隨著集成電路設(shè)計(jì)方法與工藝技術(shù)的不斷進(jìn)步，集成電路的可測(cè)性已經(jīng)成為提高產(chǎn)品可靠性和成品率的重要因素。文中針對(duì)遙測(cè)產(chǎn)品中信號(hào)處理器的設(shè)計(jì)原理，通過(guò)增加BIT以提高信號(hào)處理器的測(cè)試覆蓋率。
2016-01-19 09:28:38
4075 
代碼覆蓋分析是一種白盒測(cè)試方法，因?yàn)?b class="flag-6" style="color: red">覆蓋分析需要訪問(wèn)測(cè)試代碼本身，且經(jīng)常需要重新編譯程序，以程序的內(nèi)部結(jié)構(gòu)為基礎(chǔ)來(lái)設(shè)計(jì)測(cè)試案例。其基本準(zhǔn)則是測(cè)試案例要盡可能多地覆蓋程序的內(nèi)部邏輯結(jié)構(gòu)，發(fā)現(xiàn)其中的錯(cuò)誤
2020-09-21 17:36:514474 
作者：默宸? Modelsim代碼覆蓋率功能Code coverage，能報(bào)告出statement（語(yǔ)句）、branch（分支）、condition（條件）、expression（表達(dá)
2020-12-09 11:45:057293 度還是從功能安全角度。 對(duì)于安全可靠的嵌入式設(shè)備，測(cè)試是質(zhì)量保證不可或缺的一部分。 安全關(guān)鍵型軟件開(kāi)發(fā)標(biāo)準(zhǔn)對(duì)測(cè)試方法和測(cè)試覆蓋率設(shè)定了精確要求，這并非沒(méi)有道理。 通常，應(yīng)用程序越關(guān)鍵，對(duì)代碼覆蓋率的要求就越高。 最重要
2022-07-14 14:50:221718 
在做仿真的時(shí)候往往會(huì)去做代碼覆蓋率和功能覆蓋率的分析，來(lái)保證仿真是做的比較充分完備的。
2024-01-03 12:34:263264 
雖然可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT)與內(nèi)置自檢(BIST)技術(shù)已在SoC(系統(tǒng)級(jí)芯片)設(shè)計(jì)中受到廣泛關(guān)注，但仍然只是被看作“后端”的事。實(shí)際上，這些技術(shù)在器件整個(gè)設(shè)計(jì)周期中都非常重要，可以保證產(chǎn)品測(cè)試錯(cuò)誤覆蓋率
2011-12-15 09:53:14
dft可測(cè)試性設(shè)計(jì)，前言可測(cè)試性設(shè)計(jì)方法之一：掃描設(shè)計(jì)方法可測(cè)試性設(shè)計(jì)方法之二：標(biāo)準(zhǔn)IEEE測(cè)試訪問(wèn)方法可測(cè)試性設(shè)計(jì)方法之三：邏輯內(nèi)建自測(cè)試可測(cè)試性設(shè)計(jì)方法之四：通過(guò)MBIST測(cè)試寄存器總結(jié)...
2021-07-22 09:10:42
在systemverilog中，對(duì)于一個(gè)covergroup來(lái)說(shuō)，可能會(huì)有多個(gè)instance，我們可能需要對(duì)這些instance覆蓋率進(jìn)行操作。 只保存covergroup type的覆蓋率
2023-03-21 14:24:14
仿真VCO時(shí)候，開(kāi)關(guān)電容陣列中開(kāi)關(guān)電容的值取30fF，子帶呈現(xiàn)不規(guī)律變化。當(dāng)取100fF時(shí)，子帶才呈現(xiàn)比特位控制那樣規(guī)律變化，但這樣子帶覆蓋率會(huì)存在問(wèn)題。求遇到過(guò)同樣問(wèn)題的大神解答下！感謝!
