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電子發燒友網>新品快訊>Cree推出最新XLamp XP-G照明級中性白光和暖白光L

Cree推出最新XLamp XP-G照明級中性白光和暖白光L

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2025-05-23 14:53:50

光學表面輪廓白光干涉儀

SuperViewW光學表面輪廓白光干涉儀基于白光干涉原理,以3D非接觸方式,測量分析樣品表面形貌的關鍵參數和尺寸。具有測量精度高、操作便捷、功能齊全、測量參數涵蓋面廣的優點,測量單個精細器件的過程
2025-05-21 14:37:13

優可測白光干涉儀AM系列:量化管控納米粗糙度,位移傳感器關鍵零件壽命提升50%

位移傳感器模組的編碼盤,其粗糙度及碼道的刻蝕深度和寬度,會對性能帶來關鍵性影響。優可測白光干涉儀精確測量表面粗糙度以及刻蝕形貌尺寸,精度最高可達亞納米,解決產品工藝特性以及量化管控。
2025-05-21 13:00:14828

白光干涉3D形貌儀

SuperViewW白光干涉3D形貌儀以3D非接觸方式,測量分析樣品表面形貌的關鍵參數和尺寸。它結合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等對器件表面進行非接觸式掃描并建立表面3D圖像,通過系統軟件對器件
2025-05-15 14:38:17

案例解析||照明LED的失效模式問題及改善措施

LED是一種直接將電能轉換為可見光和輻射能的發光器件,具有耗電量小、發光效率高、體積小等優點,目前已經逐漸成為了一種新型高效節能產品,并且被廣泛應用于顯示、照明、背光等諸多領域。近年來,隨著LED
2025-05-09 16:51:23690

高精度光學輪廓白光干涉儀

SuperViewW系列高精度光學輪廓白光干涉儀具有測量精度高、操作便捷、功能齊全、測量參數涵蓋面廣的優點,測量單個精細器件的過程用時短,確保了高款率檢測。白光干涉儀的特殊光源模式,可以廣泛適用于從
2025-05-06 18:00:44

納米形貌快速測量,優可測白光干涉儀助力摩擦磨損學科發展

研究摩擦學,能帶來什么價值?從摩擦磨損到亞納米精度,白光干涉儀如何參與摩擦學發展?
2025-04-21 12:02:181128

白光干涉3d表面形貌儀

中圖儀器SuperViewW系列白光干涉3d表面形貌儀可測各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面,從納米到微米級別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等,廣泛應用于半導體制造及封裝
2025-04-21 10:41:56

3D白光干涉顯微測量儀

中圖儀器3D白光干涉顯微測量儀具有測量精度高、操作便捷、功能齊全、測量參數涵蓋面廣的優點,測量單個精細器件的過程用時短,確保了高款率檢測。白光干涉儀的特殊光源模式,可以廣泛適用于從光滑到粗糙等各種
2025-04-18 14:27:22

白光干涉非接觸式粗糙度儀

SuperViewW白光干涉非接觸式粗糙度儀以白光干涉技術為原理,用于對各種精密器件及材料表面進行亞納米測量。可測各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面,從納米到微米級別工件的粗糙度
2025-04-09 17:35:52

白光干涉光學膜厚測量儀

SuperViewW白光干涉光學膜厚測量儀基于白光干涉原理,以3D非接觸方式,測量分析樣品表面形貌的關鍵參數和尺寸。廣泛應用于半導體制造及封裝工藝檢測、3C電子玻璃屏及其精密配件、光學加工、微納材料
2025-03-28 16:29:29

一鍵對焦+一鍵調平,測量效率提升7倍 | 優可測全新旗艦白光干涉儀發布

測量精度小于1納米,性能進入全球一梯隊,優可測旗艦白光干涉儀發布
2025-03-27 11:03:581024

白光干涉三維光學形貌儀

中圖儀器SuperViewW白光干涉三維光學形貌儀基于白光干涉原理,以3D非接觸方式,測量分析樣品表面形貌的關鍵參數和尺寸。廣泛應用于半導體制造及封裝工藝檢測、3C電子玻璃屏及其精密配件、光學加工
2025-03-18 13:28:32

