如果測試固定輸出為20V，最大電流為5A，功率為100W的直流電源時，必須使用相當甚至更大電壓、電流和功率的電子負載來吸收電源中的功率。由于電源是具有20V恒定電壓輸出的恒壓CV電源，因此在CC模式下的測試過程中，電子負載必須以恒定電流工作，并且其電流必須設置為0A至5A 。當然，對于另一種DC-DC電源，電子負載必須在恒定電壓CV模式下運行，在某些情況下，電子負載必須在CR或CP模式下運行。

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通常，建議在被測直流電源容量較大而電子負載容量不足時，串聯(lián)或并聯(lián)連接多個電子負載，以提高電子負載的性能。如果電流不足，則可以并聯(lián)連接多個電子負載。但是，如果電壓不足，是否還能串聯(lián)幾個電子負載呢?

據(jù)估計，這不僅不能滿足測試目標，而且還增加了損壞電子負載的可能性。

然后，我們需要分析這是什么原因呢?當然，您首先需要了解電子負載的工作原理。電子負載通過連接到輸入的整個FET功率場效應管RDS進行控制和調(diào)節(jié)。即使多個電子負載串聯(lián)連接，似乎也沒有太大問題。例如，假設您將兩個電子負載串聯(lián)放置在CC模式下，并將它們設置為完全相同的電流值。例如，兩者都設置為10.00A。但是，實際上，當一個負載實際為9.99A而另一個為10.01A時，電子負載不能絕對為10.00A。這樣，電子負載2不能達到設定值，因此FET的RDS繼續(xù)降低到0(短路)，并且所有電壓都給電子負載1加載并造成過電壓損壞。

還建議兩個電子負載以恒定電流CC模式和恒定電壓CV模式運行。這似乎能夠實現(xiàn)設定電壓和電流點的工作狀態(tài)。但是，如何將這兩個電子負載輸入到已配置的CC和CV工作點中呢?

例如，假設您首先設置了一個電子負載，然后將其連接到被測電源。由于設置為CC模式的電子負載不包含任何電流，因此FET的RDS設置為0(短路)并設置為CV模式。由于電子負載中沒有電壓，因此FET的RDS設置為+∞(開路)，因此，在CV模式下，連接電源的那一刻，電源的全部100V電壓就會施加到負載上，并且有損壞的危險。

有一個折中的方法，調(diào)節(jié)直流電源的浪涌電壓的斜率可以緩慢增加被測電源的輸出電壓(被測電源需要這種能力)，這允許這兩個電子設備串聯(lián)連接負載進入設定的工作點。

但是，如果在操作過程中發(fā)生錯誤并且觸發(fā)了電子負載的保護，則兩個電子負載將短路或進入開路，并且將100V的電源電壓施加到電子負載的輸入端子，從而移除電子負載會被損壞。

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