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電子發(fā)燒友網(wǎng)>模擬技術(shù)>AlN/AIGaN/GaN MIS-HEMT器件制作

AlN/AIGaN/GaN MIS-HEMT器件制作

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關(guān)于AlNGaN的刻蝕對比研究—江蘇華林科納半導(dǎo)體

引言 AlNGaN及其合金因其寬帶隙和獨特的性能被廣泛應(yīng)用于光電子領(lǐng)域,例如基于AlGaN的紫外線發(fā)光二極管(UV-LEDs) ,激光二極管(LD),AlGaN/GaN異質(zhì)結(jié)構(gòu)場效應(yīng)晶體管
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GaN HEMT概述/分類/結(jié)構(gòu)/工作原理

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ROHM新品GaN HEMT*1開始量產(chǎn)

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2022-04-06 16:33:031846

新開發(fā)了一種GaN襯底減薄技術(shù)——激光減薄技術(shù)

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用于低溫應(yīng)用的GaN器件

作者研究了四個商用 GaN 器件在 400 K 和 4.2 K 之間的寬溫度范圍內(nèi)的性能。據(jù)作者介紹,正如原始文章中所報道的,所有測試的器件都可以在低溫下成功運行,性能整體有所提高。然而,不同的 GaN HEMT 技術(shù)意味著器件柵極控制的顯著變化。
2022-07-25 09:20:281840

肖特基二極管和耗盡型 HEMT 與200-V GaN IC的單片集成

Imec 展示了高性能肖特基勢壘二極管和耗盡型 (d-mode) 高電子遷移率晶體管 (HEMT) 在基于 p 型氮化鎵 (GaNHEMT 的 200-V GaN- 上的成功共集成。在 200 毫米基板上開發(fā)的 on-SOI 智能功率集成電路 (IC) 平臺。
2022-07-29 15:34:031812

新的GaN技術(shù)簡化了驅(qū)動基于GaNHEMT

雖然乍一看似乎比較簡單,但這些器件的柵極驅(qū)動器電路需要仔細(xì)設(shè)計。首先,通常關(guān)閉的基于 GaNHEMT 需要負(fù)電壓來將其關(guān)閉并將其保持在關(guān)閉狀態(tài),從而避免意外開啟。
2022-07-29 09:27:172427

增強型GaN HEMT的漏極電流特性?

已經(jīng)為基于 GaN 的高電子遷移率晶體管(HEMT)的增強模式開發(fā)了兩種不同的結(jié)構(gòu)。這兩種模式是金屬-絕緣體-半導(dǎo)體 (MIS) 結(jié)構(gòu),2具有由電壓驅(qū)動的低柵極泄漏電流,以及柵極注入晶體管 (GIT
2022-07-29 09:19:442002

用于電動機的GaN器件

。基于氮化鎵 (GaN) 的高電子遷移率晶體管 (HEMT) 器件具有卓越的電氣特性,是高壓和高開關(guān)頻率電機控制應(yīng)用中 MOSFET 和 IGBT 的有效替代品。我們在這里的討論集中在 GaN HEMT 晶體管在高功率密度電動機應(yīng)用的功率和逆變器級中提供的優(yōu)勢。
2022-08-08 09:15:481660

分析毫米波GaN器件熱電效應(yīng)

針對熱效應(yīng)機理和熱電模型,我們將著重考慮熱導(dǎo)率和飽和速率隨晶格溫度的變化。由于熱電效應(yīng)最直接的外部反映是就是直流I-V特性,因此這里主要模擬GaN HEMT器件的直流特性曲線。通過編寫 Silvaco程序來模擬 GaN HEMT器件的特性曲線,再與實驗曲線作對比,獲得準(zhǔn)確的模型參數(shù)。
2022-09-08 10:44:052995

高功率GaN HEMT的可靠性設(shè)計

2,000 cm2/V·s 的 1.3 倍電子遷移率,這意味著與 RDS(ON) 和擊穿電壓相同的硅基器件相比,GaN RF 高電子遷移率晶體管(HEMT)的尺寸要小得多。因此,GaN RF HEMT 的應(yīng)用超出了蜂窩基站和國防雷達(dá)范疇,在所有 RF 細(xì)分市場中獲得應(yīng)用。
2022-09-19 09:33:213472

GaN HEMT基本概述、分類及工作原理

氮化鎵高電子遷移率晶體管GaN HEMT(High Electron Mobility Transistors)作為寬禁帶(WBG)功率半導(dǎo)體器件的代表,器件在高頻功率應(yīng)用方面有巨大的潛力。GaN材料相比于 Si 和SiC 具有更高的電子遷移率、飽和電子速度和擊穿電場,如圖1所示。
2022-09-27 10:30:177365

GaN HEMT 模型初階入門:非線性模型如何幫助進行 GaN PA 設(shè)計?(第一部分,共兩部分)