2021-06-25 06:19:25
，覆蓋率只有微微的提升，請(qǐng)問(wèn)是否要遍歷很多數(shù)才能提升覆蓋率嗎？一般這種浮點(diǎn)數(shù)有什么方法去跑嗎？ 每個(gè)數(shù)都跑豈不是天文數(shù)字，本人剛接觸不久，請(qǐng)大佬指教下，謝謝
2024-10-15 18:38:47
進(jìn)行測(cè)試。 - 這些電阻在“board.o”文件中具有“放置”和“可測(cè)試”的屬性，它們包含在“testorder”和“testplan”文件中。所以，問(wèn)題是：為什么覆蓋率分析師沒(méi)有證明這些電阻器已經(jīng)
2019-01-07 16:06:45
在做RTL仿真驗(yàn)證時(shí)，覆蓋率收集往往是我們?cè)隍?yàn)證中需要注意的地方，本篇就SpinalHDL中的驗(yàn)證覆蓋率收集做一個(gè)簡(jiǎn)單說(shuō)明。sbt配置在SpinalHDL里進(jìn)行仿真驗(yàn)證時(shí)，我們的待測(cè)試代碼會(huì)生
2022-06-24 15:56:45
，基于種子和逐位倒轉(zhuǎn)的改進(jìn)方法比MARCH-G算法的測(cè)試時(shí)間開(kāi)銷大大降低。同時(shí)，故障覆蓋率會(huì)隨著種子數(shù)目的增加而提高，當(dāng)然不同種子數(shù)時(shí)所需要的測(cè)試時(shí)間開(kāi)銷也不同。在實(shí)際測(cè)試應(yīng)用中要根據(jù)測(cè)試時(shí)間和測(cè)試故障覆蓋率的需求來(lái)選擇合適的種子數(shù)目，才能達(dá)到滿意的效果?！窘饷軐＜?V信：icpojie】
2017-06-28 11:25:02
)方法2 方法1并不能完全檢查出RAM的錯(cuò)誤，在參考文獻(xiàn)中分析介紹了一種進(jìn)行RAM檢測(cè)的標(biāo)準(zhǔn)算法MARCH—G。MARCH一G算法能夠提供非常出色的故障覆蓋率，但是所需要的測(cè)試時(shí)間是很大
2011-04-15 09:29:48
方法對(duì)循環(huán)優(yōu)化的針對(duì)性不足.提出并實(shí)現(xiàn)了一種基于參數(shù)化分支時(shí)序邏輯(pCTL)的循環(huán)優(yōu)化測(cè)試用例自動(dòng)生成方法.并用生成的測(cè)試用例對(duì)GCC-4.1.1進(jìn)行覆蓋率測(cè)試,結(jié)果表明該方法可以生成具有很高針對(duì)性
2010-04-24 09:51:28
基于掃描的DFT方法掃描設(shè)計(jì)的基本原理是什么？掃描設(shè)計(jì)測(cè)試的實(shí)現(xiàn)過(guò)程是怎樣的？基于掃描的DFT對(duì)芯片測(cè)試的影響有哪些？
2021-05-06 09:56:36
A?級(jí)匹配度時(shí)，各波段輻照度占比與標(biāo)準(zhǔn)光譜的偏差可控制在 10% 以內(nèi)，反之，低匹配度將導(dǎo)致測(cè)試結(jié)果出現(xiàn)系統(tǒng)性偏差。
二、光譜覆蓋率SPC：量化光譜完整性的指標(biāo)AM1.5G 標(biāo)準(zhǔn)光譜的波段光譜覆蓋率
2025-07-21 15:35:58
提高DFT設(shè)計(jì)測(cè)試覆蓋率的有效方法是什么
2021-05-07 06:37:41
在邊界掃描機(jī)制引入電路設(shè)計(jì)的前提下，如何增加板級(jí)互連的故障診斷覆蓋率？
2021-04-26 06:37:15
改善5G覆蓋率的方法
2020-12-15 07:52:51
代碼執(zhí)娜行覆蓋情況的功能，來(lái)檢測(cè)代碼中未執(zhí)行覆蓋情況。在覆蓋率分析時(shí)需要分析嵌入式軟件的指令覆蓋率、指令函數(shù)覆蓋率、指令函數(shù)分支覆蓋率、源代碼行覆蓋率、源代碼函數(shù)覆蓋率、源代碼函數(shù)分支覆蓋率。通過(guò)覆蓋率
2021-12-17 07:27:44
的單片機(jī)系統(tǒng)RAM測(cè)試方法，并在MARCH-G算法的基礎(chǔ)上提出了一種低功耗的改進(jìn)方法。它具有測(cè)試功耗低,故障覆蓋率較高的特點(diǎn)。RAM測(cè)試方法方法1:給出一種測(cè)試系統(tǒng)ram的方法,該方法是分兩步來(lái)檢查
2022-02-23 06:48:46
怎么提高非隨機(jī)圖形設(shè)計(jì)的故障覆蓋率？為L(zhǎng)BIST設(shè)計(jì)提高故障檢測(cè)能力的技術(shù)是什么？
