測(cè)試探頭電路圖
2008-12-24 14:42:30
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過(guò)去的幾年里,測(cè)試探針卡的發(fā)展允許平行測(cè)試更多的器件——同時(shí)可測(cè)的待測(cè)器件(DUT)數(shù)量從32到64到128不斷上升——減少了測(cè)試平臺(tái)的數(shù)目。這樣,通過(guò)在300 mm晶圓上一次完成測(cè)試,
2011-11-10 12:04:20
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歐姆龍電子部品事業(yè)公司特別研發(fā)推出了一款能夠顛覆傳統(tǒng)的微型測(cè)試探針——?dú)W姆龍XP3B,以獨(dú)有的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)、特殊的材質(zhì)工藝以及豐富多樣的品類選擇,為芯片測(cè)試座行業(yè)的發(fā)展做出了突出貢獻(xiàn)。
2018-04-26 09:07:03
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UltraSoC日前宣布:公司已與SEGGER達(dá)成合作伙伴關(guān)系,以在UltraSoC集成化的系統(tǒng)級(jí)芯片(SoC)監(jiān)測(cè)和分析環(huán)境中為J-Link調(diào)試探針提供支持。SEGGER的J-Link探針是業(yè)界
2018-08-06 14:04:47
5517 半導(dǎo)體供應(yīng)商意法半導(dǎo)體,簡(jiǎn)稱ST宣布,全球首款未使用任何接觸式探針完成裸片全部測(cè)試的半導(dǎo)體晶圓研制成功。
2011-12-31 09:45:37
1760 民幣,增幅約10.95%。該公司在去年10月才宣布完成5000萬(wàn)元戰(zhàn)略融資,投資方是豐年資本。 ? ? 在MEMS探針卡市場(chǎng)名列前茅 ? 強(qiáng)一半導(dǎo)體成立于2015年8月,是先進(jìn)的集成電路晶圓測(cè)試探針卡供應(yīng)商,專業(yè)從事研發(fā)、設(shè)計(jì)、制造和組裝半導(dǎo)體測(cè)試解決方案產(chǎn)
2021-06-24 07:30:00
5552 Lite 提供一個(gè)圖形用戶界面,具有強(qiáng)大的分析工具,探針驅(qū)動(dòng)和自動(dòng)測(cè)試工具。備注:Agilent HP 4155C 半導(dǎo)體參數(shù)分析儀4155c半導(dǎo)體測(cè)試儀是Agilent下一代精密半導(dǎo)體測(cè)試
2019-09-25 11:45:16
本人接觸質(zhì)量工作時(shí)間很短,經(jīng)驗(yàn)不足,想了解一下,在半導(dǎo)體行業(yè)中,由于客戶端使用問題造成器件失效,失效率為多少時(shí)會(huì)接受客訴
2024-07-11 17:00:18
作者: Robert GeeMaxim Integrated核心產(chǎn)品事業(yè)部執(zhí)行業(yè)務(wù)經(jīng)理 在半導(dǎo)體測(cè)試領(lǐng)域,管理成本依然是最嚴(yán)峻的挑戰(zhàn)之一,因?yàn)樽詣?dòng)化測(cè)試設(shè)備(ATE)是一項(xiàng)重大的資本支出。那么,有沒有能夠降低每片晶圓的成本,從而提升競(jìng)爭(zhēng)優(yōu)勢(shì)的方法呢?有,答案就是提高吞吐率。
2019-07-29 08:11:12
提供測(cè)試探針及各類Socket,有需要的聯(lián)系***
2021-12-15 11:55:24
地,2020 年業(yè)界普遍認(rèn)為 5G 會(huì)實(shí)現(xiàn)大規(guī)模商用,熱點(diǎn)技術(shù)與應(yīng)用推動(dòng)下,國(guó)內(nèi)半導(dǎo)體材料需求有望進(jìn)一步增長(zhǎng)。寬禁帶半導(dǎo)體材料測(cè)試1 典型應(yīng)用一. 功率雙極性晶體管BJT 特性表征2 典型應(yīng)用二. 功率
2020-05-09 15:22:12
半導(dǎo)體制冷片是利用半導(dǎo)體材料的Peltier效應(yīng)而制作的電子元件,當(dāng)直流電通過(guò)兩種不同半導(dǎo)體材料串聯(lián)成的電偶時(shí),在電偶的兩端即可分別吸收熱量和放出熱量,可以實(shí)現(xiàn)制冷的目的。它是一種產(chǎn)生負(fù)熱阻的制冷技術(shù),其特點(diǎn)是無(wú)運(yùn)動(dòng)部件,可靠性也比較高。半導(dǎo)體制冷片的工作原理是什么?半導(dǎo)體制冷片有哪些優(yōu)缺點(diǎn)?
