我國(guó)國(guó)防科技大學(xué)對(duì)脈沖渦流檢測(cè)技術(shù)進(jìn)行了深入的研究，廣泛地將脈沖渦流檢測(cè)技術(shù)應(yīng)用于金屬表面和亞表面缺陷尺寸的評(píng)估中，并且能夠準(zhǔn)確識(shí)別出同時(shí)存在的不同類型的缺陷。
2025-12-30 17:13:19
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博通薄膜熱釋電雙通道傳感器：氣體檢測(cè)新利器 電子工程師在設(shè)計(jì)氣體檢測(cè)及物質(zhì)濃度測(cè)量相關(guān)設(shè)備時(shí)，傳感器的性能往往起著決定性作用。今天要給大家介紹的是博通（Broadcom）的薄膜熱釋電紅外（IR
2025-12-30 16:05:1477 巨哥科技致力于新型光電檢測(cè)技術(shù)的開(kāi)發(fā)，提供溫度場(chǎng)、成分、厚度、缺陷、質(zhì)量等多種檢測(cè)方法，將快速、高效、在線的檢測(cè)技術(shù)與制造過(guò)程深度結(jié)合，提升先進(jìn)制造水平。
2025-12-30 10:15:13123 
今天介紹的落地案例中，將針對(duì)Type-C 接口涂膠過(guò)程中出現(xiàn)的缺陷檢測(cè)痛點(diǎn)，結(jié)合成熟落地的實(shí)戰(zhàn)經(jīng)驗(yàn)，為您提供視覺(jué)智能化升級(jí)的參考范例。
2025-12-26 15:14:01113 松下透明導(dǎo)電薄膜：先進(jìn)的透明電磁屏蔽解決方案 在電子設(shè)備日益普及的今天，電磁干擾（EMI）問(wèn)題愈發(fā)突出，如何在保證設(shè)備透明度的同時(shí)有效屏蔽電磁干擾，成為了電子工程師們面臨的重要挑戰(zhàn)。松下推出的透明
2025-12-21 17:00:061092 實(shí)驗(yàn)名稱： 變尺寸蝶形線圈EMAT的缺陷檢測(cè)能力測(cè)試 研究方向： 隨著我國(guó)工業(yè)水平的不斷發(fā)展，在線超聲波探傷設(shè)備在兼顧板材生產(chǎn)效率的同時(shí)，在板材企業(yè)生產(chǎn)過(guò)程中也起到了檢測(cè)鋼鐵產(chǎn)品內(nèi)部質(zhì)量的重要作用
2025-12-16 13:56:11161 
V510i部署在SMT生產(chǎn)線的 貼片機(jī)之后、回流焊爐之前或之后 ，主要用于檢測(cè)貼裝好的電子元件是否存在缺陷。其核心任務(wù)是： 3D與2D復(fù)合檢測(cè) ：同時(shí)利用3D輪廓信息和2D彩色圖像，對(duì)PCB上的元件
2025-12-04 09:27:55410 發(fā)布人：深圳市英賽特自動(dòng)化設(shè)備有限公司 引言： 在當(dāng)今高密度、微型化的電子制造世界，傳統(tǒng)的檢測(cè)手段已難以應(yīng)對(duì)內(nèi)部缺陷的挑戰(zhàn)。深圳市英賽特自動(dòng)化設(shè)備有限公司，作為全球領(lǐng)先的機(jī)器視覺(jué)品牌Vitrox在
2025-12-03 10:05:57418 驅(qū)自動(dòng)化技術(shù)憑借其革命性的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)與控制性能，支持高速高加速度運(yùn)動(dòng)，顯著提升設(shè)備稼動(dòng)率及長(zhǎng)期穩(wěn)定性，滿足先進(jìn)制程對(duì)檢測(cè)效率和精度的雙重需求，成為高端半導(dǎo)體量檢測(cè)裝備升級(jí)的“零缺陷”核心驅(qū)動(dòng)力。 光學(xué)膜厚量測(cè)（兼容OCD）應(yīng)用 ?光
2025-12-02 10:35:10265 
局部放電特征，為電網(wǎng)安全運(yùn)行提供關(guān)鍵數(shù)據(jù)支撐。局放檢測(cè)器的核心技術(shù)原理基于多物理場(chǎng)耦合檢測(cè)。當(dāng)設(shè)備內(nèi)部存在絕緣缺陷時(shí)，局部放電會(huì)產(chǎn)生瞬態(tài)電磁脈沖、超聲波、特高頻信號(hào)
2025-12-02 10:30:35253 
上期我們?cè)诠娞?hào)回顧了五大缺陷檢測(cè)系統(tǒng)之后，有用戶反饋，覺(jué)得我們的產(chǎn)品真心不錯(cuò)，但是落實(shí)到自己具體的檢測(cè)場(chǎng)景時(shí)，不知道應(yīng)該選擇哪款，都要挑花眼了。今天我們就給大家?guī)?lái)了簡(jiǎn)單直接的選型指南，讓您 1
2025-11-28 16:16:37454 