CAB450M12XM3工業SiC半橋功率模塊CREE

CAB450M12XM3工業SiC半橋功率模塊CREE CAB450M12XM3是Wolfspeed(原CREE)精心打造的一款工業全碳化硅(SiC)半橋功率模塊,專為高功率密度、極端高溫環境
2025-03-17 09:59:21

桌面式白光干涉光學輪廓儀

中圖儀器SuperViewW桌面式白光干涉光學輪廓儀以白光干涉技術為原理、結合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等對器件表面進行非接觸式掃描并建立表面3D圖像。它具有測量精度高、操作便捷、功能齊全
2025-03-11 13:58:26

白光直接照到dmd上,透射一張白色圖片為什么會出現這么多顏色?

白光直接照到dmd上 透射一張白色圖片 為什么會出現這么多顏色 理論上不是只有向右反射出白方塊嗎
2025-02-28 07:36:26

dlp4500跑官方Demo投影棋盤格頻閃如何解決?

我正在用DLP4500跑3D_Scanner_Lcr4500_PGcam,在相機標定和系統標定這一塊投影儀打出來的白光和棋盤格出現頻閃的情況,請問如何解決呢?接線沒有問題的,之前用過幾次是好的,最近開始出現這樣的問題
2025-02-28 07:31:16

調試DLP4710遇到只亮暗白光,不顯示內容的問題,怎么解決?

請問一下我在調試DLP4710遇到只亮暗白光,不顯示內容,用軟件去讀寫是DMD不啟動,測試DMD輸出的波形都是正常 請問一下大家是什么問題導致的
2025-02-28 06:13:52

非接觸式3D白光干涉儀

SuperViewW非接觸式3D白光干涉儀具有測量精度高、操作便捷、功能齊全、測量參數涵蓋面廣的優點,測量單個精細器件的過程用時短,確保了高款率檢測。白光干涉儀的特殊光源模式,可以廣泛適用于從光滑
2025-02-27 15:54:20

請問光源三基色功率配比是按照合成白光時來計算的嗎?

請問光源三基色功率配比是按照合成白光時來計算的嗎?
2025-02-27 08:41:51

入駐眾多科研機構,優可測白光干涉儀助力前沿成果發布

近年來,優可測白光干涉儀在科研領域得到廣泛應用,被多篇科研論文使用,在CFRP/Al鉆孔監測、光纖微透鏡制造、超快3D打印等領域的研究成果,展示了其在高精度檢測方面的優勢。
2025-02-24 17:02:211112

DLP4500不能投射圖片,只顯示白光是為什么?

DLP4500評估板,按照應用手冊操作,不能投射圖片,只顯示白光;TI官網下載的BIN文件,燒錄進去也不能投射出圖
2025-02-21 15:10:32

氧化鎵襯底表面粗糙度和三維形貌,優可測白光干涉儀檢測時長縮短至秒

傳統AFM檢測氧化鎵表面三維形貌和粗糙度需要20分鐘左右,優可測白光干涉儀檢測方案僅需3秒,百倍提升檢測效率!
2025-02-08 17:33:50994

白光干涉儀的膜厚測量模式原理

白光干涉儀的膜厚測量模式原理主要基于光的干涉原理,通過測量反射光波的相位差或干涉條紋的變化來精確計算薄膜的厚度。以下是該原理的詳細解釋: 一、基本原理 當光線照射到薄膜表面時,部分光線會在薄膜表面
2025-02-08 14:24:34508

白光干涉儀的光譜干涉模式原理

白光干涉儀的光譜干涉模式原理主要基于光的干涉和光譜分析。以下是對該原理的詳細解釋: 一、基本原理 白光干涉儀利用干涉原理測量光程之差,從而測定有關物理量。在光譜干涉模式中,白光作為光源,其發出的光
2025-02-07 15:11:00563

