錫膏測厚檢測是利用激光非接觸三維掃描密集取樣技術,為了收集和高度有關的信息,在拍攝的圖像上采用壓電納米定位臺帶動光柵移動,每移動一次拍攝一組圖像,最終合成一組圖像,描繪出錫膏的厚度分布圖,可以監控錫膏印刷質量,減少產品不良率。
P11.XYZ為三維壓電納米定位臺,平臺內部采用無摩擦柔性鉸鏈導向機構,一體化的結構設計。
機構放大式驅動原理,內置高性能壓電陶瓷,可實現XYZ三軸100μm位移。閉環版本定位精度可達納米級。采用有限元仿真分析優化柔性鉸鏈結構,柔性導向系統具有高導向精度、高剛性、高負載、無摩擦、免維護等特點。
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