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電子發燒友網>測量儀表>泰克推出帶KTE V7.1軟件的S530參數測試系統,加速半導體芯片生產

泰克推出帶KTE V7.1軟件的S530參數測試系統,加速半導體芯片生產

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2022-09-26 09:48:54809

先進半導體開放實驗室正式啟動

科技在北京成立【先進半導體開放實驗室】(TEK Advance Semiconductor Open Lab),并邀請嘉賓一起見證啟動開幕,這是全國首個企業級第三代半導體功率器件測試服務實驗室。
2022-09-26 14:30:341591

矽電-晶圓級探針測試測量聯合實驗室正式成立

科技(中國)有限公司和矽電半導體設備(深圳)股份有限公司戰略合作發布會在深圳創投大廈矽電總部召開,同一時間,(中國)和矽電半導體宣布測試測量聯合實驗室正式成立。
2023-06-16 10:09:383242

半導體芯片測試/半導體可靠性測試

為什么要進行半導體芯片測試?芯片測試的目的是在找出沒問題的芯片的同時盡量節約成本。芯片復雜度越來越高,為了保證出廠的芯片質量不出任何問題,需要在出廠前進行測試以確保功能完整性等。而芯片作為一個大
2022-12-29 16:33:294586

半導體測試系統 芯片自動化測試軟件 可定制測試方案ATECLOUD-IC

測試產品:芯片半導體器件。納米軟件ATECLOUD-IC芯片自動化測試系統適用于二極管、三極管、絕緣柵型場效應管、結型場效應管、單向和雙向可控硅、普通和高速光耦、整流橋、共陰共陽二極管及多陣列器件等各類半導體分立器件綜合性能自動化測試
2023-06-20 16:55:172399

助力SiC功率半導體國產化替代,美浦森和攜手產業鏈合作共贏

。面對新材料、新器件和新特性在設計、生產和使用中的全新挑戰, 結合多年在第三代半導體產業的豐富經驗和領先的功率器件動態參數測試系統為客戶提供支持服務 ,同時在北京成立第三代半導體測試實驗室,幫助行業內客戶、合作
2023-09-04 12:20:011008

芯片測試大講堂——半導體參數測試與避坑指南

芯片測試大講堂系列 又和大家見面了 本期我們來聊聊 半導體參數測試 內容涉及半導體參數測試原理, 參數測試面臨的挑戰與實測避坑指南。 前言 ● 半導體元器件是構成現代電子設備和系統的基礎,其性能
2023-09-13 07:45:025532

半導體靜態測試參數是什么?納米軟件半導體參數分析系統能否滿足測試指標?

半導體靜態測試參數是指在直流條件下對其進行測試,目的是為了判斷半導體分立器件在直流條件下的性能,主要是測試半導體器件在工作過程中的電流特性和電壓特性。ATECLOUD半導體測試系統采用軟硬件架構為測試工程師提供整體解決方案,此系統可程控,可以實現隨時隨地測試,移動端也可實時監控測試數據情況。
2023-10-10 15:05:301926

納米軟件半導體測試廠家助力半導體分立器件動態參數測試

半導體動態測試參數是指在交流條件下對器件進行測試,是確保半導體性能、穩定性和可靠性的重要依據。動態測試參數主要有開關時間、開關損耗、反向恢復電流、開關電流、耗散功率等。
2023-10-10 15:23:381135

如何用納米軟件半導體老化測試系統測試芯片老化?

芯片老化測試的目的是為了評估芯片長期在各種環境下工作的壽命、性能及可靠性,以確保芯片系統的工作穩定性。往期我們分享了芯片老化測試的內容及注意事項,今天我們將分享如何用納米軟件半導體老化測試系統測試芯片老化。
2023-10-16 15:49:321515

直播回顧 | 寬禁半導體材料及功率半導體器件測試

點擊上方 “科技” 關注我們! 寬禁材料是指禁帶寬度大于 2.3eV 的半導體材料,以Ⅲ-Ⅴ族材料等最為常見,典型代表有碳化硅 (SiC) 和氮化鎵 (GaN),這些半導體材料也稱為第三代
2023-11-03 12:10:021785