GaN HEMT 模型初階入門:非線性模型如何幫助進行 GaN PA 設(shè)計?(第一部分,共兩部分)
2022-12-26 10:16:252036

GaN功率HEMT設(shè)計+GaN寬帶功率放大器設(shè)計

GaN功率HEMT設(shè)計+GaN寬帶功率放大器設(shè)計
2023-01-30 14:17:441435

用熱反射測溫技術(shù)測量GaN HEMT的瞬態(tài)溫度

第三代半導(dǎo)體器件CaN高電子遷移率晶體管(HEMT)具備較高的功率密度,同時具有較強的自熱效應(yīng),在大功率工作條件下會產(chǎn)生較高的結(jié)溫。根據(jù)半導(dǎo)體器件可靠性理論,器件的工作溫度、性能及可靠性有著極為密切的聯(lián)系,因此準(zhǔn)確檢測GaN HEMT的溫度就顯得極為重要。
2023-02-13 09:27:523312

絕緣柵HEMT器件界面固定電荷分析

帶電壓解析模型,然后考慮柵絕緣層和勢壘層界面電荷對兩個模型進行對比,提取出了MIS-HEMT和MOS-HEMT兩種器件的有效界面電荷密度。
2023-02-13 09:33:583244

Al2O3/AIN/AIGaN/GaN MIS-HEMT器件結(jié)構(gòu)與特性

通過AlN柵介質(zhì)層MIS-HEMT和Al2O3柵介質(zhì)層MOS-HEMT器件對比研究發(fā)現(xiàn),PEALD沉積AlN柵絕緣層可以大幅改善絕緣柵器件的界面和溝道輸運特性;但是由于材料屬性和生長工藝的局限性
2023-02-14 09:16:414247

AIN/AIGaN/GaN MIS異質(zhì)結(jié)構(gòu)C-V分析

C-V測試是研究絕緣柵HEMT器件性能的重要方法,采用Keithley 4200半導(dǎo)體表征系統(tǒng)的CVU模塊測量了肖特基柵和絕緣柵異質(zhì)結(jié)構(gòu)的C-V特性。
2023-02-14 09:17:154987

AIN/AIGaN/GaN MIS-HEMT器件直流特性

關(guān)態(tài)漏電是制約HEMT器件性能提升的重要因素之一,采用絕緣柵HEMT器件結(jié)構(gòu)可以有效減小器件關(guān)態(tài)漏電。圖1給出了S-HEMTMIS-HEMT、MOS-HEMT三種器件結(jié)構(gòu)的關(guān)態(tài)柵漏電曲線,漏極電壓Vd設(shè)定在0V,反向柵極電壓從0V掃描至-10V,正向柵電壓掃描至5V。
2023-02-14 09:18:546784

AlN鈍化器件電流崩塌分析

本研究采用PEALD沉積AlN材料作柵絕緣層的同時,利用其作為器件表面鈍化層材料,本節(jié)即采用脈沖測試方法研究了PEALD沉積AlN鈍化器件的電流崩塌特性,并將其與常規(guī)的PECVD沉積SiN鈍化層材料進行了對比分析。
2023-02-14 09:31:492119

一款GaN HEMT內(nèi)匹配功率放大器設(shè)計過程詳解

一款GaN HEMT內(nèi)匹配功率放大器設(shè)計過程詳解 張書源,鐘世昌 發(fā)表于 2020-01-22 16:55:00 模擬技術(shù) +關(guān)注 0 引言 近年來,寬禁帶材料與微波功率器件發(fā)展非常迅猛。GaN材料
2023-02-17 09:52:439

GaN HEMT外延材料表征技術(shù)研究進展

氮化鎵 ( GaN) 作為第三代半導(dǎo)體材料的典型代表,具有高擊穿電場強度和高熱導(dǎo)率 等優(yōu)異的物理特性,是制作高頻微波器件和大功率電力電子器件的理想材料。GaN 外延材料的 質(zhì)量決定了高電子遷移率
2023-02-20 11:47:223015

絕緣柵GaN基平面功率開關(guān)器件技術(shù)

GaN基功率開關(guān)器件能實現(xiàn)優(yōu)異的電能轉(zhuǎn)換效率和工作頻率,得益于平面型AlGaN/GaN異質(zhì)結(jié)構(gòu)中高濃度、高遷移率的二維電子氣(2DEG)。圖1示出絕緣柵GaN基平面功率開關(guān)的核心器件增強型AlGaN/GaN MIS/MOS-HEMT的基本結(jié)構(gòu)。
2023-04-29 16:50:002554

GaN HEMT大信號模型

GaN HEMT 為功率放大器設(shè)計者提供了對 LDMOS、GaAs 和 SiC 技術(shù)的許多改進。更有利的特性包括高電壓操作、高擊穿電壓、功率密度高達(dá) 8W/mm、fT 高達(dá) 25 GHz 和低靜態(tài)
2023-05-24 09:40:013467

