測試產品：芯片半導體器件。納米軟件ATECLOUD-IC芯片自動化測試系統適用于二極管、三極管、絕緣柵型場效應管、結型場效應管、單向和雙向可控硅、普通和高速光耦、整流橋、共陰共陽二極管及多陣列器件等各類半導體分立器件綜合性能自動化測試。

被測項目：溫度測試、耐電壓測試、引腳可靠性測試、ESD抗干擾測試、運行測試、X射線侵入測試等。

測試場景：研發測試、產線測試、老化測試、一測二測等。

ATECLOUD-IC可測試產品類型

二極管、三極管、絕緣柵型場效應管、結型場效應管、單向和雙向可控硅、普通和高速光耦、整流橋、共陰共陽二極管及多陣列器件等各類半導體分立器件自動化測試

ATECLOUD-IC與傳統芯片測試系統區別

ATECLOUD-IC解決測試痛點

人工手動測試，效率低，需要提高測試效率和準確性；

測試產品種類繁多，測試方法多樣，客戶需要靈活的解決方案，以適應未來的變化和需求；

記錄測試數據量大，容易出錯，需要提高測試效率和準確性；

長時間測試，工作量大，需要降低測試成本；

現有軟件系統迭代繁瑣且耗時，不能持續兼容新產品；

需要滿足特定的測試需求，如外購配件等；

需要符合自身芯片測試方法；

需要尋找國產化替代方案；

ATECLOUD-IC測試項目清單

ATECLOUD-IC測試儀器及配件

系統通過GPIB、RS232、LAN、USB等多種通訊方式集成多種類測試儀器，系統兼容多種品牌儀器型號，全面降低企業產品測試成本，提高產品測試效率，測試數據智能分析，全面提高企業產品生產質量。

用戶儀器可自由選型：兼容2000多種不同廠家、型號的儀器，不會被固定硬件限制選擇，經濟適用。

ATECLOUD-IC功能介紹

快速方案搭建，一鍵運行測試

支持多種測試項目配置并可重復使用，批量測試

自動存儲測試數據和圖片數據

具有設備自檢功能，提示甲方設備離線或不存在

測試過程實時觀測，自動判別產品是否合格

ATECLOUD-IC芯片測試平臺方案搭建界面

ATECLOUD-IC芯片測試平臺運行測試界面

記錄報告

歷史測試列表展示：已完成的歷史測試以列表形式展示，可按試驗的關鍵信息、時間等條件進行查詢。

詳細歷史試驗信息：對每一次歷史試驗，可查看試驗基本信息、試驗時間信息、試驗報警記錄信息、試驗數據監測信息，并進一步查詢每個監測點的歷史記錄。

數據洞察，發揮數據無限價值

數據權限：為不同管理層創建數據看板，高效生產；

自定義分析圖表：甲方可自定義分析圖表，多層級、多維度展現生產過程；

數據導入與對接：支持系統與外部數據導入，與其他系統數據對接；

大數據和云計算：充分利用大數據和云計算，發揮數據的無限價值；

生成圖表：支持生成圖表，方便數據分析。

數據總覽示意圖

數據圖表示意圖

ATECLOUD-IC平臺部分合作客戶

ATECLOUD-IC平臺應用案例

上海某電源管理芯片生產企業

被測產品：電源管理芯片

ATECLOUD-Power部分測試項目展示

審核編輯：湯梓紅