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單通道系統(tǒng) - 利用測試排序儀器降低測試成本

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2018 NI半導(dǎo)體測試技術(shù)創(chuàng)新論壇 - 南京站

針對于RFIC、ADC等混合信號芯片探討如何通過PXI平臺化方法降低從實驗室到量產(chǎn)測試成本、提高測試效率等,NI與合作伙伴,華興源創(chuàng),全球儀器,博達微科技共同邀請您參與此次研討會,共建良好半導(dǎo)體測試生態(tài)體系。
2018-08-26 09:14:006249

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馬自達使用軟件定義的自動化測試系統(tǒng),推進汽車的電氣化,并且降低了90%的測試成本

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2020-01-06 10:45:001325

如何實現(xiàn)以軟件為核心設(shè)計模塊化儀器測試系統(tǒng)

如今,伴隨著測試需求的多樣化和復(fù)雜化,軟件定義的儀器系統(tǒng)已成為測試測量行業(yè)最重要的發(fā)展趨勢和主流技術(shù)。軟件定義的模塊化系統(tǒng)不僅可以幫助用戶在提高效率的同時降低測試成本,還能滿足未來不斷升級擴展的需要。
2020-08-18 09:30:252679

干貨:波速測試儀器測試方法和步驟

剪切波波速是描述土體工程性質(zhì)的一項重要指標(biāo),能很好地反映巖土的動力學(xué)特性,在工程建設(shè)中應(yīng)用廣泛。波速測試儀器,是儀器利用錘擊、電火花或爆炸等作為激發(fā)震源,勘探深度從幾米到百多米,使用延時功能,可保證深部地層振動信號的測試精度。
2020-09-19 11:28:526182

iPhone 12 Pro的屏幕測試成績流出

國際知名的評測機構(gòu)DxOMark近期在持續(xù)的放出iPhone12系列的測試成績,繼iPhone 12的音頻測試后,DxOMark公布對iPhone 12 Pro的屏幕測試成績。整體來看,iPhone 12 Pro的屏幕測試結(jié)果還是不錯的,目前排名第四,被三星和1+的部分機型所超越。
2020-11-12 11:30:352750

羅德與施瓦茨推出新的低成本多DUT同時測試方案

為了滿足批量生產(chǎn)的需求,用戶需要布置很多工位來調(diào)試這些器件的S參數(shù)指標(biāo)。傳統(tǒng)的做法是在每個工位獨立配置一臺二端口VNA,這樣整個車間會需求大量的VNA,導(dǎo)致用戶的測試成本長期居高不下。如何進一步降低測試成本,成為用戶當(dāng)前最大的挑戰(zhàn)
2021-02-08 09:34:002426

基于多目標(biāo)優(yōu)化的軟件測試優(yōu)先級排序方法

回歸測試是軟件測試中使用最頻繁、成本最昂貴的測試方法。測試用例優(yōu)先級排序是一種能夠有效降低回歸測試成本的方法,其目的是通過優(yōu)先執(zhí)行高級別的測試用例來達到提升軟件故障檢測的能力。文中提岀了一種
2021-05-28 15:26:506

2021 OPPO開發(fā)者大會 云真機為開發(fā)者降低不同機型測試成本

2021年OPPO開發(fā)者大會趙梁:云真機為開發(fā)者降低不同機型測試成本,極大提升研發(fā)效率。
2021-10-27 15:21:383169

自主的RF測量助手可降低測試成本并提高準(zhǔn)確性

?自主射頻測量助手可在多個溫度范圍內(nèi)實現(xiàn)完全自主,免提的射頻校準(zhǔn)和測量。它具有獨特的Contact Intelligence?技術(shù),可降低測試成本并以提高的準(zhǔn)確性和縮短的設(shè)計周期縮短產(chǎn)品上市時間
2022-06-21 14:55:081345

CIS芯片測試到底怎么測,CIS測試方案詳解

如何滿足不同測試需求,減少測試成本、加快測試時間和產(chǎn)品上市時間?
2022-07-05 15:02:377964

電源測試系統(tǒng)-ATE電源測試系統(tǒng)-ACDC電源模塊測試系統(tǒng)

1、 系統(tǒng)優(yōu)勢 ◆系統(tǒng)可集成用戶原有測試儀器測試成本更低,系統(tǒng)兼容多廠家品牌儀器型號; ◆根據(jù)用戶的需求和測試環(huán)境定制化開發(fā),系統(tǒng)具有很強的兼容性和可擴展性; ◆智能匹配儀器型號,操作方便簡單
2022-08-04 10:21:463861

