CNAS認可

近日，杭州廣立測試設備有限公司校準實驗室順利通過中國合格評定國家認可委員會（CNAS）的審核，正式踏入國際互認實驗室的行列。CNAS作為國內認可領域的權威機構，其認可意味著廣立微在電磁學測量儀器校準領域的校準能力、管理體系、技術水平等方面已達到ISO/IEC 17025國際標準。

校準實驗室配備世界領先的先進分析儀器和校準設備，嚴格執行國家《計量法》、《質量法》以及其他與校準相關的法規，擁有一整套科學、規范的質量保證體系和規章制度。

廣立微致力于開發和提供技術領先、具有國際競爭力的半導體參數測試系統，橫向拓展晶圓級可靠性測試設備品類，滿足更多樣化的市場需求。

機臺性能強大

精度高：電流測試精度sub-pA，電壓測試精度100μV，電容測試精度10fF；

軟硬協同：“設計與測試協同”方案幫助客戶提高測試生產率，可提升幾十倍至上千倍；

算法庫豐富

涵蓋了WAT, WLR, Spice, Addressable可尋址電路算法；

提供優質服務

50人+FAE團隊，工作經驗豐富，大部分為碩士以上學歷；

數據分析

測試數據可直接導入Semitronix自有的DE-G軟件，使用相應WAT/ WLR數據分析模塊，提供用戶工作效率；

WAT 測試

數據準確：測試數據可與市面上Baseline機臺match；

高效生產能力：測試速度為市面上Baseline 1.4x-5x；

支持多類工藝wafer測試：涵蓋LOGIC、CIS、DRAM、SRAM、FLASH、RO、BCD等；

算法庫豐富：支持ID/VT/VTGM/IOFF/ISUB/BV/CAP/CV/IV/ICP，BETA/VBE/BVCEO/BVCBO/BVEBO，R2/RKLV/LK/CAP_METAL，IREAD/ISTANDBY/IDDQ/WM/SNM，ERASE/PROGRAM，IDDA/IDDQ/FREQ等

軟件及算法靈活可定制

WLR 測試

數據準確：測試數據可與市面上Baseline機臺match；

支持HCI/ BTI/ VRAMP/ JRAMP/ VTDDB/ JTDDB/ EM/ PID/ SM/ ICP等 WLR 測試；

可根據測試需求進行定制化開發，如添加特定的監測模式，VRAMP測試過程輸出四端Curve等；

支持智能化并行測試，大幅度提升測試速度。

目前，廣立微可基于行業通用的JEDEC或客戶定制標準提供半導體工藝可靠性相關咨詢、驗證、測試及數據分析服務,測試項目包括:

柵氧完整性（GOI Vramp/TDDB/Jramp）

熱載流子注入（HCI）

負偏壓溫度不穩定性（NBTI）等

亦可提供高壓及并行可靠性測試，提高測試效率，縮短客戶工藝調試周期。

自主研發高性能硬件配置方案，未來將逐步增加測試設備種類，拓展到其他測試應用場景。

自此，廣立微出具的校準報告，能在全球100多個國家和地區互認，可為全球客戶提供極具公信力的校準證明，為客戶提供更可靠、更權威的技術支持。

此次廣立微成功獲得國家校準實驗室CNAS認可資質，標志著我司在計量校準領域實現了重大突破，全面提升了公司的綜合技術服務實力與行業核心競爭力。廣立微將依托國際標準的校準體系，為客戶提供更具公信力、精準度和時效性的全維度校準解決方案。

關于我們

杭州廣立微電子股份有限公司（股票代碼：301095）是領先的集成電路EDA軟件與晶圓級電性測試設備供應商，公司專注于芯片成品率提升和電性測試快速監控技術，是國內外多家大型集成電路制造與設計企業的重要合作伙伴。公司提供EDA軟件、電路IP、WAT電性測試設備以及與芯片成品率提升技術相結合的整套解決方案，在集成電路設計到量產的整個產品周期內實現芯片性能、成品率、穩定性的提升，成功案例覆蓋多個集成電路工藝節點。