檢測(cè)應(yīng)用 微細(xì)缺陷識(shí)別：檢測(cè)肉眼難以發(fā)現(xiàn)的微小缺陷和異常 紋理分析：對(duì)材料表面紋理進(jìn)行智能分析和缺陷識(shí)別 3D表面重建：通過(guò)深度學(xué)習(xí)進(jìn)行高精度3D建模和檢測(cè) 電子行業(yè)應(yīng)用 PCB板復(fù)雜缺陷檢測(cè)：連焊、虛焊、漏焊等焊接質(zhì)量問(wèn)題 芯片
2025-11-27 10:19:32127 機(jī)器視覺(jué)光源，缺陷檢測(cè)，自動(dòng)化視覺(jué)檢測(cè)機(jī)器視覺(jué)光源
2025-11-27 10:17:20165 
“剛買(mǎi)的電動(dòng)牙刷，用了半年就進(jìn)水短路！”不少人都遇到過(guò)這種糟心情況，根源往往是出廠時(shí)密封缺陷沒(méi)被檢出。作為電動(dòng)牙刷品質(zhì)把控的“火眼金睛”，氣密性檢測(cè)儀到底能揪出哪些密封隱患？今天就為大家詳細(xì)拆解
2025-11-13 17:01:58552 
% 的電氣骨架企業(yè)仍陷在 “人工檢測(cè)死循環(huán)” 里：3 班倒的質(zhì)檢員熬紅了眼，卻擋不住細(xì)微缺陷 “漏網(wǎng)”；年薪 + 社保年耗 50 萬(wàn)，質(zhì)量還是 “看心情”；待檢產(chǎn)品堆成山，交貨期逼近時(shí)客戶天天催單…… 你是不是也在為這些問(wèn)題頭疼？ 此時(shí)，電氣骨架外觀缺陷
2025-11-06 10:30:47268 Flexfilm探針式臺(tái)階儀作為表面形貌測(cè)量的精密儀器，能夠依據(jù)最新的ISO21920系列標(biāo)準(zhǔn)實(shí)現(xiàn)表面微觀特征的精準(zhǔn)表征與關(guān)鍵參數(shù)的定量測(cè)量。該設(shè)備通過(guò)高精度探針掃描技術(shù)，可精確測(cè)定樣品的表面臺(tái)階
2025-11-05 18:02:19886 
工業(yè)生產(chǎn)中，產(chǎn)品 表面裂痕 、 劃痕 等缺陷屢見(jiàn)不鮮，直接影響外觀與性能。近年機(jī)器視覺(jué)技術(shù)在表面檢測(cè)領(lǐng)域突破顯著，對(duì)劃傷、污跡等常規(guī)缺陷的檢測(cè)日趨成熟，已廣泛應(yīng)用于金屬、玻璃、顯示面板等行業(yè)的質(zhì)量管
2025-11-05 08:05:05214 
正運(yùn)動(dòng)AI外觀缺陷檢測(cè)解決方案
2025-11-03 14:49:41316 
質(zhì)量控制是制造流程中至關(guān)重要但往往效率低下的環(huán)節(jié)。機(jī)器視覺(jué)能夠自動(dòng)化部分或全部缺陷檢測(cè)任務(wù)，但僅靠技術(shù)本身無(wú)法帶來(lái)顯著改進(jìn)。必須理解并優(yōu)化整個(gè)機(jī)器視覺(jué)檢測(cè)流程，這項(xiàng)技術(shù)才能產(chǎn)生有意義的結(jié)果。與人
2025-11-03 11:40:29653 
導(dǎo)讀 醫(yī)用管作為直接輸送體液的醫(yī)療組件，其管壁或表面的微小針孔、裂縫與污染物若在檢測(cè)中被遺漏，將直接引發(fā)患者感染、器官功能受損等嚴(yán)重安全風(fēng)險(xiǎn)。這類細(xì)微缺陷肉眼難以察覺(jué)，使得生產(chǎn)過(guò)程中的精準(zhǔn)視覺(jué)檢測(cè)
2025-10-30 11:21:34164 
針對(duì)開(kāi)關(guān)柜設(shè)備的運(yùn)維，傳統(tǒng)檢測(cè)具有一定的局限性，如常規(guī)開(kāi)關(guān)柜檢修依賴定期巡檢和離線試驗(yàn)，這些方法存在一定的滯后性，無(wú)法實(shí)時(shí)發(fā)現(xiàn)設(shè)備內(nèi)部絕緣缺陷的早期發(fā)展，因此可能導(dǎo)致突發(fā)故障；同時(shí)人工巡檢周期長(zhǎng)且
2025-10-27 16:19:14428 
在現(xiàn)代制造業(yè)中，「氣密性檢測(cè)」已成為產(chǎn)品防水、防塵與安全驗(yàn)證的關(guān)鍵環(huán)節(jié)。尤其在新能源、汽車(chē)電子、醫(yī)療器械與消費(fèi)電子行業(yè)，企業(yè)普遍采用「在線氣密性檢測(cè)儀」來(lái)實(shí)現(xiàn)生產(chǎn)過(guò)程中的實(shí)時(shí)檢測(cè)與質(zhì)量追溯。這項(xiàng)技術(shù)
2025-10-21 10:42:34368 
Moritex 5X高精度大靶面遠(yuǎn)心鏡頭助力晶圓缺陷檢測(cè)
2025-10-17 17:04:47292 
在現(xiàn)代智能制造和自動(dòng)化質(zhì)量控制領(lǐng)域，在線Xray檢測(cè)設(shè)備因其高效精準(zhǔn)的非接觸檢測(cè)能力而受到廣泛關(guān)注。無(wú)論是包裝完整性檢查、異物檢測(cè)還是尺寸測(cè)量，選擇合適的在線Xray檢測(cè)設(shè)備都直接影響生產(chǎn)線的效率
