一、電性測試

軟性線路的PCB板在生產過程中，難免因外在因素而造成短路、斷路及漏電等電性上的瑕疵，再加上PCB不斷朝高密度、細間距及多層次的演進，若未能及時將不良板篩檢出來，而任其流入制程中，勢必會造成更多的成本浪費，因此除了制程控制的改善外，提高測試的技術也是可以為PCB制造者提供降低報廢率及提升產品良率的解決方案。

在電子產品的生產過程中，因瑕疵而造成成本的損失，在各個階段都有不同的程度，越早發現則補救的成本越低。

“ The Rule of 10‘s ”就是一個常被用來評估PCB在不同制程階段被發現有瑕疵時的補救成本。舉例而言，空板制作完成后，若板中的斷路能實時檢測出來，通常只需補線即可改善瑕疵，或者至多損失一片空板；但是若未能被檢測出斷路，待板子出貨至下游組裝業者完成零件安裝，也過爐錫及IR重熔，然而卻在此時被檢測發現線路有斷路的情形，一般的下游組裝業者會向讓空板制造公司要求賠償零件費用、重工費、檢驗費等。若更不幸的，瑕疵的板子在組裝業者的測試仍未被發現，而進入整體系統成品，如計算機、手機、汽車零件等，這時再作測試才發現的損失，將是空板及時檢出的百倍、千倍，甚至更高。因此，電性測試對于PCB業者而言，為的就是及早發現軟性線路的線路功能缺陷的板子。

下游業者通常會要求PCB制造廠商作百分之百的電性測試，因此會與PCB制造廠商就測試條件及測試方法達成一致的規格，因此雙方會先就以下事項清楚的定義出來：

1、 測試資料來源與格式

2、 測試條件，如電壓、電流、絕緣及連通性

3、 設備制作方式與選點

4、 測試章

5、 修補規格

在軟性線路的PCB的制造過程中，有三個階段必須作測試：

1、 內層蝕刻后

2、 外層線路蝕刻后

3、 成品

每個階段通常會有2~3次的100%測試，篩選出不良板再作重工處理。因此，測試站也是一個分析制程問題點的最佳資料收集來源，經由統計結果，可以獲得斷路、短路及其它絕緣問題的百分比，重工后再行檢測，將數據資料整理之后，利用品管方法找出問題的根源，加以解決。

二、電測的方法與設備

電性測試的方法有：專用型（Dedicated）、泛用型（Universal Grid）、飛針型（Flying Probe）、非接觸電子束（E-Beam）、導電布（膠）、電容式（Capacity）及刷測（ATG-SCAN MAN），其中最常使用的設備有三種，分別是專用測試機、泛用測試機及飛針測試機。為了更了解各種設備的功能，以下將分別比較三種主要設備的特性。

1、專用型（Dedicated）測試

專用型的測試之所以為專用型，主要是因為其所使用的治具（Fixture， 如軟性線路的電路板進行電性測試的針盤）僅適用于一種料號，不同料號的板子就無法測試，而且無法回收使用。測試點數方面，單面板在10，240點、雙面各8，192點以內均可作測試，在測試密度方面，由于探針頭粗細的關系，較適合運用于 pitch以上的板子。

2、泛用型（Universal Grid）測試

泛用型測試的基本原理是軟性線路的PCB線路的版面是依據格子（Grid）來設計，一般所謂線路密度就是指grid的距離，也就是以間距（Pitch）來表示（部份時候也可用孔密度 來表示），而泛用測試就是依據此一原理，依據孔位置以一G10的基材作Mask，只有在孔的位置探針才能穿過Mask進行電測，因此治具的制作簡易而快速，而且探針可重復使用。泛用型測試具有極多測點的標準Grid固定大型針盤，可分別按不同料號而制作活動式探針的針盤，量產時只要改換活動針盤，就可以對不同料號量產測試。另外，為保證完工的PCB板線路系統通暢，需在使用高壓電（如250V）多測點的泛用型電測母機上，采用特定接點的針盤對板子進行Open/Short電性測試，此種泛用型的測試機稱之為「自動化測試機」 （ATE， Automatic Testing Equipment）。

泛用型測試點數通常在1萬點以上，測試密度在 或是 的測試稱為on-grid測試，若是運用于高密度板，由于間距太密，已脫離on-grid設計，因此屬于off-grid測試，其治具就必須要特殊設計，通常泛用型測試的測試密度可達 QFP。

3、飛針（Flying Probe）測試

飛針測試的原理很簡單，僅僅需要兩根探針作x、y、z的移動來逐一測試各線路的兩個端點，因此不需要另外制作昂貴的治具。但是由于是端點測試，因此測速極慢，約為10~40 points/sec，所以較適合樣品及小量產；在測試密度方面，飛針測試可適用于極高密度板（如MCM）。