在半導體產業競爭白熱化的當下，時間成本與生產效率成為企業制勝的核心要素。普迪飛Characterization Vehicle System（ CV 系統）作為電學參數表征系統的領航者，率先將Short-Flow測試芯片用于開發和改進新技術與產品。CV 測試芯片已被證實，是用于表征工藝與設計之間互動關系的卓越工具，對驗證和監控高良率的穩定生產而言，其重要性不言而喻。

強強聯合 · 大幅縮短研發周期

CV 系統提供差異化的電學參數數據，與 Exensio 數據分析平臺協同運作時，能將效能發揮至最大化。通過對數據的深度整合與分析，該系統可提供具備可行性與解決力的改進方案，有效縮短設計迭代周期，幫助產品盡快達到量產水平。同時，在量產環境下，CV 系統所提供的大量設備及工藝表征數據，結合 Exensio 平臺，能夠實現精準的產品性能建模，進而達成最佳的產品特定工藝設置，最大化生產過程的穩健性與可預測性。

在量產環境中實現最大穩健性和可預測性

從數字看優勢，彰顯業界領先地位

比傳統測試系統快 100 倍

密度結構高達普通設計的 30 倍

分析速度提高 10 倍

10nm 及以下的測試芯片超過 100 種

功能優勢全方位解析

1.數據生成高效 · 自動銜接Exensio：

CV 系統由結合普迪飛專有的 pdFasTest 測試機臺所設計的高密度 CV 測試芯片組合構成。其數據讀取速度相較于傳統測試芯片系統提升高達 100 倍，并且所產生的數據能夠自動導入 Exensio 數據分析平臺，實現了數據處理流程的無縫銜接，極大地提高了整體工作效率，確保企業能夠迅速獲取關鍵數據，為決策提供有力支撐。

2.數據質量高精度 · 測試與分析高時效：

CV 系統包含超越 PPB (十億分之一) 的統計分辨精度、廣泛全面的 Layout Pattern 實驗設計(DoE)，高面積效率和自動化分析。一個全光罩測試芯片整個 Lot 的所有測試與分析可以在不到一天的時間內完成 。

3.100+種CV測試芯片 · 定制化解決方案：

CV 系統能夠提供已成功應用于10nm以下工藝節點的100多個CV測試芯片。這些CV測試芯片已被證明能夠代表驗證和監控高產量、穩定生產所依賴的關鍵工藝布局相互作用，并且可根據客戶需求提供定制化解決方案。

針對不同企業需求的定制化應用

Fabless：高效達成量產目標

首次正確的產品流片對業務成功至關重要。穩定的量產對于優化WIP和盈利至關重要。CV 系統為無晶圓廠提供了實現目標所需的參數洞察。

MPW CV：可在批量生產之前及時準確暴露功能性和參數性問題

Direct Probe CV：為您在 NPI (新產品導入)階段快速發現功能和參數問題，加快上市速度

Scribe CV 和 CV Core IP：提供監視和快速診斷功能，以優化成本并實現高質量的批量生產

為Fabless定制的CV系統

Foundry&IDM：助力技術開發與量產爬坡

三十多年來，普迪飛一直致力于助力Foundries和IDM實現技術開發和量產爬坡的世界領先速率。我們的客戶依賴于普迪飛提供的CV技術，在縮短處理、測試和分析時間的同時，最大化每片晶圓的學習效果。Scribe CV在量產生產期間提供全晶圓空間覆蓋，并支持關鍵產品的定制化，實現快速新產品引入和持續產量改進所需的可觀測性。

為Foundry和IDM定制的CV系統可大幅提升良率收斂效率

若您所在的企業正為設計周期冗長、良率提升困難、數據處理繁雜等問題所困擾，敬請深入了解普迪飛 CV 系統，幫助您突破發展瓶頸、實現業務飛躍。