掃描電子顯微鏡（SEM Scanning Electron Microscope）是一種介于透射電子顯微鏡和光學顯微鏡之間的一種觀察手段，在光電技術中起到重要作用。

其利用聚焦的很窄的高能電子束來掃描樣品, 通過光束與物質間的相互作用, 來激發各種物理信息, 對這些信息收集、放大、再成像以達到對物質微觀形貌表征的目的。

新式的掃描電子顯微鏡的分辨率可以達到1nm；放大倍數可以達到30萬倍及以上連續可調;并且景深大，?視野大，?成像立體效果好。

此外，掃描電子顯微鏡和其他分析儀器相結合，可以做到觀察微觀形貌的同時進行物質微區成分分析。掃描電子顯微鏡在巖土、石墨、陶瓷及納米材料等的研究上有廣泛應用。

很多學科都離不開的重要大型科研儀器，掃描電子顯微鏡主要組成部件、基本工作原則、實用程序、表面成像和化學分析。

SEM工作介紹

掃描電子顯微鏡具有景深大、分辨率高, 成像直觀、立體感強、放大倍數范圍寬以及待測樣品可在三維空間內進行旋轉和傾斜等特點。另外具有可測樣品種類豐富，幾乎不損傷和污染原始樣品以及可同時獲得形貌、結構、成分和結晶學信息等優點。

掃描電子顯微鏡已被廣泛應用于生命科學、物理學、化學、司法、地球科學、材料學以及工業生產等領域的微觀研究。這有一些比較特別的圖片。

SEM在光纖的開發中發揮了不可替代的作用。光纖的端面微結構、瑕疵、成分分析等，都離不開SEM的功能。來分享幾個有意思的特種光纖端面圖：

懸掛芯光纖（參看：簡約但是不簡單-用于光纖預制棒制備的套管法）

雙芯懸掛光纖

帶隙型空芯光纖

還有很多有意思的特纖結構。



審核編輯：劉清