過(guò)去的幾年里，測(cè)試探針卡的發(fā)展允許平行測(cè)試更多的器件——同時(shí)可測(cè)的待測(cè)器件(DUT)數(shù)量從32到64到128不斷上升——減少了測(cè)試平臺(tái)的數(shù)目。這樣，通過(guò)在300 mm晶圓上一次完成測(cè)試，
2011-11-10 12:04:20
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半導(dǎo)體生產(chǎn)流程由晶圓制造、晶圓測(cè)試、芯片封裝和封裝后測(cè)試組成。半導(dǎo)體封裝測(cè)試是指將通過(guò)測(cè)試的晶圓按照產(chǎn)品型號(hào)及功能需求加工得到獨(dú)立芯片的過(guò)程。
2017-01-06 14:05:133023 隨著5G技術(shù)、物聯(lián)網(wǎng)以及科學(xué)技術(shù)的不斷發(fā)展，半導(dǎo)體晶圓行業(yè)的需求量也在不斷增加。一般的晶圓片厚度有一定的規(guī)格，晶圓厚度對(duì)半導(dǎo)體器件的性能和質(zhì)量都有著重要影響。而集成電路制造技術(shù)的不斷發(fā)展，芯片特征尺寸也逐漸減小，帶動(dòng)晶圓減薄工藝的興起與發(fā)展，晶圓測(cè)厚成為了不少晶圓生產(chǎn)廠家的必要需求之一。
2023-08-23 10:45:502657 
翹曲度是實(shí)測(cè)平面在空間中的彎曲程度，以翹曲量來(lái)表示，比如絕對(duì)平面的翹曲度為0。計(jì)算翹曲平面在高度方向最遠(yuǎn)的兩點(diǎn)距離為最大翹曲變形量。翹曲度計(jì)算公式：晶圓翹曲度影響著晶圓直接鍵合質(zhì)量，翹曲度越小，表面
2022-11-18 17:45:23
作者： Robert GeeMaxim Integrated核心產(chǎn)品事業(yè)部執(zhí)行業(yè)務(wù)經(jīng)理 在半導(dǎo)體測(cè)試領(lǐng)域，管理成本依然是最嚴(yán)峻的挑戰(zhàn)之一，因?yàn)樽詣?dòng)化測(cè)試設(shè)備(ATE)是一項(xiàng)重大的資本支出。那么，有沒(méi)有能夠降低每片晶圓的成本，從而提升競(jìng)爭(zhēng)優(yōu)勢(shì)的方法呢？有，答案就是提高吞吐率。
2019-07-29 08:11:12
電阻率是決定半導(dǎo)體材料電學(xué)特性的重要參數(shù)，為了表征工藝質(zhì)量以及材料的摻雜情況，需要測(cè)試材料的電阻率。半導(dǎo)體材料電阻率測(cè)試方法有很多種，其中四探針法具有設(shè)備簡(jiǎn)單、操作方便、測(cè)量精度高以及對(duì)樣品形狀
2021-01-13 07:20:44
進(jìn)口日本半導(dǎo)體硅材料呆料，硅含量高，其中有些硅圓片，打磨減薄后可以成為硅晶圓芯片的生產(chǎn)材料。聯(lián)系方式：沈女士（***）
2020-01-06 09:59:44
我們想要描述SMA連接器和尖端之間的共面晶圓探針。我們正在考慮使用“微波測(cè)量手冊(cè)”第9.3.1節(jié)中的“使用單端口校準(zhǔn)進(jìn)行夾具表征”。我們將使用ECAL用于SMA側(cè)，并使用晶圓SOL終端用于探頭側(cè)
2019-01-23 15:24:48
架上，放入充滿氮?dú)獾拿芊庑『袃?nèi)以免在運(yùn)輸過(guò)程中被氧化或沾污十、發(fā)往封測(cè)Die（裸片）經(jīng)過(guò)封測(cè)，就成了我們電子數(shù)碼產(chǎn)品上的芯片。晶圓的制造在半導(dǎo)體領(lǐng)域，科技含量相當(dāng)?shù)母撸夹g(shù)工藝要求非常高。而我國(guó)半導(dǎo)體
2019-09-17 09:05:06
` 硅是由石英沙所精練出來(lái)的，晶圓便是硅元素加以純化（99.999%），接著是將些純硅制成硅晶棒，成為制造積體電路的石英半導(dǎo)體的材料，經(jīng)過(guò)照相制版，研磨，拋光，切片等程序，將多晶硅融解拉出單晶硅晶棒
2011-09-07 10:42:07
的芯片。由于單個(gè)芯片尺寸增大而造成的更多邊緣浪費(fèi)會(huì)由采用更大直徑晶圓所彌補(bǔ)。推動(dòng)半導(dǎo)體工業(yè)向更大直徑晶圓發(fā)展的動(dòng)力之一就是為了減少邊緣芯片所占的面積。（5）晶圓的晶面（Wafer Crystal
2020-02-18 13:21:38