2021-05-08 07:11:55
百分之百的覆蓋率。另外，結(jié)構(gòu)測(cè)試向量在DFT應(yīng)用過(guò)程中起著至關(guān)重要的作用，為了得到高效率的此類測(cè)試向量，需要在設(shè)計(jì)階段實(shí)現(xiàn)特定的輔助性設(shè)計(jì)；通過(guò)增加一定的硬件開(kāi)銷，獲得最大可測(cè)試性。而此類的輔助性設(shè)計(jì)就包括掃描鏈
2016-05-25 15:32:58
本帖最后由 一只耳朵怪 于 2018-5-22 16:25 編輯
MCU型號(hào)：RM48目標(biāo)功能：實(shí)現(xiàn)對(duì)時(shí)鐘的高覆蓋率診斷背景描述：1. 根據(jù)IEC61508-2：2010對(duì)時(shí)鐘高覆蓋率診斷
2018-05-22 01:58:19
本帖最后由 一只耳朵怪 于 2018-5-22 14:58 編輯
最近有RM48芯片做的產(chǎn)品，需要對(duì)它的可靠性進(jìn)行評(píng)估，但是如何獲得它的失效率λ故障覆蓋率呢？只知道這個(gè)芯片滿足SIL3等級(jí)，SIL3PFD 10-4~10-3PFH10-8~10-7
2018-05-22 07:30:38
較麻煩，工程師們需要針對(duì)各種各樣的功能和應(yīng)用場(chǎng)景，使用SV等驗(yàn)證語(yǔ)言去實(shí)現(xiàn)覆蓋率模型（Coverage Model）或斷言（Assertion），并且從大量的回歸測(cè)試（Regression）中采集
2022-09-14 11:57:52
本文首先介紹RVM驗(yàn)證方法學(xué)和覆蓋率驅(qū)動(dòng)技術(shù)，然后詳細(xì)分析如何使用結(jié)合覆蓋率驅(qū)動(dòng)技術(shù)的RVM驗(yàn)證方法學(xué)對(duì)SOC(System On Chip)進(jìn)行完備的功能驗(yàn)證, 最
2009-09-05 08:53:00
15 如何有效地在ATE上提高DDR存儲(chǔ)器接口測(cè)試覆蓋率葉慶, 郭錚, 楚中曙, 粟涯上海交通大學(xué)微電子學(xué)院，上海，中國(guó)，200122摘要：雙倍數(shù)據(jù)速率（ DDR， Double Data Rate）DRAM由于其速
2009-12-15 14:58:2234 針對(duì)功能覆蓋率的驗(yàn)證過(guò)程神州龍芯集成電路設(shè)計(jì)公司徐偉俊 楊鑫 陳先勇 夏宇聞[摘要]：本文在介紹傳統(tǒng)驗(yàn)證過(guò)程及其局限性的基礎(chǔ)上，闡述了針對(duì)功能覆蓋率驗(yàn)證（co
2009-12-23 16:12:4413 本文通過(guò)對(duì)一種控制芯片的測(cè)試，證明通過(guò)采用插入掃描鏈和自動(dòng)測(cè)試向量生成(ATPG)技術(shù)，可有效地簡(jiǎn)化電路的測(cè)試，提高芯片的測(cè)試覆蓋率，大大減少測(cè)試向量的數(shù)量，縮
2010-09-02 10:22:523043 
安捷倫科技公司日前宣布推出一款快速易用的測(cè)試覆蓋率預(yù)測(cè)工具：N1194A 安捷倫測(cè)試覆蓋率顧問(wèn)(ATCC)軟件.
ATCC 軟件可以執(zhí)行兩個(gè)重要任務(wù)。首先，該軟件可以在完
2011-01-10 09:42:18814 ASIC設(shè)計(jì)的平均門數(shù)不斷增加，這迫使設(shè)計(jì)團(tuán)隊(duì)將20%到50%的開(kāi)發(fā)工作花費(fèi)在與測(cè)試相關(guān)的問(wèn)題上，以達(dá)到良好的測(cè)試覆蓋率。盡管遵循可測(cè)試設(shè)計(jì)(DFT)規(guī)則被認(rèn)為是好做法，但對(duì)嵌入式R
2011-05-28 11:56:591796 
隨著半導(dǎo)體技術(shù)的發(fā)展，驗(yàn)證已經(jīng)逐漸成為大規(guī)模集成電路設(shè)計(jì)的主要瓶頸。首先介紹傳統(tǒng)的功能驗(yàn)證方法并剖析其優(yōu)缺點(diǎn)，然后引入傳統(tǒng)方法的一種改進(jìn)基于覆蓋率的驗(yàn)證方法，最后
2011-06-29 10:46:0622 介紹了 龍芯2號(hào) 配套北橋中PCIB ridge的功能驗(yàn)證系統(tǒng)以及功能覆蓋率建模和分析方法。該系統(tǒng)和方法在開(kāi)發(fā)和驗(yàn)證PCIB ridge模塊過(guò)程中發(fā)揮了重要作用，加快了PCI Bridge的開(kāi)發(fā)速度，協(xié)助發(fā)
