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電子發(fā)燒友網(wǎng)>控制/MCU>瑞薩推出一款汽車測試芯片 28納米MCU內(nèi)置自測試功能增強

瑞薩推出一款汽車測試芯片 28納米MCU內(nèi)置自測試功能增強

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2018-04-16 16:03:3812

電子推出32位RX系列微控制器 將高精度模擬前端集成于MCU芯片

2019年5月28日,全球領(lǐng)先的半導(dǎo)體解決方案供應(yīng)商電子株式會社宣布推出32位RX系列微控制器(MCU)RX23E-A產(chǎn)品組,將高精度模擬前端(AFE)集成在MCU芯片上。RX23E-A
2019-05-29 10:50:261232

電子推出領(lǐng)先業(yè)界的RX系列首內(nèi)置模擬前端的微控制器產(chǎn)品組

電子推出領(lǐng)先業(yè)界的RX系列首內(nèi)置模擬前端的微控制器產(chǎn)品組
2019-07-02 14:11:522999

電子發(fā)布了業(yè)界第一款使用28nm工藝的集成閃存微控制器

繼于2015年2月28nm嵌入式閃存的工藝開發(fā)公布后,電子于2016年9月宣布與臺積電合作生產(chǎn)28nm MCU。今日向市場推出全球第一款28nm嵌入式閃存MCU,將成為電子的另個重要里程碑。電子已經(jīng)驗證了在16/14nm及下MCU產(chǎn)品上應(yīng)用鰭狀MONOS閃存技術(shù)。
2019-08-02 10:25:033501

與臺積電將合作開發(fā)28nm納米嵌入式閃存制程技術(shù)

電子與臺積電共同宣布,雙方合作開發(fā)28納米嵌入式閃存(eFlash)制程技術(shù),以生產(chǎn)支持新代環(huán)保汽車與自動駕駛汽車的微控制器(MCU)。
2019-11-29 11:13:162684

VLSI測試與可測試性設(shè)計的學(xué)習(xí)課件資料合集

VLSI測試技術(shù)導(dǎo)論, 可測試性設(shè)計, 邏輯與故障模擬,測試生成,邏輯自測試測試壓縮,邏輯電路故障診斷,存儲器測試與BIST,存儲器診斷與BISR,邊界掃描與SOC測試納米電路測試技術(shù),復(fù)習(xí)及習(xí)題
2020-10-09 08:00:001

一款芯片需要哪些測試

一款芯片最基本的環(huán)節(jié)是設(shè)計-》流片-》封裝-》測試芯片成本構(gòu)成般為人力成本20%,流片40%,封裝35%,測試5%【對于先進工藝,流片成本可能超過60%】。 測試其實是芯片各個環(huán)節(jié)中最“便宜
2021-01-02 16:40:003696

一款內(nèi)置SDRAM和MCU的RGB轉(zhuǎn)CVBS/S-Video的轉(zhuǎn)換器芯片

MS1835是一款內(nèi)置SDRAM和MCU的RGB轉(zhuǎn)CVBS/S-Video的轉(zhuǎn)換器芯片。 輸入的RGB信號經(jīng)過 3 通道的 10 位 ADC 采樣后,再進行 NTSC/PAL 的編碼,最后經(jīng)過
2021-04-08 14:43:122310

電子推出一款安全云和傳感器解決方案

隨著“云端”應(yīng)用越來越普及,數(shù)據(jù)的安全性也引起了廣泛的擔(dān)憂。為了保證傳感器數(shù)據(jù)能夠更安全地上傳至云端,電子推出一款安全云和傳感器解決方案,能夠為采用云連接的設(shè)備提供安全可靠的性能。該方案以
2021-05-17 11:29:033059

電子擴展28納米跨域汽車微控制器陣容

28納米RH850/U2B專為區(qū)和域應(yīng)用而設(shè)計,在用于動力總成的RH850/E2x系列和用于HEV/EV電機控制的RH850/C1M-Ax系列的關(guān)鍵功能基礎(chǔ)上,增加了全新加速器IP、提升了性能和安全性。
2021-11-09 16:34:131519

推出SH7216系列32-位片上Flash存儲器MCU

推出SH7216系列32-位片上Flash存儲器MCU作者:時間:2009-04-21來源:電子產(chǎn)品世界字號:?小?中?大關(guān)鍵詞:??RISC?32MCU?Flash?SuperH?  
2021-12-02 09:51:0611

關(guān)于芯片設(shè)計的前端設(shè)計實現(xiàn)

LBIST (Logic build-in-self test), 邏輯內(nèi)建自測試。和MBIST同理,在關(guān)鍵邏輯上加上自測試電路,看看邏輯cell有沒有工作正常。BIST總歸會在芯片里加入自測試邏輯,都是成本。
2022-08-29 15:33:303506