白光LED熒光粉合成途徑與光學性能研究

熒光粉是制作白光LED中一個非常關鍵的材料,它的性能直接影響白光LED的亮度、色坐標、色溫及顯色性等。因而開發具有良好發光特性的熒光粉是得到高亮度、高發光效率、高顯色性白光LED的關鍵所在。熒光粉
2025-02-07 14:05:381453

白光干涉儀中的VSI和PSI以及VXI模式的區別

白光干涉儀是一種高精度的光學測量儀器,它利用白光干涉原理來測量物體表面的形貌和高度等信息。在白光干涉儀中,垂直掃描干涉測量模式(VSI)、相移干涉測量模式(PSI)以及結合VSI和PSI的高分辨測量
2025-02-06 10:39:28541

邁克耳孫干涉儀白光等傾干涉的實現、條紋特征及形成機理

邁克耳孫干涉儀白光等傾干涉的實現、條紋特征及形成機理是光學研究中的重要內容。以下是對這些方面的詳細解釋: 一、邁克耳孫干涉儀白光等傾干涉的實現 邁克耳孫干涉儀利用分振幅法產生雙光束以實現干涉。在白光
2025-01-23 14:58:48585

白光干涉為什么對于環境防振要求那么高

白光干涉對于環境防振要求高的原因,主要可以從其測量原理和應用需求兩個方面來解釋。 一、測量原理 白光干涉儀是利用干涉原理測量光程之差從而測定有關物理量的光學儀器。光源發出的光經過擴束準直后經分光棱鏡
2025-01-22 14:23:18342

為什么說白光干涉的掃描高度受限

白光干涉的掃描高度受限,主要是由于其測量原理和技術特點所決定的。以下是對這一問題的詳細解釋: 一、白光干涉的測量原理 白光干涉技術是一種基于光的波動性進行測量的技術。當兩束或多束相干光波在空間某點
2025-01-21 14:30:08461

通過改變光的偏振態,從而實現白光干涉中的光學相移原理

通過改變光的偏振態,從而實現白光干涉中的光學相移原理,是一個涉及光學原理和技術的復雜過程。以下是對這一過程的詳細解釋: 一、光的偏振態與白光干涉 光的偏振是指光波在傳播過程中,光矢量的方向和大小
2025-01-16 09:25:37415

基于光偏振與光學調制實現白光干涉相移

基于光的偏振特性和一些光學元件對光的調制作用,實現白光干涉中的光學相移原理是一個復雜而精細的過程。以下是對這一原理的詳細解釋: 一、光的偏振特性 光的偏振是指光波在傳播過程中,光矢量的方向和大小
2025-01-15 15:07:54397

關于白光干涉儀的常見提問及回答

原理相關1、白光干涉儀的基本原理是什么:白光干涉儀的基本原理是利用光學干涉原理。光源發出的光經過擴束準直后經分光棱鏡分成兩束,一束光經被測表面反射回來,另一束光經參考鏡反射,兩束反射光最終匯聚并發
2025-01-09 16:02:321699

反射鏡的移動,實現白光干涉中的機械相移原理

白光干涉測量中,通過反射鏡的移動來實現機械相移原理是一種常見且有效的方法。以下是對這一原理的詳細解釋: 一、基本原理 白光干涉測量技術基于光的波動性和相干性原理。當兩束相干光波在空間某點相遇
2025-01-09 10:42:24317

通過樣品臺的移動,實現白光干涉中的機械相移原理

白光干涉測量技術中,通過樣品臺的移動來實現機械相移原理是一種常用的且高精度的方法。這種方法基于光的波動性和相干性,通過改變樣品臺的位置,即改變待測光線與參考光線之間的光程差,來實現相位調制,從而
2025-01-08 10:37:39359

光學元件的插入與移除,實現白光干涉中的機械相移原理

白光干涉測量中,通過光學元件的插入與移除來實現機械相移原理是一種獨特而有效的方法。這種方法的核心在于利用光學元件(如透鏡、反射鏡、棱鏡等)對光路的改變,從而實現對相位差的調制。以下是對這一
2025-01-07 10:48:03396

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