深度解讀基于ATE的IC測試技術

在IC的測試中，電壓的測試是所有測試參數中最為常見的一種參數，尤其是模擬芯片的測試，電壓測試更顯常見及重要，如：LDO、LED驅動、音頻功放、運放、馬達...

2017-10-27 標簽：繼電器ateic測試技術 1.9萬 0

對于ATE測試儀器儀表，典型測試設備系統設計

由于待測器件（DUT）的復雜性提高，通道/引腳數量和功能增加，因而測試類型和所需測試數量也隨之增加。并且每個器件評估需要進行數百項測試，特別是在自動測試...

2018-07-16 標簽：測試測量adiMEMS 1.7萬 0

聊聊IC測試機（1）ATE/ATS內部結構簡介

ATE(Auto Test Equipment) 在測試工廠完成. 大致是給芯片的輸入管道施加所需的激勵信號，同時監測芯片的輸出管腳，看其輸出信號是否是...

2023-11-01 標簽：控制器適配器DSP芯片 7.5k 0

如何獲取除了數據手冊以外的ADC芯片數據

設計中選擇高分辨率ADC時，經常需要了解一些數據手冊中通常可能不會公布的特性數據，例如，全部代碼范圍內的轉換器噪聲性能。在數據手冊中，您不一定能找到這一...

2018-11-25 標簽：MSPSADCATE 7.1k 0

基于Microchip的53100A相位噪聲分析儀

Microchip的53100A相位噪聲分析儀是一種非常高質量和高性能的工具（圖1），可以測量射頻源的幅度，相位和頻率穩定性。它的測量范圍很寬，介于1 ...

2021-05-07 標簽：dsp振蕩器cpu 6.9k 0

面向老化測試系統的高壓繼電器有哪些要求？

老化與壽命測試系統是半導體和電子產品可靠性測試中的關鍵工具。被測器件（DUT）如存儲芯片（DRAM、閃存）、處理器（CPU、GPU）、分立功率半導體（M...

2025-11-07 標簽：測試測量ATE老化測試 6.1k 0

測試向量是什么意思

測試向量及其生成 測試向量（Test Vector）的一個基本定義是：測試向量是每個時鐘周期應用于器件管腳的用于測試或者操作的邏輯1和邏輯0數據。 這一...

2023-10-30 標簽：測試IC測量 6k 0

自動測試設備，高壓繼電器怎么選？

在自動測試設備（ATE）與精密儀器測試里，“高密度、低漏流”和“高耐壓、小尺寸”往往是相互矛盾的兩個維度。一些測試測量應用需要在極小封裝內集成可承受5k...

2025-07-31 標簽：ATE線纜測試儀線束檢測儀 5k 0

聊聊IC測試機（4）DFT PLL向量，ATE怎么用？

自動測試設備 (ATE)對PLL（鎖相環）進行測試時，我們首先要明白PLL在系統級芯片（SoC）中的重要性。

2023-11-01 標簽：鎖相環DFTATE 4.9k 0

線纜測試效率如何一步到位？

高壓繼電器是線纜測試儀的核心部件，在高壓安全與測量精度間取得平衡，其設計必須解決絕緣、耐壓和壽命三大難題，是普通繼電器無法替代的關鍵環節。高壓干簧繼電器...

2025-07-23 標簽：ATE測試設備線纜測試儀 4.2k 0

老化測試效率提升，高壓干簧繼電器究竟做對了什么？

在老化機測試中，“精密、耐用、高密度”這三項指標缺一不可，傳統機械繼電器體積大、壽命短；半導體開關又難扛高壓。高壓干簧繼電器體積緊湊、隔離高，非常適合密...

2025-07-18 標簽：ATE老化測試自動測試設備 4.1k 0

IC測試基本原理與ATE測試向量生成

IC測試主要的目的是將合格的芯片與不合格的芯片區分開，保證產品的質量與可靠性。隨著集成電路的飛速發展，其規模越來越大，對電路的質量與可靠性要求進一步提高...

2024-10-12 標簽：芯片IC測試功能測試 4k 0

聊聊IC測試機（3）基于ATE的IC測試原理、方法及故障分析

本文以ATE為基礎，討論了 集成電路測試的基本原理和測試方法，并進行了故 障分析.

2023-11-01 標簽：濾波電容輸出電壓PSRR 3.8k 0

ATE/ATS內部結構簡介

ATE/ATS：自動測試設備/自動測試系統，也稱測試機是測試工程師在IC測試中必須使用的工具，本文主要從技術層面對ATE/ATS的組成及軟硬件及其接口要...

2023-10-30 標簽：測試IC儀器 3.2k 0

ATEstar通用測試平臺管理系統

采用通用性和多線程的設計思想，研制一種通用測試平臺管理系統，具體實現分為配置和運行兩大部分。配置包括數據輸入定義和顯示存儲定義等功能。運行根據配置參數按...

2018-05-23 標簽：ate 2.9k 0