2021-02-24 09:24:02
半導(dǎo)體材料半導(dǎo)體的功能分類集成電路的四大類
2021-02-24 07:52:52
請(qǐng)教下以前的[半導(dǎo)體技術(shù)天地]哪里去了
2020-08-04 17:03:41
半導(dǎo)體材料從發(fā)現(xiàn)到發(fā)展,從使用到創(chuàng)新,擁有這一段長(zhǎng)久的歷史。宰二十世紀(jì)初,就曾出現(xiàn)過(guò)點(diǎn)接觸礦石檢波器。1930年,氧化亞銅整流器制造成功并得到廣泛應(yīng)用,是半導(dǎo)體材料開始受到重視。1947年鍺點(diǎn)接觸三極管制成,成為半導(dǎo)體的研究成果的重大突破。
2020-04-08 09:00:15
電阻率是決定半導(dǎo)體材料電學(xué)特性的重要參數(shù),為了表征工藝質(zhì)量以及材料的摻雜情況,需要測(cè)試材料的電阻率。半導(dǎo)體材料電阻率測(cè)試方法有很多種,其中四探針法具有設(shè)備簡(jiǎn)單、操作方便、測(cè)量精度高以及對(duì)樣品形狀
2021-01-13 07:20:44
國(guó)際半導(dǎo)體芯片巨頭壟斷加劇半導(dǎo)體芯片產(chǎn)業(yè)呈現(xiàn)三大趨勢(shì)
2021-02-04 07:26:49
半導(dǎo)體是什么?芯片又是什么?半導(dǎo)體芯片是什么?半導(dǎo)體芯片內(nèi)部結(jié)構(gòu)是由哪些部分組成的?
2021-07-29 09:18:55
` 誰(shuí)來(lái)闡述一下半導(dǎo)體集成電路是什么?`
2020-03-24 17:12:08
,測(cè)試探針經(jīng)過(guò)短路后的S11參數(shù)。再利用PLTS 分析軟件以及AFR校準(zhǔn)技術(shù),得到探針的4 個(gè)S參數(shù)、時(shí)域阻抗參數(shù)和響應(yīng)時(shí)間參數(shù)。下面是分別測(cè)試1號(hào)探針和2 號(hào)探針后,再用PLTS軟件轉(zhuǎn)換,得到二個(gè)探針的特性曲線。
2019-07-18 08:14:37
那么,ICD4得到J-Link,所以它能代替SEGGER J-Link調(diào)試探針嗎?如果ICD4可以用在J-Link調(diào)試探針的其他工具上,那就好了……對(duì)于SEGER J-Link的ICD4可能有一個(gè)
2019-01-15 07:41:53
的研發(fā)團(tuán)隊(duì),可以為您提供各種定制化產(chǎn)品和解決方案。凡有射頻微波產(chǎn)品、射頻測(cè)試探針及其產(chǎn)品解決方案、測(cè)試電纜及電纜組件的需求,上海里庫(kù)電子科技有限公司,其超高的產(chǎn)品性價(jià)比定是您的不二選擇。上海里庫(kù)電子24
2019-07-25 14:21:01
及更高版本的各種調(diào)試探針。一些開發(fā)板需要更新板上固件才能與Keil Studio一起工作。
此應(yīng)用程序說(shuō)明指向板載調(diào)試探測(cè)器的更新信息。
2023-08-08 06:35:54
在芯片產(chǎn)業(yè)向高算力、高集成度邁進(jìn)的當(dāng)下,芯片線寬尺寸不斷減小,耐高壓、耐高溫、功率密度不斷增大、制造工序日趨復(fù)雜,對(duì)半導(dǎo)體測(cè)試設(shè)備要求愈加提高,測(cè)試設(shè)備的制造需要綜合運(yùn)用計(jì)算機(jī)、自動(dòng)化、通信、電子
2025-12-15 15:09:09
我有 S32G-VNP-RDB2 和 S32 調(diào)試探針。我試著寫在flash區(qū)。但是發(fā)生了如下錯(cuò)誤。程序已完成,錯(cuò)誤為 #-1073741819。我不知道該怎么辦。
2023-03-22 08:54:34
我有 S32G-VNP-RDB2 板和 S32 調(diào)試探針。我嘗試在構(gòu)建示例項(xiàng)目后進(jìn)行調(diào)試。但調(diào)試失敗并顯示以下錯(cuò)誤代碼(錯(cuò)誤代碼為 102。)??赡苁鞘裁丛??