2011-06-29 10:57:2228 根據(jù)AT&T意外泄露的一封信顯示，該公司將把4G LTE網(wǎng)絡(luò)在美國(guó)的覆蓋率預(yù)期從最初的80%上調(diào)至97%，并將追加38億美元的投入。
2011-08-14 09:07:541565 為了提高大規(guī)模集成電路可測(cè)性設(shè)計(jì)(Design For Test，DFT)的故障覆蓋率，減少測(cè)試時(shí)間，通過(guò)分析自我測(cè)試(Self-Testing Using MISR and Parallel SRSG，STUMPS)方法中的測(cè)試機(jī)制，找出了其測(cè)試效果不
2011-10-28 17:18:2062 Verilog代碼覆蓋率檢查是檢查驗(yàn)證工作是否完全的重要方法，代碼覆蓋率（codecoverge）可以指示Verilog代碼描述的功能有多少在仿真過(guò)程中被驗(yàn)證過(guò)了，代碼覆蓋率分析包括以下分析內(nèi)容。
2012-04-29 12:35:039031 使用 Veloce 完成局部系統(tǒng)級(jí)協(xié)議檢查和 覆蓋率收斂
2017-09-05 08:39:514 的準(zhǔn)確性，因此驗(yàn)證過(guò)程的整體質(zhì)量存在著重大的風(fēng)險(xiǎn)。在對(duì)問(wèn)題進(jìn)行一般性介紹后，本文討論了實(shí)際案例，并提出了實(shí)用的解決方案，以提高驗(yàn)證質(zhì)量和最小化風(fēng)險(xiǎn)。最后，我們演示了USCIS API的一個(gè)應(yīng)用程序來(lái)相互參照功能覆蓋率各個(gè)方
2017-09-15 10:49:136 的建議以及分析運(yùn)行過(guò)代碼的覆蓋率的準(zhǔn)確性。此外，我們還嘗試了自動(dòng)化的一些方面，隨著工具開(kāi)發(fā)人員對(duì)這個(gè)重要問(wèn)題的重視，它很可能在未來(lái)進(jìn)行擴(kuò)展。
2017-09-15 10:53:032 如何在開(kāi)發(fā)IP的同時(shí)去鞏固集成和復(fù)用覆蓋率？IP的某些功能和性能是可以配置的，需要考慮的是IP被各種合理配置后的工作是否都能夠正常，將功能覆蓋率先整理為層次化的抽象功能覆蓋率模型，稱之為cover model。
2018-02-18 12:08:003146 通過(guò)此視頻可快速瀏覽 PADS DFT 審核的一些主要功能、優(yōu)點(diǎn)和易用性。在設(shè)計(jì)流程的早期使用 PADS DFT 審核可大幅降低 PCB 的批量投產(chǎn)時(shí)間，確保 100% 的測(cè)試點(diǎn)覆蓋和制造前所有網(wǎng)絡(luò)的可測(cè)試性。
2019-05-21 08:06:003979 如果 PCB 制造廠掌握電路板上所有節(jié)點(diǎn)的電氣接入，則無(wú)需費(fèi)力構(gòu)建設(shè)計(jì)原型，并可縮短產(chǎn)品上市時(shí)間。現(xiàn)在我們將介紹相關(guān)方法，幫助您實(shí)現(xiàn) 100% 的測(cè)試覆蓋率。
2019-05-17 06:25:003862 
基于架構(gòu)和基于流的DFT方法 ASIC設(shè)計(jì)平均門數(shù)的增加迫使設(shè)計(jì)團(tuán)隊(duì)花費(fèi)20％到50％的ASIC開(kāi)發(fā)工作量測(cè)試相關(guān)的問(wèn)題，以實(shí)現(xiàn)良好的測(cè)試覆蓋率。雖然遵循設(shè)計(jì)測(cè)試規(guī)則被認(rèn)為是一種良好的做法，但是
2023-11-10 17:01:041740 韓國(guó)科學(xué)和信息通信技術(shù)部ICT及廣播技術(shù)政策司副司長(zhǎng)Lee Kang-yong表示，運(yùn)營(yíng)商將繼續(xù)在全韓范圍擴(kuò)大覆蓋范圍，旨在在所有主要城市及周邊地區(qū)提供（5G）業(yè)務(wù)，他們還致力于提高室內(nèi)覆蓋率。
2019-09-26 09:55:29904 當(dāng)PCB制造商有電氣測(cè)試訪問(wèn)每個(gè)節(jié)點(diǎn)板,原型被淘汰并縮短上市時(shí)間。這是你能做什么來(lái)幫助達(dá)到100%的測(cè)試覆蓋率。