2025-10-15 11:36:45266 便攜式EL檢測(cè)儀：光伏組件缺陷檢測(cè)的移動(dòng)“透視眼”柏峰【BF-EL】在光伏電站運(yùn)維與組件質(zhì)量管控中，組件內(nèi)部缺陷（如隱裂、斷柵、虛焊、黑心片等）是影響發(fā)電效率與使用壽命的關(guān)鍵隱患。
2025-10-15 10:20:40427 
電能質(zhì)量在線監(jiān)測(cè)裝置檢測(cè)諧波的核心邏輯是： 先精準(zhǔn)采集電網(wǎng)電壓 / 電流原始信號(hào)，再通過(guò)信號(hào)預(yù)處理濾除干擾，最后用專業(yè)算法分解信號(hào)中的基波與各次諧波成分，最終計(jì)算出諧波參數(shù)（如諧波含量、總諧波畸變
2025-10-14 17:01:04720 穩(wěn)定性” 三大指標(biāo)分級(jí)，主流等級(jí)從高到低為0.01 級(jí)、0.1 級(jí)、0.2 級(jí)、0.5 級(jí)、1 級(jí)，不同等級(jí)對(duì)應(yīng)不同的誤差限值與適用場(chǎng)景，同時(shí)需結(jié)合設(shè)備類型（在線式、便攜式、標(biāo)準(zhǔn)源）差異化區(qū)分。 一、通用精度等級(jí)劃分：基于 “引用誤差” 的核心分級(jí) 諧波檢測(cè)設(shè)備的精度等級(jí)本質(zhì)是
2025-10-13 16:47:25838 常用的諧波檢測(cè)設(shè)備按 “使用場(chǎng)景（長(zhǎng)期 / 臨時(shí) / 校準(zhǔn)）” 和 “功能定位（監(jiān)測(cè) / 分析 / 校準(zhǔn)）” 可分為在線式諧波監(jiān)測(cè)裝置、便攜式諧波分析儀、實(shí)驗(yàn)室諧波標(biāo)準(zhǔn)源三大類，另有配套的采樣輔助
2025-10-13 16:44:01759 在微電子、光電子等高端領(lǐng)域，半導(dǎo)體增材膜的性能與其三維形貌及內(nèi)部缺陷高度關(guān)聯(lián)，表面粗糙度影響器件電學(xué)接觸穩(wěn)定性，孔隙、裂紋等缺陷則直接決定薄膜的機(jī)械強(qiáng)度與服役壽命。共聚焦顯微鏡憑借其高分辨率三維成像
2025-09-30 18:05:152568 
實(shí)驗(yàn)名稱： 變尺寸蝶形線圈EMAT的缺陷檢測(cè)能力測(cè)試 研究方向： 隨著我國(guó)工業(yè)水平的不斷發(fā)展，在線超聲波探傷設(shè)備在兼顧板材生產(chǎn)效率的同時(shí)，在板材企業(yè)生產(chǎn)過(guò)程中也起到了檢測(cè)鋼鐵產(chǎn)品內(nèi)部質(zhì)量的重要作用
2025-09-29 14:31:37321 
薄膜厚度測(cè)量?jī)x，其原理是通過(guò)將已知的薄膜材料電阻率除以方阻來(lái)確定厚度，并使用XFilm平板顯示在線方阻測(cè)試儀作為對(duì)薄膜在線方阻實(shí)時(shí)檢測(cè)，以提供數(shù)據(jù)支撐。旨在實(shí)現(xiàn)非破
2025-09-29 13:43:36642 
法開(kāi)展表面電阻測(cè)量研究。Xfilm埃利四探針?lè)阶鑳x憑借高精度檢測(cè)能力，可為此類薄膜電學(xué)性能測(cè)量提供可靠技術(shù)保障。下文將重點(diǎn)分析四探針?lè)ǖ臏y(cè)量原理、實(shí)驗(yàn)方法與結(jié)果，
2025-09-29 13:43:26654 PCB的優(yōu)劣。以下是具體方法與分析： ? 一、望：視覺(jué)檢測(cè)，洞察表面缺陷 核心目標(biāo)：通過(guò)肉眼或儀器觀察PCB的外觀、焊點(diǎn)、線路等，識(shí)別顯性缺陷。 檢測(cè)要點(diǎn)： 表面處理質(zhì)量： 焊盤(pán)氧化：優(yōu)質(zhì)PCB焊盤(pán)應(yīng)呈光亮銅色，若發(fā)暗發(fā)黑(類似生銹硬幣)，說(shuō)明氧化嚴(yán)重
2025-09-28 09:22:56805 角度，凸顯Pin針輪廓、高度差異及表面缺陷（如劃痕、異物）。精密運(yùn)動(dòng)平臺(tái)（可選）：用于多角度成像或定位被測(cè)連接器。核心檢測(cè)算法：定位與計(jì)數(shù)： 模板匹配或Blob分析快速定位連接器及所有Pin針，確保數(shù)量
2025-09-26 15:09:44
檢測(cè)傳導(dǎo)干擾對(duì)電能質(zhì)量在線監(jiān)測(cè)裝置的影響，核心是通過(guò) **“數(shù)據(jù)異常識(shí)別→干擾源定位→影響量化評(píng)估”** 的邏輯，結(jié)合現(xiàn)場(chǎng)實(shí)測(cè)與實(shí)驗(yàn)室模擬，確認(rèn)干擾是否存在、干擾路徑及對(duì)測(cè)量精度的具體影響程度。以下
