深度解讀基于ATE的IC測(cè)試技術(shù)

在IC的測(cè)試中，電壓的測(cè)試是所有測(cè)試參數(shù)中最為常見(jiàn)的一種參數(shù)，尤其是模擬芯片的測(cè)試，電壓測(cè)試更顯常見(jiàn)及重要，如：LDO、LED驅(qū)動(dòng)、音頻功放、運(yùn)放、馬達(dá)...

2017-10-27 標(biāo)簽：繼電器ateic測(cè)試技術(shù) 1.9萬(wàn) 0

對(duì)于ATE測(cè)試儀器儀表，典型測(cè)試設(shè)備系統(tǒng)設(shè)計(jì)

由于待測(cè)器件（DUT）的復(fù)雜性提高，通道/引腳數(shù)量和功能增加，因而測(cè)試類(lèi)型和所需測(cè)試數(shù)量也隨之增加。并且每個(gè)器件評(píng)估需要進(jìn)行數(shù)百項(xiàng)測(cè)試，特別是在自動(dòng)測(cè)試...

2018-07-16 標(biāo)簽：測(cè)試測(cè)量adiMEMS 1.7萬(wàn) 0

聊聊IC測(cè)試機(jī)（1）ATE/ATS內(nèi)部結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)介

ATE(Auto Test Equipment) 在測(cè)試工廠完成. 大致是給芯片的輸入管道施加所需的激勵(lì)信號(hào)，同時(shí)監(jiān)測(cè)芯片的輸出管腳，看其輸出信號(hào)是否是...

2023-11-01 標(biāo)簽：控制器適配器DSP芯片 7.5k 0

如何獲取除了數(shù)據(jù)手冊(cè)以外的ADC芯片數(shù)據(jù)

設(shè)計(jì)中選擇高分辨率ADC時(shí)，經(jīng)常需要了解一些數(shù)據(jù)手冊(cè)中通?？赡懿粫?huì)公布的特性數(shù)據(jù)，例如，全部代碼范圍內(nèi)的轉(zhuǎn)換器噪聲性能。在數(shù)據(jù)手冊(cè)中，您不一定能找到這一...

2018-11-25 標(biāo)簽：MSPSADCATE 7.1k 0

基于Microchip的53100A相位噪聲分析儀

Microchip的53100A相位噪聲分析儀是一種非常高質(zhì)量和高性能的工具（圖1），可以測(cè)量射頻源的幅度，相位和頻率穩(wěn)定性。它的測(cè)量范圍很寬，介于1 ...

2021-05-07 標(biāo)簽：dsp振蕩器cpu 6.9k 0

面向老化測(cè)試系統(tǒng)的高壓繼電器有哪些要求？

老化與壽命測(cè)試系統(tǒng)是半導(dǎo)體和電子產(chǎn)品可靠性測(cè)試中的關(guān)鍵工具。被測(cè)器件（DUT）如存儲(chǔ)芯片（DRAM、閃存）、處理器（CPU、GPU）、分立功率半導(dǎo)體（M...

2025-11-07 標(biāo)簽：測(cè)試測(cè)量ATE老化測(cè)試 6.1k 0

測(cè)試向量是什么意思

測(cè)試向量及其生成 測(cè)試向量（Test Vector）的一個(gè)基本定義是：測(cè)試向量是每個(gè)時(shí)鐘周期應(yīng)用于器件管腳的用于測(cè)試或者操作的邏輯1和邏輯0數(shù)據(jù)。 這一...

2023-10-30 標(biāo)簽：測(cè)試IC測(cè)量 5.9k 0

自動(dòng)測(cè)試設(shè)備，高壓繼電器怎么選？

在自動(dòng)測(cè)試設(shè)備（ATE）與精密儀器測(cè)試?yán)?，“高密度、低漏流”和“高耐壓、小尺寸”往往是相互矛盾的兩個(gè)維度。一些測(cè)試測(cè)量應(yīng)用需要在極小封裝內(nèi)集成可承受5k...

2025-07-31 標(biāo)簽：ATE線纜測(cè)試儀線束檢測(cè)儀 5k 0

聊聊IC測(cè)試機(jī)（4）DFT PLL向量，ATE怎么用？

自動(dòng)測(cè)試設(shè)備 (ATE)對(duì)PLL（鎖相環(huán)）進(jìn)行測(cè)試時(shí)，我們首先要明白PLL在系統(tǒng)級(jí)芯片（SoC）中的重要性。

2023-11-01 標(biāo)簽：鎖相環(huán)DFTATE 4.9k 0

線纜測(cè)試效率如何一步到位？

高壓繼電器是線纜測(cè)試儀的核心部件，在高壓安全與測(cè)量精度間取得平衡，其設(shè)計(jì)必須解決絕緣、耐壓和壽命三大難題，是普通繼電器無(wú)法替代的關(guān)鍵環(huán)節(jié)。高壓干簧繼電器...

2025-07-23 標(biāo)簽：ATE測(cè)試設(shè)備線纜測(cè)試儀 4.2k 0

老化測(cè)試效率提升，高壓干簧繼電器究竟做對(duì)了什么？

在老化機(jī)測(cè)試中，“精密、耐用、高密度”這三項(xiàng)指標(biāo)缺一不可，傳統(tǒng)機(jī)械繼電器體積大、壽命短；半導(dǎo)體開(kāi)關(guān)又難扛高壓。高壓干簧繼電器體積緊湊、隔離高，非常適合密...

2025-07-18 標(biāo)簽：ATE老化測(cè)試自動(dòng)測(cè)試設(shè)備 4.1k 0

IC測(cè)試基本原理與ATE測(cè)試向量生成

IC測(cè)試主要的目的是將合格的芯片與不合格的芯片區(qū)分開(kāi)，保證產(chǎn)品的質(zhì)量與可靠性。隨著集成電路的飛速發(fā)展，其規(guī)模越來(lái)越大，對(duì)電路的質(zhì)量與可靠性要求進(jìn)一步提高...

2024-10-12 標(biāo)簽：芯片IC測(cè)試功能測(cè)試 4k 0

聊聊IC測(cè)試機(jī)（3）基于ATE的IC測(cè)試原理、方法及故障分析

本文以ATE為基礎(chǔ)，討論了 集成電路測(cè)試的基本原理和測(cè)試方法，并進(jìn)行了故 障分析.

2023-11-01 標(biāo)簽：濾波電容輸出電壓PSRR 3.8k 0

ATE/ATS內(nèi)部結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)介

ATE/ATS：自動(dòng)測(cè)試設(shè)備/自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)，也稱(chēng)測(cè)試機(jī)是測(cè)試工程師在IC測(cè)試中必須使用的工具，本文主要從技術(shù)層面對(duì)ATE/ATS的組成及軟硬件及其接口要...

2023-10-30 標(biāo)簽：測(cè)試IC儀器 3.2k 0

ATEstar通用測(cè)試平臺(tái)管理系統(tǒng)

采用通用性和多線程的設(shè)計(jì)思想，研制一種通用測(cè)試平臺(tái)管理系統(tǒng)，具體實(shí)現(xiàn)分為配置和運(yùn)行兩大部分。配置包括數(shù)據(jù)輸入定義和顯示存儲(chǔ)定義等功能。運(yùn)行根據(jù)配置參數(shù)按...

2018-05-23 標(biāo)簽：ate 2.9k 0