Test Operations是Exensio數據分析平臺的四個主要模塊之一。T-Ops模塊旨在幫助集成器件制造商（IDM）、無晶圓廠半導體公司（Fabless）和外包半導體（產品）封測廠（OSAT）提供全面的數據分析，幫助企業保障產品質量，提高生產效率。

三位一體：測試數據鏈接、控制 與分析

Exensio Test Operations旨在捕獲測試數據、實施測試過程控制和測試質量規則、存儲測試數據以進行分析和后處理、支持邊緣計算、自動化數據傳輸，并提供廣泛的數據分析功能。這一功能確保了數據的完整性和即時性，讓企業能夠第一時間掌握測試情況，進而提高產品良率、提高出廠質量、實施數據前饋、在邊緣有效部署ML、更好利用測試時間和關鍵設備，并對跨地域制造供應鏈近乎實時收集的測試數據進行交互分析。

Test Operations產品功能

全球化部署方案，4K+測試設備數據自動化采集

在全球OSATs和IDMs覆蓋4000+ 臺新式/舊式的測試設備，可直接實時且自動收集測試過程中產生的所有數據，如測試插入、復測操作以及測試設備操作活動的數據，最后通過數據交換網絡（DEX）隨時用于交互式分析或基于規則的分析，從而為客戶提供豐富的時序數據。

TO模塊系統架構

部分合作伙伴

定制化靈活配置：規范流程管控，管理質量規則

支持客戶針對特定產品、測試操作和測試程序靈活配置規則。

流程管控規則：可從良率、bin、site-to-site、統計值表現、參數測量統計值和 WECO SPC limits 等各方面，持續實時地監控量產的健康狀況。

質量規則管理：幫助客戶捕獲由于不完整測試、不合邏輯的 bin 分配、測量異常、無效 ECID、連續失效 bin、 stuck unit 情況而導致的測試逃逸。

支持在線/離線，提升質量與可靠性

T-Ops模塊通過對于Wafer Sort 和FT的Outlier Detection來實現更高的產品質量， 支持多種包括典型的統計算法、空間算法（如，DPAT、ZPAT、GDBN、NNR ...），以及更先進的基于機器學習的單變量和多變量算法。

T-Ops模塊支持在線和離線兩種方式，可直接在測試機臺上實時執行 (Online)，也可以在服務器端在多筆數據集合上執行 (Offline)，以便對企業對產品良率進行最大程度的管控和監控

優化測試效率，降低測試成本

客戶可結合分析、自適應測試以及先進的探針控制來提升測試效率。Exensio數據分析平臺能讓客戶了解失效模式、優化復測計劃、提高設備利用率（OEE），同時定義自適應測試計劃，依據實際測試結果和/或預測的芯片質量動態調整測試流程，實現更合理的測試。

此外，測試操作（T-Ops）模塊通過深入洞察測試設備及測試程序的效率，助力提高測試產量。其全年無休（7 * 24 *365）地監控內部或外部測試操作，可確保實現合格芯片的最大產量。

與MA模塊并駕齊驅，支持各種規模企業需求

T-Ops模塊與M-A模塊均是Exensio數據分析平臺重要模塊，擁有強大的后端數據存儲庫和用戶界面，基于標準化的測試和運營分析，客戶自定義操作靈活。

T-Ops模塊（作為Exensio fabless或Exensio IDM方案的一部分）具有高度的可擴展性，無論是小型初創企業還是《財富》500 強企業都能適用。同時，普迪飛擁有一支經驗極為豐富的全球集成團隊，能夠在極短時間內將T-Ops模塊快速部署并集成到您的測試環境（IDM或OSAT）中。

聚焦客戶視角：成本、質量與交付

T-Ops模塊功能價值亮點

半導體測試領域-新質生產分析工具

Exensio Test Operations在半導體制造行業發揮著重要作用，助力企業提升產品良率、優化測試流程并保障產品質量。于電子設備制造行業，可協助企業進行供應鏈質量管控以及產品性能優化。在汽車電子行業，一方面保障汽車芯片的可靠性，另一方面進行智能汽車系統集成測試。通過在不同行業的應用，Exensio Test Operations 顯著提升了各行業的產品質量與性能。