2025-09-24 18:27:04547 實(shí)驗(yàn)名稱： 單缺陷導(dǎo)波檢測(cè)實(shí)驗(yàn) 研究方向： 管道運(yùn)輸在當(dāng)今國(guó)民經(jīng)濟(jì)和工業(yè)運(yùn)輸領(lǐng)域有著不可或缺的作用，其有著經(jīng)濟(jì)、高效且安全的優(yōu)勢(shì)。然而管道在服役過(guò)程中并不是一勞永逸的，隨著時(shí)間的推移或者存在加工缺陷
2025-09-24 16:15:40651 
便攜式EL檢測(cè)儀：光伏組件缺陷檢測(cè)的 “便攜顯微鏡”柏峰【BF-EL】便攜式 EL（Electroluminescence，電致發(fā)光）檢測(cè)儀，是基于光伏組件電致發(fā)光原理設(shè)計(jì)的便攜式檢測(cè)設(shè)備。其核心
2025-09-10 17:35:191034 
固態(tài)薄膜因獨(dú)特的物理化學(xué)性質(zhì)與功能在諸多領(lǐng)域受重視，其厚度作為關(guān)鍵工藝參數(shù)，準(zhǔn)確測(cè)量對(duì)真空鍍膜工藝控制意義重大，臺(tái)階儀法因其能同時(shí)測(cè)量膜厚與表面粗糙度而被廣泛應(yīng)用于航空航天、半導(dǎo)體等領(lǐng)域。費(fèi)曼儀器
2025-09-05 18:03:23631 在電子產(chǎn)品制造領(lǐng)域，氣密性檢測(cè)是確保產(chǎn)品防水防塵性能的關(guān)鍵環(huán)節(jié)。然而，實(shí)際生產(chǎn)中常因檢測(cè)環(huán)節(jié)的疏漏導(dǎo)致不良品流入市場(chǎng)，不僅影響用戶體驗(yàn)，更可能造成安全隱患。本文將深入剖析常見(jiàn)缺陷并提出針對(duì)性改進(jìn)方案
2025-09-05 15:05:57394 
絕緣在線監(jiān)測(cè)裝置是電力系統(tǒng)中用于??實(shí)時(shí)在線監(jiān)測(cè)電氣設(shè)備絕緣狀態(tài)??的關(guān)鍵設(shè)備，通過(guò)采集絕緣電阻、泄漏電流、局部放電等參數(shù)，結(jié)合智能分析算法，及時(shí)識(shí)別絕緣缺陷并發(fā)出預(yù)警，防止絕緣故障引發(fā)的安全事故
2025-09-04 17:31:42757 
SMT+DIP全流程品控體系，總結(jié)出以下五大常見(jiàn)焊接缺陷的診斷與檢測(cè)解決方案： ? PCBA加工大焊接缺陷診斷與檢測(cè)方法 一、典型焊接缺陷類型及成因分析 1. 虛焊(Cold Solder Joint) 特征：焊點(diǎn)表面呈灰暗顆粒狀 成因：焊膏活性不足/回流焊溫度曲線異常/元件引腳氧化 2. 橋連
2025-09-04 09:15:05573 你能想到嗎？薄膜也是要做表面處理的。薄膜容不容易被油墨附著，能不能防靜電等等，這些關(guān)鍵性能都可以通過(guò)專門(mén)的表面處理技術(shù)實(shí)現(xiàn)。今天來(lái)給大家介紹薄膜表面處理中一項(xiàng)常見(jiàn)且高效的技術(shù)——常壓輝光放電技術(shù)。在
2025-09-02 10:56:34707 汽車(chē)在我們的生活中應(yīng)用非常廣泛，汽車(chē)加熱片生產(chǎn)過(guò)程中的輕微折痕、針孔等缺陷，會(huì)引起熱點(diǎn)聚集，熱阻增加，進(jìn)而引起后視鏡的除霜延時(shí)，更嚴(yán)重的會(huì)引發(fā)事故，即使上了普通的機(jī)器視覺(jué)檢測(cè)設(shè)備，針對(duì)表面凸起較小
2025-09-01 15:53:22466 
針對(duì)鋰電池檢測(cè)的技術(shù)突破
STML-FD2020 圍繞鋰電池薄膜材料的測(cè)試需求，從 “分層檢測(cè)、數(shù)據(jù)精度、過(guò)程監(jiān)控” 三大維度創(chuàng)新，精準(zhǔn)解決傳統(tǒng)測(cè)試的局限，所有技術(shù)應(yīng)用均基于設(shè)備實(shí)際測(cè)試案例與參數(shù)
2025-08-30 14:16:41
文章由山東華科信息技術(shù)有限公司提供局部放電監(jiān)測(cè)技術(shù)革新在電力設(shè)備智能化運(yùn)維領(lǐng)域，局放在線監(jiān)測(cè)裝置通過(guò)實(shí)時(shí)捕捉絕緣缺陷產(chǎn)生的微弱放電信號(hào)，為設(shè)備狀態(tài)評(píng)估提供關(guān)鍵數(shù)據(jù)支撐。該技術(shù)采用非侵入式檢測(cè)方案
2025-08-27 09:50:14450 
基站和核心網(wǎng)設(shè)備進(jìn)網(wǎng)檢測(cè)要求調(diào)整內(nèi)容介紹-0821v4基站-異網(wǎng)漫游功能和流程檢測(cè)項(xiàng)目適用設(shè)備：支持異網(wǎng)漫游功能的TD-LTE基站、LTEFDD基站、5GSA基站、5GNSA&SA基站標(biāo)準(zhǔn)
