橢偏儀是一種基于橢圓偏振分析的光學測量儀器，通過探測偏振光與樣品相互作用后偏振態的變化，獲取材料的光學常數和結構信息。Flexfilm全光譜橢偏儀可以非接觸對薄膜的厚度與折射率的高精度表征，廣泛應用于薄膜材料、半導體和表面科學等領域。

1

橢偏儀測量什么?

flexfilm

橢偏儀利用偏振光來表征薄膜和塊體材料。當光與樣品結構相互作用時，其偏振狀態會發生變化。測量結果通常表示為兩個值：Ψ和Δ。然后通過分析這些數據來確定感興趣的材料特性。

2

什么是Ψ和Δ？

flexfilm

Ψ和?是橢偏儀的原始測量參數，用于描述測量光束與樣品表面相互作用后偏振態的變化。入射光束包含兩種電場分量：平行于入射面（p偏振）和垂直于入射面（s 偏振）的電場。

已知入射偏振態（p面電場、s面電場）；光束經樣品反射；測量出射偏振態（p面電場、s面電場）。

樣品表面會對p偏振光和s偏振光產生差異化作用，導致出射光偏振態改變。這種改變可通過振幅比（tanΨ）和相位差（?）共同表征，其關系如下：

Rp和Rs分別為p偏振光和s偏振光的菲涅爾反射系數

3

為什么橢偏儀測量需要進行數據分析？

橢偏儀測量兩個值 Ψ 和 Δ，它們與光和樣品相互作用產生的偏振變化相關。Ψ 和 Δ 本身提供的信息有限。我們真正需要確定的是樣品的膜厚、光學常數、折射率、表面粗糙度等物理特性。這些特性是通過將測量值（Ψ 和 Δ）代入各種方程和算法中，生成一個描述光與樣品相互作用的模型來獲得。更多詳細信息請參閱數據分析或橢偏測量相關資料。

4

為什么需要在多個波長下進行測量？

光譜橢偏儀的多波長測量具有多重優勢，包括：獲得唯一解；提高對材料特性的靈敏度；獲取目標應用所需波長下的數據。

獲得唯一解

（a）單波長橢偏儀測量周期性與多解性示意圖（b）單波長多解與光譜響應唯一性對比圖

提升橢偏儀性能最簡便的方法之一，是增加測量波長的數量和范圍，每個新波長都能提供關于樣品特性的額外信息。早期橢偏儀采用激光進行單波長測量，僅能獲取Ψ和?兩個參數，因此最多只能確定兩個未知的樣品特性。即使是 “已知襯底上的單層薄膜” 這一簡單場景，也無法通過單波長測量唯一確定薄膜厚度和折射率；若薄膜具有吸收性、梯度特性或表面粗糙，還會導致測量結果偏差。

即便對于 “理想透明薄膜”，單波長橢偏儀測量的周期性也會產生多個可能解。這些可能的厚度值按 “厚度周期” 分布，需通過經驗判斷才能確定正確解。

而光譜橢偏儀可通過多波長測量對薄膜厚度進行“超定求解”：盡管折射率具有波長依賴性，但薄膜厚度是固定值。例如，100 個波長可產生 200 個數據點（每個波長對應 1 組 Psi、?），而未知參數僅 101 個。因此，光譜測量能快速消除 “周期性問題”，排除錯誤解，僅保留唯一正確解。