晶圓針測(cè)制程介紹 晶圓針測(cè)（Chip Probing；CP）之目的在于針對(duì)芯片作電性功能上的 測(cè)試（Test），使 IC 在進(jìn)入構(gòu)裝前先行過(guò)濾出電性功能不良的芯片，以避免對(duì)不良品增加制造成
2020-05-11 14:35:33
請(qǐng)問(wèn)有人用過(guò)Jova Solutions的ISL-4800圖像測(cè)試儀嗎，還有它可否作為CIS晶圓測(cè)試的tester，謝謝！
2015-03-29 15:49:20
半導(dǎo)體晶圓（晶片）的直徑為4到10英寸（10.16到25.4厘米）的圓盤(pán)，在制造過(guò)程中可承載非本征
半導(dǎo)體。它們是正（P）型
半導(dǎo)體或負(fù)（N）型
半導(dǎo)體的臨時(shí)形式。硅晶片是非常常見(jiàn)的
半導(dǎo)體晶片，因?yàn)楣?/div>
2021-07-23 08:11:27
` 晶圓是指硅半導(dǎo)體集成電路制作所用的硅晶片，由于其形狀為圓形，故稱為晶圓；在硅晶片上可加工制作成各種電路元件結(jié)構(gòu)，而成為有特定電性功能之IC產(chǎn)品。晶圓的原始材料是硅，而地殼表面有用之不竭的二氧化硅
2011-12-01 11:40:04
`晶圓測(cè)試是對(duì)晶片上的每個(gè)晶粒進(jìn)行針測(cè)，在檢測(cè)頭裝上以金線制成細(xì)如毛發(fā)之探針（probe），與晶粒上的接點(diǎn)（pad）接觸，測(cè)試其電氣特性，不合格的晶粒會(huì)被標(biāo)上記號(hào)，而后當(dāng)晶片依晶粒為單位切割成獨(dú)立
2011-12-01 13:54:00
今日分享晶圓制造過(guò)程中的工藝及運(yùn)用到的半導(dǎo)體設(shè)備。晶圓制造過(guò)程中有幾大重要的步驟：氧化、沉積、光刻、刻蝕、離子注入/擴(kuò)散等。這幾個(gè)主要步驟都需要若干種半導(dǎo)體設(shè)備，滿足不同的需要。設(shè)備中應(yīng)用較為廣泛
2018-10-15 15:11:22
Probe - Test equipment used to test resistivity of wafers.四探針 - 測(cè)量半導(dǎo)體晶片表面電阻的設(shè)備。Furnace and Thermal
2011-12-01 14:20:47
隨著半導(dǎo)體工藝復(fù)雜度提升，可靠性要求與測(cè)試成本及時(shí)間之間的矛盾日益凸顯。晶圓級(jí)可靠性（Wafer Level Reliability, WLR）技術(shù)通過(guò)直接在未封裝晶圓上施加加速應(yīng)力，實(shí)現(xiàn)快速
2025-05-07 20:34:21
`什么是硅晶圓呢，硅晶圓就是指硅半導(dǎo)體積體電路制作所用的硅晶片。晶圓是制造IC的基本原料。硅晶圓和晶圓有區(qū)別嗎？其實(shí)二者是一個(gè)概念。集成電路（IC）是指在一半導(dǎo)體基板上，利用氧化、蝕刻、擴(kuò)散等方法
2011-12-02 14:30:44
應(yīng)用范圍：探針臺(tái)主要應(yīng)用于半導(dǎo)體行業(yè)、光電行業(yè)。針對(duì)集成電路以及封裝的測(cè)試。 廣泛應(yīng)用于復(fù)雜、高速器件的精密電氣測(cè)量的研發(fā)，旨在確保質(zhì)量及可靠性，并縮減研發(fā)時(shí)間和器件制造工藝的成本。芯片失效分析探針臺(tái)
2020-10-16 16:05:57
氧化鋯基氧化鋁 - 半導(dǎo)體晶圓研磨粉 (AZ) 系列半導(dǎo)體晶圓研磨粉是一種細(xì)粉磨料，是作為需要高精度的包裹材料而開(kāi)發(fā)的。原材料粒度分布尖銳，粒度穩(wěn)定，形狀呈塊狀。再以熔融氧化鋁為原料，鋯英
2022-05-31 14:21:38
晶圓外延膜厚測(cè)試儀技術(shù)點(diǎn)：1.設(shè)備功能：? 自動(dòng)膜厚測(cè)試機(jī)EFEM，搭配客戶OPTM測(cè)量頭,完成晶圓片自動(dòng)上料、膜厚檢測(cè)、分揀下料；2.工作狀態(tài)：? 晶圓尺寸8/12 inch；? 晶圓材
2022-10-27 13:43:41
TC-Wafer是將高精度溫度傳感器鑲嵌在晶圓表面，對(duì)晶圓表面的溫度進(jìn)行實(shí)時(shí)測(cè)量。通過(guò)晶圓的測(cè)溫點(diǎn)了解特定位置晶圓的真實(shí)溫度，以及晶圓整體的溫度分布，同還可以監(jiān)控半導(dǎo)體設(shè)備控溫過(guò)程中晶圓發(fā)生的溫度
