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英飛凌推出采用Q-DPAK 封裝的CoolSiC? MOSFET 1200V G2,將工業應用功率密度提升至新高度

英飛凌工業半導體 ? 2025-08-01 17:05 ? 次閱讀
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【2025年8月1日,德國慕尼黑訊】全球功率系統和物聯網領域的半導體領導者英飛凌科技股份公司(FSE代碼:IFX / OTCQX代碼:IFNNY)近日推出了采用頂部散熱(TSC)Q-DPAK封裝的CoolSiC MOSFET 1200V G2。款新型半導體器件能夠提供更加出色的熱性能、系統效率和功率密度,專為應對工業應用的高性能和高可靠性要求而設計,例如電動汽車充電機、光伏逆變器、不間斷電源、電機驅動和固態斷路器等。


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采用Q-DPAK封裝的CoolSiC MOSFET 1200V G2


這款CoolSiC 1200V G2所采用的技術相較于上一代產品有顯著的提升,可在導通電阻(Rds(on))相同的情況下,開關損耗降低達25%,系統效率提升0.1%。基于英飛凌先進的.XT擴散焊技術,G2系列產品的熱阻相較于G1系列降低15%以上,MOSFET溫度也降低了11%。憑借4mΩ至78mΩ的出色導通電阻和豐富的產品組合,設計人員能夠靈活使用,提高系統性能,滿足目標應用需求。此外,新技術支持在高達200°C結溫(Tvj)下的過載運行,并具備出色的抗寄生導通能力,確保在動態且嚴苛的工況下實現可靠運行。


英飛凌CoolSiC MOSFET 1200 V G2提供單開關和雙半橋兩種Q-DPAK封裝。兩種型號均屬于英飛凌更廣泛的X-DPAK頂部散熱平臺。所有頂部散熱(TSC)版本(包括 Q-DPAK和TOLT)的封裝厚度統一為2.3mm,具備高度的設計靈活性,使客戶能夠在單一散熱器組件下靈活擴展和組合不同產品。這種設計靈活性簡化了先進功率系統的開發,便于客戶根據需求定制和擴展其解決方案。


Q-DPAK封裝通過實現器件頂部與散熱器之間的直接熱傳導,顯著提升散熱性能。與傳統底部散熱封裝相比,這種直接熱傳導路徑能夠顯著提高熱傳導效率,使系統設計更加緊湊。此外,Q-DPAK封裝的布局設計大幅減少了寄生電感,對提高開關速度至關重要,有助于提升系統效率,并降低電壓過沖風險。該封裝由于占用空間小,適用于緊湊的系統設計,其與自動化裝配流程的兼容性簡化了制造過程,確保了成本效益和可擴展性。


供貨情況



采用Q-DPAK單開關和雙半橋封裝的CoolSiC MOSFET 1200V G2現已上市。

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