近期有很多用戶在網上咨詢I-V特性測試， I-V特性測試是很多研發型企業和高校研究的對象，分立器件I-V特性測試可以幫助工程師提取半導體器件的基本I-V特性參數，并在整個工藝流程結束后評估器件的優劣。

I-V特性測試難點：

種類多

微電子器件種類繁多，引腳數量和待測參數各不相同，此外，新材料和新器件對測試設備提出了更高的要求，要求測試設備具備更高的低電流測試能力，且能夠支持各種功率范圍的器件。

尺寸小

隨著器件幾何尺寸的減小，半導體器件特性測試對測試系統的要求越來越高。通常這些器件的接觸電極尺寸只有微米量級，這些對低噪聲源表，探針臺和顯微鏡性能都提出了更高的要求。

I-V特性測試方案：

針對I-V 特性測試難點，安泰測試建議可采用keithley高精度源測量單元（SMU）為核心測試設備，配備使用簡便靈活、功能豐富的 CycleStar 測試軟件，及精準穩定的探針臺。

圖：系統配置連接示意圖

測試功能：

這是一個簡單易用的I-V特性測試方案，無論對于雙端口或三端口器件，如二極管、晶體管、場效應管都很適用。

? 二極管特性的測量與分析

? 雙極型晶體管 BJT 特性的測量與分析

? MOSFET 場效應晶體管特性的測量與分析

? MOS器件的參數提取?

吉時利源表將數字萬用表 (DMM)、電源、實際電流源、電子負載和脈沖發生器的功能集成在一臺儀器中。通過吉時利源表進行分立器件 I-V 特性測試時，支持同時操作兩臺吉時利源表，輕松完成三端口器件測試。此外，因為吉時利源表兼顧高精度和通用性，廣泛適用于教育、科研、產業等眾多行業。

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