半導體風口已來，測試技術如何應對？

在物聯網、毫米波、硅光子、人工智能等技術的推動下，國家大力發展半導體產業，中國半導體行業正迎來新一輪發展機遇。2018年3月28日，財政部等四部門發布了《關于集成電路生產企業有關企業所得稅政策問題的通知》，規定符合條件的集成電路生產企業，最多可享受“五免五減半”企業所得稅。2018年4月25日，工信部表示國家集成電路（IC）產業投資基金正在募集第二期資金。國家對半導體行業投入真金白銀的扶持。

而在需求端，智慧家居、智能汽車、智慧工業等概念如火如荼，智能手機的激烈競爭導致手機廠商亟待在集成電路和傳感器方面實現創新和突破，這些中國集成電路企業的客觀環境讓半導體企業看到美好前景的同時，也對半導體器件在性能、產能等方面提出了更高的要求。如何大幅度加快研發進度，縮短產品進入市場的時間，如何提高半導體器件的測試效率，有效降低測試成本，是所有半導體從業公司重點關注的問題。

在半導體產業大發展的同時，作為半導體行業關鍵一環的半導體測試需求也將日益復雜。隨著產品集成度提升，一方面，傳統ATE量產測試難以滿足需求；另一方面，需要借鑒實驗室數據才能完成的量產測試，而將產線和實驗室數據做一致性比對將耗費大量人力、時間。NI大中華區總經理陳健忠指出：“當前半導體行業發展的主流即高集成度，產品發展強調SoC (System on Chip)和系統級封裝（SiP），高集成度進一步導致測試復雜性的提高；同時，實驗室測試和量產測試中間的分界愈發模糊，半導體測試領域融合成趨勢，推動跨界勢在必行！”

目前，全行業無不在努力對標芯片更高性能、更小尺寸、更低成本的要求，努力打好創新技術攻堅突破戰，而這也使半導體行業從業者面臨更加殘酷的市場競爭以及更加迫切的技術突破需求，半導體測試技術亟待突破！

如何獲取更多技術突破思路，可能只是一場論壇的距離。

NI半導體測試技術創新論壇，關注探討如何在實驗室V&V驗證、晶圓及封裝測試中進一步降低成本、提高上市時間，針對RFIC、ADC等混合信號芯片，探討如何通過PXI平臺化方法降低從實驗室到量產的測試成本、以及提高測試效率等。論壇亮點議題如下：

議題一、從實驗室測試臺到量產ATE，NI平臺化方法突圍半導體測試市場

芯片復雜度和集成度在近年逐漸攀升，高集成度芯片讓測試項目變得更加復雜，SiP等新封裝形式也需要用新的測試手段來應對。針對不論是實驗室V&V，到晶圓級測試，再到封裝測試，平臺化測試系統方法開啟了全新思路。本議題講討論如何通過平臺化方法降低測試成本，提升效率，讓芯片測試不再困難。

議題二、5G NR射頻前端及毫米波IC測試技術

現代的射頻前端模塊越來越多地將更多模塊（如功率放大器，低噪聲放大器（LNA），雙工器和天線開關）封裝到單個組件中。而前端模塊對多模多頻段的支持也增加了整個測試的復雜性。

NI提供從射頻前端模塊測試，分立射頻元件，射頻收發機到射頻MCU的領先RFIC測試解決方案。基于模塊化平臺設計，NI RFIC解決方案能輕松實現從實驗室特征分析到量產測試的快速轉換，大幅減少測試時間和成本。NI自早期的5G原型探索設計以來深度參與合作的NI 繼續為商用化5G芯片保駕護航，從已經sub-6GHz到毫米波，我們也將同時深入探討5G NR測試關鍵技術，包括sub-6GHz 射頻前端測試技巧，毫米波OTA、波束成形測試等。

議題三、GIT全球儀器： 基于模塊化儀器的系統級PA驗證方案

對于RF芯片，PA（功率放大器）是主導RF性能的關鍵部件。 設計公司必須完全了解PA的系統級行為，尤其是針對于EVM和ACPR。 PA驗證系統支持WiFi 802.11a / b / g / n / ac / ax和LTE的系統級測試。 在本議題中，我們將探討PA測試的高級技巧，并演示GIT全球儀器開發的SPTS-SEMI平臺，可以幫助用戶快速設置所有測試項目，并作為單個測試計劃保存，以便將來重復使用。 此外，SPTS-SEMI支持DEVM（動態EVM）測量和DPD（數字預失真）功能。 DEVM用于評估PA在啟用時以低EVM輸出RF信號的速度。 通過DPD測量，它可以展示PA的EVM和ACPR性能以滿足系統要求。

議題四、高精度、高速ADC/DAC關鍵測試技術

高精度、高速數據轉換芯片測試對于測試儀器的成本居高不下，價格昂貴的信號源和測試時間一直無法得到有效的平衡。本議題將介紹如何巧用儀器，模塊化儀器方法將儀器有效整合，通過PXI高精度同步與定時技術及高性能儀器，并在軟件上快速實現INL、DNL及動態特性分析，快速實現實驗室ADC/DAC芯片搭建。

議題五、博達微科技：基于機器學習的參數化測試與分析系統

博達微自主研發的基于深度學習算法的behavior-aware（行為感知）的測試技術和信號穩定時間預測技術應用于半導體參數化測試系統FS Pro（基于NI的SMU模塊），實現智能測試方案，實現最快的IV / CV測試與表征，最快的1 / f噪聲測量，最簡單的基于模塊化結構的可重配置設計，以及最簡單的基于統一軟件平臺的測試控制與管理。