3月25日，為期三天的SEMICON China 2026在上海新國際博覽中心如期舉行。當全球半導體產業正加速邁向高性能、高可靠性的新階段時，芯片測試——這條保障產品質量的“生命線”，其戰略地位正日益凸顯。

作為半導體測試領域的新興引領者，昂科技術攜全場景解決方案亮相T4館4209展位，憑借其體系化的技術布局與創新能力，成為展會首日當之無愧的焦點之一。

深耕半導體領域多年的昂科技術，正圍繞芯片測試環節進行深度布局，逐步構建起一套覆蓋從研發驗證到工程測試，再到規模化量產的完整測試能力體系。

在AI大模型、智能駕駛等新興應用的強力驅動下，芯片的復雜度與功率密度持續攀升，測試環節正從傳統的“質量把關”向“價值創造”轉型。昂科精準把握這一趨勢，以系統化的設備矩陣和深厚的技術積淀，為產業提供強有力的支撐。

展會首日，昂科展位便吸引了來自AI計算、汽車電子、通信及消費電子等領域的眾多客戶與行業專家駐足交流。現場氣氛熱烈，技術討論此起彼伏。圍繞高功率芯片的可靠性測試、量產效率提升等核心痛點，昂科團隊與來訪嘉賓進行了深入的探討與互動，充分印證了市場對高質量測試解決方案的迫切需求。

本次展會，昂科集中展示了其覆蓋測試全流程的多元化設備矩陣，包括全自動老化測試機、系統級測試分選設備、工程測試平臺等，全方位展現了其構建測試生態的體系化能力，為不同應用階段的客戶提供更具針對性的解決方案。

作為現場絕對的技術焦點，V9000系列全自動老化測試機憑借其卓越的性能，成功吸引了眾多專業觀眾的關注。該系列產品精準面向AI訓練芯片、GPU、CPU及汽車級智能駕駛SoC等高性能應用場景，提供業界領先的Burn-In（老化測試） 能力，精準滿足新一代芯片對極限工況驗證的嚴苛需求。

在技術實現層面，V9000系列全自動老化測試機通過“全在線”測試架構，實現了從上下料到測試完成的全流程自動化閉環管理，使測試數據全鏈路可追溯，從而有效降低人為干預帶來的不確定性，來顯著提升測試的一致性與可靠性。

同時，V9000系列全自動老化測試機搭載的TempJIT?大功率老化測試溫控技術，將單DUT（被測器件）功率支持能力提升至1500W，是傳統設備的1.5倍以上，有效解決高端芯片在高功率測試場景下的關鍵挑戰。

除了量產測試領域的亮眼表現，昂科同樣展示了其在研發與工程測試領域的深厚實力。通過工程測試平臺與硅后驗證系統的協同應用，昂科能夠幫助客戶顯著縮短芯片驗證周期，提升工程調試效率，加速產品從設計到量產的轉化進程，實現研發效能的全面躍升。

從提供單一設備到構建系統化測試能力，昂科技術正穩步推進其 “平臺化”發展戰略。通過持續的技術創新與產品迭代，昂科不僅致力于幫助客戶提升良率與效率，實現成本優化與產線穩定運行，更旨在以自主可控的核心技術，為中國半導體產業鏈的高質量發展貢獻力量，不斷強化其在全球芯片測試領域的綜合競爭力。

昂科在浦東嘉里城設立的VIP會議室也同樣忙碌。展會期間，不少客戶與合作伙伴專程前往會議室進行更深入的溝通交流，現場桌邊討論熱烈，大家圍繞AI芯片測試及高可靠性應用場景下的測試需求，分享各自的實際經驗與技術挑戰。昂科團隊針對客戶提出的問題，提供了針對性的解決方案演示與操作講解，讓交流更直觀、更落地。在輕松而高效的互動中，不僅增進了彼此了解，也推動了合作項目的進一步推進與落地。

昂科技術簡介

昂科技術是研發、生產和銷售半導體芯片測試及燒錄設備的國家級專精特新“小巨人”企業，公司致力于通過創新的半導體測試技術及解決方案，賦能Fabless、IDM、OSAT、晶圓Fab和終端設備企業等全產業鏈客戶。昂科首創的全自動老化測試ABI（Auto Burn-In）系統極大地提升了客戶芯片的老化測試效率和降低Per DUT測試成本。同時還為客戶提供從PSV、CP、FT、ABI、SLT、燒錄各個階段的設備產品及方案，我們將產品技術的領先優勢、系統級專業知識、和全球布局的研發及銷售服務網絡完美融合，為客戶在市場競爭中取得領先創造價值。