有機發光二極管(OLED)的噴墨印刷技術因其材料利用率高、可大面積加工等優勢成為產業焦點,但多層溶液加工存在根本性挑戰:層間互溶與咖啡環效應引發薄膜不均勻導致器件性能下降。本文提出一種基于二元溶劑(環己酮/環己基苯)和可熱交聯空穴傳輸材料VNPB構建穩定界面,首次實現空穴注入層(HIL)、空穴傳輸層(HTL)、發光層(EML)全噴墨印刷,為高性能溶液加工OLED提供新方案。Flexfilm全光譜橢偏儀可為多層印刷工藝提供如薄膜厚度測量等更全面的薄膜表征。
1
實驗材料選擇
flexfilm
(a) VNPB熱交聯反應機理示意圖;(b) G2P2分子結構;(c) OLED器件結構剖面圖;(d) 能級圖
- ITO基板圖案化:光刻膠構筑 200μm 寬溝槽 + 2.5μm 高壩結構。
- HIL:PEDOT:PSS墨水由 PEDOT:PSS、H?O 和 IPA 按 555 的體積比混合而成。
- HTL:交聯型 VNPB(苯乙烯基團熱交聯),通過熱交聯反應形成三維網絡。VNPB 墨水則采用 CYC:CHB(60:40 體積比)的混合溶劑,濃度均為 2 mg?mL?15。
- EML:磷光綠光G2P2,Ir(Ph-BM-P2D2)?,G2P2 墨水同VNPB。
- 溶劑體系:主溶劑環己酮(CYC)提供溶解性,助溶劑環己基苯(CHB)通過高沸點和高粘度抑制溶劑快速揮發。
薄膜印刷工藝使用噴墨打印機進行薄膜印刷,針對不同材料設置了相應的印刷參數:
- PEDOT:PSS(脈沖電壓70 V,200°C退火4 min)。
- VNPB(77 V,210°C交聯45 min)。
- G2P2(79 V,150°C退火30 min)。
OLED器件制備OLED 器件的結構為:陽極ITO / PEDOT:PSS(50 nm) / VNPB(20 nm) / G2P2(30 nm) / SPPO13(55 nm) /陰極LiF(1 nm) / Al(120 nm) ,并分別制備了旋涂和噴墨印刷器件以供對比。
2
溶劑系統設計
flexfilm

(a) G2P2在不同混合溶劑中的溶解狀態;(b) G2P2在三維Hansen空間中的溶解球模型
通過Hansen溶解度參數篩選CYC為主溶劑(Ra=2.7 MPa1/2),CHB為助溶劑(高沸點242℃,低表面張力34.7 mN/m)。

二元溶劑抑制咖啡環機理
二元溶劑體系顯著降低毛細管數(Ca=0.66),抑制咖啡環效應。VNPB交聯后對CYC/CHB二元溶劑的溶解度下降95%,確保界面清晰。
3
多層印刷薄膜性能
flexfilm

印刷薄膜的光學圖像與相應旋涂/印刷薄膜的AFM形貌:(a) PEDOT:PSS (b) VNPB (c) G2P2
薄膜均勻性:通過優化油墨配方和打印參數,成功實現了多層薄膜的均勻打印,避免了層間溶解和咖啡環效應。具體來說,VNPB和G2P2薄膜在打印后表現出良好的覆蓋性和均勻性,薄膜厚度和表面粗糙度與旋涂薄膜相當。

VNPB印刷薄膜厚度控制(a-e) 不同濃度與液膜厚度組合下的光學圖像(f) 厚度-液膜厚度關系曲線
G2P2印刷薄膜厚度控制(a-e) 不同濃度與液膜厚度組合下的光學圖像(f) 厚度-液膜厚度關系曲線
VNPB層經不同溶劑沖洗后的厚度變化
界面溶劑抵抗性:通過測量薄膜在不同溶劑中的厚度變化,驗證了交聯后的VNPB薄膜對二元溶劑具有良好的溶劑抵抗性。分別用 CB、CYC、CHB 及二元溶劑沖洗后,其厚度僅減少 4.7%,使得 HTL 和 EML 之間形成清晰的界面,無層間溶解現象。
4
OLED器件性能
flexfilm
(a) 圖案化印刷OLED發光圖像;(b-d) 電流密度-電壓、電流效率-亮度及電致發光光譜對比
噴墨印刷的OLED器件表現出良好的電致發光性能,開啟電壓為3.0 V,最大亮度為12233.3 cd m-2,電流效率為20.4 cd A-1。雖較旋涂器件(36.0 cd/A)下降43%,但已滿足顯示級應用需求。本研究通過設計二元墨水配方和采用可交聯小分子 VNPB 作為中間層,成功實現了有機發光二極管(OLED)的多層噴墨印刷。該墨水配方不僅能保證材料的溶解性和印刷適性,有效抑制咖啡環和脫濕現象,提高薄膜均勻性,還能避免層間溶解,形成清晰的界面。
Flexfilm全光譜橢偏儀
flexfilm
全光譜橢偏儀擁有高靈敏度探測單元和光譜橢偏儀分析軟件,專門用于測量和分析光伏領域中單層或多層納米薄膜的層構參數(如厚度)和物理參數(如折射率n、消光系數k)
- 先進的旋轉補償器測量技術:無測量死角問題。
- 粗糙絨面納米薄膜的高靈敏測量:先進的光能量增強技術,高信噪比的探測技術。
- 秒級的全光譜測量速度:全光譜測量典型5-10秒。
- 原子層量級的檢測靈敏度:測量精度可達0.05nm。
Flexfilm全光譜橢偏儀可以完成OLED電致發光層中多層膜(如:ITO層,空穴注入層,空穴傳輸層,以及重組/發光層等超薄有機膜)的膜厚和光學常數的快速測試,同時還能準確描述材料的各向異性。
原文參考:《Improving film uniformity and interface solvent resistance to realize multilayer printing of OLED devices?》
*特別聲明:本公眾號所發布的原創及轉載文章,僅用于學術分享和傳遞行業相關信息。未經授權,不得抄襲、篡改、引用、轉載等侵犯本公眾號相關權益的行為。內容僅供參考,如涉及版權問題,敬請聯系,我們將在第一時間核實并處理。
-
二極管
+關注
關注
149文章
10325瀏覽量
176848 -
OLED
+關注
關注
121文章
6336瀏覽量
232712
發布評論請先 登錄
PCB不良設計對印刷工藝的影響
橢偏儀原理和應用 | 精準測量不同基底光學薄膜TiO?/SiO?的光學常數
橢偏儀測量薄膜厚度的原理與應用
橢偏儀的原理和應用 | 薄膜材料或塊體材料光學參數和厚度的測量
橢偏儀在集成電路檢測中的應用:以標準樣品校準法校準橢偏參數
橢偏儀在精密薄膜中的應用:基于單驅動變角結構的高重復性精度控制系統

高效OLED印刷工藝應用 | 橢偏儀優化HTL層VNPB薄膜均勻性
評論