蔡司作為一家在光學和電子顯微鏡領域具有深厚技術積累的企業，提供聚焦離子束—掃描電子顯微鏡（FIB-SEM）和飛秒激光（Laser-FIB）技術解決方案，為電池材料研究提供了強大助力。

卓越成像效果
FIB-SEM斷層掃描結果精確可靠，成像和材料研究重復性高。在低加速電壓下仍具備高分辨率和信噪比，可跟蹤體素尺寸并自動控制圖像質量，確保獲取清晰、準確且穩定的微觀結構圖像。

高效研發流程
飛秒激光可快速切割大體積樣品，顯著提高研發效率，加速電池材料的研發進程。

高清3D分辨率
具有高3D分辨率和各向同性體素尺寸，可探測和成像小于3nm深度的區域，能夠清晰呈現電池材料微觀結構的精細細節，助力深入探究材料內部結構與性能之間的關系。

直觀和可視化數據處理
可實現2D和3D數據可視化及模擬分析結果，配備成熟分析和統計流程。研究人員能夠直觀地觀察和理解電池材料的微觀結構、元素分布等信息，通過模擬分析預測材料性能，為研發決策提供有力支持。

推薦產品組合—蔡司Crossbeam系列
聚焦離子束掃描電鏡（FIB-SEM）
適用于高通量3D分析和樣品制備，其分辨率、放大倍數、探針電流等參數優異，具備高分辨率3D斷層掃描和分析能力，能輕松實現相關數據XRM/FIB/SEM/LM的關聯，為研究提供全面而精準的數據支持。

ZEISS Crossbeam Laser
可以快速精確獲取電池內部深層結構，成像過程無偽影無污染，并且便于在特定環境下轉移樣品，確保研究過程的高效與準確。