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      SD NAND?可靠性驗證測試

      MK米客方德 ? 2023-12-14 14:29 ? 次閱讀
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      SD NAND可靠性驗證測試的重要性

      SD NAND可靠性驗證測試至關(guān)重要。通過檢驗數(shù)據(jù)完整性、設(shè)備壽命、性能穩(wěn)定性，確保產(chǎn)品符合標(biāo)準(zhǔn)，可提高產(chǎn)品的可信度、提高品牌聲譽，減少維修成本，確保產(chǎn)品質(zhì)量和市場競爭力。
      MK-米客方德是一家做存儲的公司，是SD NAND技術(shù)的引領(lǐng)者，工業(yè)應(yīng)用的領(lǐng)導(dǎo)品牌。其公司SD NAND產(chǎn)品都有可靠性驗證測試報告，

      SD NAND可靠性驗證測試報告

      以MK-米客方德工業(yè)級SD NAND的MKDN064GCL-ZA型號為例，下面是可靠性驗證測試的具體項目。

      『Test Summary』

      No

      Test Item

      Description

      Result

      1

      Card Density Check

      90%

      Pass

      2

      Performance Test

      HDBench/CrystalDiskMark/H2test

      ---

      3

      Compliance Test

      TestMetrix VTE3100/VTE4100

      Pass

      4

      Speed Class Test

      TestMetrix VTE3100/VTE4100

      Pass

      5

      Full Size Copy/Compare

      H2test

      Pass

      6

      Burn-in Test

      BIT @-25~ 85’C

      Pass

      7

      NPOR Test

      Normal power cycle test when card is stand by

      Pass

      8

      SPOR Test

      Sudden power cycle test when card is busy

      Pass

      9

      Read Only Test

      H2test

      Pass

      10

      IR-Reflow

      260 ’C, check SLC data

      Pass

      11

      Power consumption

      Write & Read current measurement

      ---

      Test Item

      1. Card DensityCheck

      Test Tool & Environment
      1. SDFormatter
      2. Win7OS
      Sample Quantity

      1ea

      Result

      7374MB, 90%

      1. PerformanceTest
        1. HDBench / CrystalDiskMark / IOMeter /H2test

      Test Tool & Environment

      1. HDBench Ver3.40 / CrystalDiskMark 6.0 / IO meter / H2 test
      2. Card Reader : Transcend TS-RDP5K(GL834)
      3. Win7OS
        1. IOMeter
      Test Criteria

      Depends on customer criteria

      Sample Quantity

      2ea

      Result

      Pass (see 2.4 performance data)

      Test Tool & Environment

      1. IO Meter 2006.07.27

      1. Card Reader : Transcend TS-RDP5K(GL834)
      2. Win7OS
        1. TestMetrix
      Test Criteria

      Depends on customer criteria

      Sample Quantity

      2ea

      Result

      Pass (see 2.4 performance data)

      Test Tool & Environment

      1. TestMetrix VTE3100/VTE4100

      Test Criteria

      Depends on customer criteria

      Sample Quantity

      3ea

      Result

      Pass (see 2.4 performance data)

      1. Performance Data

      Test Item

      Test Mode

      Result

      HDBench (100MB)

      Sequential Read (MB/s)

      46.2

      Sequential Write (MB/s)

      24.2

      CrystalDiskMark (100MB)

      Sequential Read (MB/s)

      47.5

      Sequential Write (MB/s)

      26

      IOMeter (100MB)

      Random Write (IOPS)

      572.6

      Random Read (IOPS)

      1119.5

      TestMetrix

      Sequential Read (MB/s)

      24.4

      Sequential Write (MB/s)

      10

      H2test

      Sequential Read (MB/s)

      40.6

      Sequential Write (MB/s)

      10

      1. ComplianceTest

      Test Tool & Environment

      TestMetrix VTE3100/VTE4100

      Test Criteria

      Test done without error

      Sample Quantity

      3ea

      Result

      Pass

      1. Speed ClassTest

      Test Tool & Environment

      1. TestMetrix VTE3100/VTE4100

      Test Criteria

      Pass class 6 condition

      Sample Quantity

      3ea

      Result

      Pass

      Speed Class

      Test Mode

      Result

      Class6

      Pw (MB/s)

      8.5

      Pr (MB/s)

