CAN總線已經(jīng)成為新能源汽車、軍工、航空等行業(yè)的主控系統(tǒng)應(yīng)用總線，但隨著節(jié)點(diǎn)增加，CAN網(wǎng)絡(luò)的不穩(wěn)定性對(duì)設(shè)備運(yùn)行帶來極大安全隱患。ZLG致遠(yuǎn)電子專注于構(gòu)建CAN總線安全保障體系，震撼發(fā)布CANDT一致性測(cè)試系統(tǒng)！
2018-08-27 14:56:32
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CAN總線已經(jīng)成為新能源汽車、軍工、航空等行業(yè)的主控系統(tǒng)應(yīng)用總線，ZLG致遠(yuǎn)電子致力于構(gòu)建CAN總線安全保障體系，震撼發(fā)布CANDT一致性測(cè)試系統(tǒng)！
2018-08-29 09:54:567053 前面一章講解了I2C總線的基本原理，那么在電路設(shè)計(jì)完成打板回來，肯定要做信號(hào)測(cè)試來驗(yàn)證設(shè)計(jì)
2023-11-20 15:49:417260 
如果對(duì)4G/5G基站測(cè)試有所了解，那么SAN的測(cè)試項(xiàng)也不會(huì)陌生，因?yàn)橥耆前凑?G/5G基站的標(biāo)準(zhǔn)作為模板，只是項(xiàng)目有所減少。
2024-01-08 09:51:582045 在1553B總線產(chǎn)品（包括電路、板級(jí)及系統(tǒng)產(chǎn)品）的研制過程中，測(cè)試驗(yàn)證它們是否嚴(yán)格符合MIL-STD-1553B標(biāo)準(zhǔn)是一個(gè)重要的問題，與之相關(guān)的測(cè)試技術(shù)成為產(chǎn)品研制過程中的一個(gè)重要研究課題。依據(jù)
2014-01-20 16:01:40
1.AC-DC電源模塊性能測(cè)試項(xiàng)及測(cè)試方法- 測(cè)試電路1.1測(cè)試模塊的最大功率；一般AC-DC電源模塊規(guī)格書都會(huì)提及最大輸出功率，根據(jù)其輸出電壓算去負(fù)載大小，利用負(fù)載儀模擬測(cè)試。※AC-DC電源模塊
2021-11-16 07:14:36
的CANDT一致性測(cè)試系統(tǒng)，該設(shè)備可自動(dòng)化完成CAN節(jié)點(diǎn)物理層、鏈路層及應(yīng)用層一致性測(cè)試，是當(dāng)前CAN總線測(cè)試領(lǐng)域唯一能夠進(jìn)行完善的物理層自動(dòng)化測(cè)試并導(dǎo)出報(bào)表的儀器設(shè)備。 用戶只需要在測(cè)試頁(yè)面勾選所需測(cè)試項(xiàng)
2018-11-22 16:36:25
SRCNEW，增強(qiáng)了一項(xiàng)也就是自適應(yīng)，實(shí)現(xiàn)了跑流，測(cè)試設(shè)備干擾規(guī)避開。
需要新增增強(qiáng)測(cè)試項(xiàng)，請(qǐng)問如何測(cè)試SRRC？
客戶：IDPRT
操作系統(tǒng)：RTOS
PN: CYW43438
請(qǐng)問是使用以下方法嗎？
2024-03-01 08:46:31
沒有DAC7512的庫(kù)，所以只能通過示波器進(jìn)行驗(yàn)證，如下：對(duì)子程序輸入不同數(shù)據(jù)，測(cè)試結(jié)果如下：測(cè)試1：輸入2658(101001100010)測(cè)試2：輸入4095(111111111111)測(cè)試3
2020-05-25 18:17:42
集成電路測(cè)試驗(yàn)證技術(shù)，對(duì)于測(cè)試人員很有用處。
2013-07-15 22:57:05
測(cè)試通過向集成電路輸入端施加設(shè)定的測(cè)試向量，檢測(cè)并比較其輸出的測(cè)試向量，從而驗(yàn)證器件的邏輯功能是否正常。直流參數(shù)測(cè)試是以電壓或電流的形式驗(yàn)證集成電路的電氣參數(shù)，要保證較高的測(cè)試精度。為了使系統(tǒng)結(jié)構(gòu)靈活
2018-11-29 14:55:26
實(shí)現(xiàn)標(biāo)準(zhǔn)定制■ 支持自定義測(cè)試項(xiàng)編輯■ 支持被測(cè)產(chǎn)品保護(hù)限值■ 支持手動(dòng)、自動(dòng)流程測(cè)試功能■ 具備自檢功能，可在上電初始自檢各個(gè)設(shè)備狀態(tài)并將上報(bào)系統(tǒng)■ 根據(jù)測(cè)試結(jié)果自動(dòng)生成報(bào)表■ 可加載根據(jù)客戶自選
2023-09-20 14:51:04
本文根據(jù)當(dāng)前FPGA的高速總線測(cè)試和分析，提供了最新的方法和工具。
2021-05-11 06:24:02
