊經、圈緯、小散絲、松緯、經起毛、開口不清等瑕疵進行檢測，同時系統會把檢測出來的問題，提供生產統計質檢報告，統計和分析各類疵點，完全取代人工肉眼進行瑕疵檢測。大大的節省了生產成本，為生產提質增效。那么薄膜瑕疵檢測系統的檢測方法及特點是什么呢？

精譜測控光學薄膜污點檢測系統系統原理：

視覺系統的輸出并非圖像視頻信號，而是經過運算處理之后的檢測結果（如缺陷、尺寸等數據）。通常，機器視覺檢測就是用機器代替肉眼來做測量和判斷。首先采用CCD照相機將被攝取目標轉換成圖像信號，傳送給專用的圖像處理系統，根據像素分布和亮度、顏色等信息，轉變成數字化信號。

圖像系統對這些信號進行各種運算來抽取目標的特征，如：面積、長度、數量、位置等。最后，根據預設的容許度和其他條件輸出結果，如：缺陷、尺寸、角度、偏移量、個數、合格/不合格、有/無等。上位機（如PC和PLC）實時獲得檢測結果后，指揮運動系統或I/O系統執行相應的控制動作（如定位和分類）。

精譜測控光學薄膜污點檢測系統技術參數：

檢測對象：保護膜、涂布膜、PE膜、食品包裝膜、太陽能薄膜、光學膜等等

典型瑕疵：晶點、黑點、蚊蟲、污點、線條、破洞等

檢測速度：Max：800m/min

檢測幅寬：任意（根據生產線定制）

檢測精度：0.1mm~1mm（取決于相機數量、產線幅寬及車速）

瑕疵標識：自動聲光報警、截取當前瑕疵圖片及實時X/Y坐標瑕疵分布圖顯示

歷史記錄：根據批次號自動記錄每一卷薄膜瑕疵的圖片、大小、分布位置等信息

精譜測控光學薄膜污點檢測系統功能：

精確的瑕疵坐標（X，Y坐標）定位及顯示；

自動聲光報警，并顯示當前及前后10個瑕疵圖像；

實時瑕疵標定，記錄瑕疵直徑、坐標、類型等信息；

實時監測米數，報警信息顯示；

產品基本信息模塊，記錄產品批次、型號、規格、班號、操作員等信息；

根據瑕疵形狀、面積大小、灰度差異等特征實現瑕疵自動分類；

自動生成每一卷產品的產品瑕疵記錄，用戶可根據批次號直接查詢；

自動換卷，自動打印每一卷產品信息的質量報表；

檢測歷史記錄的自動統計、保存、查詢、調用及打印等功能

責任編輯：tzh