提高對材料特性的靈敏度

硅薄膜結晶度與紫外吸收特性關系圖

特定材料特性的測量通常需要特定波長范圍。例如：

透明導電氧化物（TCO）薄膜的導電性會在紅外波段表現出強吸收，并延伸至近紅外波段，可見光波段無法測量其導電性，但可用于確定薄膜厚度；

分子鍵合信息僅在中紅外波段可獲取，因為該波段的低頻光可使材料中的原子發生振動；

紫外光譜常與電子躍遷相關，可反映材料結構信息（如硅薄膜的紫外吸收形態可用于判斷其結晶度：非晶態硅的吸收峰較寬且無臨界點特征，結晶度越高，紫外吸收特征越明顯）。

具備寬光譜覆蓋能力的光譜橢偏儀（SE）可同時利用所有波長的優勢，因此當前 SE 系統的發展趨勢是覆蓋更寬的波長范圍、包含更多波長點。

獲取目標應用所需波長下的數據

許多應用需要特定波長下的光學特性數據：

半導體行業的光刻技術需在紫外波段進行橢偏儀測量；

顯示行業關注可見光波段；

光學涂層需在其設計波長（可見光、近紅外甚至中紅外波段）下測量。

Flexfilm全光譜橢偏儀的波長覆蓋范圍為280-1050 nm，靈活性極高，幾乎可滿足所有應用需求。

5

光譜橢偏儀如何確定薄膜厚度？

flexfilm

（a） 薄膜厚度與相位延遲關系示意圖（b）不同厚度SiO?薄膜的Psi 曲線對比圖

光譜橢偏儀對薄膜厚度極為敏感。隨著薄膜厚度增加，“樣品表面反射光”與“穿透薄膜后反射的光”之間的光程差會增大，由此產生的相位延遲與薄膜的物理厚度和折射率均相關。因此，光譜橢偏儀測量數據中包含可精確確定薄膜厚度和折射率的信息。

光譜橢偏儀通過“干涉振蕩的位置和數量”獲取厚度信息。不同厚度 SiO?薄膜的Psi 曲線：隨著厚度T增加，干涉振蕩向長波長方向偏移。

6

光譜橢偏儀可確定的最小厚度是多少？

硅襯底上超薄氧化層的 SE 相位數據圖

光譜橢偏儀對 “幾分之一納米” 量級的表面層具有極高靈敏度，這種靈敏度主要源于相位（?）的變化。然而，對于這類超薄層，光線與薄膜的相互作用信號不足以同時確定其厚度和折射率。因此，最穩妥的做法是先假設一個近似折射率（通常通過測量較厚薄膜獲取），再單獨確定其厚度。在少數情況下，也可實現超薄層厚度與折射率的同時表征。

7

光譜橢偏儀可測量的最大厚度是多少？

光譜橢偏儀測量的最大厚度上限取決于測量波長。薄膜厚度增加時，短波長下的大量數據振蕩難以分辨，而長波長下的振蕩分離度更高。因此，通常采用近紅外或中紅外波段測量厚度達 50μm 的薄膜。

但需注意，50μm 已超出光譜橢偏儀（SE）的典型測量范圍，且此時薄膜均勻性的影響會顯著增大。對于大多數 “可見光-近紅外” 測量，推薦的最大厚度上限為 5μm；即使是 1~5μm 的薄膜，也建議采用多入射角測量，以確保厚度解的唯一性。

Flexfilm全光譜橢偏儀

flexfilm

全光譜橢偏儀擁有高靈敏度探測單元和光譜橢偏儀分析軟件，專門用于測量和分析光伏領域中單層或多層納米薄膜的層構參數（如厚度）和物理參數（如折射率n、消光系數k）

• 先進的旋轉補償器測量技術：無測量死角問題。
• 粗糙絨面納米薄膜的高靈敏測量：先進的光能量增強技術，高信噪比的探測技術。
• 秒級的全光譜測量速度：全光譜測量典型5-10秒。
• 原子層量級的檢測靈敏度：測量精度可達0.05nm。

Flexfilm全光譜橢偏儀能非破壞、非接觸地原位精確測量超薄圖案化薄膜的厚度、折射率,結合費曼儀器全流程薄膜測量技術，助力半導體薄膜材料領域的高質量發展。

原文參考：《Ellipsometry FAQ》

*特別聲明：本公眾號所發布的原創及轉載文章，僅用于學術分享和傳遞行業相關信息。未經授權，不得抄襲、篡改、引用、轉載等侵犯本公眾號相關權益的行為。內容僅供參考，如涉及版權問題，敬請聯系，我們將在第一時間核實并處理。