Idle電流上下門限值，即設(shè)備Idle電流的門限值3）設(shè)備Sleep電流上下門限值，即設(shè)備睡眠電流的門限值4）設(shè)備RX電流上下門限值，即設(shè)備RX電流的門限值執(zhí)行項(xiàng)：1）初始化配置2）功耗測(cè)試3 功耗
2022-03-09 07:34:11
50ms延遲，避免了因電壓瞬變導(dǎo)致的誤保護(hù)。
三、關(guān)鍵注意事項(xiàng)
安全接線
確保輸入端連接市電，輸出端連接負(fù)載，避免反接或短路。使用紅色線接正極，黑色線接負(fù)極。
逐步驗(yàn)證
設(shè)置完成后，先以低功率啟動(dòng)
2025-06-30 14:34:16
Systemverilog [1]和 UVM [2]為驗(yàn)證團(tuán)隊(duì)提供結(jié)構(gòu)和規(guī)則。它使得在許多測(cè)試中能獲得一致的結(jié)果，并可以在團(tuán)隊(duì)之間共享驗(yàn)證。許多驗(yàn)證團(tuán)隊(duì)都在使用由C代碼編寫的驗(yàn)證套件。本文將討論將基于C的測(cè)試和驗(yàn)證套件集成到常規(guī)UVM測(cè)試平臺(tái)的各種方法。
2020-12-11 07:59:44
Systemverilog [1]和 UVM [2]為驗(yàn)證團(tuán)隊(duì)提供結(jié)構(gòu)和規(guī)則。它使得在許多測(cè)試中能獲得一致的結(jié)果，并可以在團(tuán)隊(duì)之間共享驗(yàn)證。許多驗(yàn)證團(tuán)隊(duì)都在使用由C代碼編寫的驗(yàn)證套件。本文將討論將基于C的測(cè)試和驗(yàn)證套件集成到常規(guī)UVM測(cè)試平臺(tái)的各種方法。
2020-12-15 07:38:34
原理 對(duì)CSDB總線信號(hào)進(jìn)行測(cè)試，是先將CSDB信號(hào)電平轉(zhuǎn)換為和計(jì)算機(jī)適應(yīng)的RS-232電平，再根據(jù)CSDB總線的規(guī)則，實(shí)現(xiàn)對(duì)控制信息的正確發(fā)送和實(shí)時(shí)反饋信息的正確接收，并根據(jù)需要，將有用信息提出送測(cè)試系統(tǒng)
2012-09-28 16:07:16
如何根據(jù)IEC60990標(biāo)準(zhǔn)來測(cè)試漏電流？
2021-05-11 07:13:28
問題陳述：
我正在嘗試驗(yàn)證 Xmc4700s ADC 診斷測(cè)試是否有效。 我正在嘗試驗(yàn)證兩個(gè)測(cè)試：
下拉診斷
上拉診斷
程序：
為了測(cè)試下拉測(cè)試，
在 3V3 和有問題的 adc 引腳之間連接一
2024-01-23 07:46:57
多總線自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)是由哪些部分組成的？怎樣把遺傳算法應(yīng)用到SVM中去？如何對(duì)多總線自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)進(jìn)行測(cè)試驗(yàn)證？
2021-06-08 07:19:35
共模電壓范圍能不能理解為運(yùn)放構(gòu)成跟隨器時(shí)的最大輸入電壓，而差模輸入電壓是運(yùn)放開環(huán)時(shí)兩輸入端的差值范圍。
還有就是有沒有具體的電路來測(cè)試這兩項(xiàng)參數(shù)？
2024-08-07 06:30:43
隱性，則出現(xiàn)位邏輯判斷錯(cuò)誤，進(jìn)而導(dǎo)致節(jié)點(diǎn)發(fā)出錯(cuò)誤幀，使總線陷入網(wǎng)絡(luò)故障狀態(tài)。解決方案：如在CAN網(wǎng)絡(luò)節(jié)點(diǎn)準(zhǔn)入階段，對(duì)每個(gè)節(jié)點(diǎn)進(jìn)行顯性閾值測(cè)試，利用電壓源將差分電壓升高至0.9V，，保證所有節(jié)點(diǎn)在此差分
2019-04-26 10:52:24
節(jié)點(diǎn)都連接形成完整的CAN總線系統(tǒng)，對(duì)系統(tǒng)進(jìn)行測(cè)試以驗(yàn)證系統(tǒng)運(yùn)行的完整性及正確性、系統(tǒng)的通訊魯棒性、電器魯棒性以及系統(tǒng)的容錯(cuò)自恢復(fù)功能等。 進(jìn)行CAN總線測(cè)試過程，首先需要制定測(cè)試規(guī)范，然后根據(jù)該測(cè)試
2015-08-11 13:41:18
只是自行定義其轎車CAN總線協(xié)議，并根據(jù)該協(xié)議制定各自的測(cè)試規(guī)范。 因此制定CAN總線的測(cè)試規(guī)范，必須從相關(guān)的設(shè)計(jì)需求和規(guī)范文檔中提取測(cè)試需求，這些文檔可以包括CAN協(xié)議、總線系統(tǒng)設(shè)計(jì)時(shí)所依據(jù)的標(biāo)準(zhǔn)或
