在平時測試硬件電路的時候，經常會遇到一些容易忽視又不容易覺察的問題，但是我們又必須正視這些問題的存在，并想方設法減弱或者消除這些問題，這里稱之為硬件電路測量中的陷阱。

　　測試儀器和儀表的負載效應和濾波器效應

　　在用萬用表測量電壓或者電流的時候，萬用表都是作為一個負載和測量對象并聯或者串聯在一起。如果測量對象的負載大小和萬用表的等效負載的大小相比，如果屬于相同數量級大小，那么萬用表負載就一定會對測量對象產生影響。比如測量電壓，被測負載的大小如果是10K，那么如果所采用萬用表的等效負載也是這個這個數量級的，那么測試的結果一定會有很大的誤差。根據并聯電路中的分流理論，如果要減小這種誤差，就必須選擇等效負載大的萬用表，并且是越大越好。一般而言，指針萬用表在測量電壓的時候，其等效負載根據量程的不同分布在幾十千歐到幾百千歐數量級，數字萬用表在測量電壓的時候，因其采用了有源電路做為等效負載，所以其值一般根據量程不同分布在兆歐數量級到十幾兆歐數量級，相對而言，其對被測對象的影響就小很多，測試的結果可信度也比較高。但是，如果將數字萬用表看做一個電壓傳感器的話，其高阻值的等效負載，又會容易拾取一些噪聲電壓，所以也會引進一些測試上的誤差，如果要減小這個高阻的探頭效應，就必須在測量的時候，表筆和表體盡可能遠離一些潛在的噪聲干擾源。矛盾論的又一次體現在這里。

　　再用聯系的觀點來看，測量儀器作為等效負載實際上也參與了所測量的電路的工作，如果要考慮其影響的話，一旦測量儀器介入了測試電路，整個電路的工作狀態就發生了變化，如果測量儀器對電路的影響比較小，那么這個測量儀器的影響就是一個微擾，可以忽略，如果測量儀器對電路的影響比較大，那么這個測量儀器的影響就是對這個電路系統的一個沖擊。這就是為什么，有時候我們做測試的時候，表筆一旦放在測試對象上，卻看到了測試對象自激了，或者不工作了，或者有莫名其妙的噪聲出現的原因，這個時候，我們需要做的就是更換負載效應小的儀器或者表筆探頭。

　　在用萬用表測量交流信號的時候，還需要注意測量對象的工作頻率，萬用表作為負載參與測量的時候，如果單純從測量表筆向萬用表看進去，可以認為萬用表是一個濾波器，因為其測量電路無非是由一些電阻，電容，晶體管組成的測量電路，那么這個電路必然存在一個工作頻率范圍（帶寬），如果在這個頻率范圍內測量，那么測試結果有效，如果在這個頻率范圍之外測量，測試結果就不準確了。所以必須關注測試儀器的頻率范圍。這個就是萬用表的濾波器效應。

　　同樣，在使用示波器，交流毫伏表，超高頻微伏表和頻譜儀時，也必須注意相應的負載效應和濾波器效應，應該根據所測試對象的負載和工作頻率去選擇相應的儀器。在儀器的說明書上，一般都有等效負載的大小說明，以及工作頻率的說明，這個比較常見，非常容易理解。

　　一般而言，測量低頻交流信號時，如果單純想測量信號的大小，可以選擇數字萬用表，如果還想看到信號的時域波形，那么選擇示波器。如果信號很微弱，可以選擇毫伏表和示波器搭配使用。測量音頻信號時，根據信號的大小，可以選擇示波器或者毫伏表，mV數量級的交流信號，可以用示波器和毫伏表搭配使用。高頻信號時，可選擇超高頻毫伏表或者頻譜儀。在使用這些儀器的時候，必須注意負載效應和濾波器效應。尤其是在測量高頻小信號（uV數量級）電路的時候，如果高頻放大器的負載為并聯諧振電路，這個時候如果用頻譜儀（50ohm負載效應）進行測量，必然導致50ohm的頻譜儀和并聯諧振電路一起作為高頻放大器的負載，這樣必然導致放大器的增益降低，所測試的結果必然是不準確的，這個時候可以采用差分高阻探頭配合頻譜儀進行測量，可以很大程度上減小負載效應的影響。

　　另外，在測試晶體的時候，一般常見的是用示波器進行時序的測量，還有的是測試晶體是否振蕩。這個時候，一定要注意示波器探頭的負載效應，因為探頭上會存在寄生電容，比較小，一般是pF量級，但是晶體的負載電容一般也是pF量級，所以探頭的介入，會引起晶體振蕩電路的頻率的偏移，從而影響晶體振蕩電路的工作，嚴重的，會導致晶體電路無法起振。這個時候，就必須選擇差分高阻探頭進行測量。