2019-11-05 07:10:003886 路徑覆蓋測(cè)試是覆蓋測(cè)試中的關(guān)鍵測(cè)試技術(shù)之一，目前已應(yīng)用于程序覆蓋率分析、測(cè)試用例設(shè)計(jì)、程序調(diào)試、性能優(yōu)化等多個(gè)方面，是覆蓋程度最高的測(cè)試。其基本原理是用最少的測(cè)試用例，覆蓋程序中的所有路徑，發(fā)現(xiàn)程序
2020-03-05 10:55:151502 
前言 大家都知道相比其他的協(xié)議，比如Wifi、藍(lán)牙等，LoRa最大的優(yōu)勢(shì)就是長(zhǎng)距離。那如何才能使他的優(yōu)勢(shì)最大化的體現(xiàn)出來(lái)，影響的主要因素有哪些？我們需要如何布網(wǎng)LoRa網(wǎng)絡(luò)，才能提高LoRa網(wǎng)絡(luò)覆蓋率
2020-05-21 14:49:281869 
隨著ASIC電路結(jié)構(gòu)和功能的日趨復(fù)雜，與其相關(guān)的測(cè)試問(wèn)題也日益突出。在芯片測(cè)試方法和測(cè)試向量生成的研究過(guò)程中，如何降低芯片的測(cè)試成本已經(jīng)成為非常重要的問(wèn)題。DFT（可測(cè)性設(shè)計(jì)）通過(guò)在芯片原始設(shè)計(jì)中插入各種用于提高芯片可測(cè)性的邏輯，從而使芯片變得容易測(cè)試，大大降低了芯片的測(cè)試成本。
2020-08-18 14:57:134068 
例一種安全機(jī)制可以在本附件中具有較高的通用典型診斷覆蓋率，但如果所使用的診斷測(cè)試間隔大于符合相關(guān)容錯(cuò)時(shí)間間隔所需的診斷測(cè)試間隔，則避免違反安全目標(biāo)的具體診斷覆蓋率將低得多。
2020-08-25 15:30:246317 
林木苗圃地的樹(shù)木株數(shù)及其樹(shù)冠覆蓋率估算對(duì)于林木苗圃地的經(jīng)營(yíng)管理具有重要意義。利用常規(guī)技術(shù)進(jìn)行樹(shù)木株數(shù)及其樹(shù)冠覆蓋率的測(cè)算，比較費(fèi)工、費(fèi)時(shí)。探索一種快速、高效、成本低且精度達(dá)到要求的新技術(shù)具有重要的現(xiàn)實(shí)意義。
2020-08-27 11:57:572782 正如這種測(cè)試覆蓋率的初步觀察所告訴我們，待測(cè)物特性和缺陷機(jī)制的綜合結(jié)果正在影響我們對(duì)測(cè)試項(xiàng)目的選擇過(guò)程。通過(guò)調(diào)整測(cè)試覆蓋率以適應(yīng)這些影響因素，制造工程師們將可以精準(zhǔn)地選擇測(cè)試項(xiàng)目，從而確保
2020-09-02 09:41:151077 
正因如此，谷歌開(kāi)發(fā)了一個(gè)深度學(xué)習(xí)算法C2D2，可以透過(guò)捕捉影像深度，對(duì)大腸進(jìn)行3D重建，顯示已被檢測(cè)與未被檢測(cè)的部位，藉此提升大腸檢查覆蓋率。而實(shí)驗(yàn)證明，機(jī)器學(xué)習(xí)能有效解決大腸鏡篩檢覆蓋率不足的問(wèn)題。
2020-09-16 14:24:302251 的單片機(jī)系統(tǒng)RAM測(cè)試方法，并在MARCH-G算法的基礎(chǔ)上提出了一種低功耗的改進(jìn)方法。它具有測(cè)試功耗低，故障覆蓋率較高的特點(diǎn)。 RAM測(cè)試方法 方法1：給出一種測(cè)試系統(tǒng)ram的方法，該方法是分兩步來(lái)檢查，先后向整個(gè)數(shù)據(jù)區(qū)分別送#0
2020-11-17 14:03:032799 12月1日消息，中國(guó)電信官方微博今天宣布全杭州城區(qū)已經(jīng)實(shí)現(xiàn)了5G連續(xù)覆蓋，覆蓋率達(dá)到92%以上，并對(duì)西湖景區(qū)、錢江新城、未來(lái)科技城、高校、奧體中心等區(qū)域進(jìn)行了重點(diǎn)保障覆蓋。
2020-12-01 16:23:276926 電視節(jié)目覆蓋率接近100%，達(dá)飽和狀態(tài)，傳統(tǒng)廣播電視節(jié)目銷售收入降幅大，為497.66億元，同比下降22.55%。
2020-12-15 16:57:192942 
代碼覆蓋率是衡量軟件測(cè)試完成情況的指標(biāo)，通?；?b class="flag-6" style="color: red">測(cè)試過(guò)程中已檢查的程序源代碼比例計(jì)算得出。代碼覆蓋率可以有效避免包含未測(cè)試代碼的程序被發(fā)布。 1. 問(wèn)題背景 代碼覆蓋（Code coverage