2023-12-21 08:58:53
中圖儀器WD4000半導(dǎo)體晶圓Warp翹曲度量測(cè)設(shè)備通過(guò)非接觸測(cè)量，將晶圓的三維形貌進(jìn)行重建，強(qiáng)大的測(cè)量分析軟件穩(wěn)定計(jì)算晶圓厚度，TTV，BOW、WARP、在高效測(cè)量測(cè)同時(shí)有效防止晶圓產(chǎn)生劃痕缺陷
2024-05-31 10:35:03
WD4000系列半導(dǎo)體晶圓厚度高精度測(cè)量系統(tǒng)通過(guò)非接觸測(cè)量，將晶圓的三維形貌進(jìn)行重建，強(qiáng)大的測(cè)量分析軟件穩(wěn)定計(jì)算晶圓厚度，TTV，BOW、WARP、在高效測(cè)量測(cè)同時(shí)有效防止晶圓產(chǎn)生劃痕缺陷。兼容
2024-07-31 14:28:40
中圖儀器WD4000半導(dǎo)體晶圓wafer厚度測(cè)量設(shè)備通過(guò)非接觸測(cè)量，將晶圓的三維形貌進(jìn)行重建，強(qiáng)大的測(cè)量分析軟件穩(wěn)定計(jì)算晶圓厚度，TTV，BOW、WARP、在高效測(cè)量測(cè)同時(shí)有效防止晶圓產(chǎn)生劃痕缺陷
2024-09-06 16:52:43
WD4000半導(dǎo)體晶圓量測(cè)設(shè)備采用高精度光譜共焦傳感技術(shù)、光干涉雙向掃描技術(shù)，完成非接觸式掃描并建立3D Mapping圖，實(shí)現(xiàn)晶圓厚度、TTV、LTV、Bow、Warp、TIR、SORI、等反應(yīng)
2024-09-09 16:30:06
中圖儀器WD4000半導(dǎo)體晶圓幾何形貌量測(cè)設(shè)備兼容不同材質(zhì)不同粗糙度、可測(cè)量大翹曲wafer、測(cè)量晶圓雙面數(shù)據(jù)更準(zhǔn)確。它通過(guò)非接觸測(cè)量，將晶圓的三維形貌進(jìn)行重建，強(qiáng)大的測(cè)量分析軟件穩(wěn)定計(jì)算晶圓厚度
2024-09-29 16:54:10
中圖儀器WD4000半導(dǎo)體晶圓制程幾何尺寸量測(cè)設(shè)備通過(guò)非接觸測(cè)量，將晶圓的三維形貌進(jìn)行重建，強(qiáng)大的測(cè)量分析軟件穩(wěn)定計(jì)算晶圓厚度，TTV，BOW、WARP、在高效測(cè)量測(cè)同時(shí)有效防止晶圓產(chǎn)生劃痕缺陷。它
2024-10-17 11:22:26
中圖儀器WD4000半導(dǎo)體晶圓厚度量測(cè)系統(tǒng)通過(guò)非接觸測(cè)量，將晶圓的三維形貌進(jìn)行重建，在高效測(cè)量測(cè)同時(shí)有效防止晶圓產(chǎn)生劃痕缺陷。它自動(dòng)測(cè)量Wafer厚度、表面粗糙度、三維形貌、單層膜厚、多層膜厚。1
2024-11-14 13:42:52
WD4000半導(dǎo)體晶圓幾何表面形貌檢測(cè)設(shè)備兼容不同材質(zhì)不同粗糙度、可測(cè)量大翹曲wafer、測(cè)量晶圓雙面數(shù)據(jù)更準(zhǔn)確。它通過(guò)非接觸測(cè)量，將晶圓的三維形貌進(jìn)行重建，強(qiáng)大的測(cè)量分析軟件穩(wěn)定計(jì)算晶圓厚度
2025-01-06 14:34:08
中圖儀器WD4000系列半導(dǎo)體晶圓表面形貌量測(cè)設(shè)備通過(guò)非接觸測(cè)量，將晶圓的三維形貌進(jìn)行重建，強(qiáng)大的測(cè)量分析軟件穩(wěn)定計(jì)算晶圓厚度，TTV，BOW、WARP、在高效測(cè)量測(cè)同時(shí)有效防止晶圓產(chǎn)生劃痕缺陷
2025-04-21 10:49:55
FormFactor針對(duì)DRAM市場(chǎng)推出12吋全晶圓測(cè)試
FormFactor公司宣布針對(duì)DRAM市場(chǎng)，推出新一代12吋全晶圓接觸探針卡─SmartMatrix™ 100探針卡解決方案。該方案結(jié)合運(yùn)用FormFactor Mi
2009-12-11 09:17:14951 意法半導(dǎo)體(STMicroelectronics，簡(jiǎn)稱ST)宣布，全球首款未使用任何接觸式探針完成裸片全部測(cè)試的半導(dǎo)體晶圓研制成功
