在實際的測試應用中，外圍條件存在很多局限性，接觸電阻、寄生電容和寄生電感無處不在，這些因素都會對測試造成影響。　本文將進行一次仿真實驗，我們會從這個實驗中了解在實際電流測試中電容和電感會對它產生什么影響，

　　做過測試的人都知道，當我們要測試電流的時候，如果在測試端加了電容，特別是較大的電容后，電流測試就變得不穩定，有可能測試值偏大，也有可能需要等到更長的時間才可能測試到穩定的電流值，這里面還不包含電容本身的漏電。

　　在這里，我們一起做一個仿真實驗。

　　假設我們需要測試某個電阻的大小，我們采用加壓測流的方式進行測試。我們假設這個電阻R1的大小為100K左右，我們施加在電阻兩端的電壓 V1=5V，通過測試通過R1（100K）的電流，我們就可以計算出對應的電阻來。如果是在比較理想的條件下，我們可以很容易就測試到50uA左右的電 流，然后通過計算得到100K的電阻。

　　然而，在實際的測試應用中，由于接觸電阻、電感和電流的存在，都會對測試造成影響。

　　因為在實際測試中可以采用開爾文的方式進行測試，是可以消除接觸電阻的影響的，所以，在這里，只考慮電容和電感的影響。

　　請大家看以下的仿真電路（采用了LTspice IV免費仿真軟件，點擊這里下載），我們需要測試通過R1的電流，而這個電流實際上是測試源V1本身測量到的。在實際條件下，測試源和需要測試的電阻之間，不可避免的存在寄生電感和寄生電容，我們分別定義為L1和C1。

　　我們可以預設一下L1=10nH，C1=10nF，我們假設V1從0V上升到5V的rising time為1mS。

　　跑一下仿真，我們檢測一下通過V1的電流（測試源測試到的電流），得到的仿真結果如下：

　　我們可以發現，電流的峰值達到了100uA左右（不考慮電流方向），而穩定后的電流值應該是50uA左右。為什么會有這個100uA的電流產生呢？這個，就是電容的影響。

　　根據電容的計算公式，我們可以得到i=C*dV/dt，根據已知條件，我們可以知道C=10nF，dV=5V， dt=1mS，通過計算，我們就可以得到i=100uA！如果電容C1計算增大到1uF呢，我們可以計算得到i=10mA！當然，實際的V1的 rising time會小一些，這個峰值電流也會小一些。但是，由于電容C1的存在，瞬間的峰值電流仍然可能很大！

　　特別是我們需要測試一些小電流的時候，我們往往需要使用較小的電流量程檔來提高測量精度，但是，由于這個峰值電流的影響，有可能會使得測試源進入電流滿量程或者電流鉗位保護，無法進行測試；如果我們提高電流量程檔，卻又會對電流測量精度造成影響！

　　繼續觀察仿真圖，我們還可以發現，電流在V1上升的瞬間就開始振蕩，V1穩定以后（需要1mS時間），仍然在振蕩，經過大約100uS以后才逐漸穩定下來。由于電流在振蕩，我們必須等待足夠的時間，待電流穩定以后再進行測試，否則，就可能造成電流測試的不穩定。

　　這是什么原因引起的呢，這是電感的影響！其實這就是一個LRC電路。L對振蕩時間的影響是最大的。如果我們保持其它條件不變，取L1=100nH，振蕩時間達到了2mS！而如果取L1=1nH， 振蕩時間只有10uS左右了。

　　通過以上的仿真實驗，我們了解了實際測試中電容和電感的影響，這就要求我們，設計合理的測試線路，減少外圍器件的影響，同時也要盡量優化硬件設計，盡可能減少寄生電感和電容的影響。