使用校準(zhǔn)降低衛(wèi)星設(shè)計和測試成本

測試是任何衛(wèi)星計劃的重要組成部分。提高總程序成本的一種方法是降低測試成本。取消測試似乎很誘人,但設(shè)備故障的風(fēng)險會顯著增加。保持儀器和系統(tǒng)的準(zhǔn)確性可降低測試成本,并以多種方式縮短程序進度。例如,衛(wèi)星
2022-11-16 15:31:071355

細數(shù)LabVIEW國產(chǎn)測試測量軟件ATECLOUD節(jié)約測試時間的5個證明

洞察,挖掘數(shù)據(jù)價值,提升測試系統(tǒng),從而將產(chǎn)品更快推向市場。ATECLOUD智能云測試工具比傳統(tǒng)測試工具節(jié)省成本高達90%,并能大幅提高測試成效。 1、一個軟件,控制所有的儀器 使用ATECLOUD連接來自任意供應(yīng)商的儀器,并實現(xiàn)儀器自動化。您還可以使用AT
2022-11-28 17:11:542769

PXI模塊常適用于移動電話的調(diào)試與測試

測試成本中應(yīng)避免的支出。移動電話的生產(chǎn)測試成本可能會占項目總成本較大的一部分。在移動電話測試中,決定其參數(shù)和功能測試的程度是相當(dāng)復(fù)雜的,必須對生產(chǎn)線變化以及在測試過程和設(shè)計成熟時加以評估。以調(diào)試為
2023-02-01 10:55:17983

是德科技推出光測試解決方案,助力收發(fā)信機制造商縮短測試時間、降低測試成本

2023年4月6日,是德科技(Keysight Technologies,Inc.)日前宣布,推出一款全新 FlexOTO 光測試優(yōu)化軟件和解決方案。該解決方案可降低多通道接口測試的總體測試成本
2023-04-06 18:00:011752

自動化測試工具有哪些?

自動化測試工具是指能夠自動執(zhí)行測試任務(wù)、記錄測試結(jié)果和產(chǎn)生測試報告的軟件工具,其主要目的是用來提高測試效率、降低測試成本、提高測試結(jié)果的準(zhǔn)確性和可重復(fù)性。
2023-04-18 14:40:5614719

本周五|TSO.ai:打通AI應(yīng)用“最后一公里”,降低芯片測試成本

原文標(biāo)題:本周五|TSO.ai:打通AI應(yīng)用“最后一公里”,降低芯片測試成本 文章出處:【微信公眾號:新思科技】歡迎添加關(guān)注!文章轉(zhuǎn)載請注明出處。
2023-06-12 17:45:03762

使用新型MEMS開關(guān)加快測試能力并提高系統(tǒng)產(chǎn)出

單插入測試,以幫助進行DC參數(shù)測試和高速數(shù)字測試,從而降低測試成本,簡化數(shù)字/RF片上系統(tǒng)(SoC)的測試流程。
2023-06-14 15:04:511133

SPEA:MEMS傳感器測試有望實現(xiàn)低成本、高效益?

MEMS傳感器的分類復(fù)雜,全球每年消耗的MEMS傳感器數(shù)以億計,這些MEMS傳感器的被廣泛應(yīng)用于智能手機、汽車電子、智能制造等領(lǐng)域。由于不同MEMS器件的功能和性能都存在差異,以往的測試方案都是采用定制化的儀器。造價高昂的測試方案導(dǎo)致MEMS傳感器廠商的測試成本提升,最終由消費者買單。
2022-09-13 14:48:221998

基于新型MEMS開關(guān)提高SoC測試能力及系統(tǒng)產(chǎn)出

本文將介紹ADGM1001 SPDT MEMS開關(guān)如何助力一次性通過單插入測試,以幫助進行DC參數(shù)測試和高速數(shù)字測試,從而降低測試成本,簡化數(shù)字/RF片上系統(tǒng)(SoC)的測試流程。
2023-07-10 15:42:531049

新品 | 聯(lián)訊儀器 PXIe 精密源表S2013C,高速高精度測量!

