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以設(shè)計(jì)鑄品質(zhì)!優(yōu)可測白光干涉儀AM-8000榮膺2025德國紅點(diǎn)獎(jiǎng)

優(yōu)可測 ? 2025-11-21 11:59 ? 次閱讀
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近日,被譽(yù)為“設(shè)計(jì)界奧斯卡”的德國紅點(diǎn)獎(jiǎng)(Red Dot Award)2025年度評(píng)選結(jié)果正式揭曉。

優(yōu)可測ATOMETRICS再添榮譽(yù) —— 旗下白光干涉儀 AM-8000憑借前沿的設(shè)計(jì)理念,成功斬獲紅點(diǎn)設(shè)計(jì)理念獎(jiǎng)(Red Dot Award: Design Concept)。

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優(yōu)可測AM8000紅點(diǎn)獎(jiǎng)證書

|精密儀器也能有好設(shè)計(jì)

紅點(diǎn)獎(jiǎng)成立于1955年,與德國“iF獎(jiǎng)”、美國“IDEA獎(jiǎng)”并稱為世界三大設(shè)計(jì)獎(jiǎng)。

優(yōu)可測 AM-8000 白光干涉儀在全球眾多參賽作品中脫穎而出,嶄露頭角,打破了傳統(tǒng)精密儀器 “輕設(shè)計(jì)” 的固有認(rèn)知,將精密測量儀器與人性化設(shè)計(jì)理念完美融合。

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紅點(diǎn)獎(jiǎng)官網(wǎng)截圖

|實(shí)力,不止于設(shè)計(jì)

作為優(yōu)可測ATOMETRICS的旗艦產(chǎn)品,AM-8000的獲獎(jiǎng)并非偶然,而是技術(shù)沉淀與創(chuàng)新設(shè)計(jì)的結(jié)果。

亞納米級(jí)精度,定義國產(chǎn)白光新高度:搭載大量程高速納米壓電陶瓷,最高RMS重復(fù)性可達(dá)0.002nm,在任何放大倍數(shù)下實(shí)現(xiàn)小于1nm的測量準(zhǔn)確性;搭載了4自由度直驅(qū)電控平臺(tái),平臺(tái)的XY行程最大可達(dá)300mm,負(fù)載能力提升2.5倍,移動(dòng)拼接速度提升30%,定位精度提升3倍

人機(jī)友好設(shè)計(jì),精簡測量操作:摒棄傳統(tǒng)手動(dòng)調(diào)平和對(duì)焦,融入一鍵調(diào)平+一鍵對(duì)焦,效率提升8倍,讓白光干涉儀的操作門檻顯著降低,不再需要繁瑣復(fù)雜的操作步驟,不再擔(dān)心找不到干涉條紋。并且支持多點(diǎn)位編程、自由測量等批量測量操作和適配多種鏡頭、鏡頭行程自適應(yīng)等大工件測量操作。

全場景適配,賦能多行業(yè)研發(fā)創(chuàng)新:憑借亞納米級(jí)精度與高效測量流程,AM-8000廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體5G通訊、微納加工、精密光學(xué)、新能源、液晶顯示等領(lǐng)域,為1000+家高校研究院和企業(yè)提供精密測量解決方案。

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|堅(jiān)守品質(zhì),賦能中國智造

自2017年板石智能成立以來,旗下品牌優(yōu)可測ATOMETRICS一直專注于為全球客戶提供精密測量儀器與半導(dǎo)體檢測設(shè)備,從技術(shù)研發(fā)到產(chǎn)品設(shè)計(jì),從用戶需求到行業(yè)痛點(diǎn),每一步都凝聚著對(duì)創(chuàng)新的執(zhí)著與對(duì)品質(zhì)的堅(jiān)守。

“以精密測量探索人類未來”為使命,以“成為精密測量引領(lǐng)者”為愿景,未來,優(yōu)可測將繼續(xù)以技術(shù)創(chuàng)新為核心,以設(shè)計(jì)美學(xué)為賦能,在精密測量、半導(dǎo)體檢測領(lǐng)域不斷革新,為全球客戶提供更先進(jìn)的三維形貌測量解決方案,以一流產(chǎn)品技術(shù)重新定義“中國智造”內(nèi)涵。

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