      9.6

      1. Full SizeCopy/Compare

      Test Tool & Environment

      1. H2testv1.4
      2. Card Reader : Transcend TS-RDP5K(GL834)
      3. Win7OS
      Test Criteria

      Test done without no error

      Sample Quantity

      2ea

      Result

      Pass

      1. Burn-in Test

      BIT v8.0

      Test Tool & Environment

      1. BurnInTestv8.0
      2. Card Reader : Transcend TS-RDP5K(GL834)
      3. Win7OS
      Test Criteria

      168hours without error @25/85/-25’C

      Sample Quantity

      Total 6ea

      Result

      Pass

      1. NPORTest

      Test Tool & Environment

      1.MK NPOR Tool

      Test Criteria

      Pass 10K cycles

      Sample Quantityv

      2ea

      Result

      Pass

      1. SPOR
        1. SPORTest1

      Test Tool & Environment

      1.MK SPOR Tool – 5%/95% non-file system

      Test Criteria

      Pass 10K cycles

      Sample Quantity

      2ea

      Result

      Pass

      1. SPORTest2

      Test Tool & Environment

      1. Specific SPOR Tool – small/large file system based

      Test Criteria

      Pass 10K cycles

      Sample Quantity

      2ea

      Result

      Pass

      1. Read OnlyTest

      Test Tool & Environment

      1. H2test
      2. Card Reader : Transcend TS-RDP5K(GL834)
      3. Win7OS
      Test Criteria

      72hours without error

      Sample Quantity

      4ea

      Result

      Pass

      1. IR-reflow

      Test Tool & Environment

      IR-reflow 260 ‘C

      Test Criteria

      3 times test and check all data without error

      Sample Quantity

      10ea

      Result

      pass


      1. Powerconsumption

      Test Tool & Environment

      1. CrystalDiskMark6.0
      2. Card Reader : Transcend TS-RDP5K(GL834)
      3. Win7OS
      4. AgilentU1252B

      Item

      Standby

      current(uA)

      Operating

      current (mA)

      Throughput (MB/s)

      #1

      210

      Read

      96

      47.6

      Write

      81

      26.6

      #2

      211

      Read

      95

      47

      Write

      83

      26.8

      #3

      210

      Read

      96

      48

      Write

      81

      27

      聲明：本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點僅代表作者本人，不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用，如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問題，請聯(lián)系本站處理。 舉報投訴
      • 測試
        +關(guān)注

        關(guān)注

        9

        文章

        6201

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        131345
      • NAND
        +關(guān)注

        關(guān)注

        16

        文章

        1755

        瀏覽量

        141035
      • 工業(yè)
        +關(guān)注

        關(guān)注

        3

        文章

        2360

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        49192
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        的頭像 發(fā)表于 06-19 10:27 ?1392次閱讀
        AR 眼鏡硬件<b class='flag-5'>可靠性</b><b class='flag-5'>測試</b>方法

        關(guān)于LED燈具的9種可靠性測試方案

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        的頭像 發(fā)表于 06-18 14:48 ?1063次閱讀
        關(guān)于LED燈具的9種<b class='flag-5'>可靠性</b><b class='flag-5'>測試</b>方案

        可靠性測試包括哪些測試和設(shè)備？

        在當(dāng)今競爭激烈的市場環(huán)境中，產(chǎn)品質(zhì)量的可靠性成為了企業(yè)立足的根本。無論是電子產(chǎn)品、汽車零部件，還是智能家居設(shè)備，都需要經(jīng)過嚴(yán)格的可靠性測試，以確保在各種復(fù)雜環(huán)境下都能穩(wěn)定運行，為用戶提供可靠
        的頭像 發(fā)表于 06-03 10:52 ?1451次閱讀
        <b class='flag-5'>可靠性</b><b class='flag-5'>測試</b>包括哪些<b class='flag-5'>測試</b>和設(shè)備？

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        的頭像 發(fā)表于 05-15 09:43 ?1266次閱讀
        半導(dǎo)體<b class='flag-5'>測試</b><b class='flag-5'>可靠性</b><b class='flag-5'>測試</b>設(shè)備

        提供半導(dǎo)體工藝可靠性測試-WLR晶圓可靠性測試

        隨著半導(dǎo)體工藝復(fù)雜度提升，可靠性要求與測試成本及時間之間的矛盾日益凸顯。晶圓級可靠性（Wafer Level Reliability, WLR）技術(shù)通過直接在未封裝晶圓上施加加速應(yīng)力，實現(xiàn)快速
        發(fā)表于 05-07 20:34