2011-12-21 08:51:40911 。? ? ? ?整體設(shè)計(jì)與構(gòu)造?基于X射線的晶圓級(jí)抗輻照電路測(cè)試系統(tǒng)用于半導(dǎo)體材料和集成電路的抗輻射效應(yīng)實(shí)時(shí)測(cè)量。它主要由四個(gè)大部分構(gòu)成——X射線源系統(tǒng)，探針臺(tái)、測(cè)試儀表、監(jiān)視控制單元。其中，X射線源系統(tǒng)包括X射線
2019-01-14 09:21:224414 
晶圓（wafer） 是制造半導(dǎo)體器件的基礎(chǔ)性原材料。 極高純度的半導(dǎo)體經(jīng)過(guò)拉晶、切片等工序制備成為晶圓，晶圓經(jīng)過(guò)一系列半導(dǎo)體制造工藝形成極微小的電路結(jié)構(gòu)，再經(jīng)切割、封裝、測(cè)試成為芯片，廣泛應(yīng)用到各類電子設(shè)備當(dāng)中。
2018-12-29 08:50:5628480 
美國(guó)VLSI Research是一家專門(mén)調(diào)查半導(dǎo)體及相關(guān)設(shè)備、材料的市場(chǎng)調(diào)查公司，近日公布了用于半導(dǎo)體方面的探針卡（Probe）供應(yīng)商的2018年的銷售額排名。
2019-05-08 14:25:1230079 
據(jù)麥姆斯咨詢報(bào)道，近日，中國(guó)晶圓探針卡領(lǐng)軍企業(yè)強(qiáng)一半導(dǎo)體（蘇州）有限公司（簡(jiǎn)稱：強(qiáng)一半導(dǎo)體）完成5000萬(wàn)元融資，本次融資由豐年資本領(lǐng)投。 強(qiáng)一半導(dǎo)體是中國(guó)大陸第一家擁有自主設(shè)計(jì)垂直探針卡研發(fā)能力
2020-11-09 11:27:243408 制造工藝形成微小的電路結(jié)構(gòu)，再經(jīng)過(guò)切割、封裝、測(cè)試等工序制成芯片，廣泛應(yīng)用于各種電子設(shè)備中。 ADI晶圓半導(dǎo)體的優(yōu)點(diǎn)是：高電子遷移率；高頻特性；寬帶寬；高線性度；高功率；材料選擇的多樣性和抗輻射性。 ADI又名亞德諾半導(dǎo)體，
2021-11-11 16:16:412313 就像其他較大的電子元件一樣，半導(dǎo)體在制造過(guò)程中也經(jīng)過(guò)大量測(cè)試。 這些檢查之一是#晶圓測(cè)試#，也稱為電路探測(cè)（CP）或電子管芯分類（EDS）。這是一種將特殊測(cè)試圖案施加到半導(dǎo)體晶圓上各個(gè)集成電路
2021-10-14 10:25:4710359 半導(dǎo)體晶圓冷卻裝置在長(zhǎng)時(shí)間的使用過(guò)程中，也需要對(duì)半導(dǎo)體晶圓冷卻裝置進(jìn)行必要的檢查和維護(hù)保養(yǎng)，定期維護(hù)有利于半導(dǎo)體晶圓冷卻裝置制冷效率，同時(shí)也有利于延長(zhǎng)壽命。
2021-04-04 16:17:002577 基于NI-VISA的晶圓測(cè)試探針臺(tái)遠(yuǎn)程控制軟件
2021-06-29 15:07:08
23 晶圓探針測(cè)試也被稱為中間測(cè)試（中測(cè)），是集成電路生產(chǎn)中的重要一環(huán)。晶圓探針測(cè)試的目的就是確保在芯片封裝前，盡可能地把壞的芯片篩選出來(lái)以節(jié)約封裝費(fèi)用。這步測(cè)試是晶圓生產(chǎn)過(guò)程的成績(jī)單，它不僅是節(jié)約芯片
2021-11-17 15:29:157456 Apollo 探針卡概述 為了滿足消費(fèi)者對(duì)于低價(jià)、低功耗和高連接性的便攜式計(jì)算產(chǎn)品的需求，半導(dǎo)體行業(yè)加快了工藝和封裝技術(shù)的發(fā)展。 雖然尖端半導(dǎo)體技術(shù)為低成本和低功耗應(yīng)用提供了重要優(yōu)勢(shì)，但是它們也向晶
2022-06-09 15:05:361152 TrueScale 探針卡概述 為了滿足消費(fèi)者對(duì)于低價(jià)、低功耗和高連接性的便攜式計(jì)算產(chǎn)品的需求，半導(dǎo)體行業(yè)加快了工藝和封裝技術(shù)的發(fā)展。 雖然尖端半導(dǎo)體技術(shù)為低成本和低功耗應(yīng)用提供了重要優(yōu)勢(shì)，但是它們
2022-06-13 09:50:51872 Vx-MP 探針卡概述 ? ? 為了滿足消費(fèi)者對(duì)于低價(jià)、低功耗和高連接性的便攜式計(jì)算產(chǎn)品的需求，半導(dǎo)體行業(yè)加快了工藝和封裝技術(shù)的發(fā)展。 ? ? 雖然尖端半導(dǎo)體技術(shù)為低成本和低功耗應(yīng)用提供了重要優(yōu)勢(shì)