2015-08-19 14:04:24
大家好！想問下大家關(guān)于電源輸入特性的測(cè)試。電壓范圍+5%、-5%，頻率范圍±3%Hz，測(cè)試輸入電流，啟動(dòng)浪涌電流。怎么測(cè)試？需要哪些設(shè)備和測(cè)試方法？
2019-10-21 09:03:03
，信號(hào)/控制線在不少標(biāo)準(zhǔn)中也有傳導(dǎo)發(fā)射的要求，通常用騷擾電壓或騷擾電流的限值（兩者有相互轉(zhuǎn)換關(guān)系）來表示，燈具中的插入損耗測(cè)試（直接用dB表示）也屬于傳導(dǎo)測(cè)試范疇。1. 測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)：有CISPR22（ITE
2011-08-05 10:01:50
電容方法需要良好的時(shí)鐘。這是因?yàn)?b class="flag-6" style="color: red">輸入偏置電流測(cè)量不僅需要打開各種電容器（連接在被測(cè)試器件的輸入端）間的繼電器，而且還要測(cè)量已知間隔的電壓變化。我們可通過在精確確定的時(shí)間周期內(nèi)測(cè)得的環(huán)路輸出電壓變化來計(jì)算
2018-09-07 11:04:42
；信息傳輸采用半雙工方式；數(shù)據(jù)總線上的信息流由消息組成。目前，國(guó)外1553B、ARINC429生產(chǎn)廠家一般只提供與ICD數(shù)據(jù)庫(kù)結(jié)合的總線測(cè)試系統(tǒng)，用戶使用時(shí)將總線數(shù)據(jù)按照ICD文件的定義逐一輸入到測(cè)試
2019-12-02 16:51:25
集成電路測(cè)試和驗(yàn)證的區(qū)別是什么？
2021-09-27 06:19:12
Vector Informatik公司是全球領(lǐng)先的分布式系統(tǒng)設(shè)計(jì)開發(fā)工具、網(wǎng)絡(luò)節(jié)點(diǎn)測(cè)試驗(yàn)證工具和嵌入式軟件組件提供商，為汽車總線網(wǎng)絡(luò)的設(shè)計(jì)、建模、仿真、分析、測(cè)試以及ECU的開發(fā)、測(cè)試、標(biāo)定和診斷
2022-07-25 15:05:27
本文簡(jiǎn)述了測(cè)試儀器總線的發(fā)展歷程，分析了新一代測(cè)試總線－LXI技術(shù)的起因，介紹LXI的各項(xiàng)特點(diǎn)以及基于LXI總線的測(cè)試系統(tǒng)的組建技術(shù)，最后展望了LXI總線測(cè)試平臺(tái)在未來自動(dòng)測(cè)
2009-07-09 15:19:21
14 本文簡(jiǎn)要介紹了PXI總線應(yīng)用于試飛測(cè)試的優(yōu)勢(shì)，并通過兩個(gè)實(shí)例，介紹了 PXI總線在試飛測(cè)試系統(tǒng)中的應(yīng)用。飛行試驗(yàn)測(cè)試系統(tǒng)是測(cè)量和分析飛行試驗(yàn)對(duì)象各種信息的軟、硬件集合
2009-07-15 11:10:3518 通過使用自動(dòng)測(cè)試設(shè)備來代替大量專用測(cè)試設(shè)備,不僅可以降低成本,而且可以有效的提高測(cè)試效率。介紹了基于PXI總線和GP IB總線的自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)設(shè)計(jì),從硬件和軟件兩個(gè)方面詳細(xì)
2010-08-25 15:25:2432 電源測(cè)試分為輸出指標(biāo)測(cè)試及保護(hù)特性測(cè)試兩大部分.輸出指標(biāo)特性測(cè)試是根據(jù)設(shè)計(jì)指標(biāo),測(cè)試在輸入不同的輸入電壓的狀況下,改變輸出電源的負(fù)載狀況,同時(shí)測(cè)試輸出端口電壓,進(jìn)行計(jì)
2010-10-24 01:32:5170 泰克為DDR測(cè)試和驗(yàn)證解決方案增加兩項(xiàng)新功能
泰克公司日前宣布增強(qiáng)和升級(jí)其業(yè)界領(lǐng)先的DDR測(cè)試和驗(yàn)證解決方案系列。用于泰克TLA7000系列邏輯分析儀的新型內(nèi)插器為工
2009-12-08 09:47:001149 汽車CAN/LIN總線測(cè)試流程和測(cè)試工具解析
汽車CAN/LIN總線系統(tǒng)測(cè)試的關(guān)鍵是測(cè)試流程、測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)和測(cè)試工具，掌握專業(yè)的總線分析和測(cè)試工具的使用技
