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GaN驅動技術手冊免費下載 氮化鎵半導體功率器件門極驅動電路設計方案

向上 ? 2025-03-13 18:06 ? 次閱讀
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驅動電路分類
image.png

單管GaN → 隔離 → 0V VGS(OFF) →隔離單管驅動電路

? 在低電壓,低功率,或對死區損耗敏感的應用中,可使用 0V V GS (OFF)
? 如有需要,可應用共模電感以抑制噪聲
image.png

詳細的GaN驅動技術手冊免費下載

*附件:GaN驅動技術 氮化鎵半導體功率器件門極驅動電路設計.pdf

GaN驅動技術 氮化鎵半導體功率器件門極驅動電路設計 總結

一、概述

本文檔詳細介紹了氮化鎵(GaN)半導體功率器件的門極驅動電路設計,包括GaN HEMTs與硅MOSFET的異同、常用驅動芯片、集成驅動的GaN控制芯片、驅動電路分類以及具體電路設計實例。

二、GaN HEMTs與硅MOSFET的異同

共同點

  • ?增強型器件?:均為常閉型器件。
  • ?電壓驅動?:通過電壓控制開關狀態。
  • ?門極漏電流?:只需提供較小的門極漏電流I_GSS。
  • ?開關速度控制?:可通過改變門極電阻R_G控制開關速度。
  • ?驅動芯片兼容?:與大部分Si MOSFET驅動芯片兼容。

差異

  • ?Q_G?:GaN HEMTs的Q_G更低,驅動損耗更小,開關速度更快。
  • ?跨導與V_GS?:GaN HEMTs具有更大的跨導和更低的V_GS,僅需+5-6V門極偏置電壓即可接通。
  • ? V_G(th) ?:GaN HEMTs的V_G(th)典型值為1.5V,低于其他增強型GaN器件。
  • ?門極可靠性?:GaN HEMTs的門極更加可靠,最大額定值為-20/+10V。
  • ?驅動需求?:GaN HEMTs無需直流電流驅動門極,門極結構簡單。

三、常用驅動芯片

文檔列舉了適用于GaN HEMTs的多種驅動芯片,包括隔離型和非隔離型,以及單管、半橋/全橋驅動芯片。推薦驅動電壓V_DD≤12V,并提到當V_DD高于+6V時,需要負壓生成電路。

四、集成驅動的GaN控制芯片

列出了多種集成驅動的GaN控制芯片,適用于反激、同步buck DC/DC、LLC、PFC等拓撲結構,強調了GaN HEMTs與大多數硅器件驅動芯片的兼容性。

五、驅動電路分類

詳細分類了單管、半橋/全橋以及GaN并聯應用的驅動電路,包括隔離型和非隔離型,以及是否需要負V_GS(OFF)電壓的情況。

六、具體電路設計實例

單管隔離驅動電路

  • ? 0V V_GS(OFF) ?:適用于低電壓、低功率或對死區損耗敏感的應用。
  • ? 負V_GS(OFF) ?:使用EZDrive?電路或分壓電路產生負V_GS電壓,增強噪聲抗擾,降低關斷損耗。

單管非隔離驅動電路

  • ? 0V V_GS(OFF) ?:適用于單端應用或與高邊浮地開關管配合使用。
  • ? 負V_GS(OFF) ?:使用EZDrive?電路提供負V_GS電壓。

半橋/全橋驅動電路

  • ? 0V V_GS(OFF) ?:小功率應用,選用低C_J、反向恢復時間短的自舉二極管
  • ? 負V_GS(OFF) ?:結合自舉電路和EZDrive?,通過外部驅動電阻調節開關速度優化EMI。

并聯GaN HEMT驅動電路

并聯GaN HEMTs時,需在門極和源極(Kelvin Source)分別加一個1ohm電阻。

七、附錄

探討了何時需要負V_GS(OFF)電壓,以及負V_GS(OFF)電壓與關斷損耗、零電壓開通臨界值、死區損耗的關系,強調了在大功率應用中精確控制死區時間的重要性。

通過以上總結,可以全面了解GaN驅動技術的要點,為氮化鎵半導體功率器件的門極驅動電路設計提供參考。

聲明:本文內容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網站授權轉載。文章觀點僅代表作者本人,不代表電子發燒友網立場。文章及其配圖僅供工程師學習之用,如有內容侵權或者其他違規問題,請聯系本站處理。 舉報投訴
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