大面積薄膜光學映射與成像技術(shù)綜述：全光譜橢偏技術(shù)

在微電子制造與光伏產(chǎn)業(yè)中，大面積薄膜的均勻性與質(zhì)量直接影響產(chǎn)品性能。傳統(tǒng)薄膜表征方法（如濺射深度剖析、橫截面顯微鏡觀察）雖能提供高精度數(shù)據(jù)，但測量范圍有...

2025-07-22 標簽：測量薄膜光伏 1.5k 0

白光色散干涉：實現(xiàn)薄膜表面輪廓和膜厚的高精度測量

薄膜結(jié)構(gòu)在半導體制造中扮演著至關(guān)重要的角色，廣泛應(yīng)用于微電子器件、光學涂層、傳感器等領(lǐng)域。隨著半導體技術(shù)的不斷進步，對薄膜結(jié)構(gòu)的檢測精度和效率提出了更高...

2025-07-22 標簽：測量表面輪廓儀 1.8k 0

臺階高度的測量標準丨在臺階儀校準下半導體金屬鍍層實現(xiàn)測量誤差<1%

在半導體芯片制造過程中，臺階結(jié)構(gòu)的精確測量至關(guān)重要，通常采用白光干涉儀或步進儀等非接觸式測量設(shè)備進行監(jiān)控。然而，SiO?/Si臺階高度標準在測量中存在的...

2025-07-22 標簽：半導體測量 797 0

薄膜質(zhì)量關(guān)鍵 |?半導體/顯示器件制造中薄膜厚度測量新方案

在半導體和顯示器件制造中，薄膜與基底的厚度精度直接影響器件性能。現(xiàn)有的測量技術(shù)包括光譜橢偏儀（SE）和光譜反射儀（SR）用于薄膜厚度的測量，以及低相干干...

2025-07-22 標簽：半導體測量顯示器件 1.7k 0

觸針式輪廓儀 | 臺階儀 | 納米級多臺階高度的精準測量

臺階高度作為納米結(jié)構(gòu)的關(guān)鍵參數(shù)，其測量精度直接影響相關(guān)研究與應(yīng)用。本文利用觸針式輪廓儀對三臺階高度樣品進行測量與表征的方法。原始測量數(shù)據(jù)通過多項式擬合與...

2025-07-22 標簽：高精度測量表面輪廓儀 740 0

液態(tài)金屬接觸電阻精確測量：傳輸線法（TLM）的新探索

液態(tài)金屬（如galinstan）因高導電性、可拉伸性及生物相容性，在柔性電子領(lǐng)域備受關(guān)注。然而，其與金屬電極間的接觸電阻（Rc）測量存在挑戰(zhàn)：傳統(tǒng)傳輸線...

2025-07-22 標簽：測量接觸電阻TLM 1.5k 0

臺階儀在3D打印中的應(yīng)用：精確測量物體表面粗糙度

增材制造（AM）技術(shù)通過逐層堆積材料實現(xiàn)復雜結(jié)構(gòu)成型，但3D打印表面質(zhì)量存在層厚均勻性和組裝方式導致的臺階效應(yīng)問題，表面粗糙度直接影響機械性能與功能可靠...

2025-07-22 標簽：測量3D打印 796 0

橢偏儀原理和應(yīng)用 | 精準測量不同基底光學薄膜TiO?/SiO?的光學常數(shù)

橢偏儀作為表征光學薄膜性能的核心工具，在光學薄膜領(lǐng)域具有不可替代的作用。本研究聚焦基底類型（K9玻璃、石英玻璃、單晶硅）對溶膠-凝膠法制備的TiO?和S...

2025-07-22 標簽：測量儀器 1.6k 0

臺階儀在Micro LED巨量轉(zhuǎn)移中的應(yīng)用 | 測量PDMS微柱尺寸提升良率

微型發(fā)光二極管Micro-LED顯示技術(shù)是一種新興技術(shù)。它在可穿戴設(shè)備、虛擬現(xiàn)實、手機，微投影顯示器等便攜式應(yīng)用中具有巨大的潛力。本研究聚焦Micro-...

2025-07-22 標簽：二極管測量Micro LED 627 0

全光譜橢偏儀測量：金屬/半導體TMDs薄膜光學常數(shù)與高折射率特性

過渡金屬二硫族化合物（TMDs）因其獨特的激子效應(yīng)、高折射率和顯著的光學各向異性，在納米光子學領(lǐng)域展現(xiàn)出巨大潛力。本研究采用Flexfilm全光譜橢偏儀...