2010-03-19 10:44:488851 以失效分析的數(shù)據(jù)作為基本數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)，提出了測(cè)試項(xiàng)目有效性和測(cè)試項(xiàng)目耗費(fèi)時(shí)間的折中作為啟發(fā)信息的優(yōu)化算法，提出了 芯片驗(yàn)證 分析及測(cè)試流程優(yōu)化技術(shù)
2011-06-29 17:58:2397 由于不同板卡的總線接口不同，對(duì)板卡的測(cè)試也需要多種測(cè)試系統(tǒng)，因此成本較高。針對(duì)以上問題，設(shè)計(jì)了一種能兼容多種總線的板級(jí)自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)。介紹了系統(tǒng)的硬件構(gòu)建方法和工
2011-08-01 15:35:010 集成運(yùn)放輸入失調(diào)電壓VIO的測(cè)試 失調(diào)電壓VIO ，即室溫及標(biāo)準(zhǔn)電源電壓下，運(yùn)放兩輸入端間信號(hào)為零時(shí)，為使輸出為零，在輸入端加的補(bǔ)償電壓。 下圖為失調(diào)電壓測(cè)試電路：
2011-09-10 23:38:50118 文中通過分析目前流行的PXI和LXI總線的基本特性和優(yōu)缺點(diǎn),對(duì)基于新型總線AXIe的自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)設(shè)計(jì)進(jìn)行了介紹,并預(yù)測(cè)了自動(dòng)測(cè)試總線未來的發(fā)展趨勢(shì)。
2011-11-04 11:20:2037 藍(lán)牙測(cè)試項(xiàng)及其標(biāo)準(zhǔn)，藍(lán)牙測(cè)試項(xiàng)及其標(biāo)準(zhǔn)，藍(lán)牙測(cè)試項(xiàng)及其標(biāo)準(zhǔn)
2015-11-06 10:03:5952 是否還在因?yàn)闆]有高端CAN 測(cè)試儀器，無(wú)法進(jìn)行CAN 總線開發(fā)而發(fā)愁？今天告訴你：CAN 卡同樣能讓你玩轉(zhuǎn)汽車CAN 總線開發(fā)測(cè)試。CAN 總線多用于汽車領(lǐng)域，在CAN 總線的開發(fā)測(cè)試階段，需要對(duì)其
2016-10-18 14:55:5219 IC測(cè)試技術(shù)--設(shè)計(jì)驗(yàn)證，可以下來看看。
2016-12-14 21:50:0353 充電樁的充電控制器與BMS通訊是采用CAN總線，必須滿足《QGDW1591-2014電動(dòng)汽車非車載充電機(jī)檢驗(yàn)技術(shù)規(guī)范》規(guī)定了物理層及鏈路層測(cè)試內(nèi)容：物理層測(cè)試項(xiàng)目：傳輸速率測(cè)試、信號(hào)幅值測(cè)試、總線
2018-04-22 11:34:007492 
CAN總線作為應(yīng)用非常廣泛的現(xiàn)場(chǎng)總線，保證CAN總線一致性非常重要，DLC作為CAN幀的一部分，它的正確與否直接影響到總線通信。那么DLC代表什么？它的功能是什么？如何測(cè)試驗(yàn)證其正確性？
2018-12-16 09:27:5120351 本測(cè)試用于檢驗(yàn)組件的可靠運(yùn)轉(zhuǎn)情況，比如一個(gè)組件的電源由蓄電池和發(fā)動(dòng)機(jī)雙路提供，電源電壓可能不一致，導(dǎo)致地偏移發(fā)生，為了檢測(cè)CAN信號(hào)能否正常通信，可以使用ZLG致遠(yuǎn)電子的CANDT一致性測(cè)試系統(tǒng)。
2018-12-05 17:16:3811212 自動(dòng)駕駛在落地之前必須要經(jīng)過測(cè)試和驗(yàn)證其技術(shù)的安全性，那么自動(dòng)駕駛技術(shù)該如何測(cè)試和驗(yàn)證呢？本文就帶大家探討一下當(dāng)前自動(dòng)駕駛測(cè)試技術(shù)都有哪些？
2018-12-19 10:41:026569 為了提高測(cè)試效率，節(jié)約人工成本，同時(shí)提高測(cè)試的準(zhǔn)確度，避免人工測(cè)量統(tǒng)計(jì)誤差，ZLG致遠(yuǎn)電子推出了CAN一致性測(cè)試系統(tǒng)，CANDT以ISO11898標(biāo)準(zhǔn)為核心，圍繞國(guó)內(nèi)主流新能源主機(jī)廠CAN總線測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)為主要依據(jù)，測(cè)試功能滿足物理層、鏈路層、應(yīng)用層的測(cè)試需求。
2018-12-19 11:21:118446 