聯(lián)訊儀器PXIe源測量單元(SMU)集成高精度源和測量單元,可利用PXIe源測量單元構(gòu)建高密度并行測試系統(tǒng),以滿足大規(guī)模半導(dǎo)體集成電路的高通道密度,并增加配置的靈活性,最大化測試效率,降低測試成本
2023-07-18 00:00:001609

虹科電源測試系統(tǒng),實現(xiàn)更高的測試密度和更低的測試成本

虹科電源測試系統(tǒng)ATE升級實現(xiàn)更高的測試密度和更低的測試成本01高密度精度測量單元HK-HDPMU在單板上提供多達192個額外的獨立參數(shù)測量單元(PMU)通道。虹科解決方案將增加并行測試,而無需創(chuàng)建
2023-09-04 16:22:231123

電源ATE測試助力提高短路保護測試效率,提供軟硬件解決方案

電源ATE測試在短路保護測試中不僅可以提高測試效率,而且還提供智能數(shù)據(jù)分析,幫助短路測試實現(xiàn)高精準(zhǔn)度,也為企業(yè)降低測試成本
2023-09-11 18:21:191410

什么是ATE測試?ATE測試的工作內(nèi)容和要求?

測試過程是否有誤?制造過程是否存在缺陷?設(shè)計是否存在偏差?用戶提出的設(shè)計需求是否存在矛盾? 隨著芯片設(shè)計的發(fā)展,芯片內(nèi)部的集成度越來越高,芯片測試也面臨著挑戰(zhàn):如何加大測試覆蓋率?如何在有效時間內(nèi)進行測試并控制測試成本
2023-10-27 12:43:0513422

什么是電源功能測試?電源測試系統(tǒng)有什么測試優(yōu)勢?

電源功能測試的不同內(nèi)容以及用戶需求,納米軟件會進行評估選擇最合適的硬件設(shè)備以及軟件的定制開發(fā),提升測試效能,減少測試成本
2023-11-03 15:50:225380

如何降低開發(fā)測試成本?華為云這個寶藏工具值得一試!

在當(dāng)前的市場環(huán)境下,企業(yè)面臨著利潤下滑、業(yè)務(wù)收縮的困境,如何降低成本,提高效率,成為了企業(yè)的當(dāng)務(wù)之急。而企業(yè)在 IT 開發(fā)過程中,服務(wù)器硬件成本往往占據(jù)了很大的比重,如何有效地降低測試成本也是企業(yè)
2023-11-12 17:53:36811

ATECLOUD智能自動化電源測試系統(tǒng)測試新能源汽車電源

ATECLOUD是智能自動化新能源汽車電源測試系統(tǒng),打破測試程序繁瑣、技術(shù)要求高、無法隨之更新兼容、測試成本高等測試難點,為用戶量身打造新能源汽車電源測試設(shè)備并定制一體化測試方案,降低測試成本,實現(xiàn)高效能測試。系統(tǒng)內(nèi)含的數(shù)據(jù)洞察功能進行全方位數(shù)據(jù)分析,幫助用戶用數(shù)據(jù)驅(qū)動生產(chǎn)力。
2023-12-05 14:57:321032

如何提高eCall碰撞測試成功率

eCall是在汽車碰撞場景下完成,具有不可重復(fù)性,提高eCall碰撞測試成功功率對其測試認(rèn)證尤為重要。通過掃頻、首先完成零部件測試、增加濾波器、同步首先完成、側(cè)碰首先完成、保證上行鏈接、多次重復(fù)點測等方式提高eCall碰撞成功率。
2024-08-16 16:16:382039

脈沖測試儀器的使用技巧

在電子工程領(lǐng)域,脈沖測試儀器是不可或缺的工具,它們幫助工程師評估和驗證電子系統(tǒng)在各種脈沖條件下的性能。 1. 了解脈沖測試儀器的基本原理 在開始使用脈沖測試儀器之前,了解其工作原理是至關(guān)重要的。脈沖
2024-11-26 10:01:031737

密封測試儀:提高測試效率,降低成本

降低成本方面表現(xiàn)出顯著優(yōu)勢。通過集成先進的傳感器技術(shù)和智能控制系統(tǒng),自動密封測試儀可以快速準(zhǔn)確地檢測產(chǎn)品的氣密性。與傳統(tǒng)的手動測試方法相比,密封測試儀可以大大縮短
2025-03-07 11:52:32743

現(xiàn)代晶圓測試:飛針技術(shù)如何降低測試成本與時間

帶來了重大轉(zhuǎn)變,針對復(fù)雜測試需求提供適應(yīng)性強且高效的解決方案,同時有利于降低單個芯片的測試成本。本文將解析影響晶圓測試的最新趨勢,并探討飛針測試技術(shù)如何改變半導(dǎo)體制
2025-07-17 17:36:53705

降低測試成本:Tektronix探頭靈活租賃方案

泰克探頭是泰克科技(Tektronix)推出的一系列測試測量附件,主要用于電子測試領(lǐng)域,如示波器、信號源等設(shè)備,以實現(xiàn)對電信號的高精度測量和分析。
2025-08-19 16:54:10524

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