2021-01-06 15:06:533760 
代碼覆蓋率是衡量軟件測(cè)試完成情況的指標(biāo)，通?；?b class="flag-6" style="color: red">測(cè)試過(guò)程中已檢查的程序源代碼比例 計(jì)算得出。代碼覆蓋率可以有效避免包含未測(cè)試代碼的程序被發(fā)布。
2021-01-09 11:12:183670 
代碼覆蓋率是衡量軟件測(cè)試完成情況的指標(biāo)，通常基于測(cè)試過(guò)程中已檢查的程序源代碼比例計(jì)算得出。代碼覆蓋率可以有效避免包含未測(cè)試代碼的程序被發(fā)布。 1. 問(wèn)題背景 代碼覆蓋（Code coverage
2021-03-29 11:58:512641 
∴大量視覺(jué)傳感器網(wǎng)絡(luò)的研究工作主要假設(shè)同構(gòu)節(jié)點(diǎn)隨機(jī)部署在感興趣區(qū)域內(nèi)以對(duì)其實(shí)現(xiàn)覆蓋。該文假設(shè)所有節(jié)點(diǎn)隨機(jī)部署在感興趣區(qū)域的外部邊界以對(duì)FoI實(shí)現(xiàn)覆蓋監(jiān)測(cè)，同時(shí)硏究異構(gòu)部署的k覆蓋率估計(jì)問(wèn)題。針對(duì)此應(yīng)用場(chǎng)景，該文首次提岀k-覆蓋率估計(jì)模型，通過(guò)
2021-03-31 09:44:066 芯片前端工程中，測(cè)試驗(yàn)證的核心理念：以提高覆蓋率為核心。設(shè)計(jì)工程師需要關(guān)心的主要有行覆蓋率（Block），條件覆蓋率（Expression），翻轉(zhuǎn)覆蓋率（Toggle），狀態(tài)機(jī)覆蓋率。本文從ASIC
2021-06-01 10:13:433243 產(chǎn)品測(cè)試覆蓋率達(dá)到100%！ SPECIM 解決方案-FX10 高光 譜相機(jī) ? 在數(shù)秒內(nèi)對(duì)整個(gè)表面進(jìn)行真比色和輻射監(jiān)測(cè)? ? 基于真實(shí)頻譜的精確優(yōu)勢(shì)波長(zhǎng)和峰值波長(zhǎng)結(jié)果? ? 同時(shí)進(jìn)行可見(jiàn)光和紅外
2022-04-25 09:43:302007 
設(shè)計(jì)工程師需要關(guān)心的主要有行覆蓋率（Block），條件覆蓋率（Expression），翻轉(zhuǎn)覆蓋率（Toggle），狀態(tài)機(jī)覆蓋率。本文從ASIC設(shè)計(jì)的角度上來(lái)討論，如何寫出高覆蓋率的Verilog代碼。
2022-05-26 17:30:214990 聲明、決策或 MC/DC 覆蓋率等指標(biāo)并不能保證軟件沒(méi)有缺陷。如前所述，真正詳盡的測(cè)試可能是不可能的，或者至少是不可行的。然而，結(jié)構(gòu)覆蓋率度量可以更好地了解代碼的可靠性和對(duì)測(cè)試的更大信心。
2022-06-29 10:20:232168 覆蓋測(cè)試數(shù)據(jù)生成方法，將否定選擇策略融入遺傳算法，動(dòng)態(tài)優(yōu)化遺傳算法的種群數(shù)據(jù)，自動(dòng)生成覆蓋目標(biāo)路徑的測(cè) 試數(shù)據(jù)． 多個(gè)基準(zhǔn)程序和工業(yè)程序的實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明，與隨機(jī)方法和遺傳算法比較，文中方法能夠提高路徑覆蓋率，減少
2022-07-10 09:53:170 測(cè)量代碼覆蓋率對(duì)于嵌入式系統(tǒng)來(lái)說(shuō)越來(lái)越重要，但需要一些經(jīng)驗(yàn)。這是因?yàn)橛幸恍┱系K需要克服，尤其是小目標(biāo)。但是，使用正確的方法和合適的工具，無(wú)需過(guò)多努力即可測(cè)量測(cè)試覆蓋率。九個(gè)實(shí)用技巧可幫助您入門
2022-07-14 15:58:123637 
為了開(kāi)發(fā)安全可靠的軟件，測(cè)試是質(zhì)量保證不可或缺的一部分。如果沒(méi)有充分的記錄測(cè)試，就不可能確定軟件是否安全且功能是否正確。在這種情況下，代碼覆蓋率（測(cè)試覆蓋率）的測(cè)量尤為重要。這是因?yàn)樗梢杂脕?lái)確定一
2022-07-20 18:06:361883 