通過人工電源網(wǎng)絡(luò)檢測(cè)出被測(cè)樣品（EUT）的傳導(dǎo)性電壓騷擾信號(hào)，耦合接收到接收機(jī)來測(cè)量頻率與電壓騷擾強(qiáng)度，進(jìn)而通過測(cè)試結(jié)果與產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)限值來判定是否符合要求。
2019-02-02 16:53:009470 
傳導(dǎo)發(fā)射（Conducted Emission）測(cè)試，只要是有電源線的產(chǎn)品都會(huì)涉及到，包括許多直流供電產(chǎn)品，另外信號(hào)/控制線在不少標(biāo)準(zhǔn)中也有傳到發(fā)射的要求。傳導(dǎo)發(fā)射通常用騷擾電壓或騷擾電流的限值來表示，燈具中的插入損耗測(cè)試（dB表示）也屬于傳導(dǎo)發(fā)射測(cè)試范疇。
2019-09-22 09:00:005373 或騷擾電流的限值（兩者有相互轉(zhuǎn)換關(guān)系）來表示，燈具中的插入損耗測(cè)試（直接用dB表示）也屬于傳導(dǎo)測(cè)試范疇。
2019-12-12 16:02:527229 
交流疊加電壓： 測(cè)試使用設(shè)備： 測(cè)試儀器：掃頻信號(hào)發(fā)生器+功率放大器； 監(jiān)測(cè)儀器：示波器 波形監(jiān)控驗(yàn)證：以Upp=1V為例：
2020-03-13 15:07:0011324 
解析開關(guān)電源32個(gè)測(cè)試項(xiàng)-測(cè)試所需工具、測(cè)試方法、波形
2020-08-24 18:54:1824011 
為什么廠家在產(chǎn)品投入使用前，都必須要進(jìn)行CAN節(jié)點(diǎn)DUT的輸入電壓閾值測(cè)試呢？因?yàn)镃AN總線設(shè)計(jì)規(guī)范對(duì)于CAN節(jié)點(diǎn)的輸入電壓閾值有著嚴(yán)格的規(guī)定，若不符合規(guī)范，則組網(wǎng)后容易出現(xiàn)各節(jié)點(diǎn)間出現(xiàn)通信故障。
2020-12-26 02:33:312190 應(yīng)用串行接口芯片擴(kuò)展系統(tǒng)時(shí)，在初步選擇了串行接口的芯片后，為了對(duì)芯片的資源更好地了解，開發(fā)者一般在系統(tǒng)設(shè)計(jì)前搭建一個(gè)簡(jiǎn)單的硬件電路并編制相應(yīng)的軟件對(duì)其測(cè)試，待性能驗(yàn)證后再確定最終的設(shè)計(jì)方案?本文根據(jù)這一需要設(shè)計(jì)了一個(gè)用于串行總線芯片測(cè)試的實(shí)驗(yàn)平臺(tái)?
2021-06-15 16:28:002649 
應(yīng)用串行接口芯片擴(kuò)展系統(tǒng)時(shí)，在初步選擇了串行接口的芯片后，為了對(duì)芯片的資源更好地了解，開發(fā)者一般在系統(tǒng)設(shè)計(jì)前搭建一個(gè)簡(jiǎn)單的硬件電路并編制相應(yīng)的軟件對(duì)其測(cè)試，待性能驗(yàn)證后再確定最終的設(shè)計(jì)方案?本文根據(jù)這一需要設(shè)計(jì)了一個(gè)用于串行總線芯片測(cè)試的實(shí)驗(yàn)平臺(tái)?
2021-06-17 11:09:122839 
現(xiàn)在DDR應(yīng)用越來越普遍，很多同事不清楚DDR都要進(jìn)行哪些測(cè)試；本文對(duì)DDR的測(cè)試項(xiàng)進(jìn)行了總結(jié)，供大家參考。
2021-06-26 15:45:3928 帶電測(cè)試旨在幫助我們來確認(rèn)所采用保護(hù)措施的狀態(tài)。測(cè)試本身及通過與否的限值取決于設(shè)備的構(gòu)造類別。
2021-09-08 14:35:432415 PSA系列可編程交流電源具有高精度、寬范圍輸出的電網(wǎng)模擬輸出設(shè)備，可提供多種途徑進(jìn)行輸出電壓模擬，為電氣電子產(chǎn)品進(jìn)行電壓暫降、短時(shí)中斷和電壓變化等項(xiàng)目測(cè)試驗(yàn)證提供正常或異常供電工況，輕松應(yīng)對(duì)測(cè)試驗(yàn)證的挑戰(zhàn)。
2022-04-26 16:03:1413317 
can總線測(cè)試基礎(chǔ)
2022-08-02 10:00:589 對(duì)數(shù)字IC，采用Vector（向量）測(cè)試。向量測(cè)試類似于真值表測(cè)量，激勵(lì)輸入向量，測(cè)量輸出向量，通過實(shí)際邏輯功能測(cè)試判斷器件的好壞。如:與非門的測(cè)試對(duì)模擬IC的測(cè)試，可根據(jù)IC實(shí)際功能激勵(lì)電壓、電流，測(cè)量對(duì)應(yīng)輸出，當(dāng)作功能塊測(cè)試。
2022-09-07 10:01:466959 LMZ31710EVM測(cè)試輸入電壓回彈研究
