廣立微（Semitronix）與國內領先的汽車電子及安全芯片供應商紫光同芯，在良率管理領域已開展近兩年深度合作。期間，廣立微DE-YMS系統憑借其快速、精準的良率損失根因定位能力，有效應對了日益復雜的芯片制造良率挑戰，顯著提升了紫光同芯的良率管理效率與水平。

DE-YMS全流程Map匯總

依托DE-YMS統一的數據底座，Map Analysis模塊高效整合了紫光同芯各類數據，最終能夠在Dashboard上直觀展示各類Map的數據對比，顯著提升了紫光同芯工程師查看各類Map的分析效率。

01多道Testtype的Map對比查看分析

02跨數據類型的Map之間的疊圖驗證

DE-YMS快速定位客退數據

RMA（客退）根因分析長期面臨數據分散、定位效率低（傳統人工追溯耗時過長）等痛點。紫光同芯工程師通過DE-YMS的RMA模塊，實現失效芯片的UID一鍵溯源至Map圖，并靈活結合CP/FT的SP數據開展多維根因分析，持續提升改進效率。

01UID批量關聯定位

02SP參數分布查看

用戶反饋

DE-YMS系統有效解決了我們長期依賴數據來源多元、格式不統一的問題。過去需人工整合多源數據，如今系統自動化接入大幅提升查詢效率。其Dashboard具備強交互性，Map與數據的動態聯動結合上Drill-down靈活鉆取分析，完全能夠滿足分析需求，為數據對比提供了更直觀的驗證手段。—紫光同芯質量部總監

關于紫光同芯

紫光同芯微電子有限公司（簡稱“紫光同芯“）是新紫光集團汽車電子與智能芯片板塊的核心企業，于2001年由清華大學微電子所國家二代居民身份證芯片研發團隊“帶土移植”成立。公司承擔了包括二代證芯片、2008年奧運會電子門票芯片、大容量高安全雙界面金融芯片、汽車域控MCU芯片等多項產業化項目，專注于汽車電子與安全芯片領域，累計出貨超過250億顆，為亞洲、歐洲、美洲、非洲的二十多個國家和地區提供產品和服務。

歷經23年的持續創新和不斷突破，紫光同芯積累了業內領先的芯片研發技術和晶圓測試能力，榮獲國家科技進步一等獎、CC EAL6+、GSMA SAS-UP、AEC-Q100 Grade1、ISO 26262 ASIL D等多項權威獎項和認證，已發展成為業界領先的芯片及解決方案提供商。

關于我們

杭州廣立微電子股份有限公司（股票代碼：301095）是領先的集成電路EDA軟件與晶圓級電性測試設備供應商，公司專注于芯片成品率提升和電性測試快速監控技術，是國內外多家大型集成電路制造與設計企業的重要合作伙伴。公司提供EDA軟件、大數據分析軟件、電路IP、WAT電性測試設備以及與芯片成品率提升技術相結合的整套解決方案，在集成電路設計到量產的整個產品周期內實現芯片性能、成品率、穩定性的提升，成功案例覆蓋多個集成電路工藝節點。