2022-06-13 10:06:04888 隨著晶圓尺寸的增大和同時(shí)測(cè)量 DUT 的增加，對(duì)具有巨大布線能力的大型探針卡 PCB 的需求也在增長(zhǎng)。FICT為最先進(jìn)的設(shè)備的晶圓測(cè)試提供各種無(wú)存根 VIA 結(jié)構(gòu)和高速傳輸技術(shù)。
2022-07-15 10:45:262989 通過(guò)使用下一代納米和半導(dǎo)體晶圓技術(shù)，將您的技術(shù)提升到一個(gè)新的水平。RISE 是新興技術(shù)的測(cè)試平臺(tái)。ProNano 是一個(gè)數(shù)字創(chuàng)新中心，您可以在其中進(jìn)行試點(diǎn)測(cè)試和升級(jí)您的設(shè)計(jì)，而無(wú)需投資昂貴的設(shè)備或基礎(chǔ)設(shè)施。它還允許進(jìn)入工業(yè) 半導(dǎo)體 制造的潔凈室。
2022-07-29 15:04:201242 晶圓探針測(cè)試也被稱為中間測(cè)試（中測(cè)），是集成電路生產(chǎn)中的重要一環(huán)。晶圓探針測(cè)試的目的就是確保在芯片封裝前，盡可能地把壞的芯片篩選出來(lái)以節(jié)約封裝費(fèi)用。
2022-08-09 09:21:105464 晶圓探針測(cè)試也被稱為中間測(cè)試（中測(cè)），是集成電路生產(chǎn)中的重要一環(huán)。晶圓探針測(cè)試的目的就是確保在芯片封裝前，盡可能地把壞的芯片篩選出來(lái)以節(jié)約封裝費(fèi)用。
2023-01-04 16:11:502872 半導(dǎo)體集成電路是將許多元件集成到一個(gè)芯片中以處理和存儲(chǔ)各種功能的電子組件。由于半導(dǎo)體集成電路是通過(guò)在晶圓的薄基板上制造多個(gè)相同電路而產(chǎn)生的，因此晶圓是半導(dǎo)體的基礎(chǔ)，就像制作披薩時(shí)添加配料之前先做面團(tuán)一樣。
2023-01-11 10:28:016502 探針卡（Probe card）或許很多人沒(méi)有聽(tīng)過(guò)，但看過(guò)關(guān)于，也就是晶圓測(cè)試方面文章的人應(yīng)該不會(huì)陌生，其中就有提到過(guò)探針卡。
2023-02-27 17:48:495297 半導(dǎo)體晶圓清洗設(shè)備市場(chǎng)-概況 半導(dǎo)體晶圓清洗設(shè)備用于去除晶圓表面的顆粒、污染物和其他雜質(zhì)。清潔后的表面有助于提高半導(dǎo)體器件的產(chǎn)量和性能。市場(chǎng)上有各種類型的半導(dǎo)體晶圓清洗設(shè)備。一些流行的設(shè)備類型包括
2023-08-22 15:08:002550 
高頻探針卡是芯片、晶圓測(cè)試中的重要工具，它可以將高頻信號(hào)從芯片中提取出來(lái)并進(jìn)行分析，是芯片、晶圓測(cè)試世界中的神器。
2023-03-27 14:41:433757 半導(dǎo)體晶圓清洗設(shè)備市場(chǎng)預(yù)計(jì)將達(dá)到129\.1億美元。到 2029 年。晶圓清洗是在不影響半導(dǎo)體表面質(zhì)量的情況下去除顆?；蛭廴疚锏倪^(guò)程。器件表面晶圓上的污染物和顆粒雜質(zhì)對(duì)器件的性能和可靠性有重大影響。本報(bào)告?zhèn)戎赜?b class="flag-6" style="color: red">半導(dǎo)體晶圓清洗設(shè)備市場(chǎng)的不同部分（產(chǎn)品、晶圓尺寸、技術(shù)、操作模式、應(yīng)用和區(qū)域）。
2023-04-03 09:47:513427 
探針卡是半導(dǎo)體晶圓測(cè)試過(guò)程中需要使用的重要零部件，被認(rèn)為是測(cè)試設(shè)備的“指尖”。由于每一種芯片的引腳排列、尺寸、間距變化、頻率變化、測(cè)試電流、測(cè)試機(jī)臺(tái)有所不同，針對(duì)不同的芯片都需要有定制化的探針卡
2023-05-08 10:38:278672 
芯片、晶圓是電子產(chǎn)品的核心，而高頻探針卡則是高頻芯片、晶圓測(cè)試中的重要工具。
2023-05-10 10:17:231740 晶圓測(cè)試的方式主要是通過(guò)測(cè)試機(jī)和探針臺(tái)的聯(lián)動(dòng)，在測(cè)試過(guò)程中，測(cè)試機(jī)臺(tái)并不能直接對(duì)待測(cè)晶圓進(jìn)行量測(cè)，而是透過(guò)探針卡（Probe Card）中的探針（Probe）與晶圓上的焊墊（Pad）或凸塊（Bump）接觸而構(gòu)成電性接觸