上面class中聲明了一個(gè)covergroup，可以對(duì)類中的屬性m_x、m_y和m_z進(jìn)行功能覆蓋率建模。
2022-09-27 09:09:451205 安全關(guān)鍵型軟件標(biāo)準(zhǔn)高度關(guān)注如何有效地測(cè)試軟件。他們指出，有效的軟件測(cè)試需要一種規(guī)范的方法，其中代碼覆蓋率用于提供有關(guān)迄今為止測(cè)試有效性的反饋。應(yīng)用于系統(tǒng)的測(cè)試嚴(yán)格程度必須由系統(tǒng)故障的影響決定。后果越嚴(yán)重，測(cè)試必須越嚴(yán)格。
2022-11-01 10:46:421535 軟件測(cè)試和分析可以被認(rèn)為是由許多相互依賴的部分組成的整體活動(dòng)。其中包括需求跟蹤、靜態(tài)和動(dòng)態(tài)分析、編碼標(biāo)準(zhǔn)合規(guī)性等，包括覆蓋范圍分析。歸根結(jié)底，覆蓋率分析應(yīng)該讓我們了解一段代碼的測(cè)試程度和徹底程度
2022-11-11 15:02:22900 測(cè)試覆蓋率是軟件質(zhì)量的重要指標(biāo)，也是軟件維護(hù)的重要組成部分。它通過(guò)提供不同承保項(xiàng)目的數(shù)據(jù)來(lái)幫助評(píng)估測(cè)試的有效性。這種洞察力允許通過(guò)為未經(jīng)測(cè)試的代碼定義新的測(cè)試用例來(lái)改進(jìn)測(cè)試，從而提高代碼質(zhì)量，最終增加代碼覆蓋率并降低成本。
2022-12-08 15:13:342036 
許多軟件開(kāi)發(fā)和驗(yàn)證工程師其實(shí)并不能真正理解獲得結(jié)構(gòu)覆蓋率的重要性。大部分人這么做只是因?yàn)檫@是他們行業(yè)的功能標(biāo)準(zhǔn)所要求的，而并沒(méi)有真正認(rèn)真對(duì)待它。
2022-12-26 11:12:241846 DFT是確保芯片在制造過(guò)程中具有可測(cè)試性的一種技術(shù)。DFT友好的ECO是指在進(jìn)行ECO時(shí)， 不會(huì)破壞芯片的DFT功能或降低DFT覆蓋率的設(shè)計(jì)方法。
2023-03-06 14:47:073425 ? ? ? ? ? 原文標(biāo)題：AI驅(qū)動(dòng)芯片驗(yàn)證：VSO.ai在手，覆蓋率收斂更快、更好、更高效 文章出處：【微信公眾號(hào)：新思科技】歡迎添加關(guān)注！文章轉(zhuǎn)載請(qǐng)注明出處。
2023-03-30 20:05:031547 代碼覆蓋率提供的價(jià)值是對(duì)V&V（Verification & Validation）過(guò)程的提升，它可以幫助我們清除代碼中的缺陷，確保每行代碼都已執(zhí)行，從而滿足團(tuán)隊(duì)或者認(rèn)證的要求。這可以大大提高團(tuán)隊(duì)代碼質(zhì)量的安全性和可靠性。
2023-03-31 13:57:561667 ? ? ? ? ? 原文標(biāo)題：下周五｜AI驅(qū)動(dòng)芯片驗(yàn)證：VSO.ai在手，覆蓋率收斂更快、更好、更高效 文章出處：【微信公眾號(hào)：新思科技】歡迎添加關(guān)注！文章轉(zhuǎn)載請(qǐng)注明出處。
2023-03-31 17:30:021147 ? ? ? ? ? 原文標(biāo)題：本周五｜AI驅(qū)動(dòng)芯片驗(yàn)證：VSO.ai在手，覆蓋率收斂更快、更好、更高效 文章出處：【微信公眾號(hào)：新思科技】歡迎添加關(guān)注！文章轉(zhuǎn)載請(qǐng)注明出處。
2023-04-03 22:20:04854 下圖是一個(gè)典型的EDA仿真驗(yàn)證環(huán)境，其中主要的組件就是激勵(lì)生成、檢查和覆蓋率收集。
2023-04-15 10:13:062441 驗(yàn)證覆蓋率（Verification Coverage）的存在是為了試圖回答這樣一個(gè)問(wèn)題：“你怎么知道驗(yàn)證已經(jīng)完成？”
2023-04-17 10:04:546124 許多 軟件 開(kāi)發(fā) 人員 測(cè)量 嵌入式 系統(tǒng) 中 的 代碼 覆蓋 率 使用 的 測(cè)試系統(tǒng) 與 其 原始 設(shè)計(jì) 非常 不同。工程師知道這是一種糟糕的方法，但它很容易發(fā)生。就像沸騰的青蛙寓言一樣，不被注意的增量溫度變化會(huì)導(dǎo)致可憐的青蛙死亡......
