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Samtec技術前沿 | 全新對準功能確保測試和測量應用中的精確對準

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摘要/前言 即將發布的PCIe? 7.0 規范旨在實現128 GT/s的數據傳輸速率。它延續了PCIe 每一代產品速度翻番的趨勢。根據?PCI-SIG的說法,"PCIe 7.0 技術的目標是為人
2024-03-22 13:42:031041

EMC電磁兼容性行業:技術前沿與市場挑戰

深圳比創達EMC|EMC電磁兼容性行業:技術前沿與市場挑戰
2024-06-07 10:39:401214

Samtec技術前沿 | 新型 Samtec前面板電纜系統帶來112 Gbps PAM4優異性能

、中板到后面板以及面板到面板配置而設計的解決方案。 在本次的Demo技術市場總監Matt Burns帶我們現場演示了新型 Samtec前面板電纜系統與 Synopsys尖端芯片的結合,其運行速度為
2024-06-12 15:13:14907

高精度光電傳感器在芯片定位及對準檢測方面的應用

高精度光電傳感器在芯片定位與對準方面的應用,光電傳感技術是微電子封裝和組裝過程不可或缺的技術。隨著半導體行業的快速發展,對芯片定位精度的要求越來越高,高精度光電傳感器的應用也將更加廣泛,進而為電子制造業的自動化和智能化提供強有力的支持和保障。
2024-07-31 14:50:341368

CDCF5801A具有延遲控制和相位對準的時鐘乘法器數據表

電子發燒友網站提供《CDCF5801A具有延遲控制和相位對準的時鐘乘法器數據表.pdf》資料免費下載
2024-08-22 10:56:250

技術前沿:海外動態IP技術革新,助力企業全球化戰略加速

技術前沿領域,海外動態IP技術的不斷革新正為企業全球化戰略加速提供強有力的支持。
2024-09-27 08:41:37874

科揚光電發布新一代對準通信一體四象限光探測模塊

為了應對這一挑戰,并同時減小激光通信終端的體積、功耗及重量,業界普遍傾向于采用無信標光的捕獲跟蹤方案,即將捕獲跟蹤與通信探測功能整合為一體。 針對這一應用需求,以及上一代產品在實際應用遇到
2025-02-05 17:07:40959

多層PCB對準精度的保障:捷多邦X-ray檢測技術解析

。以下? 是捷多邦在層疊檢查方面的核心技術與優勢。 1. 高精度X-ray檢測設備 捷多邦采用高分辨率X-ray檢測設備,能夠穿透多層PCB,精確捕捉每一層的電路圖案和孔位信息。通過? 實時成像技術確保層間對準精度達到微米級別,滿足高端應用的需求。 2. 自動
2025-03-21 17:29:18856

IBC技術新突破:基于物理氣相沉積(PVD)的自對準背接觸SABC太陽能電池開發

PVD沉積n型多晶硅層,結合自對準分離,顯著簡化了工藝流程。SABC太陽能電池是一種先進的背接觸(BC)太陽能電池技術,其核心特點是通過自對準技術實現電池背面的正
2025-04-14 09:03:171289

2025 Electronica Demo前沿 | Samtec線纜動態彎曲測試

4月15-17日,2025慕尼黑上海電子展在上海新國際博覽中心順利開啟,Samtec虎家團隊在現場帶來Demo總動員和技術分享盛宴。Electronica上海展快報 | Samtec Demo總動員
2025-04-23 14:05:273990

芯片制造對準接觸技術介紹

但當芯片做到22納米時,工程師遇到了大麻煩——用光刻機畫接觸孔時,稍有一點偏差就會導致芯片報廢。 自對準接觸技術(SAC) ,完美解決了這個難題。
2025-05-19 11:11:301316

淺談高速脈沖測試的挑戰與應對策略

高速脈沖測試是現代科學研究的前沿領域,廣泛應用于高能物理探索的光子多普勒測速(PDV)和寬帶激光測速(BLR)等領域。這些測試需要精確捕捉和分析微秒甚至納秒內發生的事件,對精度要求極高。微小
2025-05-26 09:20:06515

對準雙重圖案化技術的優勢與步驟

在芯片制造,光刻技術在硅片上刻出納米級的電路圖案。然而,當制程進入7納米以下,傳統光刻的分辨率已逼近物理極限。這時, 自對準雙重圖案化(SADP) 的技術登上舞臺, 氧化物間隔層切割掩膜 ,確保數十億晶體管的精確成型。
2025-05-28 16:45:031426

對準硅化物工藝詳解

源漏區的單晶硅和柵極上的多晶硅即使在摻雜后仍然具有較高的電阻率,自對準硅化物(salicide)工藝能夠同時減小源/漏電極和柵電極的薄膜電阻,降低接觸電阻,并縮短與柵相關的RC延遲。另外,它避免了
2025-05-28 17:30:042350

微型導軌在半導體制造中有哪些高精密應用場景?

微型導軌在半導體制造中用于晶圓對準和定位系統,確保晶圓在光刻、蝕刻等工藝精確移動。
2025-08-08 17:50:08798

Samtec應用分享:測試測量的互聯之道

摘要前言 測試測量系統是現代科技的基石。無論是認證5G芯片組、校準新型天線陣列,還是調試PCIe接口,捕獲最精確數據的需求始終如一。 而連接器,正是確保測試過程準確性的核心樞紐。在當今高速高頻
2025-10-09 16:38:37518

Salicide自對準硅化物工藝的定義和制造流程

Salicide(Self-Aligned Silicide,自對準硅化物)是一種通過選擇性金屬沉積與硅反應,在半導體器件的源/漏極(Source/Drain)和柵極(Poly Gate)表面形成低
2025-12-26 15:18:44243

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