2025-08-22 17:49:442482 
吞吐量仍然是一個(gè)問(wèn)題，解決方案需要多種技術(shù)的結(jié)合。事實(shí)證明，電子束檢測(cè)對(duì)于發(fā)現(xiàn)5納米以下尺寸的關(guān)鍵缺陷至關(guān)重要。現(xiàn)在的挑戰(zhàn)是如何加快這一流程，使其在經(jīng)濟(jì)上符合晶圓廠的接受度。電子束檢測(cè)因靈敏度
2025-08-19 13:49:42655 
某些情況下波及晶圓的大片區(qū)域，此類缺陷的發(fā)現(xiàn)往往表明工藝模塊、特定薄膜或晶圓處理環(huán)節(jié)存在嚴(yán)重問(wèn)題。早期檢測(cè)能夠避免數(shù)
2025-08-19 13:48:231116 橢偏技術(shù)是一種非接觸式、高精度、多參數(shù)等光學(xué)測(cè)量技術(shù)，是薄膜檢測(cè)的最好手段。本文以橢圓偏振基本原理為基礎(chǔ)，重點(diǎn)介紹了光學(xué)模型建立和仿真，為橢偏儀薄膜測(cè)量及誤差修正提供一定的理論基礎(chǔ)。費(fèi)曼儀器作為國(guó)內(nèi)
2025-08-15 18:01:293970 在工業(yè)自動(dòng)化快速發(fā)展的今天，各類電子設(shè)備對(duì)穩(wěn)定性、效率和耐用性的要求日益提高。作為電子電路中的關(guān)鍵元件之一，薄膜電容憑借其獨(dú)特的性能優(yōu)勢(shì)，正成為工業(yè)自動(dòng)化設(shè)備升級(jí)的重要推手。從變頻器到伺服系統(tǒng)，從新
2025-08-11 17:02:30618 性36；目的：通過(guò)精確控制材料的原子級(jí)排列，改善電學(xué)性能、減少缺陷，并為高性能器件提供基礎(chǔ)結(jié)構(gòu)。例如，硅基集成電路中的應(yīng)變硅技術(shù)可提升電子遷移率4。薄膜沉積核心特
2025-08-11 14:40:061536 
實(shí)驗(yàn)名稱：量子點(diǎn)薄膜的非接觸無(wú)損原位檢測(cè) 實(shí)驗(yàn)內(nèi)容：量子點(diǎn)薄膜作為核心功能層，在發(fā)光二極管、顯示器等多種光電器件中起著關(guān)鍵作用。量子點(diǎn)薄膜厚度的不均勻性必然會(huì)影響器件的整體光電特性。然而，傳統(tǒng)的方法
2025-08-07 11:33:07396 
在塑料成型領(lǐng)域，注塑制品的質(zhì)量控制至關(guān)重要。然而，塑料注塑過(guò)程中出現(xiàn)的缺陷不僅影響產(chǎn)品的外觀，還可能降低其功能性能。這些缺陷的產(chǎn)生原因復(fù)雜多樣，傳統(tǒng)的檢測(cè)方法往往難以應(yīng)對(duì)復(fù)雜多變的檢測(cè)需求，尤其是在
2025-08-05 17:52:08697 半導(dǎo)體測(cè)量設(shè)備主要用于監(jiān)測(cè)晶圓上膜厚、線寬、臺(tái)階高度、電阻率等工藝參數(shù)，實(shí)現(xiàn)器件各項(xiàng)參數(shù)的準(zhǔn)確控制，進(jìn)而保障器件的整體性能。橢偏儀主要用于薄膜工藝監(jiān)測(cè)，基本原理為利用偏振光在薄膜上、下表面的反射
2025-07-30 18:03:241129 表面增強(qiáng)拉曼散射SERS技術(shù)在痕量檢測(cè)中具有獨(dú)特優(yōu)勢(shì)，但其性能依賴于活性基底的形貌精度。ZnO作為一種新型半導(dǎo)體薄膜材料，因其本征微米級(jí)表面粗糙度通過(guò)在其表面覆蓋一層貴金屬Au，能夠大大地提升
2025-07-28 18:04:53699 濟(jì)南祥控自動(dòng)化設(shè)備有限公司自主研制的近紅外水分檢測(cè)儀XKCON-NIR-MA-FV根據(jù)近紅外波長(zhǎng)會(huì)被水分子吸收的原理，通過(guò)分析某特定波長(zhǎng)的近紅外能量變化，能夠精確檢測(cè)絕緣薄膜極其微量的水分含量變化。
2025-07-25 17:35:14417 
在微電子制造與光伏產(chǎn)業(yè)中，大面積薄膜的均勻性與質(zhì)量直接影響產(chǎn)品性能。傳統(tǒng)薄膜表征方法（如濺射深度剖析、橫截面顯微鏡觀察）雖能提供高精度數(shù)據(jù)，但測(cè)量范圍有限且效率較低，難以滿足工業(yè)級(jí)大面積表面的快速
2025-07-22 09:53:501277 薄膜結(jié)構(gòu)在半導(dǎo)體制造中扮演著至關(guān)重要的角色，廣泛應(yīng)用于微電子器件、光學(xué)涂層、傳感器等領(lǐng)域。隨著半導(dǎo)體技術(shù)的不斷進(jìn)步，對(duì)薄膜結(jié)構(gòu)的檢測(cè)精度和效率提出了更高的要求。傳統(tǒng)的檢測(cè)方法，如橢圓偏振法、反射