2025-07-21 標簽：半導體測量TMDS 1k 0

芯片制造中高精度膜厚測量與校準：基于紅外干涉技術(shù)的新方法

在先進光學、微電子和材料科學等領(lǐng)域，透明薄膜作為關(guān)鍵工業(yè)組件，其亞微米級厚度的快速穩(wěn)定測量至關(guān)重要。芯片制造中，薄膜襯底的厚度直接影響芯片的性能、可靠性...

2025-07-21 標簽：芯片制造測量 2.9k 0

芯片制造中的膜厚檢測 | 多層膜厚及表面輪廓的高精度測量

隨著物聯(lián)網(wǎng)(IoT)和人工智能(AI)驅(qū)動的半導體器件微型化，對多層膜結(jié)構(gòu)的三維無損檢測需求急劇增長。傳統(tǒng)橢偏儀僅支持逐點膜厚測量，而白光干涉法等技術(shù)難...

2025-07-21 標簽：半導體芯片制造測量 872 0

孔隙水壓計(滲壓計)：工程新兵的必修課與得力助手

剛踏入巖土工程行業(yè)的你，是否正為理解和使用孔隙水壓計(也稱滲壓計)而犯難?別擔心，這幾乎是每位工程人必經(jīng)的挑戰(zhàn)。作為巖土工程中不可或缺的核心儀器，孔隙水...

2025-07-21 標簽：測量儀器 587 0

科普知識丨差示掃描量熱儀在塑料方面應(yīng)用

差示掃描量熱儀（DifferentialScanningCalorimetry,DSC）是一種重要的熱分析技術(shù)，通過測量材料在加熱或冷卻過程中吸收或釋放...

2025-07-15 標簽：測量DSC量熱儀 548 0

硅—藍寶石高精度傳感器在井下電子壓力計中的應(yīng)用

井下電子壓力計是廣泛應(yīng)用于測量和記錄油氣田地層中的油、氣、水等介質(zhì)的壓力及溫度值的電子設(shè)備，也是一種具有高實時性、高精確度、高分辨率特征的井筒壓力及溫度...

2025-07-15 標簽：傳感器測量壓力計 605 0

振弦式鋼筋計是否支持溫度同步測量?

在工程結(jié)構(gòu)安全監(jiān)測領(lǐng)域，振弦式鋼筋計憑借其高精度應(yīng)力測量能力被廣泛應(yīng)用。值得關(guān)注的是，現(xiàn)代振弦式鋼筋計(如南京峟思VWR系列)已集成溫度同步測量功能，該...

2025-07-11 標簽：測量安全監(jiān)測 455 0

同步熱分析儀可以測什么？

同步熱分析儀是一種能同時測量材料在程序控溫下熱重（TG）和差示掃描量熱（DSC）信號的儀器，通過多維度數(shù)據(jù)聯(lián)動，為材料熱性能分析提供全面依據(jù)。?上海和晟...

2025-07-10 標簽：分析儀測量熱分析儀 748 0

錨索測力計中四支應(yīng)變計如何協(xié)同工作?單支損壞是否影響整體測量?

在橋梁、大壩、邊坡等關(guān)鍵工程的安全監(jiān)測中，VWA型振弦式錨索測力計憑借其可靠性和精確度成為重要工具。其核心在于內(nèi)部對稱分布的四支振弦應(yīng)變計協(xié)同工作機制，...

2025-07-10 標簽：測量安全監(jiān)測 453 0

Simcenter FLOEFD T3STER自動校準模塊：提高電子冷卻研究的準確性

優(yōu)勢執(zhí)行封裝熱模型的高精度結(jié)溫預測（在特定情況下，精度可超過99.5%）克服與傳統(tǒng)手動校準相關(guān)的時間限制輕松探索測量校準所需的封裝規(guī)格和材料特性變化在C...

2025-07-08 標簽：嵌入式測量自動校準 549 0

如何選擇合適的工業(yè)相機快門種類

在需要拍攝高速運動物體的場景中，全局快門傳感器是最佳選擇。而對于移動緩慢或靜止的物體（如顯微鏡等科學應(yīng)用場景），卷簾快門傳感器則更為適合。

2025-07-04 標簽：測量電信號工業(yè)相機 1.6k 0