2023-03-16 07:40:26
FastLab是一款通用半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)量工具軟件,主要用于在半導(dǎo)體實(shí)驗(yàn)室中協(xié)同探針臺(tái)與測(cè)量?jī)x器進(jìn)行自動(dòng)化的片上半導(dǎo)體器件的IV/CV特性測(cè)量。 該軟件界面友好、操作簡(jiǎn)便、功能全面。機(jī)器學(xué)習(xí)算法
2020-07-01 09:59:09
1、GaAs半導(dǎo)體材料可以分為元素半導(dǎo)體和化合物半導(dǎo)體兩大類,元素半導(dǎo)體指硅、鍺單一元素形成的半導(dǎo)體,化合物指砷化鎵、磷化銦等化合物形成的半導(dǎo)體。砷化鎵的電子遷移速率比硅高5.7 倍,非常適合
2019-07-29 07:16:49
ICT測(cè)試治具的使用通常需要用到探針,而探針是電測(cè)試的接觸媒介,是一種高端精密型電子五金元器件。那么ICT測(cè)試治具的探針類型主要有哪幾種呢?選用探針主要是根據(jù)ict測(cè)試治具線路板的中心距和被測(cè)點(diǎn)
2016-02-23 11:26:56
UltraSoC日前宣布:公司已與SEGGER達(dá)成合作伙伴關(guān)系,以在UltraSoC集成化的系統(tǒng)級(jí)芯片(SoC)監(jiān)測(cè)和分析環(huán)境中為J-Link調(diào)試探針提供支持。SEGGER的J-Link探針是業(yè)界
2019-10-21 08:00:38
直接影響轉(zhuǎn)換器的體積、功率密度和成本?! ∪欢?,所使用的半導(dǎo)體開關(guān)遠(yuǎn)非理想,并且由于開關(guān)轉(zhuǎn)換期間電壓和電流之間的重疊而存在開關(guān)損耗。這些損耗對(duì)轉(zhuǎn)換器工作頻率造成了實(shí)際限制。諧振拓?fù)淇梢酝ㄟ^(guò)插入額外的電抗
2023-02-21 16:01:16
我們收到了 NXP RDB3 開發(fā)板。我嘗試使用 S32G 調(diào)試探針為串行 RCON 配置 EEPROM。遇到以下
2023-03-20 06:05:50
想問一下,半導(dǎo)體設(shè)備需要用到溫度傳感器的有那些設(shè)備,比如探針臺(tái)有沒有用到,具體要求是那些,
2024-03-08 17:04:59
測(cè)試對(duì)測(cè) 試系統(tǒng)的要求越來(lái)越高。通常這些器件的接觸電極尺 寸只有微米量級(jí),這些對(duì)低噪聲源表,探針臺(tái)和顯微 鏡性能都提出了更高的要求。半導(dǎo)體分立器件I-V特性測(cè)試方案,泰克公司與合作 伙伴使用泰克吉時(shí)利
2019-10-08 15:41:37
客戶在ubuntu 22.04上使用S32DS,并在連接調(diào)試探針時(shí)發(fā)現(xiàn)問題。這是屏幕截圖。
?
通過(guò) USB 連接似乎有問題。所以我的問題是
(1) 是不是連接 USB 有問題?如果是,如何解決這個(gè)問題?
(2)是否有通過(guò)以太網(wǎng)連接 Debug Probe 的動(dòng)手教程?