UM2986 STM32U5系列IEC 60730自測試庫用戶指南

UM2986 STM32U5系列IEC 60730自測試庫用戶指南
2022-11-22 08:21:450

一款全新通用多功能微控制器(MCU)—RL78/G15

1月12日,電子宣布,其低功耗RL78產(chǎn)品家族推出一款全新通用多功能微控制器(MCU)——RL78/G15。
2023-01-13 17:10:512508

MCU內(nèi)置LCD控制器/驅(qū)動器漫談

MCU內(nèi)置LCD控制器/驅(qū)動器漫談
2023-09-28 16:12:421794

公布下代oC和MCU計劃

還分享了即將推出的下代R-Car產(chǎn)品家族兩MCU產(chǎn)品規(guī)劃:一款為全新跨界MCU系列,旨在為下汽車E/E架構(gòu)中的域和區(qū)域電子控制單元(ECU)打造所需的高性能,這款產(chǎn)品將縮小傳統(tǒng)MCU與先進R-Car SoC間的性能差距
2023-11-09 10:49:58899

汽車功能安全芯片測試

汽車功能安全芯片測試? 汽車功能安全芯片測試是保障汽車安全性能的重要環(huán)節(jié),也是汽車產(chǎn)業(yè)發(fā)展的關(guān)鍵部分。隨著汽車智能化技術(shù)的不斷進步,車輛上搭載的各種智能功能也越來越多,這些功能倚賴于安全芯片來保障其
2023-11-21 16:10:512250

米爾電子和電子推出MPU生態(tài)開發(fā)板米派

近日,米爾電子和電子共同定義和開發(fā)了一款MPU生態(tài)開發(fā)板——米派(Remi Pi)正式上市了!在各種Pi板卡琳瑯滿目的當(dāng)下,Remi Pi是一款與眾不同的開發(fā)板,它兼顧了嚴肅產(chǎn)品開發(fā)和愛好者創(chuàng)意實現(xiàn)兩種需要。
2024-01-25 09:21:341878

MCU制程工藝邁進28nm時代,汽車行業(yè)的創(chuàng)新之路

日前宣布,公司已基于STT-MRAM的電路技術(shù)開發(fā)出具有快速讀寫能力的測試芯片。該MCU 測試芯片采用 22 納米工藝制造,包括個 10.8Mbit嵌入式 MRAM 存儲單元陣列。
2024-03-05 10:05:464213

電子推出功能強大的單芯片RZ/V2H MPU

電子針對下代機器人領(lǐng)域的需求,推出一款功能強大的單芯片RZ/V2H MPU。這款芯片電子在技術(shù)創(chuàng)新上的又重要成果,它專為具備視覺AI和實時控制功能的機器人設(shè)計,將助力機器人領(lǐng)域?qū)崿F(xiàn)更高效的性能提升。
2024-03-08 11:01:161853

電子推出通用32位RISC-V MCU R9A02G021

全球知名的半導(dǎo)體解決方案引領(lǐng)者電子近日在業(yè)界率先發(fā)布了一款基于其內(nèi)部自主研發(fā)的CPU內(nèi)核的通用32位RISC-V微控制器(MCU)——R9A02G021。盡管近年來,多家MCU供應(yīng)商紛紛加入投資
2024-03-29 09:58:401094

電子推出采用自研CPU內(nèi)核的通用32位RISC-V微控制器

全球半導(dǎo)體領(lǐng)軍企業(yè)電子宣布,該公司已率先在業(yè)界推出一款基于內(nèi)部自研CPU內(nèi)核的通用32位RISC-V微控制器(MCU)——R9A02G021。盡管近年來,多家MCU供應(yīng)商紛紛加入投資聯(lián)盟,共同
2024-03-29 10:05:211247

IAR率先支持通用RISC-V MCU,樹立行業(yè)新標準

支持通用32位RISC-V MCU,該 MCU 搭載了自研的 CPU 內(nèi)核。此次功能升級包括先進的調(diào)試功能和全面的編譯器優(yōu)化,全面融入了 Smart Configurator 工具、設(shè)計示例、詳盡的技術(shù)文檔,并支持快速原型板(FPB)。 隨著RISC-V架構(gòu)在商業(yè)領(lǐng)域的廣泛應(yīng)用,對
2024-04-03 17:00:29950

NXP正式推出了全球首5納米汽車MCU

2024年3月底,NXP正式推出了全球首5納米汽車MCU,不過NXP并未稱其為MCU,而是叫S32N55 Vehicle Super-Integration Processor,實際上它就是MCU,當(dāng)然稱其為SoC也未嘗不可。
2024-05-10 14:24:064469

DFT之MBIST存儲器內(nèi)建自測試原因

MBIST是Memory Build-In-Self Test的簡稱,意為存儲器內(nèi)建自測試
2024-05-19 09:14:263006

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