2022-11-01 08:26:320 的輸入阻抗（表1）。測(cè)試10V以下電壓時(shí)，可以把輸入阻抗設(shè)為10GΩ以上，來大幅減輕受到測(cè)試對(duì)象的輸出阻抗的影響。
2023-01-12 14:44:283660 
在實(shí)際測(cè)試LMZ31710的評(píng)估板默認(rèn)配置時(shí)，輸入12V，輸出1.8V，帶10A負(fù)載，會(huì)遇到輸出電壓重啟的問題。這種重啟的問題是由于輸入電壓回升導(dǎo)致反復(fù)觸發(fā)欠壓保護(hù)開啟電壓導(dǎo)致的。本文主要針對(duì)輸入
2023-04-04 09:44:571549 
在編程中，測(cè)試是一項(xiàng)重要的工作，可以幫助我們驗(yàn)證代碼的正確性和穩(wěn)定性。在Python編程環(huán)境中，同樣需要進(jìn)行測(cè)試來確保Python的安裝和配置是正確的。在本篇文章中，我們將介紹如何測(cè)試Python環(huán)境，以確保我們的Python開發(fā)環(huán)境正常工作。
2023-04-14 12:14:575976 摘要: 電磁兼容 限值 電壓變化 電壓波動(dòng) 閃爍限值 下述限值適用： Pst值不大于1.0；Plt值不大于0.65；在電壓變化期間 d（t）值超過3.3%的時(shí)間不大于500ms；相對(duì)穩(wěn)態(tài)電壓變化 dc不超過3.3％ ；最大相對(duì)電壓變化Dmax不超過： ...
2023-04-25 09:59:313490 
驗(yàn)證環(huán)境用戶需要?jiǎng)?chuàng)建許多測(cè)試用例來驗(yàn)證一個(gè)DUT的功能是否正確，驗(yàn)證環(huán)境開發(fā)者應(yīng)該通過以下方式提高測(cè)試用例的開發(fā)效率
2023-06-09 11:11:221605 
writer ） 進(jìn)行區(qū)分，前者負(fù)責(zé)測(cè)試平臺(tái)的構(gòu)建和配置，后者可能對(duì)測(cè)試平臺(tái)的底層了解較少，但用它來創(chuàng)建測(cè)試用例。 基于驗(yàn)證組件創(chuàng)建測(cè)試平臺(tái)的步驟是：? Review可重用的驗(yàn)證組件配置參數(shù)。? 實(shí)例化和配置驗(yàn)證組件。? 為接口驗(yàn)證組件創(chuàng)建可重用的sequences（可選）。? 添加一
2023-06-13 09:14:231316 
為了實(shí)現(xiàn)驗(yàn)證目標(biāo)，測(cè)試用例開發(fā)者需要控制測(cè)試激勵(lì)的生成以覆蓋特定的場(chǎng)景。測(cè)試用例開發(fā)者可以用下面這些方法控制測(cè)試激勵(lì)的創(chuàng)建： 添加約束條件來控制單個(gè)數(shù)據(jù)項(xiàng)。 使用UVM sequences來控制多個(gè)數(shù)據(jù)項(xiàng)
2023-06-17 14:06:321236 
VehicleSpy是英特佩斯推出的簡(jiǎn)單易用高性價(jià)比的總線工具，包含分析軟件和采集調(diào)試硬件，具備對(duì)各類總線數(shù)據(jù)的網(wǎng)絡(luò)監(jiān)控、診斷、總線分析、數(shù)據(jù)采集、節(jié)點(diǎn)仿真、自動(dòng)化測(cè)試等功能，目前支持的總線類型包含
2022-03-16 11:23:181621 
本次直播課程將從基本的時(shí)間同步PTP測(cè)試與驗(yàn)證引入，重點(diǎn)介紹AVB應(yīng)用的測(cè)試與驗(yàn)證。其中將分析典型的AVB應(yīng)用場(chǎng)景，重點(diǎn)展示AVB獨(dú)有的測(cè)試項(xiàng)，并且給出詳細(xì)的驗(yàn)證結(jié)果。
2023-02-16 14:02:591281 
DCTEST什么是芯片直流特性測(cè)試？芯片測(cè)試中的直流（DC）特性測(cè)試是指通過測(cè)量芯片的直流電特性參數(shù)（例如電流、電壓、電阻）來驗(yàn)證芯片電學(xué)性能是否符合設(shè)計(jì)要求的過程。這些測(cè)試通常包括以下方面：電源
2023-05-16 09:54:435005 
ic驗(yàn)證是封裝與測(cè)試么？? IC驗(yàn)證是現(xiàn)代電子制造過程中非常重要的環(huán)節(jié)之一，它主要涉及到芯片產(chǎn)品的驗(yàn)證、測(cè)試、批量生產(chǎn)以及質(zhì)量保證等方面。 IC驗(yàn)證包含兩個(gè)重要的環(huán)節(jié)，即芯片設(shè)計(jì)驗(yàn)證和芯片生產(chǎn)驗(yàn)證