2025-03-27 07:18:56
1:影響探針使用壽命的主要因素測(cè)試探針的行程是否過(guò)壓,是否存在側(cè)面力介入,通過(guò)的測(cè)試電流是否大于額定值等等2:怎么使用能使探針的壽命最大化測(cè)試探針按照推薦的使用行程使用,保證探針在設(shè)備上是垂直伸縮
2019-07-22 17:39:39
電氣性能優(yōu)越、可靠性高、測(cè)試壽命長(zhǎng)等特點(diǎn)。從產(chǎn)品用途來(lái)分,分為三大類:1、IPEX和SWITCH 系列測(cè)試探針里庫(kù)電子IPEX和SWITCH 系列測(cè)試探針,主要用于IPEX 1代到5代以及相對(duì)
2019-12-18 17:32:00
常用的功率半導(dǎo)體器件有哪些?
2021-11-02 07:13:30
中國(guó),2018年10月10日——意法半導(dǎo)體推出了STLINK-V3下一代STM8 和STM32微控制器代碼燒寫及調(diào)試探針,進(jìn)一步改進(jìn)代碼燒寫及調(diào)試靈活性,提高效率。STLINK-V3支持大容量存儲(chǔ)
2018-10-11 13:53:03
現(xiàn)在測(cè)試治具中,探針是作為一個(gè)媒介,探針放在套管里,探針頭接觸待測(cè)物,另一端的套管引出線將信號(hào)傳導(dǎo)出去,接收回來(lái)的信號(hào)在測(cè)試機(jī)里處理,比如電阻利用電流源計(jì)算探針兩端的壓降,電容以定電壓源不同頻率去
2016-07-05 16:20:11
`手動(dòng)探針臺(tái)測(cè)試經(jīng)驗(yàn)失效分析 趙工2020年開年伊始就收到很多朋友對(duì)手動(dòng)探針臺(tái)使用問題的咨詢,在此收集整理供手動(dòng)探針臺(tái)相關(guān)信息供大家參考。一:手動(dòng)探針臺(tái)用途:探針臺(tái)主要應(yīng)用于半導(dǎo)體行業(yè)、光電行業(yè)
2020-03-28 12:14:08
對(duì)半導(dǎo)體測(cè)試有何要求?對(duì)半導(dǎo)體測(cè)試有哪幾種方式?如何對(duì)數(shù)字輸出執(zhí)行VOH、VOL和IOS測(cè)試?
2021-07-30 06:27:39
電力半導(dǎo)體器件的分類
2019-09-19 09:01:01
應(yīng)用范圍:探針臺(tái)主要應(yīng)用于半導(dǎo)體行業(yè)、光電行業(yè)。針對(duì)集成電路以及封裝的測(cè)試。 廣泛應(yīng)用于復(fù)雜、高速器件的精密電氣測(cè)量的研發(fā),旨在確保質(zhì)量及可靠性,并縮減研發(fā)時(shí)間和器件制造工藝的成本。芯片失效分析探針臺(tái)
2020-10-16 16:05:57
MM126320射頻探針用于測(cè)試MM8430-2600/2610B, MM8130-2600B and MM8030-2600/2610B等型號(hào)的RF射頻測(cè)試座。也可測(cè)試與MM8430
2021-10-12 10:22:11
村田MM206417射頻探針主要用于MM8030-2600/2610型號(hào)射頻測(cè)試座進(jìn)行測(cè)試,也可用于其他品牌的兼容型號(hào)射頻測(cè)試座。
MM206417探針法蘭上有2個(gè)螺絲孔與2個(gè)導(dǎo)針
2021-10-12 11:18:00
90575-0001測(cè)試探針由日本 I-PEX品牌設(shè)計(jì)生產(chǎn),主要用于I-PEX的天線插座型號(hào)20279-001E,20314-001E,20441-001E,20429-001E,信號(hào)測(cè)試使用,也可
2021-10-12 11:55:06
供應(yīng)日本村田MURATA品牌射頻測(cè)試探針MXFQB1PY1000,國(guó)內(nèi)庫(kù)存現(xiàn)貨,交期快,價(jià)格優(yōu)。MXFQB1PY1000測(cè)試探針是一款帶同軸線的MINI探針。主要用于測(cè)試MM8830-2600
2022-03-08 16:39:17
給大家推薦一款國(guó)產(chǎn)RF射頻測(cè)試探針(6代RF測(cè)試探針)6代RF測(cè)試探針 6代射頻探針采用SMPM接口進(jìn)行線纜轉(zhuǎn)接,同時(shí)自帶浮動(dòng)裝置,彈簧內(nèi)置保護(hù),使用更順暢。我們的射頻探針法蘭寬度為
2022-04-19 18:29:31
