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DC TEST

什么是芯片直流特性測試？

芯片測試中的直流（DC）特性測試是指通過測量芯片的直流電特性參數（例如電流、電壓、電阻）來驗證芯片電學性能是否符合設計要求的過程。這些測試通常包括以下方面：

電源電壓測試

?電源電壓測試主要測量芯片在不同電壓下的電流變化，旨在確定芯片的最小和最大電源電壓范圍。測試人員會向芯片的電源端口輸入不同的電壓，然后測量芯片的電流變化，以獲取芯片的最小和最大電源電壓。

地引腳測試

?地引腳測試主要是為了測量芯片的接地電壓，以確定該接地電壓是否符合設計規范。如果接地電壓不合規范，可能會導致芯片失效或其他問題。

I-V測試

? I-V測試是一種重要的電學測試，用于測量芯片中電流和電壓之間的關系。這個過程需要在恒定電壓下，測量芯片中的電流變化，或在恒定電流下測量芯片中的電壓變化。這可以使測試人員確定芯片在不同電壓或電流下的性能，以驗證生產線上或客戶端的使用中的性能是否在應用范圍內。

電阻測試

?電阻測試用于測量芯片中不同部件之間的電阻大小，并確保其在設計要求的合理范圍內，避免可能導致芯片失效或產生其他問題的電阻問題。

芯片測試中的直流特性測試對于驗證芯片電學性能的關鍵特性至關重要，可以提高芯片的可靠性和性能，確保其正常工作。

半導體測試系統模塊

/ 什么是PMU？/

精密測量單元PMU（Precision Measurement Unit）是一種非常重要的電學測量和控制單元，它可以測量電流、電壓和功率等參數，以提高測試精度和可靠性。在芯片設計制造以后，產品交付之前，需要進行大規模的半導體產品測試或集成電路芯片測試，而PMU就是用于精確的DC參數測量。它能驅動電流進入器件而去量測電壓，或者為器件加上電壓而去量測產生的電流。

PMU在芯片直流特性測試中的應用主要是測量芯片的電流和電壓等參數，并計算出芯片的功率和功耗等指標。PMU具有高精度和高速度的測量能力，可以實現微秒級別的電學測量，比傳統的測量方法更加準確和快速。此外，PMU還可以進行多種電學測量，并將測量結果分析和處理，以優化測試流程和提高測試效率。

通過將每個通道的PMU與數字測試功能組合在一個測試儀器中，可以大大簡化在數字和混合信號器件上執行的一系列直流測試。動態數字I/O板卡往往就會搭載PMU引腳功能來進行DC參數測試。對于不同的動態數字I/O卡來說，PMU的數量也有所不同。低端的測試設備往往只有一個PMU，通過共享的方式被測試通道逐次使用；中端測試設備則有一組PMU，通常為8個或16個，而一組通道往往也是8個或16個，這樣可以整組逐次使用；然而，高端的測試設備則會采用per pin（每引腳）的結構，每個通道都配置一個PMU。

虹科讓芯片直流特性測試更高效更精準

DC TEST

虹科動態數字I/O HK-GX5295 PXI板卡

HK-GX5295是一款帶有精密測量單元PMU功能的動態數字IO板卡，在芯片直流特性測試中，具有多種優勢。該產品具有32個可配置的輸入/輸出通道和4個具有可編程電平的控制/定時通道，以及256 MB板載內存。

值得一提的是，HK-GX5295每個通道都帶有PMU引腳，可動態配置，并且其驅動/感應電壓范圍為-2 V至+7 V，使其非常適合用于芯片DC參數測試。此外，HK-GX5295支持激勵/響應和實時比較模式，有助于測試工程師更好地分析和解決測試問題。

HK-GX5295搭配功能強大的自動化測試執行管理軟件—ATEasy，可快速完成測試程序開發，高效精準地執行芯片直流特性測試，生成測試報告。

ATEasy 任務測試結構的示例如下圖所示。ATEasy 將根據預設的Min/Max 參數范圍，自動評估測試結果，返回到 TestResult，判斷每個連續性測量的 Pass/Fail 狀態，并將評估結果自動報告給 Test Log（標準輸出）或 Test Executive（ATEasy 的測試管理界面）。

ATEasy芯片直流特性連續測試任務和測試指令

ATEasy 芯片直流特性測試管理界面

此外，虹科提供基于PXI平臺的下一代半導體ATE測試平臺HK-TS-960e。HK-TS-960e可作為臺式系統或集成機械手，充分利用PXI架構，為SoC和SiP等半導體器件測試應用，實現經濟高效且功能齊全的測試解決方案。該測試系統集成了高功率(每插槽60 W)，21插槽，PXIe機箱和定制設計的性能測試接口，支持用于連接被測設備的PCB DUT(待測器件)板。另外，接收器接口的引腳是現場可配置的，允許用戶在修改或升級系統以用于新應用時來升級接收器。接收機的配置可以支持多達512個數字通道，以及一系列模擬、設備電源(DPS)和射頻資源。