2025-07-22 09:53:301528 隨著物聯(lián)網(wǎng)(IoT)和人工智能(AI)驅(qū)動(dòng)的半導(dǎo)體器件微型化，對(duì)多層膜結(jié)構(gòu)的三維無(wú)損檢測(cè)需求急劇增長(zhǎng)。傳統(tǒng)橢偏儀僅支持逐點(diǎn)膜厚測(cè)量，而白光干涉法等技術(shù)難以分離透明薄膜的多層反射信號(hào)。本文提出一種單次
2025-07-21 18:17:24699 在工業(yè)制造領(lǐng)域，檢測(cè)設(shè)備的更新?lián)Q代對(duì)于提升產(chǎn)品質(zhì)量和生產(chǎn)效率至關(guān)重要。隨著科技的飛速發(fā)展，傳統(tǒng)的氣密性檢測(cè)方法已經(jīng)難以滿足現(xiàn)代工業(yè)對(duì)于高精度、高效率的需求。因此，放棄老舊設(shè)備，擁抱電磁閥氣密性檢測(cè)
2025-07-19 13:47:24298 
CMP是半導(dǎo)體制造中關(guān)鍵的平坦化工藝，它通過(guò)機(jī)械磨削和化學(xué)腐蝕相結(jié)合的方式，去除材料以實(shí)現(xiàn)平坦化。然而，由于其復(fù)雜性，CMP工藝中可能會(huì)出現(xiàn)多種缺陷。這些缺陷通常可以分為機(jī)械、化學(xué)和表面特性相關(guān)的類別。
2025-07-18 15:14:332299 電子發(fā)燒友網(wǎng)為你提供()表面貼裝混頻器/檢測(cè)器肖特基二極管相關(guān)產(chǎn)品參數(shù)、數(shù)據(jù)手冊(cè)，更有表面貼裝混頻器/檢測(cè)器肖特基二極管的引腳圖、接線圖、封裝手冊(cè)、中文資料、英文資料，表面貼裝混頻器/檢測(cè)器肖特基二極管真值表，表面貼裝混頻器/檢測(cè)器肖特基二極管管腳等資料，希望可以幫助到廣大的電子工程師們。
2025-07-17 18:32:15
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2025-07-17 18:31:22
。這些薄膜電池可以連接到可穿戴設(shè)備和醫(yī)療生物傳感器，并貼合患者的身體，以獲得最大的舒適度。許多印刷電池?zé)o法達(dá)到無(wú)線傳輸數(shù)據(jù)所需的峰值電流水平。該電池的層疊結(jié)構(gòu)可降低內(nèi)阻，提高峰值電流并實(shí)現(xiàn)無(wú)線通信
2025-07-15 17:53:47
電機(jī)氣密性檢測(cè)關(guān)乎設(shè)備安全與功能完整，但檢測(cè)中常因技術(shù)與管理問(wèn)題致結(jié)果失真，引發(fā)電機(jī)故障。本文梳理五大核心缺陷并提出六步閉環(huán)解決方案，為行業(yè)提供標(biāo)準(zhǔn)化框架：一、五大典型缺陷密封件與緊固件失效：密封件
2025-07-11 14:51:57449 
在合適的光源條件下，連接了多個(gè)相機(jī)的POC系列能夠成功檢測(cè)到隨機(jī)故意放置在產(chǎn)線上的有缺陷的瓶裝飲料（這些缺陷包括：液位過(guò)高或過(guò)低，瓶蓋未正確擰緊，標(biāo)簽打印錯(cuò)誤和瓶中液體有雜質(zhì)/沉淀物）
2025-07-09 14:28:12481 
使用完畢后，需用干凈柔軟的布擦拭設(shè)備的外觀，清除表面的灰塵和污漬。對(duì)于檢測(cè)探頭等關(guān)鍵部位，要使用專用的清潔工具進(jìn)行清理，防止雜質(zhì)影響檢測(cè)精度。同時(shí)，注意保持檢測(cè)腔
2025-07-07 11:14:48675 
氧化硅薄膜和氮化硅薄膜是兩種在CMOS工藝中廣泛使用的介電層薄膜。
2025-06-24 09:15:231749 
直線度、直線度誤差、外徑、橢圓度、翹頭、翹尾等信息，一機(jī)多用。
配備測(cè)控軟件，智能分析：在線直線度測(cè)量?jī)x配備測(cè)控軟件系統(tǒng)，除顯示檢測(cè)計(jì)算的各種信息外，還有多種分析圖表，如趨勢(shì)圖、波動(dòng)圖、缺陷圖等，還能
2025-06-03 15:56:32
根據(jù)ISO101101標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定，允許通過(guò)“5/y*x”參數(shù)來(lái)定義光學(xué)元件側(cè)面的最大缺陷尺寸：
? \"x\"表示缺陷對(duì)應(yīng)正方形的邊長(zhǎng)：例如標(biāo)注5/0.016表示允許的缺陷面積
2025-06-03 08:51:27
在半導(dǎo)體制造領(lǐng)域，晶圓堪稱核心基石，其表面質(zhì)量直接關(guān)乎芯片的性能、可靠性與良品率。
2025-05-29 16:00:452842 
