探針卡（Probe Card）是半導體測試領域不可或缺的關鍵工具，主要用于晶圓級的電學性能檢測。在半導體制造流程中，為了確保每個芯片的質量與性能達標，在封裝之前必須對晶圓上的每個裸片進行詳細的電學測試。探針卡通過其上安裝的精密金屬探針，能夠準確地與晶圓表面的測試點接觸，建立起必要的電氣連接，進而實現對芯片各項電學參數的測量。這種高效且精準的測試方式，對于提升產品質量、減少不合格品率至關重要。隨著半導體技術的不斷進步及應用領域的擴展，探針卡的設計與制造也在不斷創新，以適應更高密度、更細間距以及更多樣化的測試需求。

加賀富儀艾電子代理的品牌FICT株式會社一直致力于提供世界領先的互連技術和服務，該公司利用尖端技術提供創新的有機印刷電路板（PCB），非常適合探針卡應用，具有超過10000條網絡的巨大布線容量，實現高質量的信號完整性。

FICT探針卡，客戶的理想解決方案

基于半個世紀積累的專業知識和技術，FICT為先進的半導體器件測試提供理想的解決方案。

01布線容量最大化

任何層的IVH結構都能實現巨大的布線容量和部件放置設計的靈活性。

F-ALCS技術使布線容量超過35,000條線，是傳統印刷電路板的兩倍。

與傳統印刷電路板技術相比，F-ALCS技術能夠減少38層（-43%）。

02更短的交貨周期

實現一次性層壓的PCB制造，縮短制造交貨周期。FICT的創新技術F-ALCS減少了50%的工藝步驟，縮短了交貨時間。

新的任何層IVH制造技術采用一次性層壓。————

常規IVH PCB和F-ALCS PCB的工藝步驟數量不同。

制造工藝步驟減少近50%！

F-ALCS技術的截面圖（任何層IVH）

03適用于超過500毫米尺寸PCB的IVH結構

通過將IVH技術應用于大尺寸基板（> 500毫米），解除前后兩面元件安裝的限制以及PTH通孔對布線密度的限制。

應用領域與結構

隨著晶圓尺寸的增大和同時測量的DUT（被測設備）數量的增加，對具有巨大布線容量的大尺寸探針卡PCB的需求不斷增長。FICT為先進設備的晶圓測試提供多種無樁VIA結構和高速傳輸技術。

01技術應用

FICT提供優化的探針卡PCB技術，以滿足升級需求，解決同時測量DUT數量增加和細間距探測的問題。

（注）DUT：被測設備（Device Under TEST）

02PCB結構及其優勢

FICT為探針卡的規格升級需求提供多種PCB結構。每種PCB結構的特點如下所示。

各結構的優勢，與FICT的產品相比。

03最適合被測設備的結構

FICT為半導體設備的探針卡需求提供優化的PCB結構，解決高速運行、窄間距探測和同時測量DUT數量增加的問題。

每種DUT類型的適用結構

FICT為設備的特定需求提供優化的探針卡結構

PCB規格概述

探針卡的有機PCB應用及其PCB規格。

01用于閃存的有機探針卡

02用于DRAM內存的有機探針卡

03

用于邏輯LSI的有機探針卡

（中介層類型，多層有機PCB）

04

用于邏輯LSI的有機探針卡

（集成中介層類型）