近日,以“聚勢芯突破,智領新紀元”為主題的2025北京微電子國際研討會暨IC WORLD大會在京圓滿落幕。廣立微作為國內領先的集成電路EDA軟件與晶圓級電性測試設備供應商,再次受邀參加此次行業盛會,并在展會中集中展示了覆蓋設計、測試與良率提升的全線核心產品矩陣。其中,廣立微最新推出的YAD、SemiMind等研發成果備受關注。
良率感知的大數據診斷分析平臺——YAD
YAD是一款綜合性的DFT診斷分析工具,能夠獨立解析各類主流診斷報告,也可以與廣立微的DE-YMS集成,串聯芯片設計、制造和測試環節的數據,從而深入挖掘良率失效的根本原因。借助人性化的全景交互和先進AI算法,YAD能夠幫助快速定位芯片從設計到制造端的根因缺陷、加速診斷分析、提升產品良率。
在展會現場思想交匯、智慧碰撞的熱烈氛圍中,廣立微資深技術團隊全方位闡釋了YAD的卓越價值——YAD致力于打通集成電路設計、制造與分析環節之間的數據壁壘,支持多維數據的輸入解析及數據倉庫系統的構建。通過實現數據可視化與便捷交互,并結合統計分析、數據相關性分析等方法,全面提升數據分析的深度與效率。同時,深度融入人工智能技術,依托多種先進算法,顯著提升根因分析的準確率與處理效率。

YAD全景化圖表互動
SemiMind半導體大模型平臺
在本次展會中,廣立微SemiMind半導體大模型平臺成為全場矚目的技術焦點,展臺始終人流如織、氣氛熱烈,吸引了大量來自芯片設計、制造、封測等全產業鏈的專業觀眾駐足交流。眾多企業與技術專家對SemiMind“知識庫+智能體”雙驅動架構及其在半導體垂直場景的智能化落地表現出濃厚興趣。
廣立微技術團隊介紹道SemiMind半導體大模型平臺深度融合如DeepSeek-R1等前沿大語言模型,通過底層協同與架構創新,打造出開放、靈活、可擴展的智能研發生態系統。區別于通用型大語言模型,SemiMind不僅支持企業級私有知識庫的高效構建,更依托對半導體產業的深度認知,研發并落地多類專業智能體,切實推進AI在關鍵環節的深度融合與應用,包括:
設計智能體
自動生成與檢查設計規則(Design Rule)
測試智能體
自動生成測試方案
良率分析智能體
實現對YMS/DMS系統的自主分析與洞察
SemiMind平臺不僅是廣立微的重要技術里程碑,更致力于推動半導體行業從單點工具創新邁向全產業鏈生態重構。其核心價值體現在三個維度:
01降低技術門檻,加速產業賦能
通過SemiMind平臺可以高效沉淀并復用領域知識及頭部企業成熟經驗,顯著壓縮研發周期,加快技術迭代與追趕步伐。借助SemiMind平臺,新興企業得以快速嫁接行業頂尖方法論,在短時間內提升技術成熟度,增強產品市場競爭力,同時實現研發時間與運營成本的有效降低。
02釋放人才潛能,激發高階創新
SemiMind平臺可以將工程師從重復性工作中解放出來,使其精力集中于架構探索、算法優化等高附加值創造性工作。SemiMind不僅提升個體工作效率,更激活團隊在新型芯片設計與工藝突破等方面的探索能力,進而為行業持續發展注入創新動能。
03打通產業鏈路,推動協同升級
SemiMind平臺致力于打破芯片設計、制造、封測等環節間的數據壁壘,構建跨環節、可協同的智能分析基礎,實現全產業鏈知識共享與流程優化。SemiMind平臺促進多方數據高效流通與智能決策,使潛在問題在早期得以識別與解決,從而提升產品良率、縮短量產周期,推動產業鏈整體效能提升。
在半導體產業技術變革浪潮澎湃之際,廣立微始終以“客戶成功”為創新之本,將客戶需求置于戰略核心,持續聚焦良率提升這一關鍵賽道。憑借深厚的技術積累與深刻的行業洞察,我們致力于推動全產業鏈的協同創新與價值融合,以前瞻的戰略眼光和堅定的創新研發,為合作伙伴構建面向未來的高階解決方案,賦能產業實現跨越式發展。
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杭州廣立微電子股份有限公司(股票代碼:301095)是領先的集成電路EDA軟件與晶圓級電性測試設備供應商,公司專注于芯片成品率提升和電性測試快速監控技術,是國內外多家大型集成電路制造與設計企業的重要合作伙伴。公司提供EDA軟件、大數據分析軟件、電路IP、WAT電性測試設備以及與芯片成品率提升技術相結合的整套解決方案,在集成電路設計到量產的整個產品周期內實現芯片性能、成品率、穩定性的提升,成功案例覆蓋多個集成電路工藝節點。
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原文標題:芯突破 · 盡閃耀:廣立微重磅亮相2025 IC WORLD
文章出處:【微信號:gh_7b79775d4829,微信公眾號:廣立微Semitronix】歡迎添加關注!文章轉載請注明出處。
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廣立微亮相2025北京微電子國際研討會暨IC WORLD大會
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