2023-05-11 14:35:145904 
在半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)的制造流程上，主要可分成IC設(shè)計(jì)、晶圓制程、晶圓測(cè)試及晶圓封裝四大步驟。 其中所謂的晶圓測(cè)試，就是對(duì)晶圓上的每顆晶粒進(jìn)行電性特性檢測(cè)，以檢測(cè)和淘汰晶圓上的不合格晶粒。 下面我們一起來(lái)了解一下半導(dǎo)體晶圓測(cè)試的核心耗材——探針卡，以及探針卡與LTCC/HTCC技術(shù)有著怎樣的聯(lián)系。
2023-05-26 10:56:552504 
測(cè)試測(cè)試的主要目標(biāo)是檢驗(yàn)半導(dǎo)體芯片的質(zhì)量是否達(dá)到一定標(biāo)準(zhǔn)，從而消除不良產(chǎn)品、并提高芯片的可靠性。另外，經(jīng)測(cè)試有缺陷的產(chǎn)品不會(huì)進(jìn)入封裝步驟，有助于節(jié)省成本和時(shí)間。電子管芯分選(EDS)就是一種針對(duì)晶圓
2022-07-18 14:08:391955 
晶圓切割是半導(dǎo)體制造中的關(guān)鍵環(huán)節(jié)之一。提升晶圓工藝制程需要綜合考慮多個(gè)方面，包括切割效率、切割質(zhì)量、設(shè)備性能等。針對(duì)這些問(wèn)題，國(guó)產(chǎn)半導(dǎo)體劃片機(jī)解決方案可以提供一些幫助。首先，在切割效率方面，國(guó)產(chǎn)
2023-06-05 15:30:4420195 
成品測(cè)試主要是指晶圓切割變成芯片后，針 對(duì)芯片的性能進(jìn)行最終測(cè)試，需要使用的設(shè)備主要為測(cè)試機(jī)和分選機(jī)。晶圓測(cè)試（Chip Probing），簡(jiǎn)稱 CP 測(cè)試，是指通過(guò)探針臺(tái)和測(cè)試機(jī)的配合使用，對(duì)晶圓 上的裸芯片（gross die）進(jìn)行功能和電學(xué)性能參數(shù)的測(cè)試。
2023-06-25 12:26:503480 
半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)是全球技術(shù)進(jìn)步的核心引擎，其成果無(wú)處不在，從我們的智能手機(jī)到現(xiàn)代交通工具，再到各種先進(jìn)的醫(yī)療設(shè)備。而在這一巨大產(chǎn)業(yè)中，每一個(gè)微小但至關(guān)重要的部分都需經(jīng)過(guò)嚴(yán)格的測(cè)試，以確保其性能和可靠性。這就是半導(dǎo)體檢測(cè)設(shè)備探針臺(tái)（通常稱為“探針卡”或“探針臺(tái)”）發(fā)揮作用的地方。
2023-07-25 09:59:131661 
半導(dǎo)體晶圓的厚度測(cè)量在現(xiàn)代科技領(lǐng)域具有重要地位。在晶圓制造完成后，晶圓測(cè)試是評(píng)估制造過(guò)程的關(guān)鍵環(huán)節(jié)，其結(jié)果直接反映了晶圓的質(zhì)量。這個(gè)過(guò)程中，每個(gè)芯片的電性能和電路機(jī)能都受到了嚴(yán)格的檢驗(yàn)。
2023-08-16 11:10:171852 
晶圓封裝測(cè)試什么意思？ 晶圓封裝測(cè)試是指對(duì)半導(dǎo)體芯片（晶圓）進(jìn)行封裝組裝后，進(jìn)行電性能測(cè)試和可靠性測(cè)試的過(guò)程。晶圓封裝測(cè)試是半導(dǎo)體芯片制造過(guò)程中非常重要的一步，它可以保證芯片質(zhì)量，并確保生產(chǎn)出的芯片
2023-08-24 10:42:073376 晶圓測(cè)溫系統(tǒng)，tc wafer半導(dǎo)體晶圓測(cè)溫?zé)犭娕?晶圓測(cè)溫系統(tǒng)，也就是tc wafer半導(dǎo)體晶圓測(cè)溫?zé)犭娕迹且环N高精度的溫度測(cè)量設(shè)備。它采用了先進(jìn)的測(cè)溫技術(shù)，能夠準(zhǔn)確地測(cè)量晶圓表面的溫度。這個(gè)
2023-10-11 16:09:411734 晶圓代工景氣高企，核心推薦半導(dǎo)體設(shè)計(jì)