聯訊儀器WAT半導體參數測試系統簡介

聯訊儀器WAT 半導體參數測試系統基于自主研發pA/亞pA高精度源表,半導體矩陣開關,高電壓半導體脈沖源,3500V高壓源表等基礎儀表,掌握核心技術,通過優化整機軟硬件設計,進一步提高系統精度,提升
2023-11-06 16:27:573508

芯微功率器件超薄芯片背道加工線項目投產

12月27日,浙江芯微半導體有限公司(以下簡稱“芯微”)功率器件超薄芯片背道加工線項目正式通線投產。
2023-12-29 10:20:371581

推出全新CAN XL協議解碼軟件

近日,知名測試測量設備供應商宣布,針對新一代CAN通信技術,特別推出了CAN XL協議解碼軟件。這一創新產品旨在幫助工程師輕松整合最新的CAN XL技術,確??蛻粼诳焖僮兓募夹g環境中保持領先地位,獲取競爭優勢。
2024-03-25 11:47:091401

先進半導體開放實驗室再升級,開啟功率器件測試新篇章

創新實驗室V2.0設備再更新、能力再升級; 助力產業升級,主打 開放性,先進性,本地化 協作共贏; 線上線下多元化互動,直擊測試痛點。 先進半導體開放實驗室,作為北京先進半導體測試領域的領軍者
2024-05-16 17:14:30591

半導體分立器件靜態參數測試系統

半導體分立器件靜態參數測試系統產品介紹 HUSTEC-DC-2010晶體管直流參數測試系統是由我公司技術團隊結合半導體功率器件測試的多年經驗,以及眾多國內外測試系統產品的熟悉了解后,自主開發
2024-05-21 10:37:570

先進半導體開放實驗室再升級, 開啟功率器件測試新篇章

創新實驗室V2.0設備再更新、能力再升級; 助力產業升級,主打開放性,先進性,本地化協作共贏; 線上線下多元化互動,直擊測試痛點。 2024年5月16日,中國北京?—— 先進半導體開放實驗室
2024-05-22 17:52:111133

信號發生器的半導體測試應用

隨著半導體技術的飛速發展,半導體測試變得越來越復雜和具有挑戰性。在這種情況下,信號發生器作為測試設備的一個組成部分,扮演了越來越重要的角色。信號發生器是一種高性能的信號發生器,廣泛應用于半導體
2024-10-22 16:58:44852

與遠山半導體合作推進1700V GaN器件

近日,科技與遠山半導體的合作再次取得了突破性進展,雙方共同對遠山半導體最新推出的1700V GaN(氮化鎵)器件進行了全面深入的測試與評估,取得了令人矚目的成果。 此次合作不僅驗證了遠山半導體
2025-01-20 11:07:33962

如何測試半導體參數

半導體參數測試需結合器件類型及應用場景選擇相應方法,核心測試技術及流程如下: ? 一、基礎電學參數測試 ? ? 電流-電壓(IV)測試 ? ? 設備 ?:源測量單元(SMU)或專用IV測試儀,支持
2025-06-27 13:27:231152

半導體可靠性測試恒溫箱模擬嚴苛溫度環境加速驗證進程

加速驗證半導體可靠性測試恒溫箱具備強大的環境模擬能力,可準確控制溫度、濕度等參數,模擬出高溫、低溫、高溫高濕、低溫低濕等復雜自然環境。通過這種模擬,能加速芯片
2025-08-04 15:15:301126

科技攜手東方中科亮相PCIM Asia 2025

9月24日,PCIM Asia 2025在上海新國際博覽中心盛大開幕。(Tektronix)攜手合作伙伴東方中科,重磅亮相N5館F08展位,聚焦模擬半導體與寬禁半導體應用場景,全面展示全棧
2025-09-30 17:50:164640

示波器如何精準測量半導體SiC的動態特性

隨著第三代半導體材料SiC在新能源汽車、5G通信和工業控制等領域的廣泛應用,其動態特性的精準測量成為保障系統可靠性的關鍵。示波器憑借高帶寬、高速采樣率和專業的分析功能,為SiC器件的動態參數測試
2025-10-17 11:42:14231

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