奧納科技主要為客戶提供各種RF射頻測(cè)試探針,也叫高頻探針。我們針對(duì)第6代USS天線插座定制了一款測(cè)試探針,型號(hào)為21340019601。主要是針對(duì)日本村田MURATA品牌的MM6829-2700
2022-06-02 14:51:12
下面介紹一款?yuàn)W納科技AWNA的射頻探針,型號(hào)是ML52,原型為日本HRS品牌的U.FLP-ML51.J-PA(F)-ST測(cè)試探針。我們的探針在尺寸上與HRS的一至,內(nèi)部結(jié)構(gòu)上做了優(yōu)化,性能比
2022-07-15 17:10:36
供應(yīng)國(guó)產(chǎn)ST1射頻探針,用于替代日本HRS品牌HRMJ-U.FLP-ST1(40)射頻探針。主要用于測(cè)試第1代IPEX天線插座。為了方便客戶直接更換使用,外型尺寸保留了HRS設(shè)計(jì),優(yōu)化內(nèi)部結(jié)構(gòu),使
2022-10-28 10:27:29
一 F-200A-60V 半導(dǎo)體器件測(cè)試機(jī)專為以下測(cè)試需求研制: 二 技術(shù)參數(shù)
2023-10-12 15:38:30
現(xiàn)代對(duì)于射頻圓晶探針的設(shè)計(jì)將測(cè)試信號(hào)從一個(gè)三維媒質(zhì)(同軸電纜或矩形波導(dǎo))轉(zhuǎn)換到兩維(共面)探針的接觸上。這種操作需要對(duì)傳輸媒質(zhì)的特性阻抗Z0進(jìn)行仔細(xì)的處理,并且要在不同傳播模式之間進(jìn)行電磁能量的正確轉(zhuǎn)換。
2017-10-26 16:44:39
36529 本視頻主要介紹了半導(dǎo)體測(cè)試設(shè)備,分別有橢偏儀、四探針、熱波系統(tǒng)、相干探測(cè)顯微鏡、光學(xué)顯微鏡以及掃描電子顯微鏡。
2018-11-02 16:39:09
27982 、high Z測(cè)量、DC測(cè)量、RF測(cè)量和微波特性測(cè)量提供一個(gè)測(cè)試平臺(tái)。系統(tǒng)的探針、測(cè)試電纜、樣品架都有多種類型可供選擇,從而滿足不同應(yīng)用的需要。系統(tǒng)適用于實(shí)驗(yàn)室級(jí)別的精準(zhǔn)電學(xué)特性測(cè)量和分析。半導(dǎo)體特性分析
2018-11-15 13:51:01
606 。國(guó)際通用的真空接口設(shè)計(jì),使未來(lái)的擴(kuò)展與升級(jí)更加容易。變溫范圍從-196℃~400℃極限真空在1*10-4Pa以上應(yīng)用領(lǐng)域:半導(dǎo)體器件:片上參數(shù)測(cè)試、晶圓級(jí)可靠性、封裝器件的特性分析、C-V、I-V
2018-11-15 13:53:25
1069 作為半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)的其中一個(gè)環(huán)節(jié),半導(dǎo)體測(cè)試一直以來(lái)備受關(guān)注。隨著半導(dǎo)體制程工藝不斷提升,測(cè)試和驗(yàn)證也變得更加重要。
2019-04-11 09:12:59
16340 10月30日消息,半導(dǎo)體測(cè)試探針卡領(lǐng)導(dǎo)廠商—思達(dá)科技,今天宣布推出新款測(cè)試探針卡—思達(dá)牡羊座Aries Sigma-M。此系列探針卡是采用微電子機(jī)械系統(tǒng)工藝制造的微懸臂式測(cè)試探針卡 ,主要是針對(duì)圖像
2019-10-30 15:30:13
4832 什么是探針?探針其實(shí)就是一種高端精密型的電子元件,主要應(yīng)用于手機(jī)等電子產(chǎn)品中,起連接作用。文中介紹的測(cè)試探針相當(dāng)于一個(gè)媒介,測(cè)試時(shí)可用探針的頭部去接觸待測(cè)物,另一端則用來(lái)傳導(dǎo)信號(hào),進(jìn)行電流的傳輸
2020-03-30 14:26:23
6419 以2019年度的數(shù)據(jù)計(jì)算,精微屏蔽罩的收入占比最大,達(dá)到66.50%;精密結(jié)構(gòu)件占比次之,為14.98%;半導(dǎo)體芯片測(cè)試探針的收入占比達(dá)到10.34%。
2020-06-19 08:54:44
4805 電阻率是決定半導(dǎo)體材料電學(xué)特性的重要參數(shù),為了表征工藝質(zhì)量以及材料的摻雜情況,需要測(cè)試材料的電阻率。 四探針法是目前測(cè)試半導(dǎo)體材料電阻率的常用方法,因?yàn)榇朔ㄔO(shè)備簡(jiǎn)單、操作方便、測(cè)量精度高且對(duì)樣品形狀