2023-01-13 09:07:123 晶圓檢測(cè)機(jī)，又稱為半導(dǎo)體芯片自動(dòng)化檢測(cè)設(shè)備，是用于對(duì)半導(dǎo)體芯片的質(zhì)量進(jìn)行檢驗(yàn)和測(cè)試的專用設(shè)備。它可以用于硅片、硅晶圓、LED芯片等半導(dǎo)體材料的表面檢測(cè)，通過(guò)對(duì)晶圓的表面特征進(jìn)行全面檢測(cè)，可以有效降低
2023-10-26 10:51:340 據(jù)傳感器專家網(wǎng)獲悉，近日，和林微納在接受機(jī)構(gòu)調(diào)研時(shí)表示，線針、MEMS晶圓測(cè)試探針均進(jìn)入部分客戶驗(yàn)證環(huán)節(jié)。 和林微納進(jìn)一步稱，半導(dǎo)體探針業(yè)務(wù)受行業(yè)及經(jīng)濟(jì)環(huán)境等綜合影響，營(yíng)業(yè)收入較往年有較大的變化
2023-11-16 08:38:471191 半導(dǎo)體的外延片和晶圓的區(qū)別？ 半導(dǎo)體的外延片和晶圓都是用于制造集成電路的基礎(chǔ)材料，它們之間有一些區(qū)別和聯(lián)系。在下面的文章中，我將詳細(xì)解釋這兩者之間的差異和相關(guān)信息。 首先，讓我們來(lái)了解一下半導(dǎo)體
2023-11-22 17:21:258102 作為芯片晶圓測(cè)試階段的重要工具之一，探針卡在不斷更新迭代。為滿足更高需求的晶圓測(cè)試，針卡類型也逐漸從懸臂針卡向垂直針卡升級(jí)。
2024-01-25 10:29:2115546 
將制作在晶圓上的許多半導(dǎo)體，一個(gè)個(gè)判定是否為良品，此制程稱為“晶圓針測(cè)制程”。
2024-04-19 11:35:312108 
晶圓測(cè)試的對(duì)象是晶圓，而晶圓由許多芯片組成，測(cè)試的目的便是檢驗(yàn)這些芯片的特性和品質(zhì)。為此，晶圓測(cè)試需要連接測(cè)試機(jī)和芯片，并向芯片施加電流和信號(hào)。
2024-04-23 16:56:513985 
探針卡是晶圓功能驗(yàn)證測(cè)試的關(guān)鍵工具，通常是由探針、電子元件、線材與印刷電路板（PCB）組成的一種測(cè)試接口，主要對(duì)裸die進(jìn)行測(cè)試。探針卡上的探針與芯片上的焊點(diǎn)或者凸起直接接觸，導(dǎo)出芯片信號(hào)，再配
2024-05-11 08:27:301802 
半導(dǎo)體行業(yè)中，“晶圓”和“流片”是兩個(gè)專業(yè)術(shù)語(yǔ)，它們代表了半導(dǎo)體制造過(guò)程中的兩個(gè)不同概念。
2024-05-29 18:14:2517505 晶圓貼膜機(jī)的半導(dǎo)體應(yīng)用
2024-08-19 17:21:341244 
是德科技（Keysight Technologies， Inc.）近期發(fā)布了一款名為4881HV的高壓晶圓測(cè)試系統(tǒng)，進(jìn)一步豐富了其半導(dǎo)體測(cè)試產(chǎn)品線。該系統(tǒng)能夠在單次測(cè)試中高效地覆蓋從低壓到高達(dá)3kV的高壓參數(shù)測(cè)試，顯著提升了功率半導(dǎo)體制造商的生產(chǎn)效率。
2024-10-11 14:49:561545 是德科技近日推出了全新的4881HV高壓晶圓測(cè)試系統(tǒng)，進(jìn)一步豐富了其半導(dǎo)體測(cè)試產(chǎn)品線。
2024-10-14 17:03:321097 探針卡（Probe Card）是半導(dǎo)體測(cè)試領(lǐng)域不可或缺的關(guān)鍵工具，主要用于晶圓級(jí)的電學(xué)性能檢測(cè)。在半導(dǎo)體制造流程中，為了確保每個(gè)芯片的質(zhì)量與性能達(dá)標(biāo)，在封裝之前必須對(duì)晶圓上的每個(gè)裸片進(jìn)行詳細(xì)的電學(xué)
2024-11-25 10:27:291230 
本文主要介紹??????晶圓 （wafer）/晶粒 （die）/芯片 （chip）之間的區(qū)別和聯(lián)系。 ? 晶圓（Wafer）——原材料和生產(chǎn)平臺(tái)?? 晶圓是半導(dǎo)體制造的基礎(chǔ)材料，通常由高純度的硅
2024-11-26 11:37:593270 半導(dǎo)體晶圓制造是現(xiàn)代電子產(chǎn)業(yè)中不可或缺的一環(huán)，它是整個(gè)電子行業(yè)的基礎(chǔ)。這項(xiàng)工藝的流程非常復(fù)雜，包含了很多步驟和技術(shù)，下面將詳細(xì)介紹其主要的制造工藝流程。第一步：晶圓生長(zhǎng)晶圓生長(zhǎng)是半導(dǎo)體制造的第一步