薄膜電弱點(diǎn)測(cè)試儀在薄膜生產(chǎn)、質(zhì)檢等環(huán)節(jié)起著關(guān)鍵作用，用于檢測(cè)薄膜存在的針孔、裂紋等電弱點(diǎn)缺陷。然而在實(shí)際使用過(guò)程中，可能會(huì)遇到各種問(wèn)題影響檢測(cè)效率與準(zhǔn)確性。以下為薄膜電弱點(diǎn)測(cè)試儀常見(jiàn)問(wèn)題及對(duì)應(yīng)
2025-05-29 13:26:04491 
、機(jī)器視覺(jué)測(cè)寬、雙目立體視覺(jué)測(cè)寬、激光測(cè)寬等幾種類型。
無(wú)損檢測(cè)
以上介紹的幾種測(cè)量原理都是非接觸式無(wú)損檢測(cè)，這也就是說(shuō)其測(cè)頭不與被測(cè)物表面接觸，減少了劃傷板材的可能，去除了板材形變帶來(lái)的檢測(cè)不準(zhǔn)
2025-05-22 14:56:10
在現(xiàn)代工業(yè)制造中，堆焊技術(shù)廣泛應(yīng)用于機(jī)械、能源、化工、航空航天等領(lǐng)域，用于修復(fù)磨損部件或增強(qiáng)工件表面性能。然而，傳統(tǒng)堆焊過(guò)程的質(zhì)量控制主要依賴人工經(jīng)驗(yàn)或焊后檢測(cè)，難以實(shí)現(xiàn)實(shí)時(shí)監(jiān)控，導(dǎo)致缺陷發(fā)現(xiàn)滯后
2025-05-15 17:34:38625 
CVD 技術(shù)是一種在真空環(huán)境中通過(guò)襯底表面化學(xué)反應(yīng)來(lái)進(jìn)行薄膜生長(zhǎng)的過(guò)程，較短的工藝時(shí)間以及所制備薄膜的高致密性，使 CVD 技術(shù)被越來(lái)越多地應(yīng)用于薄膜封裝工藝中無(wú)機(jī)阻擋層的制備。
2025-05-14 10:18:571205 
隨著工業(yè)檢測(cè)精度要求的不斷提升，傳統(tǒng)機(jī)器視覺(jué)技術(shù)逐漸暴露出對(duì)非可見(jiàn)光物質(zhì)特性識(shí)別不足、復(fù)雜缺陷檢出率低等局限性。高光譜相機(jī)憑借其獨(dú)特的光譜分析能力，為工業(yè)檢測(cè)提供了革命性的解決方案。以下結(jié)合中達(dá)瑞
2025-04-23 16:36:49787 中圖儀器WD4000系列半導(dǎo)體晶圓表面形貌量測(cè)設(shè)備通過(guò)非接觸測(cè)量，將晶圓的三維形貌進(jìn)行重建，強(qiáng)大的測(cè)量分析軟件穩(wěn)定計(jì)算晶圓厚度，TTV，BOW、WARP、在高效測(cè)量測(cè)同時(shí)有效防止晶圓產(chǎn)生劃痕缺陷
2025-04-21 10:49:55
實(shí)現(xiàn)了對(duì)硅異質(zhì)結(jié)太陽(yáng)能電池中薄膜厚度的快速檢測(cè)和分析，對(duì)提高太陽(yáng)能電池生產(chǎn)質(zhì)量控制具有重要意義。研究背景MillennialSolar硅異質(zhì)結(jié)太陽(yáng)能電池（SHJ）
2025-04-21 09:02:50974 
在傳統(tǒng)的線棒管材生產(chǎn)過(guò)程中，抽樣檢測(cè)的滯后性與隨機(jī)性導(dǎo)致質(zhì)量隱患頻發(fā)，漏檢、誤判造成的經(jīng)濟(jì)損失高達(dá)行業(yè)總成本的5%-10%。在線測(cè)徑儀憑借全流程自動(dòng)化檢測(cè)技術(shù)，以每秒2000次的高頻測(cè)量能力，實(shí)現(xiàn)棒
2025-04-17 14:14:24
ITO薄膜的表面粗糙度與厚度影響著其產(chǎn)品性能與成本控制。優(yōu)可測(cè)亞納米級(jí)檢測(cè)ITO薄膜黃金參數(shù)，幫助廠家優(yōu)化產(chǎn)品性能，實(shí)現(xiàn)降本增效。
2025-04-16 12:03:19824 
PO系列機(jī)床在線檢測(cè)分中測(cè)頭是機(jī)床加工中的輔助測(cè)量設(shè)備，可以針對(duì)尺寸偏差自動(dòng)進(jìn)行機(jī)床及刀具的補(bǔ)償，加工精度高。不需要工件來(lái)回運(yùn)輸和等待時(shí)間，能自動(dòng)測(cè)量、自動(dòng)記錄、自動(dòng)校準(zhǔn)，達(dá)到降低人力成本、提高機(jī)床
2025-04-09 17:33:57
波峰焊接是一種復(fù)雜的工藝過(guò)程，涉及到金屬表面、熔融焊料、空氣等多種因素。焊接質(zhì)量受到多種因素的影響，如印制板、元器件、焊料、焊劑、焊接溫度、時(shí)間等工藝參數(shù)以及設(shè)備條件等。
因此，要獲得一個(gè)優(yōu)良的焊接
2025-04-09 14:44:46
實(shí)驗(yàn)名稱：基于LDR振型的損傷檢測(cè)方法實(shí)驗(yàn) 研究方向：隨著科技的不斷進(jìn)步，材料中的腐蝕、分層等缺陷是導(dǎo)致結(jié)構(gòu)剛度下降、破壞失效的主要原因。為保證結(jié)構(gòu)的安全性與可靠性，對(duì)其進(jìn)行無(wú)損檢測(cè)是重要的。首先