2020-10-19 09:53:33
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平板電腦各個(gè)部件進(jìn)行的質(zhì)檢與測(cè)試環(huán)節(jié)尤為重要,尤其是LCD/OLED屏幕、3C鋰電池、平板上的攝像頭等重要部件。凱智通創(chuàng)新研發(fā)了一款大電流彈片微針模組,有效解決測(cè)試探針不穩(wěn)定的問題。 大電流彈片微針
2020-11-17 16:30:27
2718 隨著芯片性能的日益提升,芯片復(fù)雜度越來(lái)越高,為了保證出廠的芯片品質(zhì),芯片測(cè)試環(huán)節(jié)越來(lái)越受到各大廠商的重視。
2020-12-20 09:25:32
6315 中美貿(mào)易摩擦的一次次升級(jí)也給我們敲響了警鐘,不僅是IC測(cè)試環(huán)節(jié)需要國(guó)產(chǎn)化替代,作為重要配件的測(cè)試治具以及測(cè)試探針環(huán)節(jié)同樣需要加快國(guó)產(chǎn)化進(jìn)程。
2020-12-30 16:17:25
6192 就像其他較大的電子元件一樣,半導(dǎo)體在制造過(guò)程中也經(jīng)過(guò)大量測(cè)試。 這些檢查之一是#晶圓測(cè)試#,也稱為電路探測(cè)(CP)或電子管芯分類(EDS)。這是一種將特殊測(cè)試圖案施加到半導(dǎo)體晶圓上各個(gè)集成電路
2021-10-14 10:25:47
10359 基于NI-VISA的晶圓測(cè)試探針臺(tái)遠(yuǎn)程控制軟件
2021-06-29 15:07:08
23 手動(dòng)探針臺(tái)是廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體行業(yè)的綜合經(jīng)濟(jì)型測(cè)試儀器,主要用于半導(dǎo)體芯片的電參數(shù)檢測(cè)。
2022-06-02 10:06:18
13274 Apollo 探針卡概述 為了滿足消費(fèi)者對(duì)于低價(jià)、低功耗和高連接性的便攜式計(jì)算產(chǎn)品的需求,半導(dǎo)體行業(yè)加快了工藝和封裝技術(shù)的發(fā)展。 雖然尖端半導(dǎo)體技術(shù)為低成本和低功耗應(yīng)用提供了重要優(yōu)勢(shì),但是它們也向晶
2022-06-09 15:05:36
1152 TrueScale 探針卡概述 為了滿足消費(fèi)者對(duì)于低價(jià)、低功耗和高連接性的便攜式計(jì)算產(chǎn)品的需求,半導(dǎo)體行業(yè)加快了工藝和封裝技術(shù)的發(fā)展。 雖然尖端半導(dǎo)體技術(shù)為低成本和低功耗應(yīng)用提供了重要優(yōu)勢(shì),但是它們
2022-06-13 09:50:51
872 ,給測(cè)試帶來(lái)影響。 這時(shí)候,我們通??梢圆扇∫恍┍容^有效的手段來(lái)控制探針的使用效率。? 1.?????創(chuàng)造良好的測(cè)試環(huán)境 眾所周知的,測(cè)試探針測(cè)試大部分的線路板,因?yàn)楸?b class="flag-6" style="color: red">測(cè)試產(chǎn)品的精密性,測(cè)試探針也是被制造成高精密性的產(chǎn)品,
2022-12-28 10:15:32
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值是大電流測(cè)試探頭最重要的性能。從物理上講,測(cè)試探針在攜帶電流作為導(dǎo)體時(shí)會(huì)產(chǎn)生熱量,我們可以簡(jiǎn)單地認(rèn)為探針可以在通過(guò)測(cè)試探針的高電流下繼續(xù)工作并且不會(huì)燒毀探針。 熱量的測(cè)量是由溫度表示的,大電流探頭可以測(cè)試大
2023-01-10 08:40:05
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晶圓測(cè)試的方式主要是通過(guò)測(cè)試機(jī)和探針臺(tái)的聯(lián)動(dòng),在測(cè)試過(guò)程中,測(cè)試機(jī)臺(tái)并不能直接對(duì)待測(cè)晶圓進(jìn)行量測(cè),而是透過(guò)探針卡(Probe Card)中的探針(Probe)與晶圓上的焊墊(Pad)或凸塊(Bump)接觸而構(gòu)成電性接觸。