2024-12-24 14:30:565107 
有序的芯片單元，每個(gè)小方塊都預(yù)示著一個(gè)未來(lái)可能大放異彩的芯片。芯片的尺寸大小，直接關(guān)聯(lián)到單個(gè)晶圓能孕育出的芯片數(shù)量。 半導(dǎo)體制造流程概覽 半導(dǎo)體的制造之旅可以分為三大核心板塊：晶圓的生產(chǎn)、封裝以及測(cè)試。晶圓的生
2025-01-28 15:48:001183 
AP-200，中間為晶體管檢測(cè)儀IWATSU CS-10105C，右邊為控制用計(jì)算機(jī)。三部分組成了一個(gè)測(cè)試系統(tǒng)。 下圖所示為探針臺(tái)，主要對(duì)晶圓進(jìn)行電學(xué)檢測(cè)，分為載物臺(tái)、探卡、絕緣氣體供應(yīng)設(shè)備這幾部分，載物臺(tái)用于晶圓的放置，可以兼容4~8寸的晶圓，上面有
2025-01-14 09:29:132360 
本文介紹了半導(dǎo)體集成電路制造中的晶圓制備、晶圓制造和晶圓測(cè)試三個(gè)關(guān)鍵環(huán)節(jié)。
2025-04-15 17:14:372165 
探針和探針卡是半導(dǎo)體制造中晶圓測(cè)試環(huán)節(jié)的關(guān)鍵組件，可以篩選不良芯片，避免無(wú)效封裝、降低成本，是半導(dǎo)體測(cè)試的“質(zhì)量守門(mén)員”，技術(shù)壁壘高且國(guó)產(chǎn)化空間大。國(guó)內(nèi)企業(yè)在中低端市場(chǎng)已實(shí)現(xiàn)突破，但高端領(lǐng)域仍需攻克
2025-05-08 18:14:211311 
?隨著半導(dǎo)體制造工藝的生產(chǎn)自動(dòng)化需求以及生產(chǎn)精度、流程可控性的需求，晶圓卡塞盒作為承載晶圓的核心載體，其管理效率直接影響到生產(chǎn)流程的穩(wěn)定性和產(chǎn)品質(zhì)量。本文將結(jié)合RFID技術(shù)與半導(dǎo)體行業(yè)的需求，闡述
2025-05-20 14:57:31628 
半導(dǎo)體行業(yè)是現(xiàn)代制造業(yè)的核心基石，被譽(yù)為“工業(yè)的糧食”，而晶圓是半導(dǎo)體制造的核心基板，其質(zhì)量直接決定芯片的性能、良率和可靠性。晶圓隱裂檢測(cè)是保障半導(dǎo)體良率和可靠性的關(guān)鍵環(huán)節(jié)。晶圓檢測(cè)通過(guò)合理搭配工業(yè)
2025-05-23 16:03:17648 
晶圓檢測(cè)是指在晶圓制造完成后，對(duì)晶圓進(jìn)行的一系列物理和電學(xué)性能的測(cè)試與分析，以確保其質(zhì)量和性能符合設(shè)計(jì)要求。這一過(guò)程是半導(dǎo)體制造中的關(guān)鍵環(huán)節(jié)，直接影響后續(xù)封裝和芯片的良品率。 隨著圖形化和幾何結(jié)構(gòu)
2025-06-06 17:15:28718 
探針卡, WAT,PCM測(cè)試
2025-06-26 19:23:17674 半導(dǎo)體器件向更小、更強(qiáng)大且多功能的方向快速演進(jìn)，對(duì)晶圓測(cè)試流程提出了前所未有的要求。隨著先進(jìn)架構(gòu)和新材料重新定義芯片布局與功能，傳統(tǒng)晶圓測(cè)試方法已難以跟上發(fā)展步伐。飛針測(cè)試技術(shù)的發(fā)展為晶圓探針測(cè)試
2025-07-17 17:36:53705 在半導(dǎo)體芯片的精密制造流程中，晶圓從一片薄薄的硅片成長(zhǎng)為百億晶體管的載體，需要經(jīng)歷數(shù)百道工序。在半導(dǎo)體芯片的微米級(jí)制造流程中，晶圓的每一次轉(zhuǎn)移和清洗都可能影響最終產(chǎn)品良率。特氟龍（聚四氟乙烯）材質(zhì)
2025-11-18 15:22:31249 
ATE的探針卡，在晶圓測(cè)試中被稱為定海神針，有著不可替代價(jià)值，那么在設(shè)計(jì)和生產(chǎn)階段有哪些注意事項(xiàng)，點(diǎn)開(kāi)今天的文章，有你需要的答案。
2025-12-15 15:07:36228 
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