2025-03-24 11:12:18672 
薄膜外延生長(zhǎng)是一種關(guān)鍵的材料制備方法，其廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體器件、光電子學(xué)和納米技術(shù)領(lǐng)域。
2025-03-19 11:12:232318 
采用基于LIBS技術(shù)的在線分析儀對(duì)銅尾礦中銅元素含量進(jìn)行了在線檢測(cè)應(yīng)用研究。通過(guò)分析20個(gè)銅尾礦樣品中銅元素含量化驗(yàn)室離線檢測(cè)值與在線檢測(cè)值，滿足銅尾礦銅回收率的判斷需要，可為銅熔煉渣浮選加工提供指導(dǎo)。
2025-03-17 17:08:49851 
在嵌入式系統(tǒng)與安全關(guān)鍵領(lǐng)域，如航空航天、軌道交通、自動(dòng)駕駛、醫(yī)療設(shè)備，代碼缺陷可能引發(fā)災(zāi)難性后果。傳統(tǒng)靜態(tài)分析僅能通過(guò)源代碼語(yǔ)法、結(jié)構(gòu)和編碼規(guī)范發(fā)現(xiàn)問(wèn)題，而復(fù)雜的系統(tǒng)級(jí)交互、多線程并發(fā)及邊界條件
2025-03-04 14:43:34693
技術(shù)里程碑
標(biāo)準(zhǔn)制定者 ：主導(dǎo)3項(xiàng)特高壓檢測(cè)國(guó)標(biāo)修訂，專利布局覆蓋變頻諧振、智能診斷等核心技術(shù)?。
工程驗(yàn)證 ：在1000kV武漢—黃石—南昌工程中，首創(chuàng)特高頻局放檢測(cè)技術(shù)，缺陷識(shí)別準(zhǔn)確率達(dá)98
2025-02-28 10:12:37
本文論述了芯片制造中薄膜厚度量測(cè)的重要性，介紹了量測(cè)納米級(jí)薄膜的原理，并介紹了如何在制造過(guò)程中融入薄膜量測(cè)技術(shù)。
2025-02-26 17:30:092660 
X-Ray檢測(cè)設(shè)備可以檢測(cè)PCB（電路板）的多種內(nèi)部及外部缺陷，如果按照區(qū)域區(qū)分的話，主要能觀測(cè)到一下幾類缺陷： 焊接缺陷： 空洞（Voiding）：焊點(diǎn)內(nèi)部出現(xiàn)的空氣或其他非金屬物質(zhì)形成的空隙
2025-02-08 11:36:061166 薄膜電容相對(duì)來(lái)講，都不能耐過(guò)高的溫度，以科雅的薄膜電容為例，粉包型的一般可以耐105℃高溫，塑膠外殼包封的盒裝薄膜電容可以耐110℃高溫，薄膜電容能做到120度嗎？
2025-02-08 11:22:301113 本文介紹了CVD薄膜質(zhì)量的影響因素及故障排除。 CVD薄膜質(zhì)量影響因素 以下將以PECVD技術(shù)沉積薄膜作為案例，闡述影響薄膜品質(zhì)的幾個(gè)核心要素。 PECVD工藝質(zhì)量主要受氣壓、射頻能量、襯底溫度
2025-01-20 09:46:473313 
，是基于光學(xué)原理來(lái)對(duì)焊接生產(chǎn)中遇到的常見(jiàn)缺陷進(jìn)行檢測(cè)的設(shè)備。它使用攝像頭拍攝PCB上的元件和焊點(diǎn)，并將其與預(yù)設(shè)的標(biāo)準(zhǔn)圖像進(jìn)行比對(duì)，從而發(fā)現(xiàn)任何差異或缺陷。 二、AOI在回流焊中的應(yīng)用 在回流焊過(guò)程中，AOI主要用于檢測(cè)SMT元件的焊接質(zhì)量。它可以檢測(cè)出多種焊接缺陷，如連錫、少
2025-01-20 09:33:461451 不銹鋼管應(yīng)用場(chǎng)景很多，在線直線度測(cè)量?jī)x是保障其在各種應(yīng)用中直線度（平直度、彎曲度、直度）尺寸合格的重要設(shè)備。它主要有2種應(yīng)用方法：先檢測(cè)，發(fā)現(xiàn)不合格品后進(jìn)行矯直；先矯直，矯直后的產(chǎn)品進(jìn)行檢測(cè)，不合格
2025-01-16 14:16:12
濟(jì)南祥控自動(dòng)化設(shè)備有限公司生產(chǎn)的在線式近紅外水分檢測(cè)儀（型號(hào)：XKCON-NIR-MA-01）基于不同成分對(duì)近紅外光的吸收特性不同原理研制
2025-01-15 15:39:26
，TTV，BOW、WARP、在高效測(cè)量測(cè)同時(shí)有效防止晶圓產(chǎn)生劃痕缺陷。 WD4000半導(dǎo)體晶圓幾何表面形貌檢測(cè)設(shè)備可廣泛應(yīng)用于襯底制造、晶圓制造、及封裝工藝檢
2025-01-06 14:34:08
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