2023-05-08 10:36:02
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探針卡是半導(dǎo)體晶圓測(cè)試過(guò)程中需要使用的重要零部件,被認(rèn)為是測(cè)試設(shè)備的“指尖”。由于每一種芯片的引腳排列、尺寸、間距變化、頻率變化、測(cè)試電流、測(cè)試機(jī)臺(tái)有所不同,針對(duì)不同的芯片都需要有定制化的探針卡
2023-05-08 10:38:27
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Multisim的虛擬測(cè)試儀器中還有電流探針,模擬鉗式電流表,其原理是電流互感器原理。與傳統(tǒng)電流表不一樣,鉗式電流表不需要串聯(lián)接入電路中,而只需要將其前端的鉗子(電流夾)打開,使得待測(cè)電流導(dǎo)線與鉗子相互環(huán)繞,利用變壓器變電流的原理測(cè)量電流。其特點(diǎn)就是可以實(shí)現(xiàn)在線測(cè)量。
2023-05-18 11:26:00
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在半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)的制造流程上,主要可分成IC設(shè)計(jì)、晶圓制程、晶圓測(cè)試及晶圓封裝四大步驟。 其中所謂的晶圓測(cè)試,就是對(duì)晶圓上的每顆晶粒進(jìn)行電性特性檢測(cè),以檢測(cè)和淘汰晶圓上的不合格晶粒。 下面我們一起來(lái)了解一下半導(dǎo)體晶圓測(cè)試的核心耗材——探針卡,以及探針卡與LTCC/HTCC技術(shù)有著怎樣的聯(lián)系。
2023-05-26 10:56:55
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據(jù)《經(jīng)濟(jì)日?qǐng)?bào)》報(bào)道,芯片測(cè)試設(shè)備制造企業(yè)穎崴科技6月14日在高雄舉行了高雄第二工廠竣工儀式。公司方面表示:“為生產(chǎn)用于半導(dǎo)體測(cè)試的探針芯片,將于今年年底在臺(tái)元科技園區(qū)建設(shè)新工廠。將擴(kuò)大現(xiàn)有生產(chǎn)能力。”繼新工廠啟動(dòng)之后,預(yù)計(jì)明年將以探針卡業(yè)績(jī)加倍為目標(biāo)。
2023-06-15 10:31:42
1459 供應(yīng)電連ECT品牌Mini RF Test Cable Series(測(cè)試探針與測(cè)試線纜)
2022-03-02 11:40:11
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了解RF射頻測(cè)試座的用途及如何選擇合適的測(cè)試探針
2023-02-24 11:03:17
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5代IPEX天線座專用測(cè)試探針,同時(shí)兼容4代天線座。
使用壽命大于10000次。
測(cè)試性能穩(wěn)定。
2023-03-15 14:19:04
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半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)是全球技術(shù)進(jìn)步的核心引擎,其成果無(wú)處不在,從我們的智能手機(jī)到現(xiàn)代交通工具,再到各種先進(jìn)的醫(yī)療設(shè)備。而在這一巨大產(chǎn)業(yè)中,每一個(gè)微小但至關(guān)重要的部分都需經(jīng)過(guò)嚴(yán)格的測(cè)試,以確保其性能和可靠性。這就是半導(dǎo)體檢測(cè)設(shè)備探針臺(tái)(通常稱為“探針卡”或“探針臺(tái)”)發(fā)揮作用的地方。
2023-07-25 09:59:13