2023-04-23 10:50:001635 DFT是確保芯片在制造過(guò)程中具有可測(cè)試性的一種技術(shù)。DFT友好的ECO是指在進(jìn)行ECO時(shí)， 不會(huì)破壞芯片的DFT功能或降低DFT覆蓋率的設(shè)計(jì)方法。DFT不友好的ECO會(huì)對(duì)芯片的測(cè)試和調(diào)試帶來(lái)很大的困難，可能導(dǎo)致芯片測(cè)試效率降低甚至無(wú)法測(cè)試。
2023-05-05 15:06:372896 
Helix QAC 2023.1 對(duì) MISRA C:2012修訂版4和MISRA C:2023的覆蓋率為100%，對(duì) AUTOSAR C++14的覆蓋率為96%。它還更新了CWE最新版本v4.10
2023-04-13 16:44:211965 
為了確保驗(yàn)證的完備性，我們需要量化驗(yàn)證目標(biāo)。SystemVerilog提供了一套豐富的覆蓋率建模方式。
2023-06-25 10:44:162269 編寫 HDL 通常是 FPGA 開(kāi)發(fā)中耗時(shí)最少的部分，最具挑戰(zhàn)性和最耗時(shí)的部分可能是驗(yàn)證。根據(jù)最終應(yīng)用程序，驗(yàn)證可能非常簡(jiǎn)單，也可能非常復(fù)雜，簡(jiǎn)單的話只需對(duì)大多數(shù)功能進(jìn)行檢查或執(zhí)行完全獨(dú)立開(kāi)發(fā)的測(cè)試平臺(tái)來(lái)演示功能和代碼覆蓋率。
2023-08-03 09:23:503120 
隨著半導(dǎo)體技術(shù)的飛速發(fā)展，系統(tǒng)級(jí)芯片（SoC）設(shè)計(jì)已成為現(xiàn)代電子設(shè)備中的主流。在SoC設(shè)計(jì)中，可測(cè)試性設(shè)計(jì)（DFT）已成為不可或缺的環(huán)節(jié)。DFT旨在提高芯片測(cè)試的效率和準(zhǔn)確性，確保產(chǎn)品質(zhì)量和可靠性。
2023-09-02 09:50:104357 為確保具體的產(chǎn)品（例如，醫(yī)療或航空電子市場(chǎng)）質(zhì)量合格，
通常需要提供語(yǔ)句覆蓋與判定覆蓋認(rèn)證證明。對(duì)于各種嵌
入式系統(tǒng)，規(guī)范要求高度優(yōu)化的代碼需要實(shí)時(shí)測(cè)試。禁止
代碼插裝和運(yùn)行時(shí)篡改。勞特巴赫代碼覆蓋率測(cè)試系統(tǒng)為
客戶提供實(shí)時(shí)的語(yǔ)句覆蓋和判定覆蓋證明。
2023-11-03 11:02:100 各種測(cè)試對(duì)象和方法的所有覆蓋率測(cè)量結(jié)果，并記錄在新的測(cè)試總結(jié)報(bào)告中。 了解更多TESSY新版本功能詳情或申請(qǐng)免費(fèi)試用，歡迎咨詢TESSY中國(guó)授權(quán)分銷商——龍智。 新版本功能亮點(diǎn)速覽： 1、超級(jí)覆蓋率 逐行評(píng)估源代碼。 基于標(biāo)準(zhǔn)覆蓋率測(cè)量。 提供不同測(cè)試級(jí)別的
2024-07-08 16:20:291102 
在功能安全中測(cè)試覆蓋率是比較重要的概念，也是在驗(yàn)證過(guò)程中通常需要花費(fèi)時(shí)間較多的步驟，如果能借助于靜態(tài)檢查工具的死邏輯查找和聲明、測(cè)試用例自動(dòng)補(bǔ)全等功能往往能取得事半功倍的效果。
2024-09-05 09:15:531351 
太陽(yáng)光模擬器作為模擬太陽(yáng)輻射環(huán)境的核心設(shè)備，其性能直接關(guān)系到諸多領(lǐng)域?qū)嶒?yàn)數(shù)據(jù)的可靠性。光譜匹配度（SMD）、光譜覆蓋率（SPC）和光譜偏離率（SPD）作為評(píng)估其性能的關(guān)鍵指標(biāo)，從不同維度決定了模擬
2025-07-24 11:26:48986 
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