FQD1N80/FQU1N80 N-Channel QFET? MOSFET:技術特性與應用解析
引言
在電子工程領域,功率MOSFET是至關重要的元件,廣泛應用于各種電源電路和功率轉換系統中。今天我們要探討的是Fairchild Semiconductor(現屬ON Semiconductor)的FQD1N80/FQU1N80 N-Channel QFET? MOSFET,這款器件具有獨特的性能特點,適用于多種應用場景。
文件下載:FQU1N80-D.pdf
公司背景與產品變更說明
Fairchild Semiconductor現已成為ON Semiconductor的一部分。由于系統集成的需要,部分Fairchild可訂購的零件編號需要更改,以滿足ON Semiconductor的系統要求。具體來說,Fairchild零件編號中的下劃線(_)將改為破折號(-),大家可通過ON Semiconductor網站核實更新后的器件編號。
產品概述
產品描述
FQD1N80/FQU1N80是N溝道增強型功率MOSFET,采用Fairchild Semiconductor專有的平面條紋和DMOS技術制造。這種先進的MOSFET技術旨在降低導通電阻,提供卓越的開關性能和高雪崩能量強度。該器件適用于開關模式電源、有源功率因數校正(PFC)和電子燈鎮流器等應用。
產品特性
- 高耐壓與電流能力:能夠承受800V的漏源電壓,連續漏極電流在25°C時可達1.0A,100°C時為0.63A,脈沖漏極電流可達4.0A。
- 低柵極電荷:典型柵極電荷為5.5nC,有助于降低開關損耗,提高開關速度。
- 低Crss:典型值為2.7pF,可減少米勒效應,提高器件的開關性能。
- 100%雪崩測試:保證了器件在雪崩狀態下的可靠性。
產品參數詳解
絕對最大額定值
| Symbol | Parameter | FQD1N80TM / FQU1N80TU | Unit |
|---|---|---|---|
| VDSS | 漏源電壓 | 800 | V |
| ID | 漏極電流(連續,25°C) | 1.0 | A |
| ID | 漏極電流(連續,100°C) | 0.63 | A |
| IDM | 漏極電流(脈沖) | 4.0 | A |
| VGSS | 柵源電壓 | ± 30 | V |
| EAS | 單脈沖雪崩能量 | 90 | mJ |
| IAR | 雪崩電流 | 1.0 | A |
| EAR | 重復雪崩能量 | 4.5 | mJ |
| dv/dt | 峰值二極管恢復dv/dt | 4.0 | V/ns |
| PD | 功率耗散(TA = 25°C) | 2.5 | W |
| PD | 功率耗散(TC = 25°C,25°C以上降額) | 45 | W |
| 降額系數 | 0.36 | W/°C | |
| TJ, TSTG | 工作和存儲溫度范圍 | -55 to +150 | °C |
| TL | 焊接時最大引線溫度(距外殼1/8",5秒) | 300 | °C |
熱特性
| Symbol | Parameter | FQD1N80TM / FQU1N80TU | Unit |
|---|---|---|---|
| RθJC | 結到外殼的熱阻(最大) | 2.78 | °C/W |
| RθJA | 結到環境的熱阻(2盎司銅最小焊盤) | 110 | °C/W |
| RθJA | 結到環境的熱阻(1平方英寸2盎司銅焊盤) | 50 | °C/W |
電氣特性
關斷特性
- BVDSS:漏源擊穿電壓,VGS = 0V,ID = 250μA時為800V。
- ?BVDSS / ?TJ:擊穿電壓溫度系數,ID = 250μA,參考25°C時為1.0V/°C。
- IDSS:零柵壓漏極電流,VDS = 800V,VGS = 0V時最大為10μA;VDS = 640V,TC = 125°C時最大為100μA。
- IGSSF:柵體正向泄漏電流,VGS = 30V,VDS = 0V時最大為100nA。
- IGSSR:柵體反向泄漏電流,VGS = -30V,VDS = 0V時最大為 -100nA。
導通特性
- VGS(th):柵極閾值電壓,VDS = VGS,ID = 250μA時為3.0 - 5.0V。
- RDS(on):靜態漏源導通電阻,VGS = 10V,ID = 0.5A時為15.5 - 20Ω。
- gFS:正向跨導,VDS = 50V,ID = 0.5A時為0.75S。
動態特性
- Ciss:輸入電容,VDS = 25V,VGS = 0V,f = 1.0MHz時為150 - 195pF。
- Coss:輸出電容,f = 1.0MHz時為20 - 26pF。
- Crss:反向傳輸電容,典型值為2.7pF,最大值為3.5pF。
開關特性
| 參數 | 條件 | 最小值 | 典型值 | 最大值 | 單位 |
|---|---|---|---|---|---|
| td(on) | VDD = 400V,ID = 1.0A,RG = 25Ω | 10 | 30 | ns | |
| tr | 25 | 60 | ns | ||
| td(off) | 15 | 40 | ns | ||
| tf | 25 | 60 | ns | ||
| Qg | VDS = 640V,ID = 1.0A,VGS = 10V | 5.5 | 7.2 | nC | |
| Qgs | 1.1 | nC | |||
| Qgd | 3.3 | nC |
漏源二極管特性和最大額定值
- IS:最大連續漏源二極管正向電流為1.0A。
- ISM:最大脈沖漏源二極管正向電流為4.0A。
- VSD:漏源二極管正向電壓,VGS = 0V,IS = 1.0A時為1.4V。
- trr:反向恢復時間,VGS = 0V,IS = 1.0A,dIF / dt = 100A/μs時最大為300ns。
- Qrr:反向恢復電荷為0.6μC。
典型特性曲線
文檔中提供了多個典型特性曲線,包括導通區域特性、傳輸特性、導通電阻隨漏極電流和柵極電壓的變化、體二極管正向電壓隨源電流和溫度的變化、電容特性、柵極電荷特性、擊穿電壓隨溫度的變化、導通電阻隨溫度的變化、最大安全工作區、最大漏極電流隨外殼溫度的變化以及瞬態熱響應曲線等。這些曲線有助于工程師更好地了解器件在不同工作條件下的性能。
測試電路與波形
文檔還給出了多種測試電路和波形,如柵極電荷測試電路、電阻性開關測試電路、非鉗位電感開關測試電路和峰值二極管恢復dv/dt測試電路等。這些測試電路和波形為工程師進行器件測試和驗證提供了參考。
機械尺寸
文檔提供了TO252(D-PAK)和TO251(I-PAK)兩種封裝的機械尺寸圖,并提醒用戶注意圖紙可能會在無通知的情況下更改,建議訪問Fairchild Semiconductor的在線包裝區域獲取最新的封裝圖紙。
商標與免責聲明
Fairchild Semiconductor擁有眾多注冊商標和服務商標,同時提醒用戶公司保留對產品進行更改的權利,不承擔因產品應用或使用引起的任何責任,產品不授權用于生命支持系統等關鍵應用。此外,公司還強調了反假冒政策,鼓勵客戶從授權渠道購買產品。
總結
FQD1N80/FQU1N80 N-Channel QFET? MOSFET憑借其高耐壓、低柵極電荷、低Crss和高雪崩能量強度等特性,在開關模式電源、有源功率因數校正和電子燈鎮流器等應用中具有很大的優勢。工程師在設計電路時,應根據具體的應用需求,結合器件的各項參數和典型特性曲線,合理選擇和使用該器件。同時,要注意公司的商標和免責聲明,確保產品的正確使用和應用安全。大家在實際應用中是否遇到過類似MOSFET的選型和使用問題呢?歡迎在評論區分享交流。
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