2023-08-24 10:42:131682 電源芯片測(cè)試貫穿著研發(fā)、設(shè)計(jì)、生產(chǎn)過程的始終，目的就是為了通過反復(fù)檢測(cè)來確保電源芯片的性能、質(zhì)量和可靠性，保證正常工作運(yùn)行。電源芯片測(cè)試涉及到許多測(cè)試項(xiàng)目，并且有著具體的測(cè)試規(guī)范標(biāo)準(zhǔn)和方法。本文納米軟件將介紹電源芯片輸入電壓范圍的測(cè)試規(guī)范。
2023-10-19 15:15:412699 
輸入緩慢變動(dòng)測(cè)試是電源模塊測(cè)試項(xiàng)目之一，其目的是為了驗(yàn)證當(dāng)輸入電壓偏低情形發(fā)生時(shí)，待測(cè)品能夠自我保護(hù)，而且不會(huì)被損壞。用納米軟件電源模塊測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試電源模塊輸入電壓緩慢變動(dòng)，解決傳統(tǒng)測(cè)試程序繁瑣、速度慢、效率低難點(diǎn)。
2023-10-23 15:00:051220 
，能為您的車輛電子系統(tǒng)提供性能與運(yùn)行保障，幫助您高效完成系統(tǒng)集成設(shè)計(jì)與項(xiàng)目的快速開發(fā)。 一、LIN總線仿真測(cè)試服務(wù)的作用和價(jià)值 1.虹科LIN仿真測(cè)試服務(wù)是指 LIN仿真測(cè)試是一種用于驗(yàn)證和測(cè)試LIN總線系統(tǒng)的方法，這種測(cè)試通常需要使用仿
2023-10-30 10:38:441511 
，而且都是其主要性能參數(shù)。另外，也有很多其他的參數(shù)都是通過電壓的測(cè)量來間接得到的，如增益（Gain）、電源電壓抑制比（PSRR）、共模抑制比（CMRR）等。工程師們?cè)谡{(diào)試中也經(jīng)常會(huì)遇到電壓測(cè)的不精確或者不穩(wěn)定的現(xiàn)象，對(duì)于測(cè)試不精確的
2023-10-30 11:39:361603 
開關(guān)電源測(cè)試系統(tǒng)如何測(cè)試輸出電壓電流的？ 開關(guān)電源測(cè)試系統(tǒng)是用來測(cè)試開關(guān)電源的性能和質(zhì)量的一種設(shè)備。其中，測(cè)試輸出電壓和電流是其中非常重要的一項(xiàng)測(cè)試內(nèi)容。本文將詳細(xì)介紹開關(guān)電源測(cè)試系統(tǒng)如何測(cè)試輸出
2023-11-07 10:01:562642 什么是開關(guān)電源帶載測(cè)試？開關(guān)電源負(fù)載測(cè)試方法是什么？ 開關(guān)電源帶載測(cè)試是用于評(píng)估開關(guān)電源性能和穩(wěn)定性的一項(xiàng)測(cè)試。通過模擬真實(shí)負(fù)載條件，測(cè)試人員可以確定開關(guān)電源在不同負(fù)載下的輸出電壓、電流和功率等參數(shù)
2023-11-09 09:36:356416 芯片電源輸入電流怎么測(cè)試？ 芯片電源輸入電流的測(cè)試是一項(xiàng)關(guān)鍵的工作，它能夠幫助我們了解電源系統(tǒng)的性能和穩(wěn)定性。在本文中，我們將詳細(xì)介紹如何進(jìn)行芯片電源輸入電流測(cè)試，并提供一些實(shí)用的技巧和建議。 首先
2023-11-09 09:42:292802 出現(xiàn)電弧、電暈、擊穿和其他故障，以保障人身安全和設(shè)備的正常運(yùn)行。 電源高壓測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)是根據(jù)不同的國(guó)家或地區(qū)的標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)范來制定的。一般來說，這些標(biāo)準(zhǔn)主要包括電源設(shè)備的外觀檢查、絕緣電阻測(cè)試、耐壓測(cè)試和接地電阻測(cè)試等
2023-11-09 15:30:343826 測(cè)試電壓輸入緩慢變動(dòng)的目的是什么？電源模塊的電壓輸入緩慢變動(dòng)如何測(cè)試？ 測(cè)試電壓輸入緩慢變動(dòng)的目的是確保電源模塊在不同輸入電壓情況下的穩(wěn)定性和可靠性。這種測(cè)試可以模擬實(shí)際應(yīng)用中的電網(wǎng)電壓波動(dòng)或其他
2023-11-09 15:30:431398 穩(wěn)定性非常重要。 電壓調(diào)整率測(cè)試方法主要包括兩種：動(dòng)態(tài)測(cè)試和靜態(tài)測(cè)試。 動(dòng)態(tài)測(cè)試是通過向電源加載突發(fā)負(fù)載，并觀察電源輸出電壓的變化來評(píng)估電壓調(diào)整率。具體測(cè)試步驟如下： 1. 準(zhǔn)備測(cè)試設(shè)備：測(cè)試電源、負(fù)載電阻、負(fù)載控制