GaN HEMT工藝全流程

GaN HEMT(高電子遷移率晶體管:High Electron Mobility Transistor)是新一代功率半導(dǎo)體,具有低工作電阻和高抗損性,有望應(yīng)用于大功率和高頻電子設(shè)備。
2023-05-25 15:14:065126

GaN單晶襯底顯著改善HEMT器件電流崩塌效應(yīng)

襯底材料和GaN之間純在較大的晶格失配和熱失配,外延層中往往存在大量的缺陷,使得HEMT器件中存在較強電流崩塌效應(yīng),影響器件的性能發(fā)揮。
2023-06-14 14:00:554118

實測干貨分享!1200V GaN HEMT功率器件動態(tài)特性測試

點擊上方 “泰克科技” 關(guān)注我們! (本文轉(zhuǎn)載自公眾號: 功率器件顯微鏡 ,分享給大家交流學(xué)習(xí)) GaN HEMT功率器件實測及其測試注意事項。氮化鎵器件是第三代半導(dǎo)體中的典型代表,具有極快的開關(guān)
2023-07-17 18:45:022345

AlGaN/GaN結(jié)構(gòu)的氧基數(shù)字蝕刻

寬帶隙GaN基高電子遷移率晶體管(HEMTs)和場效應(yīng)晶體管(fet)能夠提供比傳統(tǒng)Si基高功率器件更高的擊穿電壓和電子遷移率。常關(guān)GaN非常需要HEMT來降低功率并簡化電路和系統(tǒng)架構(gòu),這是GaN HEMT技術(shù)的主要挑戰(zhàn)之一。凹進的AlGaN/GaN結(jié)構(gòu)是實現(xiàn)常關(guān)操作的有用選擇之一。
2023-10-10 16:21:111555

GaN HEMT器件結(jié)構(gòu)解析

很多關(guān)注,由寬禁帶半導(dǎo)體所制備的功率器件可作為具有低導(dǎo)通電阻的高壓開關(guān),可以取代硅功率器件。此外,寬禁帶異質(zhì)結(jié)場效應(yīng)晶體管具有較高的載流子密度和二維電子氣通道,以及較大的臨界電場強度等物理特性,其中的氮化鎵 (Gallium Nitride, GaN)已被認(rèn)為可制備極佳的功率開關(guān)。
2023-11-09 11:26:433371

GaN HEMT為什么不能做成低壓器件

GaN HEMT為什么不能做成低壓器件? GaN HEMT(氮化鎵高電子遷移率晶體管)是一種迅速嶄露頭角的高頻功率器件,具有很高的電子遷移率、大的電子飽和漂移速度、高的飽和電子流動速度以及較低的電阻
2023-12-07 17:27:201905

安世半導(dǎo)體宣布推出新款GaN FET器件

基礎(chǔ)半導(dǎo)體器件領(lǐng)域的高產(chǎn)能生產(chǎn)專家 Nexperia(安世半導(dǎo)體)近日宣布推出新款 GaN FET 器件,該器件采用新一代高壓 GaN HEMT 技術(shù)和專有銅夾片 CCPAK 表面貼裝封裝,為工業(yè)和可再生能源應(yīng)用的設(shè)計人員提供更多選擇。
2023-12-13 10:38:171650

微波GaN HEMT 技術(shù)面臨的挑戰(zhàn)

報告內(nèi)容包含: 微帶WBG MMIC工藝 GaN HEMT 結(jié)構(gòu)的生長 GaN HEMT 技術(shù)面臨的挑戰(zhàn)
2023-12-14 11:06:58897

使用GaN HEMT設(shè)備最大化OBCs的功率密度

隨著電動汽車(EVs)的銷售量增長,整車OBC(車載充電器)的性能要求日益提高。原始設(shè)備制造商正在尋求最小化這些組件的尺寸和重量以提高車輛續(xù)航里程。因此,我們將探討如何設(shè)計、選擇拓?fù)浣Y(jié)構(gòu),以及如何通過GaN HEMT設(shè)備最大化OBCS的功率密度。
2023-12-17 11:30:001866

氮化鎵功率器件結(jié)構(gòu)和原理

氮化鎵功率器件是一種新型的高頻高功率微波器件,具有廣闊的應(yīng)用前景。本文將詳細(xì)介紹氮化鎵功率器件的結(jié)構(gòu)和原理。 一、氮化鎵功率器件結(jié)構(gòu) 氮化鎵功率器件的主要結(jié)構(gòu)是GaN HEMT(氮化鎵高電子遷移率
2024-01-09 18:06:416137