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據(jù)傳感器專家網(wǎng)獲悉,近日,和林微納在接受機(jī)構(gòu)調(diào)研時(shí)表示,線針、MEMS晶圓測(cè)試探針均進(jìn)入部分客戶驗(yàn)證環(huán)節(jié)。 和林微納進(jìn)一步稱,半導(dǎo)體探針業(yè)務(wù)受行業(yè)及經(jīng)濟(jì)環(huán)境等綜合影響,營(yíng)業(yè)收入較往年有較大的變化
2023-11-16 08:38:47
1191 探針測(cè)試臺(tái)是一種用于測(cè)試集成電路(IC)的設(shè)備,工作原理是將待測(cè)試的IC芯片安裝在測(cè)試座上,然后通過(guò)探針接觸到芯片的引腳,以測(cè)試芯片的功能和性能。在測(cè)試過(guò)程中,探針測(cè)試臺(tái)會(huì)生成一系列的測(cè)試信號(hào),通過(guò)
2024-02-04 15:14:19
5565 近日,上海韜盛科技旗下的蘇州晶晟微納宣布推出其最新研發(fā)的N800超大規(guī)模AI算力芯片測(cè)試探針卡。這款高性能探針卡采用了前沿的嵌入式合金納米堆疊技術(shù),旨在滿足當(dāng)前超大規(guī)模AI算力芯片的高精度測(cè)試需求。
2024-03-04 13:59:12
1847 半導(dǎo)體器件尺寸不斷縮小和復(fù)雜度增加,納米探針(Nanoprobing)技術(shù)成為解決微觀電學(xué)問題和優(yōu)化器件性能的重要工具,成為半導(dǎo)體失效分析流程中越來(lái)越重要的一環(huán)。 隨著功率半導(dǎo)體的快速發(fā)展,其廠商也
2024-05-07 15:06:32
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探針卡是晶圓功能驗(yàn)證測(cè)試的關(guān)鍵工具,通常是由探針、電子元件、線材與印刷電路板(PCB)組成的一種測(cè)試接口,主要對(duì)裸die進(jìn)行測(cè)試。探針卡上的探針與芯片上的焊點(diǎn)或者凸起直接接觸,導(dǎo)出芯片信號(hào),再配
2024-05-11 08:27:30
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這個(gè)直徑是測(cè)試點(diǎn)的最小尺寸,用于確保測(cè)試探針可以準(zhǔn)確地與測(cè)試點(diǎn)接觸。如果測(cè)試點(diǎn)直徑小于這個(gè)值,可能會(huì)導(dǎo)致測(cè)試探針無(wú)法正確接觸到測(cè)試點(diǎn),從而影響測(cè)試的準(zhǔn)確性。
2024-10-28 10:31:07
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測(cè)試點(diǎn)之間的間距決定了使用何種樣式的測(cè)試探針。以下是幾種常見的測(cè)試探針樣式和其適用的間距范圍。
2024-10-29 09:50:15
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探針卡(Probe Card)是半導(dǎo)體測(cè)試領(lǐng)域不可或缺的關(guān)鍵工具,主要用于晶圓級(jí)的電學(xué)性能檢測(cè)。在半導(dǎo)體制造流程中,為了確保每個(gè)芯片的質(zhì)量與性能達(dá)標(biāo),在封裝之前必須對(duì)晶圓上的每個(gè)裸片進(jìn)行詳細(xì)的電學(xué)
2024-11-25 10:27:29
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?無(wú)需焊接或探針,即可輕松準(zhǔn)確地測(cè)量寬禁帶功率半導(dǎo)體裸片的動(dòng)態(tài)特性 ?是德科技夾具可在不損壞裸片的情況下實(shí)現(xiàn)快速、重復(fù)測(cè)試 ?寄生功率回路電感小于10nH,實(shí)現(xiàn)干凈的動(dòng)態(tài)測(cè)試波形 是德科技(NYSE
2025-03-14 14:36:25
738 Vega Planet 探針臺(tái),通過(guò)完善的現(xiàn)場(chǎng)驗(yàn)機(jī)測(cè)試保障體系,確??蛻裟軌蛉妗?zhǔn)確地評(píng)估設(shè)備性能,滿足從成熟制程到先進(jìn)制程芯片的多樣化測(cè)試需求,為半導(dǎo)體企業(yè)提供可
2025-10-11 11:50:25
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評(píng)論