2023-11-10 15:26:206106 SDNAND可靠性驗(yàn)證測(cè)試的重要性SDNAND可靠性驗(yàn)證測(cè)試至關(guān)重要。通過檢驗(yàn)數(shù)據(jù)完整性、設(shè)備壽命、性能穩(wěn)定性，確保產(chǎn)品符合標(biāo)準(zhǔn)，可提高產(chǎn)品的可信度、提高品牌聲譽(yù)，減少維修成本，確保
2023-12-14 14:29:341615 
過大的紋 波電壓對(duì)受電設(shè)備會(huì)造成不良影響，在設(shè)計(jì)制作樣品時(shí)，我們要測(cè)試驗(yàn)證電源的輸出紋波電壓是否符合設(shè)計(jì)要求，但是往往 由于測(cè)試方法不對(duì)，造成測(cè)試偏差比較大，下面我們介紹紋波電壓的正確測(cè)試方法。
2023-12-15 10:59:505338 
電子發(fā)燒友網(wǎng)站提供《汽車總線設(shè)計(jì)及測(cè)試寶典.pdf》資料免費(fèi)下載
2023-12-25 09:59:516 開關(guān)電源測(cè)試系統(tǒng)是一款專業(yè)的智能自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)，用此系統(tǒng)來測(cè)試開關(guān)電源打破了手動(dòng)及傳統(tǒng)自動(dòng)化測(cè)試缺點(diǎn)，功能強(qiáng)大，兼容性強(qiáng)，為電源測(cè)試提供軟硬件一體化方案，提高測(cè)試效率。
2024-01-02 16:16:065527 在芯片封裝技術(shù)日益邁向高密度、高性能的今天，長(zhǎng)電科技引領(lǐng)創(chuàng)新，推出了一項(xiàng)革命性的高精度熱阻測(cè)試與仿真模擬驗(yàn)證技術(shù)。
2024-03-08 13:33:311521 FPGA驗(yàn)證和測(cè)試在芯片設(shè)計(jì)和開發(fā)過程中都扮演著重要的角色，但它們各自有著不同的側(cè)重點(diǎn)和應(yīng)用場(chǎng)景。
2024-03-15 15:03:262326 CAN FD總線報(bào)文周期一致性測(cè)試方法，可自動(dòng)實(shí)現(xiàn)監(jiān)控測(cè)試并快速生成測(cè)試報(bào)告，主要根據(jù)CAPL語(yǔ)言設(shè)計(jì)建立測(cè)試應(yīng)用工程。
2024-04-01 12:53:322213 
用DC-DC電源模塊測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試輸入電壓范圍，以系統(tǒng)自動(dòng)步進(jìn)電壓值代替手動(dòng)調(diào)整電壓，節(jié)省了測(cè)試時(shí)間，提高了測(cè)試效率。在測(cè)試過程中，測(cè)試面板會(huì)實(shí)時(shí)展示測(cè)試數(shù)據(jù)，可以快速獲取測(cè)試結(jié)果。同時(shí)，系統(tǒng)也支持
2024-05-28 13:59:571908 
的核心，主要驗(yàn)證接口是否按照設(shè)計(jì)文檔和需求規(guī)格說明書實(shí)現(xiàn)了預(yù)期的功能。以下是功能性測(cè)試的一些關(guān)鍵測(cè)試點(diǎn)： 1.1 輸入參數(shù)驗(yàn)證：檢查接口是否正確處理各種輸入參數(shù)，包括正常值、邊界值、異常值等。 1.2 輸出結(jié)果驗(yàn)證：驗(yàn)證
2024-05-30 15:04:323359 電子連接器的測(cè)試與驗(yàn)證是確保其性能和質(zhì)量的關(guān)鍵步驟。以下是對(duì)電子連接器進(jìn)行測(cè)試與驗(yàn)證的方法： 一、測(cè)試與驗(yàn)證的目的 電子連接器的測(cè)試與驗(yàn)證旨在評(píng)估其電氣性能、機(jī)械性能、環(huán)境適應(yīng)性和可靠性，以確保
2024-12-20 09:49:072653 1. 浪涌測(cè)試（Surge Test） 1.1 測(cè)試目的 模擬 雷擊、電網(wǎng)切換、大功率設(shè)備啟停 等高能量瞬態(tài)干擾，驗(yàn)證電源模塊的耐高壓沖擊能力。 1.2 測(cè)試波形 組合波（1.2/50μs 電壓波
2025-08-12 21:46:301112 在產(chǎn)品研發(fā)與質(zhì)量管控中，機(jī)械沖擊測(cè)試與振動(dòng)測(cè)試是兩項(xiàng)關(guān)鍵的可靠性驗(yàn)證方法。兩者雖均涉及產(chǎn)品在力學(xué)環(huán)境下的響應(yīng)，但其物理機(jī)制與測(cè)試目的存在本質(zhì)差異。準(zhǔn)確把握二者的區(qū)別，有助于企業(yè)優(yōu)化測(cè)試方案，合理分配
2025-10-22 14:36:30374 
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