嵌入式內存測試和修復的挑戰是眾所周知的，包括最大程度地擴大故障覆蓋范圍以防止測試失敗以及使用備用元件來最大程度地提高制造良率。隨著有前途的非易失性存儲器架構的可用性不斷增加，以增加并潛在地替代傳統的易失性存儲器，新的SoC級存儲器測試和修復挑戰不斷涌現。通過將自旋轉移扭矩MRAM（STT-MRAM）作為嵌入式MRAM技術的領先趨勢來增強動力，同時考慮了汽車應用的需求。要為嵌入式MRAM選擇合適的內存測試和修復解決方案，設計人員需要考慮一些因素，例如在生產測試期間進行修整的特殊需求。

除了在傳統存儲器中觀察到的常規卡死，過渡，耦合，地址解碼器和數百種其他故障類型之外，測試嵌入式STT-MRAM存儲器IP還需要考慮特定于體系結構的故障，例如編程/擦除掩碼和扇區/芯片清除故障。因此，需要通過擴展的基于March的算法類來檢測嵌入式STT-MRAM特定的故障，該算法具有用戶靈活性，可以指定多個背景圖案（例如，實心，棋盤格）以及各種尋址模式（例如，快速列，快速行）來確保最高的測試覆蓋率。由于嵌入式MRAM宏的大小很大，因此BIST引擎中需要使用具有較低復雜度的快速算法，以具有可接受的ATE生產/制造診斷測試時間。

對于汽車環境，SoC設計人員將需要具有靈活性，以在現場運行其他可自定義算法，以匹配系統操作約束。表1顯示了如何在復雜的測試階段中需要執行不同復雜程度的不同算法以匹配系統約束的示例。

表1：選擇存儲器測試算法的能力對于汽車等應用很重要

*資料來源ITC ：汽車SoC中用于嵌入式內存和IP的高級功能安全機制

因此，BIST引擎必須支持擴展的算法類別，以測試特定于MRAM的故障類型，提供靈活性以運行不同的背景模式和尋址模式，并允許用戶配置為在SoC的多個測試階段中執行不同的算法。

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