GaN功率HEMT制造中的缺陷及其表征方法

氮化鎵具有許多內(nèi)在材料優(yōu)勢,如寬能隙和高電子遷移率。當(dāng)用作橫向高電子遷移率晶體管(HEMT)器件時,這些特性可用于獲得功率轉(zhuǎn)換性能優(yōu)勢,因為其無反向恢復(fù)損失且電容相對較小。隨著這項技術(shù)在更廣
2024-04-18 11:49:423139

改善GaN HEMT功率器件的短路耐受時間

在本文中,我們將討論氮化鎵 (GaN) HEMT 功率器件中的一個關(guān)鍵參數(shù),即短路耐受時間 (SCWT)。
2024-05-09 10:43:262002

GaN MOSFET 器件結(jié)構(gòu)及原理

GaN MOSFET(氮化鎵金屬氧化物半導(dǎo)體場效應(yīng)晶體管)是一種新型的功率器件,具有高功率密度、高效率和快速開關(guān)速度等優(yōu)點。與傳統(tǒng)的硅基MOSFET相比,GaN MOSFET具有更高的電子遷移率
2024-07-14 11:39:364189

QPD1026L采用SiC HEMT的1300W(PsdB)分立GaN器件管英文手冊

電子發(fā)燒友網(wǎng)站提供《QPD1026L采用SiC HEMT的1300W(PsdB)分立GaN器件管英文手冊.pdf》資料免費下載
2024-07-31 13:24:400

GaN HEMT有哪些優(yōu)缺點

GaN HEMT(氮化鎵高電子遷移率晶體管)作為一種先進的功率半導(dǎo)體器件,在電力電子、高頻通信、汽車電子等多個領(lǐng)域展現(xiàn)出了顯著的優(yōu)勢,但同時也存在一些缺點。以下是對GaN HEMT優(yōu)缺點的詳細(xì)分析:
2024-08-15 11:09:204131

ROHM攜手ATX量產(chǎn)650V耐壓GaN HEMT

全球知名半導(dǎo)體制造商ROHM近日宣布,其采用TOLL(TO-LeadLess)封裝的650V耐壓GaN HEMT(高電子遷移率晶體管)“GNP2070TD-Z”已成功投入量產(chǎn)。這一里程碑式的進展
2025-02-18 10:03:531194

羅姆EcoGaN產(chǎn)品GaN HEMT被村田AI服務(wù)器電源采用

全球知名半導(dǎo)體制造商ROHM Co., Ltd.(以下簡稱“羅姆”)的650V耐壓、TOLL封裝的EcoGaN產(chǎn)品GaN HEMT,被先進的日本電子元器件、電池和電源制造商村田制作所Murata
2025-02-26 15:41:251002

GaN HEMT憑什么贏得市場青睞

硅基半導(dǎo)體經(jīng)過多年發(fā)展,其性能逐漸接近極限,在進一步降本增效的背景下,第三代寬禁帶半導(dǎo)體氮化鎵功率器件GaN HEMT被寄予厚望。
2025-02-27 09:38:48905

高速GaN E-HEMT的測量技巧方案免費下載

高速GaN E-HEMT的測量技巧總結(jié) 一、概述 ? 重要性 ?:GaN E-HEMT(氮化鎵增強型高電子遷移率晶體管)具有極高的開關(guān)速度,因此準(zhǔn)確的測量技術(shù)對評估其性能至關(guān)重要。 ? 內(nèi)容概覽
2025-02-27 18:06:411062

GaN HEMT的SPICE模型使用指南及示例

GaN HEMT的SPICE模型使用指南及示例總結(jié) 本文檔基于GaN HEMT的實測特性描述了當(dāng)前版本的模型。該模型專為與PSpice和LTspice配合使用而開發(fā)。本文檔首先介紹該模型,然后提供將
2025-03-11 17:43:112142

GaNPX?和PDFN封裝器件的焊接專業(yè)經(jīng)驗

介紹如何將GaN Systems的GaNPX? 和PDFN封裝下的E-HEMT器件焊接到PCB。
2025-03-13 17:38:071201

什么是IGBT/SiC/GaN HEMT功率芯片/模塊/模組?特性是什么?主要應(yīng)用哪里?

IGBT/SiC/GaN HEMT功率芯片/模塊/模組 一、核心器件定義 ? IGBT(絕緣柵雙極型晶體管) ? 電力電子領(lǐng)域核心開關(guān)器件,通過柵極電壓控制導(dǎo)通狀態(tài): ? 結(jié)構(gòu)特性 ?:融合
2025-05-26 14:37:052286

增強AlN/GaN HEMT

尺寸小得多、工作頻率高得多的AlN/GaN HEMT。 該團隊的突破涉及原位鈍化和使用選擇性刻蝕工藝添加再生長重?fù)诫sn型接觸。 AlN/GaN HEMT是一類極具前景的晶體管,可用于射頻和功率器件
2025-06-12 15:44:37800

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