研發過程中的非信令――進入非信令測試

　　測試周期早期的可靠設計和測試模式開發可以為非信令制造測試的成功提供幫助，非信令測試設備不僅是制造階段的要求。為了穩定且信心十足地在現有流程中引入非信令測試，整個引入過程必須借助信令測試設備。一個主要原因在于這樣可以實現射頻參數化關聯，以便確認成功添加了具有非信令特性的測試模式。圖 1 描述了從信令到非信令的過渡過程，其中信令測試設備與下一代非信令測試設備進行組合，支持測試由信令發展至非信令。

　　非信令測試仍然需要信令測試設備的主要原因如下：

　　1.作為器件設計（信令和非信令測試模式之間）和制造測試過程中表示器件射頻性能的可追蹤參考（測量關聯）

　　2.作為對比測試時間的起點/基準

　　3.可用作任意波形設計標準，用于下一代設備的接收機測試和下行鏈路同步，這對需要特定下行鏈路信號的非信令器件最為重要。

　　4.主要芯片組提供商和手機制造商已經同多年來一直使用信令設備作為目標平臺的測試廠商展開合作，開發了多種測試模式和工具。

　　5.在生產線上安裝的眾多信令測試設備已證明是可信賴和可靠的。改用其他測試設備需要重寫代碼和重新評估。

　　盡管引入非信令需要使用現有的信令測試設備，專用且全面的非信令綜合測試儀可以為研發提供強大的工具并能夠在實驗室中進行調試解決問題。例如：

　　1.作為解決方案一部分，提供前面板和用戶界面

　　2.即用型應用程序，可以返回特定格式的測量結果，例如無需軟件開發，綜合測試儀便可返回射頻測量結果

　　3.支持使用特定格式的頻譜分析儀應用軟件進行頻譜分析

　　4.提供通用信號源功能，可提供與獨立信號發生器相同的功能

　　5.支持調試錯誤序列

　　靈活的非信令解決方案是非信令器件研發中的寶貴資源。從研發到制造測試的整個過程都可以使用相同的測試設備，從而確保一致性。

　　為了順利地引入 NCP，測試設備廠商需要為客戶提供能夠滿足信令、非信令和快速排序非信令需求的測試解決方案。能夠提供所有三種測試解決方案的測試廠商將占據有利位置，可以提供值得考慮的建議，并且能夠為定制的非信令引入過程提供支持。

　　制造過程的非信令

　　在制造過程中，當前的信令/非信令和下一代非信令測試設備將并存。制造測試中最重要的任務是如何結合使用信令/非信令設備與新部署的下一代非信令測試設備。下節將重點介紹測試設備對于器件中兩類測試模式的適用性，包括非信令測試模式和快速排序非信令測試模式。